Способ контроля частоты отражающих радиусных поверхностей

Номер патента: 51477

Опубликовано: 01.01.1937

Авторы: Александров, Куртенер

МПК: G01J 5/16

Метки: например, поверхностей, поверхности, почв, прибор, температуры

...систему так, чтобы температура 7, частей ее, включая сюда, холодные спаи термостолоика, была ; общей для них и могла быть изме-, няема по произволу, и обозначивтемпературу поверхности одной, невключенной в изложенный выше пере. чень, части системы Т, можно выразить все изложенное так:Ла = - , о (Т.,"Т 1 ",гдек - отклонение гальванометра,Л - константа, имеющая размерность,площади,о - константа лучеиспускания объек-та (почвы и т. д.)Т, - температура частей прибора ихолодных" спаев помещенного в неготермостолбика,Т - температура поверхности ооъ- ,екта (почвы и т, д,),Эи р - некоторые величины, зази-сящие от объекта и приоора,гПри условии Т., = -- Г, отклонениегальванометра равно нулю,Грбор для осущ ствления предка-гаемого...

Номер патента: 70554

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Веннер

МПК: B24B 1/00, B24B 19/08

Метки: архимедовой, криволинейных, круга, поверхностей, поверхностью, спирали, способу, торцевой, шлифования, этому

...круга и проходящей (на фиг. 1) через точку В.Предлагаемое приспособление для шлифования собрано на основной плите 4 (фиг. 3), снабженной цапфой 1 (точка В на фиг, 1) и имеющей направляющий паз 5 (фиг. 3 и 4) (ось А,А, на фиг. 1), по которой перемещается палец 3 (точка С на фиг, 1). Цапфа 1 расположена по оснаправляющего паза б в плоскости торца шлифовального круга 2. На цапфу 1 насажена поворотная плита б, несущая на себе салазки 7. Эги салазки во время работы двигаются вдоль направляющих поворотной плиты б (по оси А-А на фиг. 1). На салазках 7 смонтирован шпиндель 8 (полюс О на фиг. 1), несущий обрабатываемое изделие 9. Вращением винта 10 (фиг. б) осуществляется перемещение ползуна 1 (фиг, 5) поперек салазок 7, Движение ползуна...

Номер патента: 741044

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Денель, Кеткович, Рупакова

МПК: G01B 11/30

Метки: выявления, движущейся, дефектов, поверхности, прибор

...объектив 2 с каналом из разветвленных световодов 3 и 4, которые у поверхности сходятся так, что один из них является освещающим, а другой - принимающим отраженный свет, соответственно световод 3 связан с источником 5 ультрафиолетового света, а световод 4 - с электронно- исполнительным устройством, состоящим из узлов 6-9: узел 6 - передающая телевизионная трубка, фотокатодом которой являются светочувствительные элементы, сгруппированные соответствующим образом, или светочувствительная пластина, эквивалентная множеству светочувствительных элементов, на которые поступает поток света со световода 4, узел 7 - блок формирования и обработки видеосигналов, узел 8 - видео- контрольное устройство, узел 9 - блок питания.741044 Составитель А....

Номер патента: 1013830

Опубликовано: 23.04.1983

Авторы: Букин, Гуфранов, Прусакова, Розанцев, Халилов

МПК: G01N 24/10

Метки: дефектов, поверхности, твердых, тел

...поверхности, и по изменениям величинысигнала ЭПР во времени сурят о тийе дефектов. аНа Фиг, 1 представлена блок-схема установки ЭИР, на которой производят измерения типа дефектов по предлагаемому способу; на Фиг. 2 - зависимость изменения интенсивности сигнала ЭПР во времени при непрерывном удалении индикатора; на Фиг. 3 и 4 представлены калибровочные графики дпя3 1013830 ффопределения ширины и глубины дефек- скоростью. Угол наклона каждоготов, соответственно. .участка ломанной линии " 4 т 5 и 4-6;Способ осуществляется в следую- т.е. а и с 2 определяет ширину расщей последовательности операций.крытия каждой трещины. Для этого поИсследуемый образец помещаюткалибровочному графику (Фиг, 3) дляв жидкий стабильный.нитроксильный ра- каждого...

Номер патента: 1326004

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Стерлигов, Суббота, Ширшов

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, оптических, поверхностей

...от источника 1 расширяется до необходимого размера коллиматором 2 и двумерным сканирующим устройством 3 разворачивается в растр вдаль взаимно перпендикулярных направлений, а затемфокусирующим объективом А фокусируется на исследуемую поверхность, установленную в держателе 5. Свет, рассеянный дефектом, находящимся на исследуемой поверхности, преобразуется зеркалом 6 в пучок, близкий .к параллельному, который затем зеркалом 7 фокусируется в изображение дефекта на поверхности фотоприемника 8. При контроле .прозрачных деталей прошедшие пучки света выводятся из схемы после отражения от плоского зеркала 9.При наличии поверхностных дефек-. тов с размерами, значительно превышающими длину волны источника света, рассеянный свет. направлен в...