Патенты с меткой «многоэлементного»

Номер патента: 296229

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Маргулев

МПК: H03H 7/19

Метки: измерений, многоэлементного, ослабления

...четырехполюсников 11 - 88 и 77 - бб (образованных из двух смежных участков) и внутреннего участка 77 - 88. При этом соблюдают требования, состоящие в том, что если при градуировке четырехполюсника 77 - 88 к разьему 77 подключали генератор, а к разъему 88 - индикатор, то при градуировке четырехполюсника 11 - 88 к разъему 88 также подключают индикатор, а при градуировке четырехполюсника 77 - бб к разъему подключают генератор.При соблюдении этих требований измеренные коэффициенты передачи имеют вид:Тц зз = А 13 В 33 С 34643 (1 - 03Р 3, - ГРгг+3 3 дд нД Е 33 + гг г 3 Гф ъ 14333Т 77 зз = РгзС 34 РцЕз, 1 - АВ - Г 6++в 43 Е 33+Авзз43гз /Так как при градуировке четырехполюсников внутренний участок оказался учтенным дважды, о расчетном...

Номер патента: 529397

Опубликовано: 25.09.1976

Авторы: Вайгачев, Мамиконян, Мильчаков, Щекин

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, многоэлементного, рентгенорадиометрического

...характер и соотцоьцение этих факторов таковы, что в области энергии меньптих энергий пика полного поглощения преобладающими являются процессы в детекторе и в 1 ервом приближении величина фона пропорцио- щ нальна величине пика полного поглощения, В облас.ги больттих энергий основной причиной образования фона является наложение импульсов и фоц, обусловленньй этим фактором, пропорционален квадрату величины пика полного поглощения. 1 яТаким образом, величина фона под -ой аналитической линией может быть записана в виде р 1. Способ многоэлементного реытгенорадиометрического анализа спектрометром, заключаощийся в том, что .а исследуемой пробе измеряют интен.сивности аналитических линий и по нцм определяют ко)щецтрацци анализируемых...

Номер патента: 705460

Опубликовано: 25.12.1979

Автор: Трифонов

МПК: G01N 23/00, G06F 17/18

Метки: анализа, данных, многоэлементного, рентгенорадиометрического

...соответствующим им аналитичесЧких линий анализируемого спектр а.1) настота обращений к коэффициен туна пересечении координат строки5 и столбца как вероятность совпаде-ния сигналов в последовательности,пропорциональна произведению интенсивностей.В результате многократных обращеО ний по всем возможным координатамблоков 8 и 3 накапливается сложнаясумма, являющаяся решением нелинейного регрессивного уравнения связи.Формула изобретенияУстройство для обработки данныхмногоэлементного рент генор адиометрического анализа, содержащее детектор Флуоресцентного излучения, выходОкоторого через аналого-цифровой преобразователь соединен с первым входом блока оперативной памяти, первыйвыход которого является выходом устройства, регистр текущего...

Номер патента: 708517

Опубликовано: 05.01.1980

Авторы: Дутов, Сторожко

МПК: H04B 1/06

Метки: интерферометра, корреляционного, многоэлементного, радиометр

...(СД) 9,интегрирующий фильтр (Иф) 10, фильтр11 суммарной частоты, фильтр 12 раэностной частоты, сумматор 13, смеситель 14, избирательный усилитель (ИУ)15, синхронный детектор (СД) 16, интегрирующий фильтр (Иф) 17, генератор18 высокой частоты, фазоврашатель 19,генератор 20 низкой частоты, фазоврашатель 21,Устройство работает следушим образом.С двух плеч антенны 1 исследуемыйсигнал поступает на вход модуляторов2, 3, где он модулируется частотой Я.,Затем с одного плеча поступает на одиниз входов сумматора 5, Сигнал с другого плеча далее модулируется в модуляторе 4 частотой Г и также поступаетна второй вход сумматора 5, В сумматоре происходит фазно-противофазное сложение сигналов на частоте Г , снимаемых с двух плеч антенны...

