Архив за 1981 год
Седиментационный гранулометр
Номер патента: 890157
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Куляшев, Ненадов, Нефедов, Реуцкий, Щетинин
МПК: G01N 15/04
Метки: гранулометр, седиментационный
...вустройство 7, клапан 10 подачи водыв гранулометр, клапан 11 сброса пульпы из осадительной трубы. Разделительная камера 4 содержит пробоприемную камеру 12 с отражателем 13 иотверстием 14 для сброса в атмосферусжатого воздуха, с помощью которогопульпа транспортируется по трубопроводу 8Устройство работает следующим образом,.Закрывают клапан 11, открываютклапан 10, заполняют водой осадительную трубу 1 до перелива и прекращаютподачу воды, Уровень воды в трубахи 2 получается одинаковым. Открываютклапан 9 и, подавая сжатый воздух вустройство отправки 7, вытесняют изнего накопленную с помощью автоматического пробоотборника пульпу (нарисунке не показано) по трубопроводу8 в пробоприемную камеру 12 и далее 57 4в разделительную камеру 4, откуда без...
Устройство для измерения концентрации твердых взвешенных частиц
Номер патента: 890158
Опубликовано: 15.12.1981
Автор: Сукач
МПК: G01N 15/06
Метки: взвешенных, концентрации, твердых, частиц
..."сквозные" дырки за счет внутреннего усиления фототока (внутренний входной оптический сигнал), приводят к более значительному усилению Ъ, чем дырки, созданные непосредственно светом.Коэффициент усиления по току 3 в этом случае описывается следующим выражением:й 31ьзгде АЗи А 3 - приращение тока кол"лектора и базь 1 соответственно, причем А 3 КЪЯЫ,Реально Ъ достигает несколькихсотен.Поглощенный в базе фототранзистора4 свет (полезный сигнал), создаваявнутренний входной оптический сигналв количестве, равном .одной электронно-дырочной паре на один. квант, поглощенного в базе света (при квантовом выходе равном единице), на выходе фототранзистора (в цепи его коллектора), создает число носителейв(100-500) раз большее.Увеличение интенсивности...
Устройство для измерения концентрации микрочастиц
Номер патента: 890159
Опубликовано: 15.12.1981
МПК: G01N 15/07
Метки: концентрации, микрочастиц
...суспензией 4, подключен источник разрезожения и давления 5, с подвижным элементом, в виде поршня 6 в цилиндре 7.Внутренняя полость цилиндра 7 соединена с атмосферой через клапан 8,приводимый в действие механизмом пе 25ремещения подвижного элемента, в частности программным кулачком 9, которыйустановлен на валу двигателя (на чертеже не показан),Сигнальные электроды 10 и 11, одиниз которых 10 установлен внутри дат 30чика 1 в непосредственной близости отмикроотверстия 2, а второй 11 погруФжен в стакан с исследуемой суспензией, подключены к измерительной схеме12 с индикатором 13,35Устройство работает следующимобразом.В исходном положении поршень 6находится в верхнем положении. В начале движения поршня 6 вниз по цилиндру 7 в течение...
Способ определения массообменных характеристик пористых материалов
Номер патента: 890160
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Готовцева, Муравьева, Немковский, Протасов
МПК: G01N 15/08
Метки: массообменных, пористых, характеристик
...одновременно регистрируют высоту капиллярного поднятия жидкости и по полученным кривым рассчитывают распределение пор по радиусам.При проведении опыта торец образца может соприкасаться с поверхностью жидкости или находиться несколько ни" же ее, но положение торца относитель"15 25 дг. в знаменателе учитывает нерав 1номерность разбиения по радиусамдщ Ь;0.==1.(г), чем и достигаетт дЬ 3 ьпся поставленная цель.П р и,м е р , Определяют распределение пор по радиусам в капиллярно-пористом алюминиевом покрытии,нанесенном методом газотермическогонапыления на теплообменные трубыф 20 мм,Толщина покрытия 0,3 мм, Измерения проводят на установке, позволяющей осуществлять непрерывнуюрегистрацию изменения массы и высотыподнятия жидкости по...
