Патенты с меткой «интерференционного»

Номер патента: 144999

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Коломийцев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерференционного

...отступлений дуги 5 от правильной окружности вызывает появление горизонтальных интерференционных полос. По наименьшему числу полос можно измерить величину местных ошибок желоба в сечении 5 и построить профиль поверхности в этом сечении. Если радиусы кривизны поверхностей зеркала и подшипников несколько отличаются друг от друга, то перемещением кольца вдоль оптической оси можно получить вертикальные полосы. При этом ошибки поверхности измеряются по местным искривлениям полос или по их числу, пересекающему вертикальный диаметр поля зрения. Достоинством данной схемы является сравнение торической поверхности подшипника 9 со сферической поверхностью зеркала 8, которая может быть изготовлена с большой точностью, Через линзы 3 и 4 и объективы...

Номер патента: 177115

Опубликовано: 01.01.1965

МПК: G02B 5/28

Метки: герметизации, интерференционного, светофильтра

...частичная разгерметизация ильтра при нахождении его в жидкой приводит к разрушению интерференцислоя по всей поверхности светофильт приводит лиш нию интерферСветофильт 120 С и давле 1 редмет изобретения Способ герметизации интерференционного светофильтра, изготовленного путем нанесения интерференционного слоя на подложку, покрываемую затем чистой подложкой с последующей обмазкой торцов герметизирующим и гидроизоляционным покрытием, отличаюииися тем, что, с целью защиты от влаги интерфсренционного покрытия светофильтров, между интерфереиционным слоем и чистой подложкой покрытия размеща 10 т пленку, например бутафольную, затем светофильтр запрессовывают при одновременном воздействии повышенных температуры и давления до склеивания...

Номер патента: 354867

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Грачев, Кузин, Морозов, Московский, Сачков, Сигаев, Шарыгин

МПК: A61K 31/451, A61N 1/34

Метки: интерференционного, помощи, электронаркоза

...3 - 10 мг/кг и операционе его в полопри по ичаюии тока, п в моме вводят в судорож ино-ме рид, в до - 30 ми введени Изобретение относится к медицине.Известные способы электронаркоза при помощи интерференционного тока, предусматривающие одновременное использование, напри. мер, курареподобных веществ, могут быть до статочно успешно использованы лишь при сравнительно высокой силе тока,Целью изобретения является снижение силы тока до 40 - 80 ма.Эта цель достигается тем, что под контро лем электроэнцефалограммы в момент появления судорожной активности вводят 1-пиперидино-метил- паратолилпропанол- гидрохлорид (мидокалм) в дозе 3 - 10 мг/кг веса, и через каждые 15 - 30 мин операционного вре мени повторяют введение его в половинной дозе.Для...

Номер патента: 491116

Опубликовано: 05.11.1975

Авторы: Кацнельсон, Фурман

МПК: G02B 5/28

Метки: диэлектрического, интерференционного, полосового, пропускающего, фильтра

...для слоев с гг - г, и максимум -для слоев с и гги. Контроль производят прификсированной длине волныравной(0,94 - 1,0) Хо25 После того, как первое зеркало сформировано, наносят разделительный слой. Его на.пыление прекращают при достижении максимума пропускания для слоев с гг=гги минимума - для слоев с гг=гг. Контроль про 30 изводят при Х=1 о,Корректор А, Галахова Редактор В. Фельдман Заказ 4415 Изд, Ме 60 Тираж 593 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 Так же, как разделительный слой, контролируют нанесение пленок, образующих второе зеркало фильтра.При изготовлении всех слоев фильтра о величине...

Номер патента: 520507

Опубликовано: 05.07.1976

Авторы: Власов, Штанько

МПК: G01B 9/021

Метки: вектора, диффузно-отражающего, интерференционного, объекта, перемещения, поверхности, проекции

...другом канале, в резульате чего пучки в различных каналах станоятся когерентными и по поляризации и образуют интерференционную картину в плоскос 35тирегистратора. Используяметод двух эксггозипий и прикладывая к объекту деформирую 1нгую нагрузку, на восстановленном изобракении попучеют интерференционную картину,ггредставляюшую собой изолинии проекции век 1тора перемещения поверхности диффузно-от-ражаюшего объекта на направление, перпендиггулярно биссектрисе угла между направлениями 2 и 3Сравним предложенное устройство саналогом и прототипом по чувствительности и точностным характеристикам, В аналоге используется двухканальное освещение исследуемого объекта и одноканальнаясистема записи информации, распол женнаясиметрично. оптической оси,...

