Щайкевич
Рефлектометр для измерения поляризационных параметров поверхности объекта
Номер патента: 1670394
Опубликовано: 15.08.1991
Авторы: Дрозд, Поперенко, Щайкевич
МПК: G01B 11/30
Метки: объекта, параметров, поверхности, поляризационных, рефлектометр
...размещена в плоскости, перпендикулярной плоскости столика 1, а другая - в плоскости горизонтально расположенного столика 2.Рефлектометр работает следующим образом,Направленное вдоль оси 00 излучение1попадает на зеркало 3, при вращении которого вокруг оси, перпендикулярной оси 00, излучение поочередно направляется либо на столик 1, либо на столик 2, а затем, после отражения от эталонного и контролируемого объектов и соответственно зеркал 10 и 11, направляется на зеркало 4, направляющее поочередно (вследствие кинематической связи с зеркалом 3) излучение либо от эталонного, либо от контролируемого объекта к фотоприемнику 5, где регистрируемый сигнал переменного тока (напряжения) прямо пропорционален уровню различия коэффициентов отражения...