Устройство для определения проницаемости пористых материалов
Номер патента: 890161
Опубликовано: 15.12.1981
МПК: G01N 15/08
Метки: пористых, проницаемости
...между датчиком скорости и тонкостенной трубкой определяется габаритами датчика скорости и погрешностью определения скорости на оси симметрии трубки, При расстоянии от трубки более 0,3 диаметра трубки проходное сечение между датчиком и трубкой больше проходного сечения трубки. При малых относительно трубки габаритах датчика отсутствие загромождения проходного сечения трубки датчиком скорости имеет место при расстоянии датчика от трубки0,05 диаметра трубки, Расстояние 0,05-0,3 диаметра от выхода трубки удовлетворяет и требованию точности измерения скорости на оси симметрии на выходе цилиндрической трубки.Толщина стенки трубки 0,05-0,1 мм,применение пластин толщиной 0,050,1 мм и их расположение относительно трубки обеспечивают...
Способ измерения объема твердого тела
Номер патента: 890162
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Ивахнюк, Матюхин, Севрюгов
МПК: G01N 15/08
...донеобходимой температуры, например600-800 К, для термо-десорбционнойподготовки исследуемого образца,затем камеру отсекают от потока пикнометрического газа, а пикнометрический газ вытесняют из камеры потокомгаза-носителя, определяют при этомсодержани 1 з пикнометрического газав потоке газа-носителя, а объем вытесняемого телом газа.рассчитывают35как разность содержания пикнометрического газа в потоке газа-носителяв случае пустой камеры и камеры, заполненной исследуемым телом.Проводились сравнительные испыаотания известного и предлагаемогоспособов, Измерение объемов проводили с использованием гелия и азотав качестве пикнометрических газов попредлагаемому способу на специальноизготовленной установке и с помощьювоздушно-гелиевого пикнометра...
Прибор для определения удельной поверхности дисперсных материалов
Номер патента: 890163
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Вишневский, Кудрявцев, Мельников, Моргулис, Тарасов
МПК: G01N 15/08
Метки: дисперсных, поверхности, прибор, удельной
...изображенприбор для измерения удельной поверхности материалов; на фиг.2 - кюветадля исследуемого порошка, разрез.Прибор (фиг.1) состоит из жидкостного однотрубчатого манометра 1 сошкалой 2, соединенного через кран 3шлангами ч с резиновой грушей 5 икюветой 6. Внутри кюветы (фиг.2) расположен полый перфорированный плунжер 7, взаимодействующий с гайкой 8через наконечник 9 и нарезной шток10 с рукояткой 11.На наружнойповерхности гайки 8имеются углубления, в которые упираются шарики 12, прижатые винтами 13через пружины 11, расположенные вмаховике 15,Гайка 8 зафиксирована по вертикалипластинами 16 и 17 крепящимися настойках 18, Своими нйжними концамистойки 18 закреплены на основании 19,В нижней внутренней части устанавливаемого на нем корпуса...
Способ изготовления многослойных образцов
Номер патента: 890164
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Авотиньш, Виксне, Калнин, Коробкова
МПК: G01N 19/04
Метки: многослойных, образцов
...Корректор И.Демчик щи щщщю щщ щщщщфЗаказ 10956/67 Тираж 910 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Иосква, Ж, Раушская наб д.4/5 щщщщщ щщщщщщФилиал ППП "Патент", г,ужгород, ул,Проектная, 4 3 8Способ осуществляют следующим об" разом.Слои материала с адгеэивом между ними размещают между нажимными эле" ментами в виде двух параллельных плит с электронагревателями, создающими градиент температуры по ширине плит. Прикладывают к образованной много" слойной структуре сжимающую нагрузку посредством нажимных элементов и при этом протягивают многослойную струк" туру между плитами, Протягивание осуществляют со скоростью, изменяющейся по заданной программе и обеспечивающей при этом различное время...