Номер патента: 553525

Опубликовано: 05.04.1977

Авторы: Грязнова, Ильин, Полянский

МПК: G01N 21/46

Метки: интерференционного, показателя, преломления, прозрачных, твердых, тел

...картина, получаемая при исследовании оптически неоднородного образца при помощи данного способа измерения; ца фцг. 2 - интерференциоццая кар. тина, получаемая при исследовании огпически однородного образца; ца фиг. 3 - образец; ца фиг. 4- эта. лон.553525 иг. 1 Для одновременного измерении локальногоабсолютного значения показателя преломления влюбой точке образца последний выполняют со скошенной гранью. Близость показателей преломленияиммерсии, эталона и среднего показателя преломления образца, а также плавно изменяющаяся гео.метрическая тожщци образца и эталона приводят ктому, что интерференционное поле практически неимеет разрыва на границах "образец - иммерсия" и"эталон - иммерсия", что позволяет определитьпоказатель...

Номер патента: 972455

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Крыжановский, Никитина, Орел

МПК: G02B 5/28

Метки: высокопреломляющего, интерференционного, материал, покрытия, слоя

...материала высоко преломляющего слоя интерференциснного покрытия для области спектра 1,9- 8,5 мкм применяется моноокись олова.Предлагаемое интерференционное покрытие может быть получено вакуумным электронно-лучевым или резистивным испарением, причем в качестве низкопреломляющих слоев (и н = 1,38- 1,45) могут быть использованы слои любого из известных веществ, таких как МдРЯК, 5 Р ВаГ, а н качестве высоко: реломляющих - слои моноокиси олова пв:= 2,35-2,51, Покрытия наносятся на подложку (оптичес 972455кое стекло, керамика, кристаллы), нагретую до 200-300 фС при остаточном.давлении 10"+ - 10 тор.На фиг. 1 представлены спектральные кривые пропускания и отражениячетвертьволновых покрытий из фтористого магния и моноокиси олова, нанесенных...

Номер патента: 1024862

Опубликовано: 23.06.1983

Авторы: Бекшаев, Гримблатов, Окунишников, Петренко, Соболь

МПК: G02B 5/28

Метки: волны, длины, интерференционного, максимума, полосы, пропускания, светофильтра, ширины

...определяютсяискомые велициню 21Однако необходимость полученияполной информации об указанной зависимости,присущая известному способу,делает процесс измерений весьма дли"тельным. Кроме того, это приводитк снижению точности измерений, поскольку при продолжительном ислользовании лазера на точности начинаетсказываться нестабильность интенсивности его излучения.Цель изобретения - повышение точности и обеспечение экспрессностиизмерений,Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу определения ширины полосы и длины волнымаксимума пропускания интерференционного светофильтра путем его просвечивания параллельным пучком монохроматического света и регистрацииинтенсивности прошедшего излученияпри именении угла падения излуцения,на фильтр,...

Номер патента: 1149200

Опубликовано: 07.04.1985

Авторы: Введенский, Левина, Страшко

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционного, оптического, фильтра

...покрытий недопустимо и в ряде случаев может привести к разрушению покрытия.Целью изобретения является повыше ние стабильности положения максимума полосы пропусканияф макс- щаааэсмакегде дЪ - смещение во времени длиныволны максимума полосыпропускания 3 максПоставленная цель достигаетсятем, что согласно способу изготовления интерференционного оптическогофильтра путем нанесения на подложку в вакууме многослойного покрытияи последующей герметизации подложкис покрытием при нормальном атмосферном давлении, до герметизации, подложку с многослойным покрытием выдерживают при нормальном атмосферном давлении с температурой газовойсреды (1-5) С, одновременно насыщаяее воздухом с относительной влажностью (95-99)7 в течение 2-3 ч.Исследования...

