Патенты с меткой «масс-спектрального»

Номер патента: 141559

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Ионов

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 49/26 ...

Метки: анализа, изотопного, масс-спектрального, химического

...масс-спектрального анализа с и- пользованием магнитного масс-спектрографа, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности анализа, используется широ. кий пучок параллельно движущихся ионов, дважды фокусируемьй в однородном магнипном поле с одновременным диафрагмированием. ОПБЧЛТКЛ 11 а стр, 1 в строке 7 снизу напечатано одновременного следует читать однородногоСоставителе А. И. Хохлов Редактор Н. С. Кутафина 1 ехред Т. П, Курилко Корректор М. И. Козлова Поди. к печ. 21.ХгЗак. 10583 2/6. Типография ЦБТИ Комитета по делам изобретснпй и открытий при Совете Министров СССР, Москва, Петровка, 14.12 Формат бум. 70 Х 1081/еТираж 1250ЦБТИ при Комитете по делам изобретений ипри Совете Министров СССРМосква, Центр, М....

Номер патента: 983827

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Кабаченко, Тарантин

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, вещества, масс-спектрального

...в ионном источнике ионизируют исследуемое вещество и измеряют спектр массовых чисел, путем изменения режима ионизации в источнике ионов раздельно получают однозаряд 25 ные и двухзарядные ионы и раздельно измеряют спектры масс однозарядных и двухзарядных ионов и путем сравнения полученных масс-спектрограмм определяют раздельное содержание элементов зо и комплексных соединений, имеющих одинаковые массовые числа.Для этого используют экспериментальную закономерность, заключающуюся в том, что отношения выходов двух зарядных молекулярных ионов к выходам однозарядных ионов одних и тех же комплексных и молекулярных соединений существенно меньше, в 20-30 раз ) аналогичных отношений выходов атомар О ных ионов.Предлагаемый способ...

Номер патента: 1192862

Опубликовано: 23.11.1985

Авторы: Белов, Латышев, Работяшкина, Смирнов

МПК: B05B 17/06

Метки: анализов, аэрозоля, масс-спектрального, распылитель, спектрального, ультразвуковой

...3 энергия ультразвуковых колебания передается на плоскую часть ультразвуковой линзы 7, в связи с чем они, не преломляясь, и практически безотражения, проходят в объем линзы 7, а затем падают на вогнутую поверхность ультразвуковой линзы 7.Из-за разности скоростей распространения: ультразвука в веществеультразвуковой линзы 7 и распыля 15203035 40 45 50 55 емом растворе на границе раздела происходит преломление направления распространения ультразвуковых колебаний, в результате чего они фокусируются вогнутой поверхностью линзы 7 в область малого размера. Подбором высоты уровня раствора анализируемой жидкости в зависимости от плотности раствора можно добиться того, что ультразвуковые колебания будут сфокусированы на поверхность...

Номер патента: 1245984

Опубликовано: 23.07.1986

Авторы: Григоров, Шклярова

МПК: G01N 27/62

Метки: анализа, масс-спектрального, полимеров, труднолетучих

...ПХИс средней мол. м,4 10 а.е.м измеренной методом светорассеивания, растворяют в гептане и 20готовят набор растворов с концентрацией 0,001-0,1 мас.7. Средний радиусмолекулярных клубков в растворе составляет 30 нм,Пластинку с напыленным слоем диоксида селена погружают в раствор полимера на 3 с, затем вынимают израствора и подсушивают на воздухе,позволяя испариться остаткам растворителя. Затем пластинку с молекуламиполимера, адсорбированными на поверхности диоксида селена, устанавливаютв ионном источнике масс-спектрометра и вакуумируют.После достижения рабочего вакуума в масс-спектрометре проводят масс- спектральный анализ состава газовой фазы над поверхностью пластинки, поддерживая ее температуру на таком уровне, чтобы давление паров...

Номер патента: 1536454

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Бибиков, Голякевич, Походня, Швачко

МПК: G01R 7/16, H01J 49/26

Метки: количественного, масс-спектрального, материалах, многокомпонентных, содержания, твердых, углерода

...из времяпролетного масс-спектрометра МСХи камеры с высокотемпературной ячейкой. Вакуум не ниже 210 Па создавался в установке беэмасляной системой откачки, причем камера ячейки откачивалась отдельным насосом.Ячейка, изготовленная из молибдена, нагревалась до 1000 С тепловым излучением кольцевого катода, а до более высокой температуры - электройной бомбардировкой.Для калибровки масс-спектрометра до двуокиси углерода в камеру источника с помощью вентиля тонкой регулировки добавляли СО и определяли зависимости интенсивности линии СОе от давления СО. Величина чувствительности масс-спектрометра по СОд находилась в пределах (48) 10 л Па/мм шкапы.Аналогичным образом калибровался прибор по окиси углерода, а измеренная чувствительность была...

Номер патента: 1711261

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Антонов, Пальцевич, Походня, Смиян, Упырь, Швачко

МПК: G01N 33/10, H01J 49/26

Метки: водорода, количественного, масс-спектрального, материалах, твердых

...затем используют при анализе образцов с неизвестным содержанием Н)диф. Этот анализ выполняют с той же последовательностью операций, как и в случае образца-копии; по верхность анализируемого образца очищают ионной бомбардировкой, определяют зависимость тангенса угла наклона кривой вт - 0 перэ) для ионов Н, интегрируют полученную зависимость, а затем по градуировочной зависимости определяют содержание Н 1 диф.Анализ остаточного водорода выполняют с использованием стандартных образцов. Для этого после очистки поверхностиобразца ионной бомбардировкой измеряютв одинаковых условиях тангенсы угла наклона линейной части зависимости 1 вт " т 0 перв)для вторичных ионов Н на стандартном ианализируемом образцах. Сопоставляя полученные величины,...