Полонин
Способ утонения пластин с кристаллами полупроводниковых приборов и интегральных схем
Номер патента: 1787295
Опубликовано: 07.01.1993
Авторы: Дереченик, Кононов, Олтушец, Пеньков, Полонин, Яцук
МПК: H01L 21/304
Метки: интегральных, кристаллами, пластин, полупроводниковых, приборов, схем, утонения
...стороны пластины с плоскостью держателя, Кроме того, нанесение защитного покрытия на планарную сторону пластины не улучшает ее геометрию в части прогиба и клина по отношению к держателю, на котором пластина крепится для проведения механического утонения. Поэтому в процессе закрепления ее на держателе происходит механическая деформация пластины с изме-. нением исходных геометрических параметров, это приводит к нарушению металлизации и соответственно к снижению выхода годных на операции "функ 1 ионирование".Целью изобретения является повышение выхода годных за счет исключения разрушения пластины и кристаллов.Цель достигается тем, что по способу водниковых приборов и интегральных схем, включающему нанесение высокомолекулярного соединения...
Оптико-электронное устройство для измерения линейных перемещений
Номер патента: 1772625
Опубликовано: 30.10.1992
Авторы: Абрамов, Войтешук, Мотуз, Полонин
МПК: G01B 21/00
Метки: линейных, оптико-электронное, перемещений
...2 спроецированы две полосы с максимальной и минимальной освещенностью, на первый вход блока 5 счета приходит импульс с выхода блока 4 формирователей в момент, когда счетчики в блоке 5 счета уже обнулены импульсом с третьего выхода блока 8 управления, состояние первого буферного регистра 10, второго буферного регистра 11 и счетчика 12 сброшены в ноль, путем нажатия кнопки "Сброс" (на фиг,1 не показана). Таким образом, в исходном состоянии показания блока 7 индикации нулевые. При смещении обьекта происходит движение полос интерференционной картины, направление которого определяет знак, а число полос, прошедших по дискретному фотопреобразователю 2 - его величину, При движении полос последовательно засвечиваются столбцы дискретного...
Устройство для контроля формы пластин
Номер патента: 1626083
Опубликовано: 07.02.1991
Авторы: Немченок, Полонин, Савилова
МПК: G01B 11/24, G01B 9/021
...регистратора голограммы, Наложение объектного и опорного пучков создает интерференционное поле в плоскостирегистратора 9. Запись этого поля представляет собой голограмму эталонной плоскости. Затем вместо эталонной пластинына игольчатые опоры 13 помещается контролируемая пластина, Восстановленное опорным пучком изображение эталонной плоскости накладывается на освещенную поверхность пластины, в результате чего происходит интерференционное сравнение контролируемой пластины с эталонной плоскостью - наблюдается интерференционная картина в режиме реального времени, Если зарегистрировать отраженное от пластины излучение, то будет записана двухэкспозиционная голограмма. Длянепосредственного визуального наблюдения интерференционной...
Способ контроля упругих характеристик материалов
Номер патента: 1601553
Опубликовано: 23.10.1990
Авторы: Квасов, Полонин, Шилина
МПК: G01N 3/32
Метки: упругих, характеристик
...По спытаний находится зависирезонансных колебаний возмы от длины свободной части разца материала в исходном сле технологического возучение, ионное легирование, ическая обработка) на мате- определяется аналогичная стоты резонансных колебаний одной части консольного обные экспериментальные за1601553 10 Формула изобретения Составитель Н. ЯмщиковРедактор И. Шулла Техред А. Кравчук Корректор М. ШарошиЗаказ 3268 Тираж 500 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР13035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, 101 висимости частоты и резонансных колебаний от длины г, свободной части образца Обрабатываются статистическим методом,...