Номер патента: 1203456

Опубликовано: 07.01.1986

Автор: Беца

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционного, узкополосного, фильтра

...Корректор И. ЭрдейиТираж 525 Г 1 одписноеВНИИГ 1 И Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий13035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Редактор В. ПетрашЗаказ 8412/49 Изобретение относится к интерференционным узкополосным фильтрам и может быть использовано для монохроматизации излучения в оптическом диапазоне спектра.Цель изобретения - сокращение длительности процесса стабилизации спектрального положения максимума коэффициента пропускания фильтра при одновременном улучшении оптического качества за счет увеличения максимального пропускания и уменьшения полуширины полосы пропускания.На чертеже показаны зависимости коэффициента пропускания Т от длины волны Л...

Номер патента: 1208525

Опубликовано: 30.01.1986

Авторы: Каменецкас, Каменецкене, Пятраускас, Скоробогатас

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционного, узкополосного, фильтра

...Т.Тулик Корректор М.Максимишинец Редактор Л.Веселовская Заказ 283/56 Тираж 502 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул . Проектная, 4 1 1Изобретение относится к интерференционным узкополосным фипьтрам, используемым для монохроматизации излучения,Целью изобретения является увеличение коэффйциента пропускания,На чертеже показана зависимость коэффициента пропускания Т ионами пропускания фильтра от длины волны 3, Кривой 1 обозначена спектрапьная характеристика фильтра до облучения, а кривой 2 - спектральная характеристика после облучения. ионами А с энергией 100 кэВ и дозой 10 ион/см,1 з 2П р и м е р, На очищенную химическим...

Номер патента: 1216751

Опубликовано: 07.03.1986

Авторы: Гримблатов, Окунишников

МПК: G02B 5/28

Метки: волны, длины, интерференционного, максимума, полосы, пропускания, светофильтра, ширины

...свето-.Фильтр, соответствующего половине максимума интенсивности прошедшего излучения. длина волны, соответствующая максимуму пропускания:длина волны просвечивающего пучка: угол падения пучка насветофильтр, соответствующий максимальнойинтенсивности прошедшего излучения;показатель преломленияразделительного слоясветофильтра; 6 Е - ширина полосы пропускания светофильтра;1 - угол падения пучка насветофильтр, соответствующий половине максимума интенсивности проведшего излученияИзвестно, что формы полос пропускания и отражения узкополосного интерференционного светофильтра являются взаимно дополнительными, поэтому при условии малости потерь световой энергии на поглощение внутри светофильтра интенсивность отраженного .и прошедшего через...

Номер патента: 1242890

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Окунишников, Петренко

МПК: G02B 5/28

Метки: волны, длины, интерференционного, максимума, полосы, пропускания, светофильтра, ширины

...эффективный показатель преломления разделительного слоя фильтра.Цель изобретения - повышение точности измерения характеристик интерференционного светофильтра за счет исключения влияния показателя преломления разделительного слоя светофипьтра.Поставленная цель достигается тем,чта согласно способу определения ширины полосы и длины волны максимумапорпускания интерференционногосветофильтра дополнительно просвечивают светофильтр вторым зондирующимпучком излучения с длиной волны, мень О шей длины волны, соответствующей максимуму пропускания светофильтра, неравной длине волны основного зонди 1.рующего пучка излучения, и измеряютугол падения второго пучка излученияна светофильтр, соответствуюшиймаксимуму интенсивности прошедшегоизлучения, а...

Номер патента: 1270734

Опубликовано: 15.11.1986

Автор: Морозов

МПК: G02B 5/28

Метки: высокопреломляющего, интерференционного, материал, покрытия, слоя

...И.Попович Обручар акто нду орре Заказ 624/49 Тираж 501 НИИПИ Государственного по делам изобретений и 13035, Москва, Ж, Ра дписн митета СССткрытий ская наб., д. Проектная, 4 риятие, г. Ужгород,4 1Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для создання диэлектрических отражателей, светоделителей и фильтровЦелью изобретения является расширение спектральной области работы интерференционных приборов ( 0,6 10 мкм).На чертеже показаны спектральные зависимости коэффициентов пропускания Т и отражения к покрытий, состоящих из одного 11, трех (2) и семи (3) слоев с чередующимися высороизводственно-полиграфическо ким и низким показателями преломления четвертьволновой оптической толщины, нанесенных по подложку из...