Способ определения момента спекания двух стеклянных пластин
Номер патента: 890165
Опубликовано: 15.12.1981
МПК: G01N 21/01
Метки: двух, момента, пластин, спекания, стеклянных
...ния судят по снижению интенсивностиотраженного светового потока.На чертеже показана схема установки для реализации предлагаемогоспособа.3Установка содержит печь 1, под"ставку 2 для образца, юстировочныевинты 3 подставки, полупрозрачноезеркало 4, светоприемник 5, контроль"но-измерительный прибор 6, источник 10света 7, например лазер, завальцованную в крышке печи пластинку из квар"ца 8, термопару 9, крышку 10 печи,наложенные друг на друга пластиныиз испытуемого стекла 11, 35Установка работает следующим образом,Определение момента спекания проводят в печи, в крышке которой естьокошко из кварцевого стекла 8.20В печь 1 вводят наложенные друг надруга и помещенные на подставку пластинки из исследуемого стекла 11. Дляосвещения образцов для...
Прибор для измерения концентрации пыли в воздухе
Номер патента: 890166
Опубликовано: 15.12.1981
МПК: G01N 21/01
Метки: воздухе, концентрации, прибор, пыли
...углом к поверхности смотровогоокна 8 расположентретий фотоприемник 14. Последний регистрирует свет,рассеянный пылью, которая осела нанаружной поверхности смотрового окна8, Выходы фотоприемников 6 и 14 подключены к общему сумматору 15. Суммар"ный сигнал после усиления усилителем16 регистрируется измерительным прибором 17,Устройство работает следующимобразом,В начальный момент времени приустановке прибора на воздуховодев котором отсутствует пыль, выходныесигналы измерительного 6 и контрольных 9 и 1 4 фотоприемников равны нулю.При этом показания измерительногоприбора 17 также равны нулю, оптический клин 12 полностью введен всветовой поток источника света, а навыходе блока сигнализации 13 отсутствует аварийный сигнал,5 1 О 15 2 О 25 ЗО...
Фотоколориметрический газоанализатор
Номер патента: 890167
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Березенко, Крюков, Маслов, Ройзман, Руднева
МПК: G01N 21/27
Метки: газоанализатор, фотоколориметрический
...10, Свет от осветителя 11 попадает на рабочий фотоприемник 9 двумя путями: путем пря" мого отражения от ленты 2 (на чертеже - штриховая линия) и путем зеркального отражения от каналов 12 и 13 (на чертвже " штрихпунктирная ли" ния) .Рабочий и компенсирующий фотоприемники соединены по мостовой схеме. Компенсирующий фотоприемник 10 слу" жит для исключения влияния изменений условий окружающей среды на точность анализа, Для согласования компенсирующего фотоприемника 10 с рабочим фотоприемником 9 канал 14 перекрывается винтом 15, регулирующим степень засветки компвнсирующего фотоприем ника 10.Для компенсации неравномерности зеркального отражения света в каналах 12 и 13 в фотоблоке 6 выполнен дополнительный канал 16, соединяющий...
Кювета атомизатора для анализа высокотемпературных материалов
Номер патента: 890168
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Гавриш, Гузеев, Репников, Цыба, Чужко, Шах
МПК: G01N 21/31
Метки: анализа, атомизатора, высокотемпературных, кювета
...поэтому, нациная с определенной толщины, длязамедления диффузии углерода из графитовой основы в защитное покрытие,а затем и в анализируемую среду на"ружное покрытие иэ карбида танталадолжно обладать пониженным содержанием углерода (ТаСо 0 о-ТаСо.), чтодостигается повышением температурыпроцесса и увеличением хлорида всмеси,35Экспериментальные исследованияпроведенные по подбору марки графита в качестве основы кюветы, показали, что наилучшим комплексом свойствв сочетании с двухспойным покрытием40из карбида ниобия и карбида танталаобладает кювета на основе графита скоэффициентом линейного термическогорасширения. 6,6 10 , Электросопротивление кюветы, изготовленной изтакого графита с двухслойным защитЯ.ным покрытием,составляет 10,5 оммм...
Оптический прибор для исследования прозрачных неоднородностей
Номер патента: 890169
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Камалов, Сухоруких, Харитонов, Шаров
МПК: G01N 21/45
Метки: исследования, неоднородностей, оптический, прибор, прозрачных
...26"29. Входной 9 и выходной 21 отражательные призменные блоки состоят каждый иэ четырех прямоугольных призм, их катетные грани образуют прямоугольник, центркоторого совмещен с оптической осью, а его плоскость перпендикулярна опти" ческой оси; кроме того, в каждомпризменном блоке прямоугольные призмырасположены так, что зеркальные гипотенузные грани обращены в сторону объективов и развернуты по о 1 ношениюк одноименным граням соседних призм на угол 90 . Источники света 1-4 в осветителе установлены на зеркальных отображениях оптицеской оси входным призменным блоком 9 с возможностью перемещения в,плоскости, препендикулярной оптической оси. Для осуществления наклона на угол 90йдополнительной щели 11 и вспомогательных ножей Фуко 18 и 20 в...
