G01N 27/62 — путем исследования ионизации газов; путем исследования характеристик электрических разрядов, например эмиссии катода
Устройство для автоматического контроля и регулировки состава газа, содержания пыли в нем, степени его ионизации и т. п.
Номер патента: 56011
Опубликовано: 01.01.1939
Автор: Урьян
МПК: G01N 15/00, G01N 27/62, G01R 13/42 ...
Метки: газа, ионизации, нем, пыли, регулировки, содержания, состава, степени
...искровым промежутком помещен в камеру с эталонным газом 41 и имеет назна.чение создавать некоторое постоянное при данных условиях напряжение, регулятором и контролем чего служитавтоматическое проскакивание искры,В качестве эталонного газа в камеруможет быть помещен какой-нибудь инертный или однородный газ, электрическая прочность которого будет подобрана соответственно электрической прочности принятого стандарта, например, чистого воздуха, а также в качестве эталонного газа может служить тот же протягиваемым исследуемый газ, но предварительно очищаемый от , анализируемого компонента.Искровой разряд в системе двух ша ровых разрядников не допускает повышения напряжения выше обусловлен.т ыть очень важным обмещен в камеру с...
Устройство для автоматического контроля и регулировки состава, газа, содержания пыли в нем, степени его ионизации и т. п.
Номер патента: 65036
Опубликовано: 01.01.1945
Автор: Урьян
МПК: G01N 27/62
Метки: газа, ионизации, нем, пыли, регулировки, содержания, состава, степени
...для замыкания цепи электромагнитов 3 и 4, управляюших перемещением электродов.Как уже описано в авторском свндетельстве56011, искра будет проскакивать в той из камер 5 или 6, где будет требоваться меньшее пробивное напряженне. Если, например, искра проскочила в камере 5, то, как известно, в цепи искрового промежутка появляется ток высокой частоты. Этот ток вследствие большого индукционного сопротивления не пройдет через электромагнит 4, а пройдет черезкогерер 8 и замкнет ток от трансформатора 9 и осветительной сети 10 в цепи электромагнита 4. Последний подтянет скользящий подтпипник 11, а с ним диск 12, насаженный на гвбкий вал, спаренный с микрометричеоким винтом 13 (гибкость валу придается спиральной пружиной 14). Диск 12,войдя в...
Масспектрограф
Номер патента: 78205
Опубликовано: 01.01.1949
Автор: Мисюревич
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
Метки: масспектрограф
...между электродами 8 и 9 электронного умножителя находится все время в противофазе разности потенциалов между электродами 6 и 7. Таким образом, ионы, прошедшие через щель электрода 9, имеют постоян. ную скорость, зависящую от напряжения источника 10 (порядка 150 в).Ударяясь о первый электрод 11 умножителя который находится под более низким потенциалом, чем электрод 9, ионы выбивают пз него некоторое количество электронов, пропорциональное силе ионного тока и увеличиваемое за счет вторичной эмиссии электродов умно- жителя. Далее ионы, проходя сквозь сетку 12 падают на анод 13. Электрод 11 может быть выполнен, например, из алюминия, остальные электроды покрыты эмиттером, допускающим периодический впуск воздуха в прибор. Назначение сетки...
Импульсный катодный дефектоскоп
Номер патента: 91485
Опубликовано: 01.01.1951
Автор: Каганов
МПК: G01N 27/62, H02K 3/00
Метки: дефектоскоп, импульсный, катодный
...подает на сетку тиратрона 7 положительные импульсы и тем самым отпирает его. Тиратрон загорается н горит до конца положительного полупериода вториччого напряжениятрансформатора 1, благодаря чему происходит разряд конденсатора 6.Импульсный генератор состоит из конденсатора 14, сопротивлений 8и 15 и того же тиратрона 7, Конденсатор 14 нормально разряжен, благодаря заземлению его обкладок через сопротивления 8 и 15. При зажигании тиратрона 8 конденсатор 14 быстро заряжается от потенцпометра 9,После погасания тиратрона происходит его разряд по сопротивлениям 12и 15, Изменяющееся напряжение подается на пластины времени ПВтрубки 5 и осуществляет горизонтальное смещение луча.Последовательные заряды и разряды конденсаторов 6 и 14 создаютв...