Номер патента: 1275346

Опубликовано: 07.12.1986

Авторы: Верещагин, Замковец

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционного, многослойного, фильтра

...способа заключается в следующем.На обе стороны подложки, изготовленной иэ фторопласта, методом термического испарения последовательно наносят слои германия. Затем иэ полученных трехслойных (германий-фторопласт-германий) заготовок формируют стопу. Для этого между заготовками помещают слои полиэтилена, после чего стопу сваривают. При таком формировании оказывается, что стопа состоит из материалов с чередующимися высоким и низким показателями преломления. Толщины слоев выбирают, исходя из конструкции фильтра, реализующего конкретную спектральную характеристику. Увеличение термостойкости фильтра связано с уменьшением общего числа слоев, изготовленных из полиэтилена и, кроме того, исключением необходимости использования внешних...

Номер патента: 1332200

Опубликовано: 23.08.1987

Авторы: Грилихес, Полянский, Яхкинд

МПК: G01N 21/45

Метки: градиентных, интерференционного, оптических, показателя, преломления, распределения, элементах

...возможная толминщина слоя,Ап - перепад показателя преломления в образце,г - размер градиентной зоныв образце в направлении 5градиента;Ьг - предельно допустимое смещение луча на толщинеслоя.При этом величина Ьг задается исходя иэ предельно допустимого смещения луча на толщине слоя. Значения ги лп могут быть определены несколькими способами, в том числе и с использованием интерференционной картины образца. Размер градиентной зоныг определяется непосредственно поразмеру ее интерферограммы, а величина перепада показателя преломления 20 равнадКдп = - - -1-огде л К - число интерференционных полос в градиентной зоне образца;25; - длина волны используемогоизлучения1 - толщина образца.0Вторично пропускают световой потоки определяют...

Номер патента: 1476420

Опубликовано: 30.04.1989

Авторы: Велигура, Донец, Соболь

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционного, узкополосного, фильтра

...ФМ и ФМ, выполненных в виде насадокдля вакуумной Камеры СМили ЭВ 88 М (в промежутках между периодамираспыления). Периоды распыления продолжают до тех пор, пока толщинаслоя не достигнет необходимой величины.При этом фильтры (в центре заготовки) контролируют излучением с дли-,нои волны 3, -(1,001-1,003)д.После напыления производят сплошной зонный спектрофотометрическийконтроль. Диаметр светового пучка в 25этом случае 15 мм, т.е, примерноравный рабочему диаметру фильтра.После анализа полученных результатов, выбирают и отмечают зону с максимумом пропускания на рабочей длиневолны Яр и вырезают из заготовки Способ изготовления интерференци-,онного узкополосного фильтра, заключающийся в нанесении на плоскуюпрозрачную подложку...

Номер патента: 1483311

Опубликовано: 30.05.1989

Авторы: Лукин, Тартаковский

МПК: G01B 9/02, G01M 11/00

Метки: интерференционного, оптических, формы

...ср. 1 золновой фронт, по ксторох 1 с 1 дитче:тв контроли руемогэ Оптческо; О изде,1 и.1 ил. ражается От контО, ипуе 10 1 ОО ьелтс 1 затем, вновь пройдя светсде.1 ите,ь 5, попадает в плоскость регистрации, где усНновлен сканирующий фотодетектор 1 О ПО оО 11 ночу каналу свет проходит, Отражая,. От эталонного зеркала 9, виоьь прохо 1 Я с;.Ртс дсли тель 5, совмещается со светом из обьектного канала в плоскости регистрации, где сбразуется выборочная интерферогра."а. Интерферограмма регистрипуется сканирук, - щим фотодетектором 10, из которого сИс в виде электрического сигнала поступает в анализатор 11, где реализуется один из из. вестных алгоритмов анализа интерферограмм. После анализа каждои из ингерферограмм серии анализатор 11...

Номер патента: 1503036

Опубликовано: 23.08.1989

Автор: Амстиславский

МПК: G01B 9/021, G03H 1/04

Метки: интерференционного, прибора, учебного

...расстояния. Экспериментально установлс но, что для получения удовлетворительной в условиях демонстрационного опыта протяженности картины необходимо, чтобы это расстояние было достаточно малым, а именно составляло десягологЦелью е наг- ренци- триру- овре- фотою эмул ти пла гу эиу. Аджалов ставитель Корректор С.Иекм Редактор С,Пекар ед М нич акаэ 5082/5НИИПИ Госуд Тираж 683 Подписноественного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 1 роиэводств 3 150303 же.чез н.инеродистого и бромистого калия (железосинеродистьй калий 30 г, бромиетый калий 10 г, вода - до 1 л. Указанная методика фотографирования спекл-структуры и обработки...