Зубной протез
Номер патента: 1533683
Опубликовано: 07.01.1990
Авторы: Величко, Крушевский, Молочко, Полонин
МПК: A61C 13/08
...выполнении коронки отез выполняют по ф ической. 1 ил,1533 б 83 формула изобретения Составитель В. ВагановРедактор Л. Ко зо риз Текоел И. Верее Кор ректор М. П а рош иЗаказ 3 Тираж 413 ПодписноеВ 11 ИИПР 1 Государственного ком,п.тао :.зобретениям и открытиям ири ГКНТ СССР11303 гз, Москва, ЗК 33, Ра у шская на 6., л. 4(5Г 1 роизводствс ио-издательский к, збинаПатент. г. Ужгород, чл. Гагарина, 01 Изобретение относится к медицине, а именно к конструкциям зубных протезов.Цель изобретения - повышение надежности фиксации протеза.На чертеже приведена геометрическая форма коронки протеза.Устройство содержит коронку 1 с круговым уступом 2, расположенным под углом 120 к продольной оси коронки 1. При этом внутренняя 3 поверхность ее имеет овальную...
Оптико-электронное устройство для измерения линейных перемещений
Номер патента: 1479829
Опубликовано: 15.05.1989
Авторы: Копоть, Мотуз, Полонин, Ювченко
МПК: G01B 21/00
Метки: линейных, оптико-электронное, перемещений
...входысхемы 10 формирования, на первый,второй и третий входы которой подаются сигналы с выходов триггера 22знака и одновибратора 13. Схема 10формирования в зависимости от состояния триггера 22 знака пропускаетимпульсы, соответствующие переднему Фронту сигнала с выхода компаратора 8, или импульсы, соответствующие заднему Фронту сигнала, а также пропускает импульс с выхода одновибратора 13, если за время опроса столбцов дискретного фотопреобразователя 2 не поступил импульс с выходов дифференциатора 9. По заднему фронту импульса с выхода одновибратора 13 происходит занос в 0-триггер схемы 19 фиксации нулей с выходов счетчиков первой схемы 18 счета и обнуление в блоке 6 индикации, Схема 10 формирования содержит Э-триггер, одновибратор и...
Способ измерения амплитуды колебаний
Номер патента: 1310634
Опубликовано: 15.05.1987
Авторы: Копоть, Мотуз, Полонин, Сиваков
МПК: G01B 21/00
...фильтра 3 формируется только электри деления сигнала частоты (К+)ц, входы первого и второго узкополосных фильтров 3,4 связаны с выходом фотоприемника 2, аналоговый делитель 5, входы которого связаны с первым и вторым узкополосным фильтром 3 и 4, регистратор 6, вход которого связан с выходом аналогового делителя 5,Способ осуществляют слецующей последовательностью операций.Вибратор, являющийся объектом измерения, приводится в колебания, частоту которых задают генератором. Объектное зеркало интерферометра 1связывается с вибратором. На выходе интерферометра 1 Формируется интерференционная картина, оптическая разность хода которой модулируется с частотой колебаний объекта. Фотоприемник 2 преобразует оптический сигнал з электрический, на...
Способ контроля физико-механических характеристик нарушенного поверхностного слоя полупроводниковых пластин
Номер патента: 1226069
Опубликовано: 23.04.1986
Авторы: Дидковский, Квасов, Музыченко, Полонин, Прохоренко
МПК: G01H 13/00
Метки: нарушенного, пластин, поверхностного, полупроводниковых, слоя, физико-механических, характеристик
...г/а при заданных 8 и Ь (фиг,З).Определяют параметр 1 по величине ш (фиг.2).Рассчитьвают величину модуля Юнга Е по формуле4811 Г Р а" (1- у )Е------Ьф. Рассчитывают физико-механическйе характеристики по известным соотношениям с учетом полученного значения модуля Инга Е.Таким образом, определение изменения радиусов узловых окружностей при возбуждении колебаний на частотах , позволяет проконтролировать распределение физико-механических характеристик по поверхности пластины и тем самым повысить точность контроля.Устройство для осуществления способа содержит основание 1, пуансон 2, электродинамический акустический излучатель 3, генератор 4 электрического напряжения, голографический интерферометр 5, состоящий из лазера 6, модулятора 7,...
Способ контроля механических напряжений в полупроводниковой пластине
Номер патента: 1087779
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Карпов, Квасов, Корешков, Лабунов, Полонин, Прохоренко
МПК: G01H 13/00
Метки: механических, напряжений, пластине, полупроводниковой
...циклов, измеряют амплитуду Е деформации поверхностного слоя и ширину динамической петли гистерезиса и рассчитывают механичес- кие напряжения по формуле гНедостатком способа является низкаяточность контроля, обусловленная неодородностью определения величины механических напряжений, зависящей от жест-кости заделки контролируемого образца,Наиболее близким к изобретению является способ контроля механических 5 напряжений в полупроводниковой пластине,заюпочаюп 1 ийся в том, что возбуждаютизгибные колебания полупроводниковойпластины и измеряют первую и вторуюрезонансные частоты, по которым вы- О числяют искомые параметры Г 3,1.Недостатком способа является низкаяточность контроля, обусловленная зависимостью результатов контроля от жесткости...
