Способ рентгенодифрактометрического определения ориентировки монокристалла
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Советски кСоциалнстичесннкРеспублнн ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ и 890180(51) М. Кл. 6 01 М 23/20 Государственный комитет во делан изобретений и открытий(53) УДК 621, ,386.8 (088,8) Дата опубликования описания 15. 12.81 В. Г, Фомин А, Г, Новиков, В, Б, Освенский и О, В; Утенкоаа(72) Авторыизобретения Государственный ордена Октябрьской Революции научноисследовательский и проектный институт редкометаллическойпр омышленн ости, (54) СПОСОБ РЕНТГЕНОДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОРИЕНТИРОВКИ МОНОКРИСТАЛЛАИзобретение относится к исследованик) материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей и может быть использовано для контроля монокристаллов.Известен способ определения ориен-. тировки монокристаллов фотометоаом, в котором произвольную плоскость шлифа монокристалла располагают перпендикулярно полихроматическому рентгеновско му пучку, облучают эту плоскость пучком рентгеновских лучей, регистрируют дифракционную картину на плоскую фотопленку, установленную параллельно шлифу, проводят анализ полученной дифракционной картины, позволяют установить пространственное положение искомой кристаллографической плоскости относительно плоскости шлифа Я Недостатком этого способа является длительность измерений, связанная с боль шими экспозициями и фотопроцдссом, а также. невысокая точность вследствие необходимости выполнения линейных измерений для определения угловых соотношений,1Известны также дифрактометрическиеспособы определения ориентировки, заключающиеся в том, что на плоский срез,5исследуемого монокристалла, подвергнутого предварительной юстировке, направляют монохроматический пучок рентгеновских лучей и, поворачивая кристаллы вокруг оси гониометра, выводят в отражающее положение заданную кристаллографическую плоскость, фиксируя при этом значение угла ф, отвечающего этому положению, Затем объект поворачивают на180 вокруг оси, перпендикулярной плооокости среза и гониометрической оси, и,повторяя ранее совершенные операции,вновь выводят монокристаллы в отражение и фиксируют угловое положение кри-сталла , Ориентацию заданной кристаллографической плоскости относительноплоскости шлифа (т. е. угла отклоненияот нормали к плоскости среза) находяткак полуразность зафиксированных углов7 йООКак следует из таблицы, предлагаемый способ позволяет уменьшить ошибку измерения отклонения,кристаллографической плоскости от плоскости цлнфа более чем в два раза.ф ормул а из обре тек ияСпособ рентгенодифрактометрического 10 определения ориентировки монокристалла, включающий установку монокристалла в держателе на оси гониометра, установку нормали плоскости шлифа или грани) моно- кристалла и нормали отражающей плоскости перпендикулярно гониометрической оси, облучение шлифа пучком монохроматическнх рентгеновских лу гей, кмлимированным спстемой щелей, поворот монокристалла до выхода отражающей плоскости и брэр 20 говское положение, регистрацию дифрагированного пучка детектором, установленным под двойным брэгговским углом и измерение угла поворота монокристалла/) о т л и ч а ю щ и й с я тем, чтос целью повьпцения точности, поворачивают кристалл в положение 9, отвечающее внешнему отражению рентгеновского луча, измеряют угол полного ьнешнего очаженияч и находят отклонениеЕ отражающей плоскости от плоскостишлифа по формулее=Це-Н -0Источники инФормации,принятые во внимание при экспертизе1, Русаков А.А, Рентгенография металлов, М., Атомиздат, 1977, с. 149167,2, Лийсоран В, И Заднепровский Г,М,К методике определения ориентации кристаллографической плоскости в монокристалле на дифрактометре,-Сб, "Аппаратура и методы рентгеновского анализа Л1969, с, 64-70,3. Гинье А, Рентгенография кристаллов.МфМ, 1961, с.283 прототип).890180 Н,ая э 10957/68 Тираж 910 ВНИИПИ Государственного комижта по делам изобретений и озхрыти 113035, Москва, Ж, Раущская
СмотретьЗаявка
2916631, 25.04.1980
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ОРДЕНА ОКТЯБРЬСКОЙ РЕВОЛЮЦИИ НАУЧНО ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И ПРОЕКТНЫЙ ИНСТИТУТ РЕДКОМЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
ФОМИН ВЛАДИМИР ГЕОРГИЕВИЧ, НОВИКОВ АНАТОЛИЙ ГЕОРГИЕВИЧ, ОСВЕНСКИЙ ВЛАДИМИР БОРИСОВИЧ, УТЕНКОВА ОЛЬГА ВЛАДИМИРОВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 23/20
Метки: монокристалла, ориентировки, рентгенодифрактометрического
Опубликовано: 15.12.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/5-890180-sposob-rentgenodifraktometricheskogo-opredeleniya-orientirovki-monokristalla.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ рентгенодифрактометрического определения ориентировки монокристалла</a>
Устройство для ориентирования кристаллографической плоскости монокристалла
Номер патента: 443431
Опубликовано: 15.09.1974
Авторы: Балан, Поляченко, Соснина, Ткаченко
МПК: H01L 7/68
Метки: кристаллографической, монокристалла, ориентирования, плоскости
...оси 7. Пластбна, обойма, патрон, двигатель и редуктор составляют съемную часть прис 1 о пособлвния, предназначенную для установки на станок ориентированной резки.Основание 8 продольные салаз . 15 ки 9, жестко связанныэ с ниии попврвчныв салазки 10 с винтом подачи 11 и поперечная направляющая 13 представляют собоИ механизм, позво- ляющиИ только плоско-параллельное 2 о перемещение попэрзчноИ направляю- щвИ. Пластина зафиксирована на по- перечноИ направляющвИ базовыми штифтами 15, входящими в эе .базовые отверстия, и закреплена с помощью откидных винтов 14.На основан 1 и 8 имеется штырь 15, ось которого совпадает с вертикаль- ноИ осью вращения монокристалла относительно рентгеновского счетчика 16, куда попадает пучок рэнтгэновскйх лучэИ...