Номер патента: 1640535

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Платонов, Черновол

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, интерференционного, перемещений

...спекл-интерферограмму обьекта и восстанавливают с нее пучком полихроматического излучения картину интерференционных полос. Пучок фокусируют до появления на всем изображении объекта интерференционных полос. Перемещают пространственный фильтр до появления полихроматических интерференционных полос. Определяют последовательность изменения цвета полос, по которой определяют направления возрастания порядков полос, а по цве-,огым оттенкам полос определяют их порядки. интерференционных полос, Определяют последовательность изменения цвета полос, по которой определяют направление возрастания порядков полос. По цветовым оттенкам полос определяют.их порядки и, используя их, определяют деформации и перемещения,Способ интерференционного...

Номер патента: 1649265

Опубликовано: 15.05.1991

Автор: Степанов

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, интерференционного, оптической, поверхности, пористого, стекла, формы

...компенсации тепловых деформаций, имеющих место при механической обработке оптических деталей,Представленная схема обеспечивает постоянное заполнение объема пор жидкостью (испарение воды из поверхностного слоя пористых деталей компенсируется ее самопроизвольным капиллярным течением) и устраняет возможную местную деформацию ПС при контроле. Следовательно, получаемая интерференционная картина отражает только точность механической об1649265 Составитель Л. ЛобзоваРедактор Н, Федорова Техред М.Моргеитал Корректор М, Демч аз 1867 Тираж 392 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская иаб 4/5 роиэводствеиио-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 10 работки и...

Номер патента: 1651096

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Носков, Скоков, Соснов, Трифонов

МПК: G01B 11/24

Метки: интерференционного, оптических, поверхности, прецизионных, формы

...1 наблюдают световое иэображение интерферограммы. Наблюдение интерферограммы осуществляется при освещении ее коллимированным пучком под углом у, удовлетворяющим условию а с у (а + ф где а- предельный угол диффузного рассеяния фотоэмульсии,ф - передний апертурный угол оптической системы, При таких условиях освещения объектив 1 регистрирует картину, подобную интерферограмме 2, однако максимумы интенсивности расположены в два раза чаще - в областях перехода от темной полосы к светлой.Этот факт объясняется следующим.Известно, что пропущенный экспонированной и проявленной фотопленкой свет содержит две составляющие: регулярную, сохранившую первоначальное направление распространения, и диффузную, направление распространения которой...

Номер патента: 1658041

Опубликовано: 23.06.1991

Авторы: Комиссарова, Островская, Островский, Филиппов, Шедова

МПК: G01J 9/02, G01N 21/45, G03H 1/00 ...

Метки: интерференционного, контраста, поля

...артгцы, что существенно ограничивает его применение в случае гцторйеренциоццых полей высокой пространственной частоты, В предлагаем: способе измеряют усредненные по большой площади характеристики интерференционной картины и плотностиэнергии поля, что приводит к существенному упрощению как методики измерений, так и используемой аппаратуры.:1 ногие материалы, такие, как мет.ллцзированные слои, скачкообразно изменяют свое пропускание (отражение) вследствие нагрева падающим излучеццем. Такие материалы практически цеселективны и могут работать в широом спектральном диапазоне от ультрафиолетовой до далевой инфракрасной областей спектра. В этом случае ,.ос-.игается еще и существенное расширение спектрального диапазона его...

Номер патента: 1696931

Опубликовано: 07.12.1991

Автор: Гусев

МПК: G01B 9/02, G01M 11/00

Метки: интерференционного, качества, оптических, систем, телескопических

...от известного способа голограмму регистрируют в плоскости изображений диффузного рассеивателя и освещают ее волнами с измененными углами падения, причем изменения углов падения опорной и объектной волн противоположны по направлению, перед регистрацией интерферограммы проводят пространственную фильтрацию прошедших волн в плоскости голограммы.Предлагаемый способ обеспечивает создание условий получения интерферограммы бокового сдвига в полосах бесконечной ширины с использованием когерентного диффузно рассеянного света, в результате чувствительность увеличивается по сравнению с дифференциальной интерферометрией в полосах конечной ширины,На чертеже изображена схема устройства, реализующего предлагаемый способ.Устройство включает блок 1...