Устройство для регистрации изменений показателя преломления
Номер патента: 1081483
Опубликовано: 23.03.1984
Авторы: Немченок, Полонин, Шатохин
МПК: G01N 21/45
Метки: изменений, показателя, преломления, регистрации
...как во всемисследуемом объекте, так и в задан;ной локальной точке, которая используется как характерная точка приопределении изменений показателя преломления в исследуемом объекте.На чертеже приведена схема устройства для регистрации измененийпоказателя преломления оптическипрозрачных объектов.Устройство содержит источник 1когеоентного,излучения, первое 1 ивторое 3 полупрозрачное эеркал 1,первое поворотное зеркало 4, первыйрасширитель 5 излучения от полупроз-рачного зеркала 2 пучка излучений,третье полупрозрачное зеркало б,второе поворотное зеркало 7, второйрасширитель 8 излучения, рассеиватель 9, регистратор 10, оптическуюсистему 11, диафрагму 12 и фотоприемник 13,устройство работает следующим образом.Пучок излучения от источника...
Интерференционное устройство для измерения перемещений
Номер патента: 1073567
Опубликовано: 15.02.1984
Авторы: Мотуз, Полонин
МПК: G01B 11/00
Метки: интерференционное, перемещений
...Фото сввт 6 расщейитвлвм 2 .на два параллельпривмник, выходом связанный с электРОЖ ных пуща:М и 13. ЙУФок 12 делитсямваанкчвским преобразователем,сввтоделитеяе 6:3 иа два пучка, кото. ивдостаток иэаеатного увтРФЙсФ-рые, сщаэивмись от зеркала 4 и объек.ва .- ограниченный.частотйый диапазон та 11, формируют иктерфвренционнуюк невысокая точиость иэмврекнй .ЙРЯ картину 14; пучок .13 делится в своюксетроле виброперемещений, Что обУс- ф 5 очередь сввтбделителвм 3 на два пучловлвно нвлннейностью амплйтудно-ка, оторне,.отразившись от зеркала 4частотной иарактернстнки.пуеобраэо" .:н. зеркала.Ь:, .Формируют ивтврфервнвателя, сравнительно невысокой его . :. ционкую картнер 3. Образовавшиесясобственной частотой :к рядом других . иитврфеуенцМйнмв...
Интерференционное устройство для измерения перемещений
Номер патента: 1054677
Опубликовано: 15.11.1983
Авторы: Мотуз, Полонин, Сиваков
МПК: G01B 11/00
Метки: интерференционное, перемещений
...жестко скрепляемым с контролируемым объектом так,что плоскости зеркальных граней ориен"тируются перпендикулярно вертикальнойи горизонтальной координатным осям 50измерения соответственно, зеркалоустанавливают под углом ч 5 к вертикальной грани отражателя, а фотоприемник размещен на выходе светорасщепителя в совмещенном потоке иэлучения.На чертеже изображена оптическаясхема поедлагаеяого интерференцион" 77 2ного устройства для измерения перемещений.Устройство содержит источник 1монохроматического излучения, светорасщепитель 2, отражатель 3, объектч измерения, зеркало 5, фотоприемник6, блок 7 регистрации,Светорасщюитель 2 расположен напути света источника 1 излучения, отражатель 3 жестко закреплен на поверхности контролируемого объекта...
Способ контроля амплитуды и формы колебаний объектов
Номер патента: 1040328
Опубликовано: 07.09.1983
Авторы: Квасов, Корешков, Мотуз, Полонин
МПК: G01B 11/00
Метки: амплитуды, колебаний, объектов, формы
...на фиксированных частотах, а для по 40328 2лучения информации в широком диапазо".не частот требуется регистрироватьбольшое число голографических интер"ферограмм.Цель изобретения - снижение трудоемкости контроля,Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу контроляамплитуды и формы колебаний объектов,.О по которому возбуждают в контролируемом объекте упругие колебания и облучают его световым излучением, находят положение плоскости локализациифокальных точек, формируемых в резуль 1 тате, переотражения излучения контролируемым объектом, определяют число фокальных точек, измеряют рас"стояние от плоскости локализациифокальных точек до контролируемогоЭъ объекта и судят о форме колебанийпо числу фокальных точек, а амплитуду...