Устройство для определения концентрации взвесей в окрашенных средах
Номер патента: 890170
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Данильчук, Дмитриев, Злотник, Маликов
МПК: G01N 21/51
Метки: взвесей, концентрации, окрашенных, средах
...во-первых, определенным исследуемым веществом; во-вторых узкимдиапазоном измерения концентрациивзвесей в исследуемой среде,Целью изобретения является повышение точности измерения,Поставленная цель достигаетсятем, что в устройстве для определения концентрации взвесей в окрашенных средах, содержащем измерительнуюкамеру, источник света, фотоприемники, устройство управления интенсивностью светового потока источника света и регистрирующий прибор,фотоприемники расположены по периметру измерительной камеры под разными углами относительно оси распространения прямого света, приэтом часть фотоприемников подключенак устройству управления интенсивностью светового потока источника света, а остальные фотоприемники к регистрирующему прибору,В...
Оптический абсорбционный газоанализатор
Номер патента: 890171
Опубликовано: 15.12.1981
Автор: Салль
МПК: G01N 21/61
Метки: абсорбционный, газоанализатор, оптический
...до одинаковой установившейся температуры. При возникновении газового потока между полостями изменяются условия охлаждения терморезисторов, Эти изменения неодинаковы, так как газовый поток уносит тепло от одного терморезистора к другому: газовый поток от полости 4 к полости 11 уносит тепло от термо" резистора 16 к термореэистору 17.Последний оказывается больше нагрет, чем первый. Наоборот, противоположно направленный поток (от полости 11 к полости 4) уносит тепло от терморезистора 17 к терморезистору 16. Боль" ше охлаждается терморезистор 17, чем термореэистор 16. Поскольку нап" равление газового потока изменяют с частотой модуляции, то с такой же частотой возникает переменный дополнительный тепловой поток между8901171 5 1 О 1...
Устройство для исследования спектров газовой смеси
Номер патента: 890172
Опубликовано: 15.12.1981
Автор: Рогожин
МПК: G01N 21/63
Метки: газовой, исследования, смеси, спектров
...объем ч газовойсмеси. Преобразованный в исследуемом объеме световой поток проходитвторой световод 5 большего сечения,расположенного в соответствии с условием малого однократно-о рассеяния на углы,1агс Сц - , Путем изменения соотношения сеченийсветоводов и расстояния между ихторцовыми поверхностями, обращенными к исследуемому объему, можно добиться оптимальных условий наблюдения углового спектрального распределения излучения от различных выбранных участков газовой смеси неоднородного составах .Дискретная система фотоэлементов, например фотоумножителей, перекрывающих весь спектральный диапазон наблюдаемого света, позволяет получить в дискретном угловом анализаторе импульсы, пропорциональные интенсивности всего преобразованного...
Способ разделения химического вещества и устройство для его осуществления
Номер патента: 890173
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Айдаров, Султанбеков
МПК: G01N 21/64
Метки: вещества, разделения, химического
...имеющему редуктор 35, вентиль 36 и ротаметр 37. К магистралям подведены нагревательные устройства 38 для подогрева инертных газов с добавками, которые через реостаты 39 и выключатели 40 соединяются с электрической сетью. Температура нагрева инертных газов контролируется термопарами (на чертеже не указаны), Боковые магистрали снабжены устройствами 41 для создания пульсирующего потока газов с выключателями 42. Электрический нагрев графитовой трубки осуществляется токовым трансформатором 43 с регулировочным реостатом 44 и выключателем 45.Устройство для осуществления предлагаемого способа работает следующим образом.55Предварительно полость составной трубки закрывается со стороны входного отверстия 2 заслонкой 6, затем заполняется на...