Номер патента: 785789

Опубликовано: 07.12.1980

Авторы: Горохов, Лютик, Перчуков, Федин, Эпштейн

МПК: G01R 27/00

Метки: многоэлементного, оптрона, отношения, параметров, резисторного, сопротивлений

...операционные усилители, постоянные резисторы, введеныгенератор пилообразного напряжения,второй измеритель выхода, блок вычисления среднего, блок вычислениядисперсии, причем первый выход ге 785789значения дисперсии этого отношения производится по уравнению (5) в блоке 6 вычисления дисперсии и фиксируется на выходе второго измерителя 9 выхода.Аналогичным образом работает устройство и на спадающей ветви генератора 1 пилообразного напряжения. Параметры устройства выбраны таким образом, что эа один цикл Т сопротивление Яф одной иэ секций фотореэистора оптрона изменяется в требуемом диапазоне от минимального значения до максимального.Таким образом, предлагаемое устрой ство в отличие от известного позволяет измерить среднее значение и...

Номер патента: 855458

Опубликовано: 15.08.1981

Авторы: Кованцев, Пржиялговский, Цамерян, Якубович

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, многоэлементного, рентгенофлуоресцентного

...способ многоэлементного рентгеноФлуоресцентного анализа, заключающийся в том, что регистрируют спектр характеристического излучения исследуемой пробы, выделяют в неи участки обретения - повыаение точспрессности анализа.855458 формула изобретения Составитель Е. Кохов Редактор Н. Воловик Техред Л,Пекарь Корректор М. ШарошиТираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Заказ 6894/59 филиал ПППфПатентф, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 0,027 + ( + 2021 Рчм оюО, 15 +(-д - + 6, 313 )О, 79 761отсюда Мам а " 523 (моор Моицентрацию определяемых элементов в исследуемой пробе 3 определяют По результатам анализа ее с учетом 1найденных значений коэффициентов...

Номер патента: 890181

Опубликовано: 15.12.1981

Авторы: Кованцев, Пржиялговский, Цамерян, Якубович

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, многоэлементного, рентгенорадиометрического

...кольцевой диафрагмы 3, установленв нижнем основании прободержателя и перекрывает часть исследуемой пробы напути потока квантов от источника к пробе и от пробы к детектору. Диафрагма 3выполнена сьемной, при этом заранее изготавливается комплекс диафрагм с разным внутренним диаметром, Такое констьруктивное использование элемента сравнения позволяет в зависимости от типаанализируемых проб выбрать оптимальную диафрагму с точки зрения обеспечения наилучшей точности анализа, Так,если в пробе обнаруживается значитель 81ное содержание примесного элемента, выбранного в качестве элемента сравнения,то при проведении анализа используетсядиафрагма с меньшим внутренним диаметром. В этом случае скорость счетав канале характеристического...

Номер патента: 905915

Опубликовано: 15.02.1982

Авторы: Мечетин, Милютин, Новиков, Рослова, Федоров, Шилов

МПК: H01J 31/50

Метки: изображения, многоэлементного, оптического, преобразования, сигналы, электрические

...мишени.Устройство работает следуюшим образом.На Фотокатод 1 проектируется оптическое изобракение, Используя эмиссию фотоэлектронов с внутренней поверхности Фотокатода 1, образуют электронное изображение. Подвергая воздействию ускоряющего О и ФокусирукЪ.1щего О напряжений электронное изображение переносят из плоскости Фото- катода 1 в плоскость А мишени 5, При этом те Фотоэлектроны, траектории которых заканчиваются на щ элементах полупроводниковой мишени, возбуждают в них электрические сигналы, которые поступают на выходы 6.На пути от анода 3 до мишени Фото- электроны подвергают воздействию электрического поля отклоняющих пластин 4, с помощью которого траектории фотоэлектронов отклоняют пропор 4. ционально разности потенциаловьЬО...

Номер патента: 934331

Опубликовано: 07.06.1982

Автор: Кованцев

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, многоэлементного, рентгенофлуоресцентного

...одна нз которых содержит все определяемые элементы и элементы, избирательно возбуждающие определяемые, с концентрациями, равными средним концентрациям этих элементов в исследуемых пробах, а в остальных смесях концентрация одного из элементов равна максимальной концентрации этого элемента в исследуемых пробах, причем общее число градуировочных смесей на единицу превыаает сумму определяемых и избирательно возбуждающих элементов.Способ позволяет существенно сократить число искусственных смесей, необходимых для проведения анализа, 6 а также повысить точность определения поправок к массовым коэффициентам поглощения, так как состав предварительно приготовленных искусственных смесей более близок к составу исследуемых проб, чем в известном...

