Рефлектометр для измерения поляризационных параметров поверхности объекта

(19) 5 0 01 В 11/30 НИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ О Од ГОСУДАРСТВЕНЫЙ КОМИТЕТГ 0 ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Киевский государственный университет им. Т,Г.Шевченко(56) Авторское свидетельство СССР М 1352201, кл. 6 01 В 11/30, 26.04,83.(54) РЕФЛЕКТОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯПОЛЯРИЗАЦИОННЫХ ПАРАМЕТРОВ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для измерения комбинированных поляризационных параметров поверхности жидких обаектов. Цель изобретения - обеспечение возможности измерения комбинированных поляризационных параметров поверхности жидких объектов. Рефлектометр содержит источник излучения, установленные по ходу излучения гониометр с двумя столиками 1 и 2 с воэможностью размещения на них эталонного и контролируемого обьектов, модулятор, фотоприемник, два поляризатора 6 и 7 со взаимно перпендикулярными плоскостями поляризации. При этом одна из плоскостей установлена в плоскости горизонтально расположенного столика 1. а другая - в плоскости, перпенди кулярной плоскости столика 2. Рефлектометр также содержит четыре плоских зеркала 8 - 11, установленных попарно по обе стороны от каждого из столиков 1 и 2, Модулятор выполнен в виде двух зеркал 3 и 4, установленных посередине между каждой из двух пар плоских зеркал 8, 9 и 10, 11 и кинематически связанных между собой, 2 ил, 1670394Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для измерения комбинированных поляриэационных параметров поверхности жидких объектов.Цель изобретения - обеспечение воэможности измерения комбинированных поляризационных параметров поверхности жидких объектов.На фиг. 1 изображена принципиальная схема рефлектометра, вид спереди; на фиг, 2 - то же, вид сверху,устройство содержит источник излучения (не показан), столик 1, предназначенный для размещения на нем эталонного объекта (не показан), столик 2, предназначенный для размещения на нем контролируемого объекта (не показан), зеркала 3 и 4, фотоприемник 5, поляризаторы б и 7, зеркала 8 - 11. Гониометр включает столики 1 и 2, 00 - ось вращения гониометра. Модулятор включает зеркала 3 и 4, которые кинематически связаны между собой, Плоскости поляризации поляризаторов б и 7 взаимно перпендикулярны и установлены так, что одна иэ них размещена в плоскости, перпендикулярной плоскости столика 1, а другая - в плоскости горизонтально расположенного столика 2.Рефлектометр работает следующим образом,Направленное вдоль оси 00 излучение1попадает на зеркало 3, при вращении которого вокруг оси, перпендикулярной оси 00, излучение поочередно направляется либо на столик 1, либо на столик 2, а затем, после отражения от эталонного и контролируемого объектов и соответственно зеркал 10 и 11, направляется на зеркало 4, направляющее поочередно (вследствие кинематической связи с зеркалом 3) излучение либо от эталонного, либо от контролируемого объекта к фотоприемнику 5, где регистрируемый сигнал переменного тока (напряжения) прямо пропорционален уровню различия коэффициентов отражения в р-поляризации для контролируемого объекта и э-поляризации для эталонного объекта. Поскольку плоскости поляризации поляризаторов б и 725 30 35 40 45 50 5101520 взаимно ортогональны, то при их повороте на 90 вокруг оси пучка излучения, направления плоскостей поляризации отраженного от эталонного и контролируемого объектов излучения меняются местами и регистрируемый на фотоприемнике 5 сигнал переменного тока (напряжения) соответствует уровню различия коэффициентов отражения в р-поляризации для эталонного объекта и з-поляризации для контролируемого объекта, По разности величин сигналов переменного тока, полученной в результате размещения в укаэанных двух азимутальных положениях поляризаторов б и 7, отличающихся на 90 О, определяют величину расхождения параметров поверхности контролируемого объекта по отношению к эталонному,С помощью рефлектометра можно измерить комбинированные поляризационные параметры поверхностей как жидких, так и твердых объектов плоской формы,Формула изобретения Рефлектометр для измерения поляризационных параметров поверхности объекта, содержащий источник излучения, установленные по ходу излучения гониометр, включающий столики, предназначенные для размещения на них соответственно эталонного и контролируемого обьектов, модулятор и фотоприемник, отл и ч а ю щи йс я тем, что, с целью обеспечения воэможности измерения комбинированных поляризационных параметров поверхности жидких объектов, он снабжен двумя поляризаторами со взаимно перпендикулярными направлениями поляризации, одно из которых параллельно плоскости столика, предназначенного для размещения на нем эталонного объекта, а другое - параллельно плоскости, перпендикулярной плоскости столика, предназначенного для размещения на нем контролируемого объекта, и четырьмя плоскими зеркалами, установленными попарно по обе стороны от каждого столика, а модулятор выполнен в виде двух пар плоских зеркал, установленных посередине между каждой из двух пар плоских зеркал и кинематически связанных между собой.1670394Составитель Л.Лобзова Редактор М.Кобылянская Техред М,Моргентал Корректор М.Демчи Заказ 2737 Тираж 371 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 1