Оптико-электронное устройство для измерения линейных перемещений
Номер патента: 1035419
Опубликовано: 15.08.1983
Авторы: Мотуз, Полонин
МПК: G01B 21/00
Метки: линейных, оптико-электронное, перемещений
...интерференционных или муаровых полос,соединенных последовательно, дис кретного фотопреобразователя 2, блока3 Формирователей, блока ч счета иблока 5 индикации, Блок Формирователей выполнен в виде соединенныхпоследовательно усилительного узла6, коммутатора 7 и элемента 8 И,генератора 9 тактовых импульсов иузла 10 управления, соединенногос ним.Устройство работает следующим образом.дискретный фотопреобразователь 2служит для преобразования оптиче:кого сигнала в электрический и содержит систему параллельных электрически изолированных Аотоприем3 10 ников, причем ширина одного светоцув, ствительного слоя их выбрана меньше ширины интерференционной или муаровой полосы при максимальной частоте их следования, При наличии угловых смещений объекта...
Устройство для измерения перемещений поверхности объекта
Номер патента: 1011505
Опубликовано: 15.04.1983
Авторы: Квасов, Корешков, Полонин
МПК: G01B 11/16
Метки: объекта, перемещений, поверхности
...в нем от- Регистратор 9, оптический диффуэор 10, сутствуют поляризационные алементы, сферический отражатель 11, фокусирующуюНаиболее близким к изобретению яв линзу 12, второй поляризацнонный элеляется устройство для измерений пере- мент 13 и четвертый плоский отражамещений поверхности объекта, содержащее тель 14. Между сферическим отражатепоследовательно расположенные вдоль лем 11 и фокусирующей линзой 12 по- оптической оси лазер, расширитЕль из- мещен исследуемый объект 15. лучения, выпопненный в виде оптической 20 Устройство работает следующим об системы, светодэлитель первый и второй Разсм.плоские отражатели, светофильтр, первый На регистраторе 9 методом двойной поляризационный алемент, третий плос- экспозиции регистрируется...
Устройство для измерения параметров движения объекта
Номер патента: 1000748
Опубликовано: 28.02.1983
Авторы: Карпов, Квасов, Кузнецов, Полонин, Прохоренко
МПК: G01B 11/00
Метки: движения, объекта, параметров
...объект (28 находится в фокальной плоскости микрообъектива 11.По сути устройство представляет собой фотоэлектрический интерферометр.Устройство работает следующим образом.При смещении объекта 28 в направлении оптической оси падакщего на него сигнального. пучка света интерферометра происходит изменение интенсивности интерференционной картины на выходе интерферометра, пропорциональное величине смещения.Изменение интенсивности интерференционной картины преобразуется при помощи фотопреобразователя 8 в переменный электрический сигнал, изменяющийся по закону изменения амплитуды смещения объекта 28. Этот электрический сигнал поступает на механизм 5 линейного перемещения опорного зеркала 4 и смещает опорное зеркало 4 на величину, равную...
Устройство для измерения линейных перемещений объектов
Номер патента: 996861
Опубликовано: 15.02.1983
Авторы: Войтешук, Мотуз, Полонин, Попов
МПК: G01B 11/00
Метки: линейных, объектов, перемещений
...линейки 2, характеризует 5 положение границы интерференционныхполос на светочувствительной поверх- ности этого Фотоприемника, что соответствует положению рабочей точки на передаточной характеристике, свя-, 2 О зывающей величину линейного перемещения интерФеренционной или муаровой полосы с величиной светового потока, падающего на фотоприемник, Сравнение значения постоянной составляющей сиг 25 нала, снимаемого в текущий моментс Фотоприемника, с величиной напряжения, соответствующего положению рабочеВ точки на середине линейного участка передаточной характеристики Щ выбранного Фотоприемника, позволяетболее точно настроить центр границы раздела светочувствительной поверхности выбранного фотоприемника линейки 2 на место сканирования...
