Листратова

Номер патента: 1780476

Опубликовано: 10.01.1997

Авторы: Листратова, Назарова, Ткаченко, Хребтов

МПК: H01L 39/24

Метки: болометра

Способ изготовления болометра путем формирования на диэлектрической подложке приемной площадки из сверхпроводниковой пленки и укрепления диэлектрической подложки на объемном теплоотводящем основании, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности болометра в объемном основании, производят выборку материала, соединяют его с диэлектрической подложкой методом оптического контакта, а затем любым известным способом уменьшают толщину диэлектрической подложки, образуя над областью выборки материала мембрану для формирования приемной площадки.

Номер патента: 1781657

Опубликовано: 15.12.1992

Авторы: Дымшиц, Листратова, Фабро

МПК: G02B 5/18

Метки: отражательной, решетки, фазовой

...Р = 50 х 50 мм, толщиной 1,5 мм, Посажена на оптический контакт на подложку из стекла К 8. Наружную поверхность шайбы полируют на плоскость под углом к "внутренней" поверхности так, что Н = 1 мм, а и "0,75 мм, Сборку погружают на 1 чэс в 0,15 М-раствор соляной кислоты при температуре 50 С, Для равномерного протравливания канавок в шайбе ее опускают в кислоту постепенно, начиная с толстого края, со скоростью 4 мм/мин, После окончания травления шайбу промывают и высушивают, а затем в вакуумной камере на систему в сборке напыляют со стороны шайбы слой алюминия толщиной 10 мкм, Изготовленное таким образом устройство закрепляют в оправе-держателе,На фиг. 1 схематически изображено устройство в сборке до протравливания; на фиг, 2 - то же...

Номер патента: 1640529

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Дымшиц, Желтов, Калугин, Листратова, Прохоров, Фабро, Шехтман

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр

...порядка определяется выражением в 1 п а 2 = и л, /б, где б - шаг решетки, 1640529длина волны излучения. Излучение, отразившееся от решетки 3 в максимум того же и-го порядка, направлено под углом а 1, определяемым выражением зи а= (п- -2 Ь)/О, где Л- разность глубин друх соседних полостей. Видно, что аа р, Кроме того, из сопоставления выражений для гхоз и а 2 следует, что разность а 2 - адля различных дифракционных максимумов различна, Следовательно, различна и величина смещения волновых фронтов, отраженных от решеток 2 и 3. Таким образом, в максимумах разных порядков одновременно образуются интерференционные картины с различной величиной сдвига.Величина сдвига волновых фронтов в максимумах в интерферометре задается заранее самой...

Номер патента: 882780

Опубликовано: 23.11.1981

Авторы: Листратова, Панов, Петропавловская, Стрелков

МПК: B29J 5/00

Метки: древесно-волокнистых, плит, протипки, состав

...наряду с увеличением лрочности обеспечивает также уменьшение водопоглощения и набухания плит в воде по сравнению с плитами, пропитанными только окисленным петролатумом.П р и м е р 1. Цля пропитки используют состав при онедующем соот" ношении компонентов, вес.%: Окисленный петролатум Нефтеполимерная смола 70,0 Бенэолсульфокислота 1,0 Пропитывают древесноволокнистые плиты сухого способа производства, изготовленные на Шекснинском заводе ДВП, Толщина плит 6 мм, марка Т - 350 по ТУ 13-444-79, Пропитку плит 9 проводят в специальной ванне при температущ0 4расплава 150-170 С, , Расход пропитывающего состава регулировали путемизменения продолжительности пропиткив пределах 5-10 мин. Далее образцывыдерживают в закалочной камере при,,160 С в...

Номер патента: 785021

Опубликовано: 07.12.1980

Авторы: Бакаев, Калугин, Листратова, Чунин

МПК: B24B 13/00

Метки: асферических, копировального, поверхностей, станок, шлифования

...1, закрепленный в подшипниках, установленных в двупле-. чем рычаге 2, на котором закреплен ролик 3. Рычаг установлен на оси 4, подшипники которой расположены в неподвижной станине станка. Шпиндель 5 изделия размещен в суппорте б, который через "интовую и червячную передачи связан с копировальнйм диском 7. На шпинделе изделия закреплен шток 8, который упирается в копировальную линейку 9, расположенную. на станине станка.Заготовка 10 устанавливается и закрепляется в шпинделе йэделия, При перемещении в .горизонтальном направлении суппорта б шпиндель иэделия возвратно-поступательно перемещается в вертикальном направлении, отслеживая профиль копировальной линейки 9, При вращении копировального диска 7Корректор С. Шекм акаэ .8719/11 ВНИИПИ...