Устройство для контроля качества поверхности

(5 ц 5 6 01 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(71) Киевский филиал Научно-исследовательского технологического института оптического приборостроения(56) Авторское свидетельство СССРМ 236024, кл. 6 01 В 11/30, 1967.(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано длябесконтактного контроля качества поверхностей деталей, например, шероховатостиповерхности в машиностроении и приборостроении. Цель изобретения - повышениеточности контроля за счет того, что регистрируются как зеркально отраженный поток лучей, так и диффузионно-рассеянные световые потоки, в зависимости от закона распределения микронеровностей исследуемой поверхности, но с большей площади, Устройство для контроля качества поверхности содержит осветитель, полупрозрачную пластину 3, линзу 4, два фотоприемника 7 и 8, линзу 6, состоящую из двух частей с различными фокусными расстояниями, установленную по ходу излучения за полупрозрачной пластиной 3, расположенной между источником 1 излучения и линзой 4, Оптические оси линз 4 и 6 перпендикулярны, Фотоприемники 7 и 8 расположены на одной оптической оси так, что их светочувствительные площадки совмещены с задними фокусами каждой из составных частей линзы 6, при атом выходы З фотоприемников 7 и 8 включены по схеме делителя напряжений, выход которого подключен к входу регистрирующего блока. 1 иФ1675669 Формула изобретения Устройство для контроля качества поверхности, содержащее последовательно установленные осветитель, полупрозрачнуюю пластину и линзу и два фотоприемника, отлича ющееся тем,что,с целью повышения точности контроля, оно снабжено второй линзой, выполненной иэ двух частей с отличными одно от другого фокусными расстояниями и расположенной по ходу излучения между полупрозрачной пластиной и фотоприемниками так, что ее оптическая ось перпендикулярна оптической оси первой линзы, а фотоприемники расположены на одной оптической оси так, что их светочувствительные площадки совмещены с задними фокусами соответствующих частей второй линзы. Составитель ЛЯобзоваТехред М.Моргентал Корректор А,Осауленко Редактор С.Кулакова Заказ 2993 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано длябесконтактного контроля качества поверхностей деталей, например, шероховатостиповерхности в машиностроении и приборостроении.Цель изобретения "- повышение точности контроля за счет тогочто регистрируются как зеркально отраженный поток лучей,так и диффузионно-рассеянные световые 10потоки, в зависимости от закона распредепения микронеровностей исследуемой поверхности, но с большей площади,На чертеже изображена схема устройсгва для контроля качества поверхности, 15Устройство содержит осветитель, состоящий иэ последовательно установленных источника 1 излучения и конденсатора 2,полупрозрачную пластину 3, положительнуюлинзу 4, собирающую зеркально отраженный 20и диффуэионно-рассеянный световые потокиот исследуемой поверхности 5, при этом линза 4 оптически связана с линзой б. Линза бсостоит из двух половин, имеющих различные задние фокусные расстояния. Иэготовленив такой линзы возможно либопредварительно склеив две заготовки из стекол с различными показателями преломления и обработав такук) заготовку, как линзу содним радиусом кривизны, либо такую линзу 30склеивают из двух отдельных частей полностью обработанных линз(с различными радиусами кривизны). На оптической оси линзы бсоответственно в фокусах верхней и нижнейее частей расположены фотоприемники 7 и 8, 35в качестве которых можно использовать, например, фотосопротивления. Фотоприемники 7 и 8, воспринимающие световой поток,отраженный от исследуемой поверхности 5,включены по схеме делителя напряжений, 40Предлагаемое устройство работает следующим образом.Световой поток от источника 1 светачерез конденсатор 2 и линзу 4 фокусируетсяна исследуемую поверхность 5, При отсутствии дефектов на исследуемой поверхности5 выполняются условия зеркального отражения (углы падения и отражения равны), и зеркально отраженный световой пучок, отражаясь от полупрозрачной пластины 3, проецируется только через нижнюю часть общей линзы 6 в плоскость фотоприемника 8, Наличие дефектов контролируемой поверхности обусловливает диффузионное рассеяние под различными углами, что вы- . зывает прохождение этой диффуэионнорассеянной части светового потока через верхнюю часть линзы 6 на фотоприемник 7,Таким образом разделение определения качеством исследуемой поверхности 5: чем больше дефектный образец, тем больший сигнал возникает на фотоприемнике 7, Фотоприемниками 7 и 8 вырабатываются электрические сигналы 01 и 0, которые в виде частотного отделения попадают на операционный усилитель (на чертеже не показан), Для того, чтобы частное попало в рабочий диапазон, производится предварительная регулировка потенциометра (на чертеже не показан), а необходимый коэффициент усиления задается сопротивлением обратной связи (на чертеже не показан). Регистрирующий блок (на чертеже не показан) позволяет осуществить определение отношения диффузионной и зеркальной составляющих 01/02, соответствующее качеству исследуемой поверхности 5.