Способ настройки двухлучевого гамма-гамма зонда
Номер патента: 890174
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Грузин, Пак, Пашов, Терехов
МПК: G01N 23/02
Метки: гамма-гамма, двухлучевого, зонда, настройки
...рассеянного излучения от расстояния Н в двухлучевым зонде можнов диапазоне,. расстояний Н, лежащеммежду положениями точек инверсииН и для прямого и наклонного коллиматоров. Поэтому оптимальную длинузонда выбирают по результатам измерений зависимости скорости счета отН для прямого коллиматора, найдя та Окую зависимость, для которой Н "Р==Н,где Н - требуемое верхнее зна 2ценйе расстояния Н. Добиться началаплато на зависимости суммарной скорости счета от Н в точке Н, можнолишь при условии, если точка инвер сии для наклонного коллиматора наблюдается для значения Н 4 расстоянияН (или для НсН) Это условие выполняется подбором определенного угланаклона коллиматора (690), Окон"чательный этап настройки, проводимый с целью получения полной...
Устройство для радиационного контроля сварных соединений
Номер патента: 890175
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Адаменко, Валевич, Довженко, Орел
МПК: G01N 23/08
Метки: радиационного, сварных, соединений
...элемента И-НЕ, выход которого подключен к первому входу регистрирующего устройства и треть 40ему входу первого элемента И-НЕ, выход первого элемента И-НЕ подключенк третьему входу аналогового ключа ивходу механизма перемещения изделия,а выход рентгенотелевиэионного усъ 45ройства через второй вход аналоговогоключа подключен ко второму входу регистрирующего устройства.На фиг, 1 дана блок-схема устройства для радиационного контроля сварных соединений; на фиг. 2 - уровнинапряжений схем сравнения.Устройство содержит источник излучения 1, контролируемое изделие 2, радиометрический детектор Я, схемы срав-,Янения 4, 5, 6, логические элементыИ-НЕ 7, 8, механизм перемещения 9,устройство регистрации 10, аналоговый 754ключ 11,...
Способ определения ориентировки кристалла
Номер патента: 890176
Опубликовано: 15.12.1981
Автор: Красильников
МПК: G01N 23/20
Метки: кристалла, ориентировки
...)где ы - угол поворота между отражающими положениями исследуемого и эталонного кристаллов;Ви 6 - углы дифракции исследуемого и эталонного кристал-лов,На чертеже показаны исследуемыйкристалл 1, эталонный кристалл 2, падающий рентгеновский луч 3, рентгеновский луч 4, отраженный исследуемым кристаллом, рентгеновский луч 5, отраженный эталонным кристаллом; ОА - отражающее положение кристаллографическойплоскости исследуемого кристалла, ОВ -отражающее положение кристаллографической плоскости эталонного кристалла,ОС - положение кристаллографическойплоскости исследуемого кристалла приотражении луча кристаллографическойплоскостью эталонного кристалла, Й 1,- нормали кристаллографической плоскости и плоскости среза исследуемогокристалла, Ч), о -...
Способ рентгеноструктурного фазового анализа сплавов
Номер патента: 890177
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Анциферов, Овчинникова, Тимохова, Шабская
МПК: G01N 23/20
Метки: анализа, рентгеноструктурного, сплавов, фазового
...линией- (110) Ге, Съемку осуществляют на дифрактометре Дров,5 сканированием углового интервала 2 943 - 50 через 5 с. Интенсивность линий определяют площадями по соотУменьшение количества цементита в процессе отжига говорит о протекании графитизации, Количество выделив 77зависит от вида исследуемых фаз, ново всяком случае, находится в пределах0,5-1%.П р и м е р. Предлагаемый методприменяют для определения количествацементита в снеченных сталях, подвергаемых графитизирующим отжигам. Впроцессе графитиэации ронсходит вы- .деление свободного углерода по реакции ГЕС ГЕСИзменение количества цементита впроцессе отжига может служить меройинтенсивности графитизации. Определитьколичество цементята но известномуспособу ие представляется...
