Патенты с меткой «дифрактометрический»
Дифрактометрический способ определения ориентировки монокристалла
Номер патента: 890179
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Новиков, Освенский, Утенкова, Фомин
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометрический, монокристалла, ориентировки
...рентгеновских лучей от источника 1 проходйт через систему коллимируюших щелей 2 и падает на поверхностьизучаемого монокристалла 3, подвергнутого предварительному ориентированию,при котором нормаль отражающей плоскости и нормаль поверхности и повыведенй в плоскость перпендикулярнуюгониометрической оси 4, Поворачиваякристалл вокруг оси 4 выводят нормальП 1,в отражающее положение фиксируя максимум интенсивности дифрагированного луча 5 детектором 6, Приэтом регистрируется отсчет углоизмеритедьного устройства поворота 9, Вданном положении вводят кодлимиатор 7с двумя круглыми диафрагмами, размеркоторых должен быть равен сечению дифрагированного луча 5, и, плавно перемещая его, устанавливают в позиции,обеспечивающей прохождение...