Способ определения параметров шероховатости поверхности изделия и устройство для его осуществления

Номер патента: 1700358

Автор: Егоров

ZIP архив

Текст

(5 Ц 5 Е"5 Я 8 И ЕНИ У СВИДЕТЕЛ К АВТО У чающийся в том,руемого образца (ипутем нанесения дпланарный волновооптический элеменраспространяясь, роватостях контролинутриволноводная верхности, заклю основе контроли ности) создается рических слоев Введенный через в волновод свет, вается на шерох поверхности. В что на оверх- злектд (ПВ). т связи ассеируемой часть ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР ПИСАНИЕ ИЗ(71) Университет дружбы народов им. Патриса Лумумбы(56) Авторское свидетельство СССРМ 1033863, кл. 6 01 В 11/30, 29.12.81. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ(57) Изобретение относится к измерительной технике; в частности к способам и устройствам для измерения субмикронной шероховатости поверхности, Цель изобретения - повышение точности определения и информативности за счет того; что при возбуждении планарного волновода когерентным излучением используют многомодовый волновод, а регистрацию интенсивности рассеянного от поверхности излучения производят под разными углами к исследуемой поверхности и под разными углами к плоскости падения излучения, а также за счет Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам и устройствам измерения субмикронной шероховатости поверхности, а также к оптике,Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ определения параметров шероховатости по,1700358 А определения параметров шероховатости: пространственного периода, амплитуды гармонических составляющих и среднеквадратичного отклонения поверхности от плоскости, Способ заключается в том, что возбуждают планарный волновод когерентным излучением, регистрируют интенсивность падающего на исследуемую поверхность излучения и угловое распределение интенсивности рассеянного от исследуемой поверхности излучения, по ним находят двумерную функцию спектральной плотности шероховатости, по которой определяют параметры шероховатости: пространственный период, амплитуды гармонических составляющих и среднеквадратичное отклонение поверхности от плоскости, При возбуждении используют многомодовый волновод, а регистрацию интенсивности падающего на поверхность излучения и регистрацию углового распределения интенсивности рассеянного от поверхности излучения производят под разными углами к исследуемой поверхности и под разными углами к плоскости падения излучения. 2 с.п,ф-лы, 2 ил.5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 рассеянного излучения наблюдается в виде углового распределения света. В одномодовом волноводе наблюдается только один конус рассеянного излучения. Выражение для относительных потерь мощности водноводной моды на рассеяние на шероховатостях контролируемой поверхности позволяет определять по измеренному энергетическому спектру статистические характеристики шероховатой поверхности.Недостатком известного способа является низкая точность определения и недостаточная информативность, Наиболее близким к изобретению по технической сущности является устройство для определения параметров шероховатости поверхности, содержащее источник и приемник излучения, контролируемую поверхность с устанавливаемым на нее через две диэлектрические пленки оптическим элементом связи, приемный блок для фотометрирования рассеянного излучения, приемный блок для измерения зеркальной составляющей отраженного излучения, блок сравнения и блок регистрации. Диэлектрические пленки на контролируемой поверхности выполняют функции соответственно несущего слоя и слоя связи. По кривой на ленте блока регистрации судят о структуре шероховатости контролируемой поверхности.Недостатком известного устройства является низкая точность определения и недостаточная информативность.Целью изобретения является повышение точности определения и расширение информативности за счет использования многомодового вол новода, регистрации углового распределения интенсивности рассеянного излучения, а также за счет определения параметров шероховатости; пространственного периода, амплитуды гармонических составляющих и среднеквадратичного отклонения поверхности от плоскости.На фиг.1 изображена принципиальная схема устройства для определения параметров шероховатости поверхности; на фиг.2 - то же, вид сверху.