Катодолюминесцентный прибор для исследования шлихов и измельченных горных пород
Номер патента: 108646
Опубликовано: 01.01.1957
Автор: Богословский
МПК: G01N 27/62, G01N 33/24
Метки: горных, измельченных, исследования, катодолюминесцентный, пород, прибор, шлихов
...попадает на лентутранспортера и переносится в поле, находящееся под действием катод 1 юго им 1 кя От катод 6. Нрмжм через рсзицовук) пробку 5 ьходит стержень 7. К стержцкт Т присоедицец при 15 од, идм 1 ции От ист 01 ника 15 ьсокоо цяцряжсция.Внутри прибора с помощью вакуумного масляного пасоса, соединен;юго резиновым Нлацгом с трубкойсоздастся 151 клм. От трмбки о имеется отвод 9, соединенный резиновой трубкой со стеклянным бункером д.Наблюдение зя лкгчицссцеццисй материалов произво;пггся через окно 10, перед которым на стержня., 11 усти 5 ли 5 ется линза с 3 - 5-кратным увеличением. 1 ля извлечения гиомшСсцируюших зсрсц примсцси крОок 12 с Головкои 13.Сбропсниый крючком алмаз по подвижному лотку 14 попадает в бункер 11. В остялыюс...
Способ определения содержания примесей в гелии
Номер патента: 115799
Опубликовано: 01.01.1958
Авторы: Архипов, Горфинкель
МПК: G01L 21/30, G01N 27/62
Метки: гелии, примесей, содержания
...и месей, но меньше пот зации гелия. Известные способы анализа газов в вакуумной технике требуют сложной аппаратуры и значительного времени, что весьма затрудняет использование их в цеховых условиях (например, масса-спектрометрический, химический и т д.).Описываемый способ проще и экономичнее,Ионизационные манометры с лам. пой ЛМобычно применяются для измерения малых давлений (меньше 10 - алл рт. ст.). При этом потенциал ускоряющего электрода ионизационного манометра задается достаточным для ионизации атомов или молекул любых газов, а ионный ток, идущий на коллектор пропорционален общему давлению газа. В отличие от общепринятого способа, в описываемом способе предлагают подавать на ускоряющий электрод ионизационного манометра напряжение,...
Способ исследования параметров газоразрядной плазмы
Номер патента: 117426
Опубликовано: 01.01.1958
Автор: Козлов
МПК: G01N 27/62
Метки: газоразрядной, исследования, параметров, плазмы
Магнитный резонансный масс-спектрометр
Номер патента: 124564
Опубликовано: 01.01.1959
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
Метки: магнитный, масс-спектрометр, резонансный
...соотношением:(6) Если ширина модулятора - , то из равенства (5) следуетР Й) 1 1 АМ ДЯ 21Р - 2 Л 4 или Л 4 = - Р - (7)Последнее равенство (7) определяет интервал масс-ионов, проходящих через модулятор при заданных значениях Р и Н.Пусть ионы основной компоненты пучка имеют массу М а масса ионов микропримеси - М; . При измерении тока микропримеси ускоряющий потенциал выбирается так, чтобы ионы микропримеси попадали на модулятор.М, М, 21Если), то ионы основной компоненты попадаютсна модулятор вместе с ионами микропримеси.Пока модулятор закрыт, все ионы рассеиваются, но не проникают в коллектор в силу условия (3),Когда модулятор открыт, через него проходит пакет ионов, состоящий из ионов основной компоненты и ионов микропримеси. Ионы...
