Интерферометр сдвига

Союз Соввтских Социалистичвских Реслублик(51) М.Кл .601 В 9/О исоединением заявкиГосудерстеенный комет СССР оо делам иэооретоеей и открытий(23) Приорите Опубли ко 53) УДК 535,853,4(088 8)но 15,07.79. Бюллетень Дата опубликования описания 25.07.7 72) Авторы изобретения(54) ИНТЕРФЕРОМЕ ВИГА еньшени оп отека ры сдвига, в коволновой фронтраздваивается сдвинутые одна орые интерфериНедостатком из ется большое врем рации быстропрот рое обусловлено источника света о использовании м света требуются Изобретение относится к оптико-интерференционным устройствам и предназначенодля исследования быстропротекающих процессов, например деформаций поверхностейпри переменных нагрузках, а также оптических неоднородностей в баллистическихэкспериментах.Известны интерферометторых деформированныйсистемой интерферометрана две идентичные части,относительно другой, котруют между собой.Наиболее близким техническим решениемк рассматриваемому устройству являетсяинтерферометр сдвига, содержащий зеркальное сдвиговое интерференционное устройство,осветительную и наблюдательную системы. вестного устройства являя экспозиции при регистекающих процессов, кото- зависимостью размеров т величчны сдвига, и при аломощных источников длительные экспозиции,Целью изобретения является умеэкспозиции при регистрации быстр рющих процессов.Цель достигается тем, что в известноминтерферометре сдвига, содержащем зер 5 кальное сдвиговое интерференционное устройство, осветительную и наблюдательнуюсистемы, в осветительной и наблюдательныхсистемах установлены поляризатор и анализатор, а в сдвиговом устройстве расположена полуволновая пластинка, плоскость главного сечения которой составляет угол 45с плоскостью поляризации.Такое конструктивное выполнение устройства позволяет производить освещениеисследуемого объекта сквозь интерферометр15 и с помощью поляризационных элементовосуществлять выделение интерференционнойкартины, не зависящей от размеров источника света,Принципиальная схема интерферометрасдвига приведена на чертеже.Интерферометр содержит источник 1 света, линзу 2, поляризатор 3, полупрозрачныезеркала 4 и 5, отражательные зеркала 6 и 7,полуволновую новую пластину 8, сферичес. . 673839 Формула изобретения Составитель А. Медведев Техред О. Луговая Корректор Г. Назарова Тираж 865 Подписное ЦН И И П И Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб д. 4(5 филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Редактор И. ШубинаЗаказ 4056(35 кое зеркало 9, объективы 10, 11, анализатор 12 и исследуемую неоднородность 13. При этом источник 1, линза 2 и поляризатор 3 формируют осветительную систему, объективы 10, 11 и анализатор 12 - наблюдательную систему.Интерферометр работает следующим образом.Световой пучок из осветительной системы первым полупрозрачным зеркалом 4 интерферометра делится на две части, которые с помощью зеркал 6 и 7 соединяются на втором полупрозрачном зеркале 5. Оба световых пучка, пройдя дважды исследуемую неоднородность 13 и отразившись от сферического зеркала 9, вновь направляются в интерферометр, где снова делятся на две части. Таким образом, при двойном прохождении света через систему интерферометра образуются четыре когерецтных световых пучка ц в наблюдательной системе в обц 1 ем случае наблюдается шесть интерференционцых картин. Однако благодаря поляризатору 3 полуволновой пластине 8 и анализатору 12 на выход интерферометра попадают только два ицтерферирующих пучка, и наблюдается ицтерферецционцая картина при неограниченном размере источника света.Сдвиг волновых фронтов осуществляется зеркалом 7, на котором сфокусировано изображение источника 1, а настройка полос - поворотом жесткой пары зеркал 6 и 7,благодаря возможности использованиямаломощных и мощных источников света с неограниченными размерами существенно уменьшается время экспозиции и обеспечивается регистрация быстрых и сверхбыстрых процессов.10 Интерферометр сдвига, содержащий зер.кальное сдвиговое интерференционное устройство, осветительную и наблюдательную системы, отличающийся тем, что. с целью уменьшения экспозиции при регистрации быстропротекающих процессов, в осветительной и наблюдательной системах установлены то поляризатор и анализатор, а в сдвиговомустройстве расположена полуволновая плас.тина, плоскость главного сечения которой составляет угол 45 с плоскостью поляризации.