Ловушка первичного пучка дифрактометра
Номер патента: 890178
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Кононенко, Новоставский, Рожкова, Тимин
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометра, ловушка, первичного, пучка
...параллельна падающемупучку. На основании 5 установлен двухпозиционный фиксатор (на чертеже непоказан) положений кронштейна 3 дляавтоматического выведения одного изстаканов (например 1) на первичныйпучок во всех случаях, когда окно детектора 8 не перекрывает этот пучок.Для воздействия на кронштейн 3 детектор 8 оснащен толкателем 9. Для регулирования положения ловушки при изменении направления первичного лучка (например при использовании монохроматора) основание 5 ловушки установленона базе 6 с возможностью регулируемого перемещения по дуге относительно главной оси гониометра.Ловушка работает следующим образом.До начала эксперимента основание 5устанавливают в соответствии с условиями съемки в положение, при которомось кронштейна...
Дифрактометрический способ определения ориентировки монокристалла
Номер патента: 890179
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Новиков, Освенский, Утенкова, Фомин
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометрический, монокристалла, ориентировки
...рентгеновских лучей от источника 1 проходйт через систему коллимируюших щелей 2 и падает на поверхностьизучаемого монокристалла 3, подвергнутого предварительному ориентированию,при котором нормаль отражающей плоскости и нормаль поверхности и повыведенй в плоскость перпендикулярнуюгониометрической оси 4, Поворачиваякристалл вокруг оси 4 выводят нормальП 1,в отражающее положение фиксируя максимум интенсивности дифрагированного луча 5 детектором 6, Приэтом регистрируется отсчет углоизмеритедьного устройства поворота 9, Вданном положении вводят кодлимиатор 7с двумя круглыми диафрагмами, размеркоторых должен быть равен сечению дифрагированного луча 5, и, плавно перемещая его, устанавливают в позиции,обеспечивающей прохождение...
Способ рентгенодифрактометрического определения ориентировки монокристалла
Номер патента: 890180
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Новиков, Освенский, Утенкова, Фомин
МПК: G01N 23/20
Метки: монокристалла, ориентировки, рентгенодифрактометрического
...монокристалла, подвергнутого предварительной юстировке, направляют монохроматический пучок рентгеновских лучей и, поворачивая кристаллы вокруг оси гониометра, выводят в отражающее положение заданную кристаллографическую плоскость, фиксируя при этом значение угла ф, отвечающего этому положению, Затем объект поворачивают на180 вокруг оси, перпендикулярной плооокости среза и гониометрической оси, и,повторяя ранее совершенные операции,вновь выводят монокристаллы в отражение и фиксируют угловое положение кри-сталла , Ориентацию заданной кристаллографической плоскости относительноплоскости шлифа (т. е. угла отклоненияот нормали к плоскости среза) находяткак полуразность зафиксированных углов7 йООКак следует из таблицы,...
Устройство для многоэлементного рентгенорадиометрического анализа
Номер патента: 890181
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Кованцев, Пржиялговский, Цамерян, Якубович
МПК: G01N 23/223
Метки: анализа, многоэлементного, рентгенорадиометрического
...кольцевой диафрагмы 3, установленв нижнем основании прободержателя и перекрывает часть исследуемой пробы напути потока квантов от источника к пробе и от пробы к детектору. Диафрагма 3выполнена сьемной, при этом заранее изготавливается комплекс диафрагм с разным внутренним диаметром, Такое констьруктивное использование элемента сравнения позволяет в зависимости от типаанализируемых проб выбрать оптимальную диафрагму с точки зрения обеспечения наилучшей точности анализа, Так,если в пробе обнаруживается значитель 81ное содержание примесного элемента, выбранного в качестве элемента сравнения,то при проведении анализа используетсядиафрагма с меньшим внутренним диаметром. В этом случае скорость счетав канале характеристического...
Способ рентгенорадиометрического анализа неоднородных сплавов или лигатур
Номер патента: 890182
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Гуревич, Музгин, Пальникова, Рудницкий, Симонова, Шумахер
МПК: G01N 23/223
Метки: анализа, лигатур, неоднородных, рентгенорадиометрического, сплавов
...анализируемого материала, г/сьтолщина материала, см;содержание определяемого элемента, найденное по предварительному химическому анализу;содержание наполнителя;коэффициенты, зависящие от массовых коэффициентов поглощенияпервичного и вторичного излучения соответственно для определяемого элемента и наполнителяпробы,где у -с, -ссд ивРасчетные значения тогпдупщ слоя насыщения при различных содержаниях циркония приведены в таблице. 82:фдисков, используют для предварительного аттестационного анализа. Поверхность дисков подготавливают для рентгенорадиометрического измерения путем шлифования. Измерение интенсивности флуоресцентного излучения К, - линии циркония проводят на рентгенорадиометрическом анализаторе Минерал-Зф с помощью...