Устройство содержит источник 1 излучения, поляризатор 2, фокусирующую систему 3, первый оптический элемент 4 связи (призма), диэлектрический слой 5, второй оптический элемент 6 связи, выполненный в виде плоского полукруга радиуса Я 1, третий оптический элемент 7 связи, выполненный в виде полусферы с плоским основанием радиуса Яг первый слой 8 иммерсии, второй слой 9 иммерсии, первый приемник 10 излучения, второй приемник 11 излучения, переключатель 12 (коммутатор сигналов приемников 10 и 11 излучения, дифференциальный усилитель 13 сигналов приемников 10 и 11 излучения, логарифмический усилитель 14 сигналов приемников 10 и 11 излучения, блок 15 регистрации, переключатель 16 (коммутатор), обеспечивающий подключение к блоку 15 усилителей 13 или 14, осциллограф 17, диафрагму 18, экран 19. Элемент 6 связи имеет радиус Я 1 такой, что 2 Я 1., где . - длина контролируемого образца, обозначенного индексом 20. Элемент 7 имеет радиус Яъ такой, что 2 Я 2О, где О - ширина контролируемого образца 20. Индексом 21 обозначена контролируемая поверхность, Диэлектрический слой 5 и контролируемый образец 20 образуют многомодовый планарный волновод (ПВ) 22, ХУ 2 - трехмерная декартова система координат. Плоскость Ч 2 совпадает с плоскостью контролируемой поверхности 21, Плоскость Х 2 совпадает с одной из плоскостей при угле р- О, перпендикулярных, как и Х 2, плоскости т 2. Для примера на фиг.2 показан вид сверху трех таких плоскостей для трех углов у 1, щ и р з, На фиг.2 показан вид на устройство (фиг.1) сверху, включающий элементы 4-10, 20-22 и поясняющий взаимное расположение этих элементов. Нормаль к контролируемой поверхности обозначена символом и на фиг.1, а на фиг.2 - символически точкой в центре основания элемента 7. При этом нормаль Й параллельна оси Х, т,е, й 1 Х и может быть расположена в любой точке контролируемой поверхности 21,Способ осуществляется с помощью устройства следующим образом.Излучение от источника 1 после прохождения поляризатора 2 и фокусировки системой 3 через элемент 4 связи и диэлектрический слой 5 направляется на контролируемую поверхность 21. Подстройкой угла наклона источника 1 к поверхности 21 по максимуму интенсивности отраженного от передней грани элемента 4 связи излучения добиваются резонанса, При этом в планарном волноводе 22 возбуждается волноводная мода, которая при своем распространении (зондирование поверхности) рассеивается на шероховатостях контролируемой поверхности 21,Рассеянное в плоскости контролируе.- мой поверхности У 2 излучение после вывода в воздух через второй слой 9 иммерсии с помощью оптического элемента 7 связи регистрируется в виде углового распределения интенсивности (по углу Р в плоскости У 2) первым приемником 10 излучения. Излучение, рассеянное в плоскостях, перпен 1700358волновода используют многомодовый вол.новод, а регистрацию интенсивности падающего на поверхность излучения и регистрацию углового распределения интенсивности рассеянного от поверхности излучения производят для каждой моды волновода под соответствующими углами к исследуемой поверхности и под разными углами к плоскости падения излучения.2.Устройство для определения параметров шероховатости поверхности изделия,содержащее источник и приемник излучения, диэлектрический слой, предназначенный для образования с контролируемой поверхностью, оптический элемент связи, (предназначенный для оптического сопряжения через диэлектрический слой с контролируемой поверхностью, и блоки усиления и регистрации,отли ча ющееся тем, что оно снабжено вторым оптически прозрачным элементом связи, выполненным. в 5 виде плоского полукруга и предназначенным для связи через первый слой иммерсии с контролируемым изделием, третьим оптически прозрачным элементом связи, выполненным в виде полусферы и 10 предназначенным для связи через второйслой иммерсии с диэлектрическим слоем, вторым приемником излучения и блоком обработки в виде логарифмического усилителя, вход которого подключен к приемникам 15 излучения, выход - к блоку регистрации, апланарный волновод выполнен многомодовым.1700358 Составитель А,Егоровактор Г.Гербер Техред М.Моргентал Корре Кундрик роизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 1 каз 4458 Тираж Подписное 8 НИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5

Смотреть

Заявка

4725146, 28.07.1989

УНИВЕРСИТЕТ ДРУЖБЫ НАРОДОВ ИМ. ПАТРИСА ЛУМУМБЫ

ЕГОРОВ АЛЕКСАНДР АЛЕКСЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/30

Метки: изделия, параметров, поверхности, шероховатости

Опубликовано: 23.12.1991

Код ссылки

<a href="https://patents.su/5-1700358-sposob-opredeleniya-parametrov-sherokhovatosti-poverkhnosti-izdeliya-i-ustrojjstvo-dlya-ego-osushhestvleniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров шероховатости поверхности изделия и устройство для его осуществления</a>

Похожие патенты