Способ перенесения материала пробы на подставной электрод
Номер патента: 127061
Опубликовано: 01.01.1960
Автор: Исаев
МПК: G01N 27/62, H01J 49/00
Метки: перенесения, подставной, пробы, электрод
...соприкосновение образца и электрода должно происходить строго теми же точками, что и при первом соприкосновении,Для обеспечения локальности действия электрического разряда прконтактировании образца с подставным электродом должны быть пра Л27116 15 ИЛЬНО БЫОрс НЫ Н) Пря,сСРН)СРХ)КОСТЬ СС 53 ЕНС 1 С)1, ИС С ЬЗ Р)сСС 1 стбипа 1 шем устро 1 стВР. Ирпчсм нзп 1 яжРнис и смк(нть дс,1)кны бьт:ТНОСИТРСЬНЦНЕВСЛИК.На, ЧВРТЧжг. ИСКс)ЗБНс СХЕМ ВКЛЮЧЕНИЯ КЦНДЕНСтЦР.1 схю 1 Бхцд 1 т ц 1 лифовсЛы)ЫЙ Обрс 1 зец.4, эсРктрод Ь, есн.снсзтс И с хкость)т с)то до 20 кс/), пстс)чпик тока 1 напряжением 20- М) с 5, ключ цепи зарядки К и ксммутирунщий ключ К 2 для и:5 мснения пс- ЛЯРнцсти РазРЯДа. с.)бРс):5 РЦ сцпРи)сасаетсЯ с электРоДом по линии сс- - б....
Ионизационно-пламенный детектор
Номер патента: 134058
Опубликовано: 01.01.1960
Авторы: Калмановский, Фикс, Яшин
МПК: G01N 27/62, G01N 30/68
Метки: детектор, ионизационно-пламенный
...собою два стержня, обращеные концами один против другого и расположенные по одной оси корпуса 1. Электроды закрыты конусообразными экранами 4 и 5, имеющими отверстия в середине, в которые входят концы электродов. Злектрод 2 выполнен полым и играет роль горелки, Корпус 1 состоит из двух частей, верхняя из которых выполнена с отверстиями 6 для выхода про. дуктов горения и снабжена стопорным винтом 7 что дает возможность змеять расстоя;ие между электродами; для аблюдения за пламенем прсдусмотрсо окно 8. Нижняя часть корпуса 1 имеет штуцер 9 чля подачвоздуха и штуцер 10 для ввода водорода с газами, выходящими из хроматографической колонки. Штепсельный разъем 11 служит для подлючения детектора к усилителю переменного тока, а...
Способ спектрального анализа
Номер патента: 136949
Опубликовано: 01.01.1961
Авторы: Жиглинский, Заидель, Карклина
МПК: G01J 3/30, G01N 27/62
Метки: анализа, спектрального
...анализа о т л и ч а ю щ и и с я ия чувствительности анализа, его проводят п Известен способ спектрального анализа, осуществляемый посредством электрической дуги при атмосферном (или пониженном) давлении. Недостаток известного способа заклкгчается в недостаточной чувствительности анализа, вследствие диффььзии атомов исследуемого вещества из зоны дугового разряда, что уменьшает концентрацию атомов в зоне разрядаПредлагаемый способ спектрального анализа по сравнению с известным ьповышает чувствительность при анализе ряда химических элементов. С этой целью анализ проводят при повышенном давлении. Так как коэффициент диффузии атомов из зоны дугового разряда пропорционален давлению, то при повышении давления диффузия уменьшается, а...
Устройство для проведения спектрального анализа при повышенном давлении
Номер патента: 136950
Опубликовано: 01.01.1961
Авторы: Жиглинский, Заидель, Карклина
МПК: G01J 3/36, G01N 27/62, G12B 15/04 ...
Метки: анализа, давлении, повышенном, проведения, спектрального
...виде герметичной снабженной входным штуцером и предохранительным клапаном Оарокамеры, внутри которой размсшсны два электрода, Охлаждасмыс кольцевой водяной рубашкой.На чертеже схематически изображено устройство для проведения спектрального анализа при повышенном давлении.Устройство представляет собою оарокамеру 1, внутри которой на держателях 2 установлены электроды 3, охлаждаемые посредством кольцевой водяной рубашки 4 с проточной водой, поддерживающей постоянную температуру барокамеры. Барокамера снабкена предохранительным клапаном 5 и входным штупсром 6 для подвода рабочего (1, глекпслого) газа. Герметизация барокамспы достигается с помощью уплотнптельной прокладки 7 из резины. Электроды можно сближать и разводить один от другого...