Номер патента: 1229665

Опубликовано: 07.05.1986

Авторы: Блинов, Пржиялговский, Прохорова, Якубович

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, многоэлементного, рентгенорадиометрического

...мешающего эле-мента, энергия К -края погло щения которого расположенамежду энергиями аналитической линии анализируемогоэлемента и первичного излучения радионуклидного источника;поток фотонов от одной выбранной подложки;поток фотонов от выбраннойподложки с исследуемой пробой;коэффициент пропорциональности, зависящий от геометрии измерений и плотностипотока возбуждающего излучения;коэффициент разбавленияпробы;поправочный коэффициент,определяемый (теоретически)по формуле- известные массовые коэффициенты поглощения соответственно характеристического излучения -гоэлемента,. элемента подложки и первичного излучениярадионуклидного источниканаполнителем исследуемойпробы;и(. =я хп /з т.пч;- поправочный коэффициент,определяемый (теоретически)о...

Номер патента: 1267288

Опубликовано: 30.10.1986

Авторы: Лицитис, Силис

МПК: G01R 27/00

Метки: многоэлементного, параметров, переменного, резистора, электрических

...контактных групп переключателей 11 и 12 замкнуты соответственно с вторыми неподвижными контактнымиэтих групп. Остальные переключателиустановлены в положение как и приконтроле разбаланса сопротивлений.Сопротивления резисторов 15 и 16равны.Так как сопротивления резисторов15 и 16 идентичны, то неидентичностьсопротивлений переменных резисторов23 и 24 контролируется как и. разбаланс измерителем 21 по изменениюнапряжения на выходе дифференциального усилителя 10,Для контроля отклонения действительных сопротивлений резисторов23 и 24 от их номинальных значений переключатели 11,12,17 и 18 установлены в положениях, как и при контроле отклонений действительных сопротивлений. Подвижный контакт переклю чателя 1 замкнут с вторым неподвижным контактом....

Номер патента: 1269059

Опубликовано: 07.11.1986

Авторы: Долганин, Дудко

МПК: G01R 31/26

Метки: коэффициента, между, многоэлементного, площадками, связи, фотоприемника, фотоэлектрической, чувствительными

...что соответствует первому слагаемому в уравнении (2),Затем на место МФП устанавливается маска 3, имеющая такие же, как иизображение теста, период расположения отверстий и их число. При этомширина отверстий маски совпадает сразмерами чувствительной площадкиМФП. При точном совмещении изображения тест-объекта с многощелевой маской суммарный выходной поток, воспринимаемый приемником 4, чувствительным в том же спектральном диапазоне, чтв и исследуемый МФП, иимеющим достаточные размеры для регистрации всего потока, прошедшегочерез отверстия в маске, достигнетмаксимальной величины Б. При небольшом смещении изображения тестобъекта суммарный ток резко падает до Ц,и при дальнейшем смещении изменяетсяв меньшей степени, образуя...

Номер патента: 1589223

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Долганин, Тулубенский

МПК: G01J 1/04, G01R 31/26

Метки: коэффициента, между, многоэлементного, связи, фотоприемника, фотоэлектрической, чувствительными, элементами

...элементов и расстоянием между центрамищелей (Фиг.2) в соответствии с соотношением Изменяя размер д, можно регулировать период интерференционной картины, что позволяет измерять коэффициент ФЭС у МФП 5 с различным периодом расположения элементов,Закон распределения облученности интерференционной картины в пределах чувствительных площадок МФП 5 близокк синусоидальному (с амплитудой, изменяющейся не более чем на 2 Х, и постоянной составляющей, практическисовпадающей по величине с амплитудой), если ширина щели Ь ( О, 12й/Х,где И - число измеряемых элементовМФП. В этом случае величина коэффициента засветки Кв пределах Н 1 0чувствительных элементов практически постоянна и близка к минимальновозможной для данной топологии чувствительных...

Номер патента: 1601569

Опубликовано: 23.10.1990

Авторы: Заичко, Иванов, Шумилин

МПК: G01N 27/48

Метки: анализа, вольтамперометрического, инверсионного, многоэлементного, разностного

...приложенного к ячейке;З - площадь рабочей поверхности , электрода (поверхность ртути);1 с(ф- удельная плотность тока перезаряда емкости двойного электрического слоя электрода, функционально зависимая от поляризующего напряжения р, приложенного к ячейке;нд(ф) - удельная плотность тока раство;. рения ртути с рабочей поверхности электрода, функционально зависимая от поляризующего напряжения р, приложенного к ячейке.Так как до начала развертки поляризующего напряжения, приложенного к ячейке, переза ряд емкости двойного электрического слоя электрода не происходит то 14(р) 0Для поляризующих напряженийпри потенциале начала развертки 1 Нд(У)Зр1 Н 2 (ф)Зд, пОЭтому остаточные токи, протекающие через рабочий(11) и компенсирующие (12 из) электроды...

