Способ определения параметров шероховатости зеркальной поверхности

Номер патента: 868347

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Обрадович, Попов, Солодухо

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхностей, полированных, рефлектометрический, шероховатости

...и общий отраженный от поверхности изделия световой поток 1 О Л , по отношениям (1 Э + +д 1 )Л /1, и (1 + Ь)Л / ), судят о среднем квадратическом отклонении и об интервале корреляции высот неровностей.0СпоСоб может быть реализован с помощью серийно выпускаемых спектрофотометров с интегрирующей сферой типа СФи СФ.На чертеже представлена принципи альная схема спектрофотометра.Спектрофотометр содержит монохроматор 1 и интегрирующую схему 2, которая включает ловушку 3, заслонку 4, приемник 5 излучения и регистри рующее устройство 6.Способ осуществляется следующим образом.Контролируемое изделие 7 располагают в окне интегрирующей сферы 2, освещают поверхность изделия 7 с помощью монохроматора 1 монохроматическим излучением по крайней мере з...

Номер патента: 1179105

Опубликовано: 15.09.1985

Авторы: Веснина, Коломийцов, Мясников, Пивоварова

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, полированной, шероховатости

...попадаетна контролируемую поверхность 5, В .тонком плоскопараллельном воздушномслое между поверхностями 4 и 5 происходит многократное отражение пучковлучей, Отраженные пучки интерферируют и направляются пластиной 2 на фотоприемник 11. С фотоприемника усилен"50ный усилителем 12 сигнал подается наблок 13.В результате многолучевой интерференции в отраженном свете освещенность 1 наблюдаемого участка поверх.ности определяется из зависимости4 К зп (2 Т/й/Л)( - К )2+ 4 В,81 п 2(27 с 1/д) ф где О - толщина воздушного промежутка между контролируемой поверхностью 5 и полупрозрачным отражающим покрытием 4;К - коэффициент отражения поверхностей;3 - длина волны используемогоизлучения.Зависимость 1 от величины воздушного промежутка о приведена на...

Номер патента: 945652

Опубликовано: 23.07.1982

Авторы: Беляев, Карпов, Квасов, Немченок, Полонин

МПК: G01B 11/30

Метки: поверхности, шероховатости

...на контролируемую поверхность" поляризованное электромагнитное излучение, регистрируют интенсивность излучения, отраженного отповерхности, и по велицине интенсивности оценивают контролируемый параметр, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью измерения также и поверхностных дефектов, осуществляютвращение плоскости поляризации излучения, направляемого на поверхность,а величину контролируемого параметраопределяют по максимальной интенсивности отраженного от поверхности излучения,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство, СССРйф 508670, кл. 6 0 В 11/30, 1972.2. Патент ВеликобританииМ 1523604, кл. 6 01 В 11/30, 1978(прототип),Составитель Н. ЗахаренкоРедактор О. Юрковецкая Техред С.Мигунова Корректор...

Номер патента: 966490

Опубликовано: 15.10.1982

Авторы: Бавин, Головач, Мельник, Михайленко, Райко

МПК: G01B 7/34

Метки: контактных, оценки, поверхностей, шероховатости

...нии относительно сложного электриИзобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения шероховатости контактных поверхностей металлических тел пар трения.Среди известных способов определения шероховатости преобладают щуповые методы контроля, основанные на использовании индуктивных, пьезоэлектрических или Фотоэлектрических датчиков.Известен способ оптического измерения шероховатости поверхностей. основанный на посылке на эту повеохность по крайней мере двух дискретных световых лучей от двух источников света через собирающую оптическую систему. Один из этих лучей фокусируется перед поверхностью, а другой - позади нее. Отражение лучей регистрируют фотоэлектрическим...

Номер патента: 1130735

Опубликовано: 23.12.1984

Авторы: Воячек, Глинкин, Григорьев, Данилов

МПК: G01B 7/34

Метки: поверхности, шероховатости, электропроводящей

...его электрических 30и механических характеристик..Цель изобретения - упрощение спо-.соба контроля шероховатости электропроводящей поверхности,Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу контроляшероховатости электропроводящей поверхности,заключающемуся в том, чтона ней размещают слой диэлектрика,налагают электрод емкостного датчика 40и измеряют величину электроемкостимежду электродом и контролируемойповерхностью, в качестве диэлектрикаиспользуют воду, преимущественно дистиллированную, электрод при наложе 45нии доводят до электрического контакта с контролируемой поверхностьюи замораживают воду, находящуюсямежду ними.На фиг.1 представлена принципиальная схема устройства для реализации предлагаемого, способа; нафиг. 2-4...