Устройство для газового анализа
Номер патента: 139146
Опубликовано: 01.01.1961
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
...сигналов, настроенных на фиксированныечастоты, в зависимости от рода анализируемого данной трубкой газа.Высокочастотные сигналы с выхода генератора 7 подаются на входыусилителей 8, 9, 10 переменного тока, подключенных к трубкам 3, 4, 5.Для контроля напряжения усиленного сигнала служат вольтметрыП, 1 г, и.Подключение трубок 3, 4, 5 к отдельным контурам генератора 7через усилители 8, 9, 10 обеспечивает получение параболического распределения потенциала. Токи коллекторов трубок 3, 4, 5 усиливают1.39146 электрометрическими усилителями 14, 15, 1 б и подают на самописцы 17 или используют в качестве управляющих сигналов в блоке 18 автоматического регулирования состава газовой фазы, При использовании одной трубки ее подключают через...
Способ изотопного и химического масс-спектрального анализа
Номер патента: 141559
Опубликовано: 01.01.1961
Автор: Ионов
МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 49/26 ...
Метки: анализа, изотопного, масс-спектрального, химического
...масс-спектрального анализа с и- пользованием магнитного масс-спектрографа, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности анализа, используется широ. кий пучок параллельно движущихся ионов, дважды фокусируемьй в однородном магнипном поле с одновременным диафрагмированием. ОПБЧЛТКЛ 11 а стр, 1 в строке 7 снизу напечатано одновременного следует читать однородногоСоставителе А. И. Хохлов Редактор Н. С. Кутафина 1 ехред Т. П, Курилко Корректор М. И. Козлова Поди. к печ. 21.ХгЗак. 10583 2/6. Типография ЦБТИ Комитета по делам изобретснпй и открытий при Совете Министров СССР, Москва, Петровка, 14.12 Формат бум. 70 Х 1081/еТираж 1250ЦБТИ при Комитете по делам изобретений ипри Совете Министров СССРМосква, Центр, М....
154436
Номер патента: 154436
Опубликовано: 01.01.1963
МПК: G01N 27/62, G01N 30/70
Метки: 154436
...диафрагмы-натекателя 7 катод имеет отрицательный потенциал 12 - 13 в, На цилиндр Венельта 10 подают регулируемое отрицательное смещение относительно катода, благодаря чему достигается некоторая фокусировка электронов, а также регулируется интенсивность пучка электронов.В первом цикле - цикле ионизации потенциалы диафрагм 11, 12, 7 и 13 равны нулю, благодаря чему электроны ускоряются до энергии 12 - 16 эв и, попадая в область натекания смеси, производят избирательную ионизацию органической составляющей газа, натекающего в ионизационный объем диафрагмы-натеМ 154436 Предмет изобретения Составитель Газиев Редактор Л. К. Ушакова Техред А. А. Кудрявицкая Корректор М, И, Козлоформат бум. 60)(90Тираж 5 о 0комптега по делам изЦентр,...
154709
Номер патента: 154709
Опубликовано: 01.01.1963
МПК: G01N 27/62
Метки: 154709
...сопровождаьощемуся ионизацией, благодаря чему увеличиваются чувствительь ость и надежность детектирования.Суьцььость способа детектирования компонентов органических смесей, предварительно разделенных на хроматографической колонке, заключается в том, что компоненты анализируемой смеси, выходящие из колонки, подвергают термической диссоциации в металлической трубке, разогреваемой с помощью платиновой спирали, питаемой переменным током, до 1300 С и продуь(ты термической диссоциации окисляют в атмосфере кислорода, при этом образуются ионы, Ионы собираются коллектором и регистрируются измерительной схемой. По величине максимального ионного тока судят о концентрации соответствующего компонента.154709Предмет изобретенияСпособ...
158138
Номер патента: 158138
Опубликовано: 01.01.1963
МПК: G01N 27/62
Метки: 158138
...стеклянные кап 11 лляры 9. Посгоян158138ство общего расхода воздуха поддерживается регулятором разрежения 10.В рабочий детектор 1 анализируемый воздух:попадает, пройдя через одну из сорбционных колонок 12 - 22, предназначенных для селективного удаления из,воздуха тех или иных веществ или их групп и переключаемых многоходовым краном 11.Колонка 12 содержит слой диатомитового кирпича и идентична колонке 13. Эга колонка включается при установке прибора на нуль. Колонка 14 содержит нагретую до 350 в 4 С закись-окись кобальта и используется при определении суммарного содержания органических вешеств (или других ионизирующих пламя, примесей в воздухе). Остальные колонки содержат различные реагенты, нанесенные на диатсмитовый кирпич: колонка 15...
