Житарюк

Номер патента: 1657950

Опубликовано: 23.06.1991

Авторы: Бучковский, Гуминецкий, Житарюк

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, поверхности, шероховатости

...соэ, ц/1+ совк, М=з 10 бр./эггар.ф1,25. 1,г ,Ф(2)/Ф(1), М, 2,в после измерений з 1, эг на исследуемых поверхностях опрееляют Вя по формуле Яя=;(1-М/А(Ф(2)-МФ(1 . 1 ил,вания полученных результатов в измерениях на исследуемых деталях.На чертеже представлена принципиальная схема устройства для реализации предлагаемого способа,Устройство содержит источник 1 излучения, фотоэлектрический приемник 2. Позицией 3 обозначена исследуемая деталь,Способ осуществляют следующим образом.На предметный столик гониометра (не показан) помещают деталь 3 с известным параметром Яя и облучают от источника 1 излучения исследуемую поверхность пучСреднеквадратичное отклонение йя микронеровностей от средней линии профиля определяют по формуле1 - Мдет 30 / 1 з...

Номер патента: 1583839

Опубликовано: 07.08.1990

Авторы: Житарюк, Карасева, Мегера

МПК: G01N 31/16

Метки: индикатор, кислотно-основной

...0,1 н,раствором БаОН до перехода окраски из желтой в фиолетовую,Результаты представлены в табл.1определения и сокращает время анализа, По сравнению с классическими индикаторами - фенолфталеином и паранитрофенолом указанный индикатор характеризуется более узким интервалом рН перехода (9,4-10,4 против 5,6- 7,6), более контрастным переходом окраски в точке эквивалентности, что обеспечивает большую точность и экспрессность анализа, Индикатор можно применять при определении слабых кислот в аналитической химии, биохимии и сельском хозяйстве. 2 табл,Сравнительные свойства предлагаемого индикатора и известного (паранитрофенола) представлены в табл.2.Как видно из тал,2, предлагаемый индикатор характеризуется более узким интервалом рН...