Способ исследования свертываемости крови
Номер патента: 985743
Опубликовано: 30.12.1982
Авторы: Квасов, Полонин, Сятковский
МПК: G01N 33/48
Метки: исследования, крови, свертываемости
...предлагаемого устройства,предназначенная для реализации предлагемого способа.Устройство содержит источник 1 гамщ ма-квантов и установленные по ходу пу 1- ка излучения рабочий канал 2, предназначенный для фиксирования биологического объекта, например пальца руки пациента, и детектор 3 излучения.985 74 З мические изменения в крови при инфаркте миокарда.Предлагаемый способ позволяет исследовать состояние свертываемости кро ви внутри организма без взятия проб упациента, кроме того, уменьшить трудоеьь.кость за счет сокращения времени анализа,Составитель С. МалютинаРедактор Н. Ковалева Техред С.Мигунова Корректор М мчи 0161/67 . Тираж ВНМИПИ Государ по юлам изоб 113035, Москва887 твенноретенийЖ,Подписноекомитета...
Способ контроля дефектов материалов и изделий
Номер патента: 945761
Опубликовано: 23.07.1982
Авторы: Квасов, Полонин
МПК: G01N 23/18
Метки: дефектов
...условиях (при определенных частотах) приводит к появлению дополнительных спектральных составляющих колебаний решетки, обусловленных наличием и типом дефектов.Пучок мессбауэровского излучения из источника 1 попадает на вращаемый ф 5 контролируемый объект 9.Часть мессбауэровского излучения, испытав при определенной ориентации объекта 9 резонансное когерентное рассеяние Фа атомах основной решетки и 5 О дефектах, попадает в резонансный поглотитель 2, представляющий собой материал, содержащий мессбауэровские ядра с энергией резонансного погло щения, равной энергии излучения месс бауэровских ядер источника 1.Для исследования всех точек спектра рассеянного мессбауэровского из 1 4лучения резонансный поглотитель 2приводится в движение вибратором...
Способ измерения шероховатости поверхности
Номер патента: 945652
Опубликовано: 23.07.1982
Авторы: Беляев, Карпов, Квасов, Немченок, Полонин
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, шероховатости
...на контролируемую поверхность" поляризованное электромагнитное излучение, регистрируют интенсивность излучения, отраженного отповерхности, и по велицине интенсивности оценивают контролируемый параметр, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью измерения также и поверхностных дефектов, осуществляютвращение плоскости поляризации излучения, направляемого на поверхность,а величину контролируемого параметраопределяют по максимальной интенсивности отраженного от поверхности излучения,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство, СССРйф 508670, кл. 6 0 В 11/30, 1972.2. Патент ВеликобританииМ 1523604, кл. 6 01 В 11/30, 1978(прототип),Составитель Н. ЗахаренкоРедактор О. Юрковецкая Техред С.Мигунова Корректор...
Оптико-электронное устройство для измерения линейных перемещений объектов
Номер патента: 939937
Опубликовано: 30.06.1982
Авторы: Карпов, Мотуз, Полонин, Попов
МПК: G01B 21/00
Метки: линейных, объектов, оптико-электронное, перемещений
...фотоприемник линейки 2, в зависимости от характера изменения напряжения на выходе сумматора 7.Диапазон анализируемых напряжений узлом 8 связан с диапазоном перемещения интерференционной или муаровой полосы и разбит на ряд уровней, разность которых связана с числом Фотоприемников линейки 2,Анализ уровней напряжений по максимуму и минимуму значений по сравнению с опорными уровнями, задаваемыми источником 12 опорных напряжений, осуществляется компараторами 14 верхнего уровня и компаратором 15 нижнего уровня, выходные сигналы с которых поступают на реверсивный счетчик 9, который с помощью дешифратора 10 переключает с помощью коммутатора б фотоприемники линейки 2, а с помощью коммутатора 11 источник 12 опорных напряжений, Разность между...