Устройство для контроля неперпендикулярности плоскости к оси отверстия объекта
Номер патента: 339774
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Московский, Покровский
МПК: G01B 11/26
Метки: неперпендикулярности, объекта, оси, отверстия, плоскости
...принимается остронаправленный световой пучок или луч лазера, работающего в видимом днаназоне излучения.Направление световой щели 1 параллельно 30 оси зеркала 3. Оптическая система 2, состоя339774 Составитель Лобзова Редактор В. Новоселова Техред Е. Борисова Корректоры: Е, Давыдкина и В. Петроващая из двух или,более линз, предназначается для коррекции дифракции света после прохождения узкой щели. Диаметр отражательного зеркала 3 и положения зеркал 4 и б определяются заданной точностью измерения и 5 величиною поля допуска. Оптическая шкала отсчета отклонений имеет проградуированную часть с нулевым делением посередине. Минусовые отклонения соответствуют повороту прибора от нулевого положения дротиков часовой 10 стрелки, плюсовые - по...
Устройство для определения положения источника рентгеновского излучения в поле зрения
Номер патента: 855577
Опубликовано: 15.08.1981
МПК: G01T 1/29
Метки: зрения, излучения, источника, поле, положения, рентгеновского
...число ) циклическихперестановок выходов регистраторовстроки, то новое распределение совпадает с распределением -1)-й строки, Блок 4 коммутации производит циклические перестановки элементов строк, в результате чего распределения скорости счета по каждой строкевыходов регистраторов становятся Одинакоными и строки можно сложить припомощи блока 5 сумматоров таким образом, что выходы регистраторон, попавшие в один новый столбец, объединяются одним сумматором. Распределение скорости счета по выходным сумматорам 5 и представляет собой образ источника, который имеет вид антипиха (фиг. 2,10).Использование предлагаемого устройства имеет по сравнению с известными следующие преимущества.Наблюдению доступны, как постоянные, так и переменные...
Способ разрезки кусков кварца без наружных признаков ориентировки кристаллографических осей на пластины с малым температурным коэффициентом частоты
Номер патента: 68639
Опубликовано: 01.01.1947
МПК: B28D 5/00
Метки: кварца, коэффициентом, кристаллографических, кусков, малым, наружных, ориентировки, осей, пластины, признаков, разрезки, температурным, частоты
...плоскости пилы. Отрезаетсяпробный срез и на рентгенгониометре измеряется отклонение от плоскости базиса, При отклонении, превышающем 30 вносятся соответствующие поправки и производится окончательное вскрытие гальки.При измерении на рентгенгониометре используется отражение рентгеновского луча от атомной плоскости 0003 (плоскость базиса). УголБрэгга для данной плоскости равен 2530.Затем, не снимая гальки, производится поворот суппорта на 90 иделается пробный срез перед вскрытием гальки в направлении параллельном оптической оси, На рентгенгониометре измеряется отклонение плоскости резания от плоскости У 2 (атомная плоскость 1120), вносится соответствующая поправка и производится окончательное вскрытие гальки (куска) по плоскости...
Дифрактометрический способ определения ориентировки монокристалла
Номер патента: 890179
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Новиков, Освенский, Утенкова, Фомин
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометрический, монокристалла, ориентировки
...рентгеновских лучей от источника 1 проходйт через систему коллимируюших щелей 2 и падает на поверхностьизучаемого монокристалла 3, подвергнутого предварительному ориентированию,при котором нормаль отражающей плоскости и нормаль поверхности и повыведенй в плоскость перпендикулярнуюгониометрической оси 4, Поворачиваякристалл вокруг оси 4 выводят нормальП 1,в отражающее положение фиксируя максимум интенсивности дифрагированного луча 5 детектором 6, Приэтом регистрируется отсчет углоизмеритедьного устройства поворота 9, Вданном положении вводят кодлимиатор 7с двумя круглыми диафрагмами, размеркоторых должен быть равен сечению дифрагированного луча 5, и, плавно перемещая его, устанавливают в позиции,обеспечивающей прохождение...
Предыдущий патент: Дифрактометрический способ определения ориентировки монокристалла
Следующий патент: Устройство для многоэлементного рентгенорадиометрического анализа
Случайный патент: Способ изготовления огнеупорных изделий из глин