Номер патента: 1705701

Опубликовано: 15.01.1992

Автор: Черновол

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, интерференционного

...объектив 3. плоскость 5, в которой при записи спекл-интерферограммы располагается фоточувствительный слой регистратора, а при наблюдении субъективных спеклов гружения объекта вновь на ту же фотопластинку записывают спекл-интерферограмму объекта, восстанавливают полученную двух- экспозиционную спекл-интерферограмму и регистрируют картину интерференционных полос. После этого вновь осуществляют нагружение объекта и одновременно наблюдают картину субъективных спеклов в плоскости записи спекл-интерферограммы, и по ее изменению в процессе нагружения судят о порядке интерференционных полос, При наблюдении картины спеклов может фиксироваться как направление смещения спеклов на выделенном участке, так и величина этого смещения; Затем по...

Номер патента: 1727106

Опубликовано: 15.04.1992

Авторы: Аксенчиков, Недужий, Павлов

МПК: G02B 27/42

Метки: интерференционного, растра

...потока по фронту волны, образующего прямой двугранный угол с плоскостью материала и установленный с возможностью вращения вокруг его ребра в пределах 0-90 относительно направления распространения светового потока (фиг. 1), В качестве источника излучения используют лазер ЛГ с длиной волны экспонирования А = 0,63 мкм при соотношении энергии в сходящихся пучках в плоскости экспонирования сенситограммы 1;1. Для модуляции величины экспозиции используют ступенчатый нейтрально-серый клин с 20 полями и константой К = 0,15, Устанавливают угол поворота системы зеркало - материал относительно направления светового потока р = 1,7. Производят последовательно экспонирование полей сенситограммы, ориентированных по ширине образца, при...

Номер патента: 1755040

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Глебов, Кабакова, Шендерович

МПК: G01B 11/06

Метки: интерференционного, многослойного, нанесении, неравнотолщинного, оптического, покрытия, толщины

...волны, вычисленной для 35 "йоследнего слоя по формуле, отличается отнуля или 180(вспедствйе некратноСти тол щин слоев); и это отличйе впйяет на реальную топщийу последнего слоя. Ошибка этаможет быть как угодно велика, 40В предложенном способе повышение- то асти контроля происходит за сет того,что при расчете контрольной длины волны всоответствии с соотношением аатоматически учитываются измейения фазы коэффициента отражения, вызванныенекратностью топщин слоев, Кроме того,повышению точностй контроля способствует автокомпенсация ошибок -на сбседнихслоях, которая отсутствует при контроле по 50" . способу, принятому за прототип.П р и м е р, Требуется получить интерференционный фильтр, имеющий полосупропускания 2,1-4,0 мм и полосу...

Номер патента: 1760425

Опубликовано: 07.09.1992

Автор: Гусев

МПК: G01B 9/02, G01M 11/00

Метки: интерференционного, качества, оптических, систем, телескопических

...от матового экрана 2 до главной плоскости 5 обьектива контролируемой оптической системы равно его фокусному расстоянию, На фотопластинке 5 с помощью опорной плоской волны, сформированной в блоке 4, проводится запись голограммы диффузно 10 .рассеянного света, прошедшего через контролируемую оптическую систему. Затем после указанной записи голограммы ее освещают исходными обьектной и опорной волнами и с помощью механизмов 6,7 пере мещения сдвигают перпендикулярно оптической оси в одном направлении матовый экран 2 и голограмму 5 на величины, связана 11ные соотношением - =Ь т 2 20 где а и Ь - величины смещений матового экрана 2 и голограммы 5 соответственно;11 и т 2 - соответственно фокусные расстояния объектива и окуляра...

Номер патента: 1514121

Опубликовано: 10.10.1996

Авторы: Глебов, Сапелкин, Якунин

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционного, слоя

Способ получения интерференционного слоя с заданным значением показателя преломления nз, заключающийся в нанесении на заготовку пленкообразующих материалов с высоким nв и низким nн показателями преломления, причем nн < nз < nв, отличающийся тем, что, с целью повышения точности значения показателя преломления nз и увеличения термической стойкости слоя преимущественно для инфракрасной области спектра при использовании слоя в наклонных пучках лучей с узлом падения последовательно наносят m пар чередующихся слоев пленкообразующих материалов с показателями преломления nв и...