163414
Номер патента: 163414
Опубликовано: 01.01.1964
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
Метки: 163414
...содержит корпус 1 с крышкой 2(соединенные металлическим уплотнением),внутри которого помещены цельнометаллический якорь 3 электродвигателя с редуктором и перфорированным диском 4; тигель 5 с огверстием для выхода паров исследуемого вещества и диафрагму б.Температуру рабочей части испарителя измеряют термопарой 7. Высокотемпературньтй кран 8 служит для отсоединения испарителя от вакуумной системы при смене образца. Испаритель соединен с ионным источникоммасс-спектрометра накидкой гайкой 9 и расположен вертикально над ионным источником. Рабочая часть испарителя нагревается съемной печью 10. Наружный электромагнит является обмоткой статора 11 электродвигателя, цельнометаллический якорь 3 которого вращает через редуктор диск 4, служащий...
164458
Номер патента: 164458
Опубликовано: 01.01.1964
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
Метки: 164458
...молекулярный вес только при достаточном разрежении газа в пространстве дрейфа, например при давлении 10 - 4 - 10 л,1 грт, ст. и непригодны для измерений при больших даВЛЕНИяХ, ПОрядКа 10 в - 10 - 4 Л,тг рт. Ст, 1Отличительной особенностью предлагаемого способа является то, что измеряют скорость ионов в исследуемом газе, движущихся под действием электрического поля, и расстояние, проходимое ионами в направлении коллектора после выключения электрического напряжения, и по величине отношения квадрата скорости к расстоянию пробега судят о молекулярном весе; при этом расстояние, пробегаемое ионами в направлении поля после вы ключения электрического напряжения между электродом и коллектором, характеризуют током на коллекторе. Предложенный...
Способ анализа ионов, близких по массе
Номер патента: 172117
Опубликовано: 01.01.1965
Авторы: Институт, Султанов, Хвостенко
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
Метки: анализа, близких, ионов, массе
...ганической химии Башкирского гос университетатвениог сти ПОСОБ АНАЛИЗА ИОНОВ БЛИЗКИХ ПО МАССЕИзвестны способы анализа ионов, близких ло массе, с применением масс-спектрометров с высоким разрешением.Предложенный способ отличается от известного тем, что в масс-спектрометре применен ионный источник с отрицательной поверхностной ионизацией, позволяющий повысить точность анализа.Сущность изобретения поясняется на примере анализа серы в присутствии кислорода. Здесь исключение влияния кислорода на результаты определения серы достигается применением в масс-спектрометре ионного источника с отрицательной поверхностной ионизакатода 2500 в 28 К омные отрицательные катоде не образуются. а поверхности катода оединений,циеи, При температуре...
Устройство для обнаружения поврежденнб1х мест в эмалевых покрб1тиях
Номер патента: 172537
Опубликовано: 01.01.1965
МПК: G01N 27/62
Метки: мест, обнаружения, поврежденнб1х, покрб1тиях, эмалевых
...место. изобретени е Устроиство д мест в эмалев металлических вращения, сод одписная группа17 с присоединением заявки Известны устройства для контроля исправности изоляционных покрытий на металлических изделиях с помощью подвижного электрода, соединвнного с источником высокого на,пряжения и перемещаемого по,поверхности и здели я,Место повреждения обнаруживается по электрическому искровому пробою или по возрастанию тока, что не обеспечивает необходимого качества контроля.предлагаемое устройство отличается от известных тем, что высоковольтный электрод выполнен в виде укрепленной на держателе металлической струны, изогнутой соответственно образующей изделия.Держатель вращается на оси и снабженподвижной вдоль электрода кареткой с дв 1...
