Патенты с меткой «вторичноионной»

Номер патента: 983826

Опубликовано: 23.12.1982

Авторы: Ильинский, Попов

МПК: H01J 49/14

Метки: анализа, вторичноионной, жидких, масс-спектрометрии, методом

...- повышение воспроизводимости результатов и расширениедиапазона анализируемых материалов.Данная цельдостигается тем, что в 30устройстве для анализа жидких материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии, содержащем источник первичных ионов, держатель образца, масс=анализатор и детектор, держатель образцавыполнен из пористого материала.На фиг. 1 изображена схема предлагаемого устройства; на фиг, 2 - масс-спектры вторичных ионов для мишени на основе монолитного молибдена (а) и на 40основе пористого молибдена (б).Устройствосостоит из источника 1ионов, держателя 2 исследуемого образца, масс-спектрометра 3,Перед анализом исследуемое вещество вводится в жидком состоянии в капилляр 50 ные каналы пористого твердого тела, являющегося...