Импульсный релаксометр ядерного магнитного резонанса
Номер патента: 890183
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Аксельрод, Алиев, Даневич, Иоф, Клеванская, Митюшин, Орлов, Сивушкин
МПК: G01N 24/06
Метки: импульсный, магнитного, резонанса, релаксометр, ядерного
...вызывает значительный переходной процесс в устройствестабилизации тока релаксометра, Прибольшом значении коэффициента усиленияпепи обратной связи, обеспечивающем высокую точность стабилизации, переходнойпроцесс проявляется в виде значительныхколебаний тока, питающего обмотку поле 70вой катушки, что создает крайне неблагоприятные условия для формирования и наблюдения сигналов свободной ядерной индукции.Целью изобретения является повышениечувствительности путем улучшения динамических характеристик (при возмущенияхвызываемых отклонением тока в поляризующей катушке релаксометра среднегополя ).Поставленная цель достигается тем,что в импульсный релаксометр ЯМР, содержащий йсточник тока поляризации, по-левую и поляризующую катушки, источник...
Способ измерения магнитного поля и устройство для его осуществления
Номер патента: 890184
Опубликовано: 15.12.1981
МПК: G01N 24/06
Метки: магнитного, поля
...отключают модуляцию на время изм рения частоты радиочастотного поля. Таким образом измеренное значениеизм равно"ием = "а - дма М,и так как в момент измеренияммод(1)= =О, тоэм ОЧастоту радиочастотного магнитного поля измеряют путем счета числа периодов за данный интервал времени, Зтот интервал можно выбрать в паузе между импульсами ЯМР, что позволяет измерять частоту без нарушения работы системы стабилизации и управления магнитным полем по сигналу ЯМР (фиг. 1),Таким образом, в предложенном способе исключается влияние нестабильностичастоты на точность. измерения резонансного значения частоты и отпадает необходимость в стабилизирующем устройстве, а отличительной особенностью данного способа является то, что при частотной модуляции...
Устройство согласования датчика радиоспектрометра
Номер патента: 890185
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Бабкин, Русанов, Язов, Ямшанов
МПК: G01N 24/08
Метки: датчика, радиоспектрометра, согласования
...связи, при этом один вывод емкостного делителя генераторной системы подключен ко вторичной обмотке согласующего трансформатора, средняя точка емкостпого делителя генераторной системы подкл 1 очена ко второму выводу встречно- параллельных демпфирующих диодов, второй вывод выходной обмотки согласующего трансформатора подключен к одному выводу встречно-параллельных диодов генераторпой системы, к одной пластине конденсатора обратной связи и к одной обкладке шунтирующего конденсатора, вторая пластина конденсатора обратной связи соединена с емкостным делителем подключения датчика и цепью встречно- параллельных демпфирующих диодов, второй вывод цепи встречно-параллельных диодов генераторной системы и вторая пластина шунтирующего конденсатора...
Ядерно-резонансный спектрометр
Номер патента: 890186
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Волков, Гордиенко, Косых
МПК: G01N 24/08
Метки: спектрометр, ядерно-резонансный
...5. По окончании операцииподачи пробы сигнал с блока 2 подачи иэвакуации пробы поступает на блок 1 управления, который командным сигналомвключает программное устройство 10, вырабатывающее заданную серию последовательности импульсов (Карра-Парседа),моделирующих резонансную частоту генератора 1 1 резонансной частоты, котораяпоступает на датчик 6, с которого навход усилителя 12 сигналов поступаютамплитуды сигналов свободной процессиии эхо сигналов. В это же время по командному сигналу с блока 1 управлениявводится в работу блок 3 поступательноврвщатедьного перемещения, приводящегов движение зонд-эквивалент 4, При этомамплитуда эхо сигнала с усилителя 1 2сигналов ЯМР поступает нв блок 8 максимальной экспоненты эхо сигналов, который отмечает...