Номер патента: 1658078

Опубликовано: 23.06.1991

Авторы: Исаенко, Касьянов, Мельканович

МПК: G01N 29/22, G01N 29/24

Метки: акустического, многоэлементного, поля, преобразователя, пьезоэлектрического, формирования

...поля с помощью акустической нагрузки 1 с устройством отсчета. При совпадении измеренных параметров с заданными судят о Формировании необходимого акустического поля. При несовпадении повторяют операции подачи напряжения Б 1 при последовательном увеличении м ксимального значения этого напряжения от (О, 1 - 0,2) Бр до Пор;Для примера рассмотрим преобразователь, изображенный на Фиг,2, В исходном состоянии каждый из четырех пьезоэлементов образует четыре преобразователя с одинаковыми по модулю и Фазе коэффициентами К и преобразования, как показано на Фиг.За. При40 включении электродов 1-4 преобразова тель характеризуется диаграммой направленности Р 1.После первой перестройки преобра зователя, когда на первый пьезоэлемент не подают...

Номер патента: 1681373

Опубликовано: 30.09.1991

Авторы: Егоров, Мерзлов, Ширяев

МПК: H03B 7/14

Метки: генератора, импульсной, многоэлементного, модуляции

...подаваемому на остальные активные элементы, при этом время задержки превышает время тепловой релаксации активного элемента, 1 ил. подаваемому наменты, при этом вет время тепловэлемента.При подаче импульсного напряжения на активный элемент температура его кристалла Ткр изменяется, причем наиболее существенные изменения температуры происходят на отрезке времени тр - времени тепловой релаксации, при этом температура кристалла меняется от Тост до Ти, где Тост - температура кристалла в момент времени между импульсами рабочего напряжения, Если в эти моменты времени генератор генерирует колебания, то наблюдается существенное изменение частоты и мощности этих колебаний из-за изменения температуры кристалла.При подаче на один из...

Номер патента: 1762163

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Гогоберидзе, Дзагания, Кахеладзе, Кикошвили, Круашвили, Шульман, Яшвили

МПК: G01N 1/26

Метки: анализа, вод, многоэлементного, поверхностных, сточных

...слива 28 расположен под агрегатом роторных кассет 1, Над вторым рядом кассет 3 с ячейками 27 расположены блоки плунжерных дозаторов 9 с плункерами 29, измерительных преобразователей 11 и трубопровод 30 многоканального пропорционального дозатора 19. Ротор 2 агрегата роторных кассет 1 должен обеспечивать возможность перемещения кассеты 3 в направлении ао от сигналов блока 7 управления электродвигателем через редуктор 5 при помощи электродвигателя 6,Система работает следующим образом.Вытекающая из патрубков 26 трубопровода 25 жидкость непрерывно поступает на первый ряд кассет 3, заполняя ячейки 27, а лишняя жидкость переливается через края ячеек 27, попадая на открытый сверху сливной трубопровод 28 и далее удаляется в окружающую...

Номер патента: 1780129

Опубликовано: 07.12.1992

Автор: Синявский

МПК: H01J 45/00

Метки: вольт-амперных, испытаниях, канала, многоэлементного, характеристик, электрогенерирующего, элементов

...ах наблюдается минимум С 1 сбрь так как суммарная тепловая мощность каждого ЭГЭ есть сумма С 1 сбр и генерируемой мощности ИъДля каждого 1-го ЭГЭ находят минимум ЗВВИСИМОСТИ Осбр(Оэгк) ИЛИ Осбрл (1 эгк), РЕГИ(3) 30Формула линеаризированной ВАХ может быть записана в виде 35 1 (О) = 1 кэ -- ООхх п1 эгк=11 = 2 1 эгкОэгк темы контакта дистанципнаторов с электродами, тепловых утечек через коммугационную перемычку и т,п,Цель изобретения - повышение точности,Цель достигается предложенным способом определения ВАХ ЭГЭ при испытаниях многоэлементного ЭГК, Включающим определение статической г Х и-элементного ЭКГ и оценку линеаризированной ВАХ каждого из и ЭГЭ, отличающимся тем, что при определении статической ВАХ ЭГК измеряют зависимости...