Устройство для коррекции ионного пучка в анализаторе времяпролетного масс-спектрометра
Номер патента: 175309
Опубликовано: 01.01.1965
Авторы: Белов, Бронштейн, Озеров
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
Метки: анализаторе, времяпролетного, ионного, коррекции, масс-спектрометра, пучка
...чт ложняет конструкцию устро ускорения и части пространства дрейфа, в основном свободного от полей,В области иошзацин и области ускоренияионы движутся во взаимно перпендикулярных электрическом и магшггном полях (коллимирующее магнитное поле направлено перпендикулярно чертежу в сторону от читателя), а в той части пространства дреифа, на которую распространяется коллнмнрующее поле, ионы 10 движутся в поперечном магнитном поле. Этополе вызывает недопустимое по величине отклонение ионов от осевой линии прибора, что приводит к потерям легких компонентов и искажениям в масс-спектре.15 На чертеже показаны схематическрии однозарядных ионов с массами Отклонение оо в выталкиваюцеммежутке 5 и ускоряющем промежутке 1 при 20 оптимальных величинах...
Устройство для обнаружения поврежденных мест в эмалевых покрытиях
Номер патента: 176115
Опубликовано: 01.01.1965
Авторы: Белоконь, Конструкторский, Михайлусь, Морох, Украинский, Черкасов
МПК: G01N 27/24, G01N 27/62
Метки: мест, обнаружения, поврежденных, покрытиях, эмалевых
...между электродом и изделием. Реле срабатывает в результате прекращения коронирования прц возникновении искрового проооя в месте повреждения покрытия. Это повышает точность фиксации места повреждения покрытия.На фиг. 1 изображена схема устройствадля обнаружения поврежденных мест в эмалевых покрытиях; на фиг. 2 - разрез по А-А на фиг. 1.Устройство содержит электрод 1, перемещаемый по поверхности эмали проверяемого изделия и присоединенный к источнику тока высокого напряжения. Вторым электродом служит металл изделия, Электрод 1 выполнен в виде металлического стержня по форме, соответствующей образующей проверяемого изделия.Электрод укреплен ца держателе 2 и вращается на оси, совпадающей с осью изделия.На держателе установлена...
183469
Номер патента: 183469
Опубликовано: 01.01.1966
МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 49/26 ...
Метки: 183469
...напуска при длительном измерении в стабильных условиях и тем самым повысить точность анализа. Разложение оксихлоридов в вакууме 20 происходит в основном за счет отщепления газообразного хлора, потери самого молибдена незначительны и после повторного хлорирования проба может быть использована повторно.Получение диоксидихлорида и окситетрахлорида даже в весьма малых количествах просто в методическом и аппаратурном отноше ниях и не требует значительных затрат времепи. Получение Мо 02 С 1, и МоОС 1, пз трехокиси молибдена (МоОа) или молибдатов аммозо ния и свинца (ИН 4)2 МоО, РЬ Мо 01) требуетЗаказ 227815 ТиРаж 1175 ФоРмат бУм. 60 К 90/з Объем 0,13 изд. л. ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прп Совете Министров...
189213
Номер патента: 189213
Опубликовано: 01.01.1966
МПК: G01N 23/22, G01N 27/62
Метки: 189213
...атомоь по наведенной активности, отличсиощиися тем, что, с целью повышения точности измерений, между диафрагмами помещена заслонка для отсеканця атомного пучка, а коллектор содержит сосуд для жидкого азота и механическое прспособление для вращения коллектора, содержащее зубчатую передачу и шток, герметично уплотненный в корпусе прибора,20 Известен прибор для измерения коэффициентов ионизации и эффективных сечений ионизации паров металлов электронным ударом. Прибор содержит корпус, откачиваемый до высокого вакуума, в котором находится испаритель металла, диафрагмы для выделения атомного пучка, электронную пушку, электромагнитную систему для разделения ионов и коллектор для измерения потока частиц.В предлагаемом приборе между...
Способ анализа ионов по массам
Номер патента: 177674
Опубликовано: 01.01.1966
Автор: Линник
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
...ка 5 сигнала,менп ос.щ ствляют по закону а- , где пойрадуировке ии прибора; выбирается выходного с й ионов. остигаетсякаждой ма ала. при этом пределах ала датградуирован баний ионов зависимости сла колебан ря этому д ебаний ионов страции сиги ются при число коле линейной чика от чиБлагода цессе реги а и 6 выбирают при стоъ прибор2. Сп числолинейн чика от а.особ по п. 1, от.гичающай олебанпй ионов выбирают ой зависимости выходного с числа колебаний ионов. я тем, что в пределах гнала датинаково ы в про Данное изобретение относится к способам анализа ионов по массам с применением индикатора парциальных давлений фарвптрон.Известны способы анализа ионов по массам с применением фарвитрона, в которых изменение частоты ионизации от времени...
