Способ контроля поверхностных дефектов твердых материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51) 4 Н 01 Т 9/42 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ОБРЕТЕНИ РСНОМУ С ЛЬСТВУ(71) Ташкентский государственный ун верситет им. В.И.Ленина(54(57) 1,СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛОВ, включающий облучение контролируемой поверхности светом и регистрацию тока экзоэлектронов, о т л и ч а юОПИСАНИ щ и й с я тем, что, с целью расшире ния функциональных возможностей, перед облучением на поверхность наносят слой предварительно возбужденного сульфата Са, Ва или Бг из водной или спиртовой суспензии;2. Способ по п,1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что предварительное возбуждение сульфата осуществляют электронами энергией 1-2,3 10 эВ.3. Способ по п.1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что предварительное возбуждение сульфата осуществляют фотонами энергией 9-2 Оф эВ.4, Способ по п.1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что предварительное возбуждение сульфата осуществляют дозой 15-20 101 бэр.ИИПИ Заказ 7571/53 Т 78 Подписно Патент", г.ужгород,ул.Проектная,4 Изрбретение относится к физикетвердых тел, а именно представляет собой новый метод анализа по"верхностных,дефектов (типа трещин,царапин и т.д.),.основанный на регистрации фотостимулированной экзоэлектронной эмиссии (ФСЭ).Цель изобретения в . расширениефункциональных воэможностей засчет увеличения числа материалов,подлежащих контролю.На фиг.1 и 2 приведены результаты измерения ФСЭСущность способа заключается втом, что поверхность покрываютпредварительно возбужденными веществами (эмиттерами), обладающимихорошей проникающей способностьюили хорошейадгезией с дефектнымиместами и значительной фотостимулированной экзоэмиссией, излишеквещества удаляют, после чего измеряют ФСЭ, которая идет с декорированных таким образом дефектныхмест исследуемого материала.Заметная ФСЭ сульфатов при возбуждении фотонами проявляется принаименьшей энергии, равной 9 эВ.Воэбужцение ФСЭ можно производить такжевысокоэнергетичными электронами (например, а -частицами) сэнергией 2,3 10 эВ, рентгеновскимиСлучами с энергией фотонов до12.104 эв,П р и м е р 1Никелевая пластинас дефектами, возникшими при механи 9 б 971 2йческой обработке, декорирована сухим предварительно возбужденным(рентгеном) порошком Са 804 (излишки порошка стирают). Толщина деко рированного слоя 1-2 мкм. При этомконтролируют дефекты с размеромне менее О,1 мкм. Измерение ФЭС проводят искровым счетчиком открытоготипа, оптическая модуляция - фокусированным светом света лампы накаливания, объект сканируют счетчиком.В качестве объектов контроля берутпластины меди, латуни, никеля, стекла.15 На фиг.1 по оси абсцисс отложена координата вдоль одного из направлений на поверхности образца, по осиординат - интенсивность ФСЭ. Тонкими М вертикальными отрезками отмечены положения дефектов. Высота каждогоотрезка пропорциональна ширине соответствующего дефекта, Как видноиз фиг.1, ФСЭ с декорированных де фектов превышает фоы в 5-15 раз. П р и м е р 2. Латунная пластина стрещинами, созданными механическимнагружением образца, декорирована ЗО сульфатом кальция, осажденным изводной суспенэии. Интенсивность ФСЭ сдефектных мест в 10-45 .раз превьппаетфон (фиг.2).Аналогичные результаты полученыпри использовании в качестве эмиттера с ульфатов Бг и Ва.
СмотретьЗаявка
3784769, 25.06.1984
ТАШКЕНТСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. В. И. ЛЕНИНА
КРАСНАЯ АННА РУВИМОВНА, НОСЕНКО БОРИС МАРКОВИЧ, ЯСКОЛКО ВЛАДИМИР ЯКОВЛЕВИЧ, ОСТЕР ЛЕОНИД НАУМОВИЧ
МПК / Метки
МПК: H01J 9/42
Метки: дефектов, поверхностных, твердых
Опубликовано: 07.12.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1196971-sposob-kontrolya-poverkhnostnykh-defektov-tverdykh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля поверхностных дефектов твердых материалов</a>
Предыдущий патент: Устройство для синхронного отключения нагрузки
Следующий патент: Амальгама для люминесцентных ламп
Случайный патент: Устройство для срезания растений и. г. мухина