Номер патента: 1823699

Опубликовано: 27.02.1996

Авторы: Синявский, Шуандер

МПК: H01J 45/00

Метки: вакуумной, выхода, канала, коллектора, многоэлементного, работы, электрогенерирующего

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВАКУУМНОЙ РАБОТЫ ВЫХОДА КОЛЛЕКТОРА МНОГОЭЛЕМЕНТНОГО ЭЛЕКТРОГЕНЕРИРУЮЩЕГО КАНАЛА, включающий измерение вакуумной вольт-амперной характеристики канала при изменении внешней нагрузки, регистрацию напряжения Vxx холостого хода и оценку вакуумной работы выхода коллектора, отличающийся тем, что, с целью повышения точности при испытаниях канала с одинаковыми и последовательно соединенными элементами, при измерении вольт-амперной характеристики измеряют сопротивление утечек Rут тока по изоляции, а оценку вакуумной работы выхода коллектора co(эВ) осуществляют из соотношения

Номер патента: 1737980

Опубликовано: 10.09.1999

Авторы: Иваненко, Метелев

МПК: G01N 23/221

Метки: анализа, многоэлементного, нейтронно-активационного

Способ многоэлементного нейтронно-активационного анализа, заключающийся в активации в одной из облучательных позиций монитора потока, содержащего три элемента с различными сечениями взаимодействия с нейтронами в резонансной области энергий, и анализируемой пробы, измерении наведенной активности пробы и монитора, аттестации облучательной позиции путем определения параметра fo - отношения потоков тепловых и резонансных нейтронов и o - параметра, характеризующего форму энергетического спектра резонансных нейтронов, и расчете содержаний элементов в анализируемой пробе по компараторному методу, отличающийся...

Номер патента: 1839999

Опубликовано: 27.07.2006

Автор: Синявский

МПК: H01J 45/00

Метки: испытаний, канала, многоэлементного, ускоренных, электрогенерирующего

Способ ускоренных испытаний многоэлементного электрогенерирующего канала, включающий вывод реактора на тепловую мощность, оптимизацию давления паров рабочего тела, измерение генерируемой каналом электрической мощности, а также сбрасываемой каждым элементом тепловой мощности и оценку ресурса канала, отличающийся тем, что, с целью повышения эффективности испытаний за счет определения предельной энерговыработки и выбора оптимальных режимов эксплуатации, испытания проводят при уровне тепловой мощности от 0,4 до 1,2 от ее номинального значения в 3-5 этапов, каждый из которых представляет собой постоянный, но увеличенный относительно предыдущего на 10-40% уровень мощности реактора, электрическую мощность канала и сбрасываемую каждым элементом...

Номер патента: 1840235

Опубликовано: 20.08.2006

Автор: Синявский

МПК: H01J 45/00

Метки: испытаниях, канала, многоэлементного, оксида, петлевых, теплопроводности, термоэмиссионного, урана, электрогенерирующего

Способ определения теплопроводности оксида урана при петлевых испытаниях многоэлементного термоэмиссионного электрогенерирующего канала, включающий измерение плотности объемного тепловыделения в топливе и оценку теплопроводности, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, регистрируют завершение переконденсаций топлива внутри сердечников элементов, измеряют или оценивают температуру эмиттера в середине длины элемента ТЕ(K), и температуру на оси торцевой части эмиттерной оболочки со стороны коммутационной перемычки ТТ(K), измеряют толщины переконденсировавшегося топлива в середине длины элемента Е(см), и у торца элемента напротив...

Номер патента: 1828725

Опубликовано: 27.12.2006

Авторы: Гасенкова, Горбачев, Мухуров, Сурмач

МПК: H01L 35/32

Метки: многоэлементного, пленочного, преобразователя, термоэлектрического

Способ получения пленочного многоэлементного термоэлектрического преобразователя, включающий формирование диэлектрической подложки из анодного оксида алюминия, напыление пленочных подогревателей и контактов, нанесение пленочных многокомпонентных p- и n-полупроводниковых ветвей термопар из GeTe и PbTe и герметизацию в корпусе, отличающийся тем, что, с целью повышения воспроизводимости технических параметров, многокомпонентные p- и n-полупроводниковые ветви термопар формируют методом ускоренных импульсных потоков электроэрозионной плазмы при напряжении разряда между анодом и катодом 150-250 В, частоте следования импульсов генерируемой плазмы 10-40 Гц с длительностью импульса 0,1-0,4 мс и...