Двухлучевой интерферометр для измерения диаметра
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 319838
Авторы: Богуславский, Крицын
Текст
Сова Соеетокнх Социалистических Республик/25-28 1 Ь 11/О МП Комитет ло делам аобретений и открытийриоритет ллетень33 Опубликовано 02.Х 1,1971. Дата опубликования опи УДК 531,715.1(088,ри Совете Министр СССР2.Х 11.1971 Авторыизобретения М, Г. Богуславски И н Заяви ВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕОТВЕРСТИЯ ДЕТАЛИ ИАМЕТРА Изобретенйе относится к области линейныхизмерении и может быть использовано дляаттестации и поверки ооразцовых колец, применяемых в шарикоподшипниковой промышленности, дизелестроении, самолетостроении, 5станкостроении и т. п.известен двухлучевои интерферометр дляизмерения диаметра отверстия детали, содержащии осветитель, светоделительную пластину, делящую световой поток на две ветви - 10рабочую и эталонную, отражающии элемент,установленный в рабочеи ветви, и регистриРующую систему,11 редлагаемыи интерферометр отличается отизвестного тем, что, с целью повышения точности и расширения пределов измерения, отражающий элемент выполнен в виде усеченногоконуса с прямым углом при вершине.На фиг. 1 изображена оптическая схемапредлагаемого интерферометра; на фиг. 2 - 20интерференциальная картина в поле зрения.Интерферометр содержит осветитель (начертеже не изображен), коллиматор с объективом 1 и щелью 2; светоделительную пластину д, неподвижное плоское зеркало 4, отражающий элемент - непрозрачный усеченныйконус б с зеркальными отражающими поверхностями, объектив б, выходную щель 7 и регистрирующую систему (на чертеже не показана), 30 Лучи света, идущие от источника свста ирой дя коллиматорную щель 2 и объектив 1, становятся параллельными, так как щель находится в фокусе объектива 1. Параллельный пучок света падает на светоделительную пластину д, где он разделяется на два пучка (две ветви). Один пучок света отражается от свстоделительной поверхности пластины д и падает по нормали на плоское зеркало 4. Затем этот пучок света, отражаясь от зеркала, проходит в обратном направлении через светоделптсльную пластину и собирается объективом б в плоскости выходной щели 7. Второй пучок света проходит через светоделительную пластину д, падает на боковую поверхность и поверхность верхнего основания усеченного конуса б. Часть пучка, падающая на боковую поверхность, отражается от нее и в радиальном направлении падает на измеряемую поверхность детали 8. Далее этот пучок света, отражаясь последовательно от измеряемой поверхности детали и боковой поверхности конуса, вместе с частью пучка, отраженного от верхнего основания усеченного конуса, возвращается обратно к пластине д, отражается от ес поверхности и собирается при помощи объектива б в плоскости выходной щели 7. Оба пучка света, имеющие разность хода, интерферируют между собой, Система из внутренней цилиндрической поверхности и соосной конической319838 иг Фи Составитель Л. Лобзова Техред 3. Н. Тараненко актор С. П. Ежк орректоры: Л. Корогод и А. Николаев Заказ 3636/11 Изд, Ме 1556 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5 пография, пр. Сапунова с углом при вершине 90 эквивалентна плос. кой отражающей поверхности А, отстоящей от вершины на расстоянии, равном радиусу измеряемого отверстия, Если между поверхностями верхнего основания усеченного конуса и плоскостью А с одной стороны, и изображением зеркала, с другой стороны, имеется небольшой клин, то будут наблюдаться две системы интерференционных полос равной толщины, одна из которых Б расположена на поверхности верхнего основания усеченного конуса, а другая - В на поверхности измеряемого диаметра. По величине смещения интерференционных полос в нескольких спектральных линиях монох ром атичес кого источника света определяется размер от верхнего основания конуса до измерительной поверхности отверстия, т. е. плоскости А, аналогично тому, как это делается при абсолютных измерениях кон 4цевых мер на интерферометре Кестерса. Диаметр отверстия определяют исходя из полученного на интерферометре размера от верхнего основания усеченного конуса до плоскости А 5 и постоянного значения от вершины конуса доверхнего основания, которое определяется интерференционным методом при аттестации,Предмет изобретения 10 Двухлучевой интерферометр для измерениядиаметра отверстия детали, содержащий осветитель, светоделительную пластину, делящую световой поток на две ветви - рабочую и эталонную, отражающий элемент, установленный 15 в рабочей ветви, и регистрирующую систему,отличающийся тем, что, с целью повышения точности и расширения пределов измерения, отражающий элемент выполнен в виде усеченного конуса с прямым углом при вершине,
СмотретьЗаявка
1399807
М. Г. Богуславский, А. И. Крицын
МПК / Метки
МПК: G01B 11/08
Метки: двухлучевой, диаметра, интерферометр
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-319838-dvukhluchevojj-interferometr-dlya-izmereniya-diametra.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Двухлучевой интерферометр для измерения диаметра</a>
Предыдущий патент: 319837
Следующий патент: Способ измерения величины зазора между двумядеталями
Случайный патент: Заливки чугуна в конвертер