Двухступенчатый масс-спектрометр с 360-градусной двойной фокусировкой ионных лучей
Номер патента: 190652
Опубликовано: 01.01.1967
Автор: Ионов
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
Метки: 360-градусной, двойной, двухступенчатый, ионных, лучей, масс-спектрометр, фокусировкой
...сферической аберрации второго порядка межполюсцый зазор в месте раздела дуацтов изменяется скачком, При этом для получения двойной фокусировки второго порядка по углам и первого порядка по разбросу энергии необходимо соблюдать следующее соотцошецие между напряженностями хагпитного поля и потецциалами, приложенными к дуацтам: На чертеже изоораткецы масс-спектрометр с 360-градусцой фокусировкой и траектории движения ионов в дуацтах,В межполюсцый зазор магнита 1 помещеныдва изолироваццых дуацта 2 и 3, разделенные узким зазором 4, Таким образом, межполюсцый зазор в месте раздела дуацтов изменяет ся скачком и отношение напряженностей магнитных полей в зазоре магнита равно корню квадратному цз обратного отношения потенциалов,...
198712
Номер патента: 198712
Опубликовано: 01.01.1967
МПК: G01N 27/62
Метки: 198712
...ФАЗАХ пособ изх й фазы в им разря смеси. Т труда. Для обеспечения оезопасности проведения многих процессов в ряде отраслей промышленности необходимо знать минимальную энергию воспламенения окислнтсльно-восста 11 овительных смесей в газовой или паровой фазах, Это позволит определить граничные условия. ири которых существует опасность зажигания.1 Лзвестсн способ измерения минимальной энергии воспламенения окислитсльно-восста новитсльных смесей и газовой или паровой фазах, основанный на измерении энергии конденсированного разряда между электродами, причем исслс;1 уемую фазу и искровом промежутке облучают радиоактивными лучами, 15Недостаток способа заключается в радиоактивном излучении и нсоохолимости в связи с этим защиты обслуживающего...
Анализатор квадрупольного масс-спектрометра
Номер патента: 257129
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Ивашкин, Слободенюк
МПК: G01N 27/62, H01J 49/26
Метки: анализатор, квадрупольного, масс-спектрометра
...случаях вообще невозможно,В предлагаемом анализаторе торцы стержней иеподвикно соединены посредством керамических деталей, играющих роль электрических изоляторов, с металлическими фиксато.5 рами, вставленными в калиброванные по месту расположения и форме отверстия плат.Платы с отверстиями для прохода ионов, являющиеся входной и выходной диафрагмами, жестко закреплены в строго определенных по ложен 11 ях на торцах корпуса, которь 1 Й придаетжесткость всей конструкции анализатора.Точность фиксации стержней в пространстведостигается путем обработки стержнеи и фиксаторов в сборе и выполнения калиброванных 15 отверстий и отверстий для прохода ионов вплатах с одного установа деталей на станке.Керамические летали не являются фиксаторами,...
Способ измерения диэлектрической проницаемости и плотности электронов газоразрядной плазмы
Номер патента: 240051
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Зьков, Щербов, Яновский
МПК: G01N 27/62, G01R 27/26
Метки: газоразрядной, диэлектрической, плазмы, плотности, проницаемости, электронов
...радиоинтерферометра с генератором электромагнитных колеба ий СВЧ-диапазона.Известный способ предназначен для измерений параметров нестационарной плазмы, при этом на выходе интерферсметра регистрируется интерферометрическит". сигнал, по числу максимумов которого судят о плотности плазмы.Предлагаемый способ позволяет производить измерения параметров стационарной плазмы. Для этого частоту генератора интерферометра модулируют пс периодическому закону и определяют амплитуду относительной девиации фазы на выходе,интерферометра, Величина девиации фазы Дч связана с величиной частотной модуляции Дто и параметрами плазмы - протяженностью 1 и диэлектрической проницаемостью е - соотношением По величине Дтр можно определить концен.трацию частиц...