Патенты с меткой «высокоапертурных»
Интерферометр для контроля качества высокоапертурных вогнутых сферических поверхностей
Номер патента: 706689
Опубликовано: 30.12.1979
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: вогнутых, высокоапертурных, интерферометр, качества, поверхностей, сферических
...А,совмещенной с центром кривизны С выпуклой 20поверхности линзы 4. Поэтому лучи света падают нормально на выпуклую поверхность линзы4, частично отражаются от нее, а частично направляются к контролируемой поверхности 9, отражаются от нее и повторяют свой путь в обратном направлении, Лучи, отраженные от выпуклой поверхности линзы 4, создают эталонныйволновой фронт сравнения, а лучи, отраженныеот контролируемой поверхности 9 - анализируемый волновой фронт, При настройке интер- З 0ферометра линза б, объектив 7 и фотопленка 8выключаются из хода лучей, а глаз наблюдателярасполагается непосредственно за окуляром 5.Апланатическую линзу 4 смещают в направлении4 Гперпендикулярном к оптической оси О - О, Так З 5как величина смещения очень...