Устройство для измерения линейных перемещений объектов
Номер патента: 894352
Опубликовано: 30.12.1981
Авторы: Карпов, Мотуз, Полонин, Попов
МПК: G01B 11/00
Метки: линейных, объектов, перемещений
...или муаровых полос, .выделяется участок, соответствующий переходу от светлой к темной полосе, который проецируется на линейку 2 фотоприемников, на выходекоторых формируются сигналы, пропорциональные распределению освещенкости вдоль выделенного участка. 2 4индикации тот фотоприемник, который пространственно расположен на участке, соответствующем середине между максимальными и минимальными освещенностями интерференционной полосы.Блок 9 индикации индицирует переменный электрический сигнал, амплитуда которого пропорциональна величине виброперемещений объекта.Сигналы с выходов линейки 2 фотоприемников поступают на вход узла 4 частотной селекции, осуществляющего разделение переменной и постоянной составляющих сигналов...
Интерференционное устройство для измерения перемещений
Номер патента: 861934
Опубликовано: 07.09.1981
Авторы: Карпов, Немченок, Полонин, Синяев
МПК: G01B 11/00
Метки: интерференционное, перемещений
...элемента 10.Устройство работает следующим образомеПучок света от источника 1 делитсясветорасщепителем 2 на два параллельных пучка, по ходу одного из них создана система компенсации внешних воздействий, включающая светоделитель 3,делящий этот пучок на два взаимноперпендикулярных пучка, один из которых, отразившись от первого опорногозеркала 4, а второи - от зеркала 8,установленного на общем основаниис объектом 9, и отразившись от оптического элемента 10, формируют первую интерференционную картину, интенсивность кбторой преобразуется Фото 45приемником 12 в электрический сигнал, который подается на первый электромеханический преобразователь 5 сзакрепленным на нем первым опорнымзеркалом 4. По ходу второго пучкасистема...
Устройство для измерения деформаций
Номер патента: 861933
Опубликовано: 07.09.1981
Авторы: Карпов, Немченок, Полонин, Синяев
МПК: G01B 9/021
Метки: деформаций
...расположенные по ходу излучения светоде-.лительный элемент 5, опорное зеркало6, два зеркала 7 и 8, одно из которых7 устанавливается на контролируемойповерхности 9, другое 8 - перпендикулярно излучению, отраженному отпервого зеркала 7, и блок 10 регистрации, установленный во втором потокеизлучения от светоделительного бло,.ка 2,Устройство работает следующим образом. 35Излучение лазера 1 делится светоделительным блоком 2 на два параллельных пучка. Один из пучков поступает на оптический элемент 3 расширения и обеспечивает работу голографи 40 ческого интерферометра. Другой пучок поступает на све 1 оделительный элемент 5, который выполнен в виде плоско- параллельной пластины с полупрозрачным покрытием на одной плоскости, просветляющим " на...
Устройство для бесконтактного измере-ния перемещений и вибраций обектов
Номер патента: 832350
Опубликовано: 23.05.1981
Авторы: Карпов, Немченок, Полонин, Синяев
МПК: G01H 9/00
Метки: бесконтактного, вибраций, измере-ния, объектов, перемещений
....Фотопреобразователей 4 и 5 поступают на блок 6 вычитания сигналов, на выходе которого возникает разностный сигнал, который подается на электромеханический преобразователь 7, осуществляющий перемещение Фокусируюпего мик 50 роскопа 3 в соответствии с этим сигналом,При неподвижном объекте на выходах фотопреобразователей 4 и 5 имеетсяэлектрический сигнал, который соответст55 вует собственному спектру источника 1 монохроматического света (лазерного излучения) - собственный шум его. В этот момент ца выходе блока 6 вычи 50тащи сигналов величина разностного сит нала равна нулю.При вибрации или слешеции исследуемото объекта (показан ца Фиг. 1 волнистой линией) происходит модуляция света, отраженного объектом пуча, вследствие его...
Оптико-электронный микрофон
Номер патента: 830661
Опубликовано: 15.05.1981
Авторы: Карпов, Немченок, Полонин, Синяев
МПК: H04R 23/00
Метки: микрофон, оптико-электронный
...волна вызывает изменения давления воздушной среды по закону изменения амплитуды и частоты акустического сигнала. Изменения давления преобразуются в электрический сигнал преобразователем акустического сигнала в электрический следующим образом. Пучок излучения от источника 3, расщепленный плоско-паралельной пластиной 4 и разделенный светоделителем 5, образует две ветви преобразователя акустического сигнала, пучки излучения, отразившись от первого и второго зеркал, дают интерференционную картину, один из пучков проходит сквозь горловину акустического волновода 2. Так как избыточное давление акустической волны изменяет плотность воздушного объема в горловине акустического волновода, то вследствие этого возникает изменяющаяся по закону...
Устройство для измерения распределения температуры поверхности
Номер патента: 789691
Опубликовано: 23.12.1980
Авторы: Варикаш, Карпов, Полонин, Синяев
МПК: G01J 5/44
Метки: поверхности, распределения, температуры
...светоделитель 7, опорное зеркало 8, линза 9, голограмма10 термоупругого элемента, поворотноезеркало 11 и линза 12, 23Рассмотрим основные функции, выполняемые каждым из структурных элементов устройства.Оптическая система 1 представляетсобой линзу, пРозрачную для инфракрасного излучения. Она собирает это излучение от поверхности объекта,Термоупругий элемент 2 установленв Фокусе системы 1 и представляет собой тонкую, порядка 1 мм, сегнетозлектрическую пластину с мелкодоменнойструктурой. Домены имеют размер порядка десятых долей мм и обладают большой подвижностью друг относительнодруга.Термокамера 3 позволяет поддерживать стабильной температуру, равную.температуре Кюри (температура Фазового перехода сегнетоэлектрика), в которой подвижность...
Оптико-электронное устройство для измерения линейных перемещений
Номер патента: 781558
Опубликовано: 23.11.1980
Авторы: Данилович, Полонин, Попов, Скоков
МПК: G01B 11/00
Метки: линейных, оптико-электронное, перемещений
...первого элемента И 19 ичерез элемент НЕ 17 - со вторым входом второго элемента И 18, выходыэлементов И 18 и 19 электрически соединены соответственно с первым и вторым входами реверсивного счетчика 20,выходы которого соединены с входамииндикатора 15 старшего разряда, а выход младшего разряда ревереивного счетчика 20 соединен с управляющими входами управляемых инверторов 12.Устройство работает следующим образом.В исходном положении реверсивныйсчетчик устанавливается в нулевое положение,которому соответствует нулевое значение индикатора старшего разряда,При помощи щелевой диафрагмы 7 изинтерФеренционной картины вырезаетсяодна-. темная или светлая полоса, которая проектируешься на приемную частьфотопреобразователя 8, выполненную ввиде...
Способ измерения зазора
Номер патента: 781552
Опубликовано: 23.11.1980
Авторы: Карпов, Кузнецов, Полонин, Синяев, Шрамков
МПК: G01B 7/14
Метки: зазора
...возбуж-дения до начала вращения другой детали, измеряЮт эту амплитуду и по ее величине судят о величинезазора,В основу предлагаемого способа измерения зазора между сопряженными де 5;талями положен принцип превращенияультразвуковых колебаний поверхностиво вращательное движение тела.На чертЕже схематично представленодин из возможных вариантов выполнения устройства для осуществления предложенного способа.Устройство содержит источник 1 возбуждения для приведения деталей 2 и 3в колебательное движение, действующеепоперек зазора, высокочастотный вибростенд 4 с упорами 5 закрепления детали 3 и регистрирующий блок 6, подключенные к выходу источника 1 возбуждения. 20Устройство работает следующим образом.Предварительно производится...
Пьезоэлектрический вибростенд
Номер патента: 726455
Опубликовано: 05.04.1980
Авторы: Карпов, Князевич, Полонин
МПК: G01M 7/00
Метки: вибростенд, пьезоэлектрический
...выполнена конусной. Это объясняется тем, что конструктивно трудно выполнить виброплатформу 11 с горизон,тальной поверхностью для контакта со всеми концентраторами. Такое расположение пьеэовибраторов с концентраторами и форма боковой поверхности вибро платформы объясняется тем, что. в случае параллельной установки пьезовибра торов потребовалось бы значительно уве личить габариты, а следовательно, и вес платформы.На виброплатформе 11 установлен виброизмерительный преобразователь 14, служащий ддя контроля величины вибро,ускорения и связанный электрически с блоком 15 управления и генератором 16,Пьезоэлектрический вибростенд работает следующим образом.Переменное электрическое напряжение от генератора 16 подается на пьезовибраторы 4, 6 и 7,...