Архив за 1991 год

Страница 2222

Способ измерения вязкости потока в трубопроводе

Загрузка...

Номер патента: 1702249

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Зингер

МПК: G01N 11/08

Метки: вязкости, потока, трубопроводе

...преобразователю расхода. Второй расходомер, реализован в виде расходомера переменного перепада давления и содержит сужающее устройство (например, диафрагма, сопло 2сред технологических потоков в тубопроводах по величине расхода и перепада давления среды. Целью изобретения является повышение точности измерений. Цель достигается тем, что измеряют расход одновременно абсолютным расходомером и расходомером переменного перепада давления, режим работы которого выбран в области чисел Рейнольдса-ниже граничных значений, а вязкость определяют по разности показаний этих расходомеров, Уменьшение погрешности измерения вязкости достигается тем, что измеренное значение вязкости определяется величиной поправки на,расход, а не всем расходом. Вентури...

Измеритель вязкости жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1702250

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Глазунов, Грузнов, Житникова, Иванков, Кулагин, Махнач

МПК: G01N 11/10

Метки: вязкости, жидкости, измеритель

...на других входах этих элементов. В рассматриваемом режиме первыйэлемент И 8 и третий элемент И 10 запертыпо другим входам и импульсы генератора 5через них не проходят, Элемент НЕ 7, ин 5 вертируя подаваемый на его вход запрещающий потенциал с выхода первоодешифратора 15 в разрешающий, открывает по первому входу второй элемент И 9,Поскольку в этом режиме по второму входу10 этот элемент открыт разрешающим потенциалом с выхода датчика 4 угла поворота,импульсы генератора 5 проходят на счетныйвход счетчика 12 и суммируются им, Кактолько сумма счетчика 12 достигнет требуе 15 мого значения, т,е. зонд 1 перед измерением будет выдержан в течение требуемогопромежутка времени с тем, чтобы его начальная скорость заведомо была равна нулю, на выходе...

Измеритель вязкости жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1702251

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Глазунов, Грузнов, Житникова, Иванков, Кулагин, Махнач

МПК: G01N 11/10

Метки: вязкости, жидкости, измеритель

...в аналого-цифровом преобразователе 16, Это напряжение подается на вход делителя 17 напряжения, которым уменьшается в заданное число раз (например, в е раз), Выходные напряжения сумматора 19 и делителя 17 напряжения сравниваются вторым компаратором 9, Первоначально напряжение сумматора 19 заведомо больше напряжения на выходе делителя 17 напряжения и на . выходе второго компаратора 9 присутствует запрещающий потенциал. Однако по мере нарастания напряжения на выходе датчика .6 скорости при увеличении скорости зонда 5 после его разгона, напряжение на выходе сумматора уменьшается по экспоненте, в то время, как напряжение на выходе делителя 17 напряжения остается постоянным по величине, Через измеряемый промежуток времени напряжение на выходе...

Способ микроструктурного анализа

Загрузка...

Номер патента: 1702252

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Сторож

МПК: G01N 15/02

Метки: анализа, микроструктурного

...(3) для определения числа контактов получим следующим путем. Из формул (1) и (2) следует, что при одинаковых диаметрах контактовЯка = Л/4 И 1 чО (6) Видоизменим уравнение (6) применительно к системе неравновеликих контактов. Для этого рассмотрим систему контактов частиц, в единице объема которой находятся контакты следующих диаметровйк контактов диаметра Ок);кг то же1 кМк Для контактов каждого диаметра в отдельности соблюдается условие (6)- ЛМкд = - йк) Ок),45 где 1= 1,2.п 1.Просуммируем по отдельности левые иправые части этих равенствМКд = -(Ык ккк ))= 1=1Левая часть полученного равенства равнаобщему числу 1 Ча следов неравновеликихконтактов на единице площади шлифа, аЛправая деленная на - Йкч, - среднему154арифметическому...

Способ определения среднего радиуса частиц дисперсной фазы в коллоидных растворах -а и -р

Загрузка...

Номер патента: 1702253

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Ольшвангер

МПК: G01N 15/04

Метки: дисперсной, коллоидных, радиуса, растворах, среднего, фазы, частиц

...Авогадро;по и и - число частиц в единице объема слУч35 ров можно добавить указанный органичена некотором заданном уровне и на уровне, 3" рский растворитель до достижениянаходящемся от первого на расстоянии (поконцентрации, входящей в область линейве ртл кал л);ной зависимости.г - радиус частиц;о 1 и б 2 - плотность дисперсной фазы и Способ осуществляют следующим об 40 разом,дисперсионной среды,П р и м е р 1, Раствор а-Аз в бензоле сПо формуле (1) можно рассчитать средконцентрацией 0,1 мас, заливают в кварний радиус частиц дисперсной фазь 1 (дляцевую оптическую кювету с расстояниеммонодисперсных коллоидных растворов -между рабочими поверхностями 10 мм. Из 45 меряют оптическую плотность раствора садиус дисперс ной фазы),Поскольку...

Устройство для определения локальной газопроницаемости пористых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1702254

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Вольпе, Евстигнеев, Иванов, Куницын, Родивилина

МПК: G01N 15/08

Метки: газопроницаемости, локальной, пористых

...и концов 11 обмотки 6. В качестве материала нити используется материал с высокой температурой плавления и значительной величиной удельного электрического сопротивления, например вольфрам, нихром. Диаметр рабочего спая термопары выбирается в зависимости от требуемой разрешающей способности и размера пор исследуемого материала и может составлять 50 мкм - 3 мм при соответственной толщине нити 10 мкм - 0,5 мм. Меньшие размеры рабочего спая связаны с те"нологическими трудностями итовлении, большие - приводят книю измеренной величины локальной проницаемости на значительном участке поверхности и снижают разрешающую способность устройства.Устройство работает следующим образом.Термоанемометр 3 рабочим спаем измерительной термопары 5...

Способ изготовления составного полого цилиндрического образца для определения прочности сцепления покрытия с материалом

Загрузка...

Номер патента: 1702255

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Беркутов

МПК: G01N 19/04

Метки: материалом, образца, покрытия, полого, прочности, составного, сцепления, цилиндрического

...ци 35 линдр 3 выполняют так, чтобы размеры егорабочей части (внешний и внутренний диаметр, толщина стенки и длина) соответственно были равны размерам пологоцилиндра 2. На поверхность основания 1 и40 на торец цилиндра 2 наносят покрытие 4,причем предварительно перед нанесениемпокрытия в цилиндр вводят цилиндрический шток 5, торец которого устанавливаютзаподлицо с плоскостью торца цилиндра.45 Цилиндр закрепляют в отверстии основания фиксатором б, основание устанавливают на упорах 7. Цилиндры 2 и 3 имеютрабочие 8 и нагрузочные 9 части. Цилиндрический шток выполняют в виде хвостовика50 10 с резьбой и головки 11,После нанесения покрытия 4 соосно основному цилиндру прикрепляют дополнительный цилиндр известным способом.например, с...

Способ определения адгезионной прочности соединений материалов

Загрузка...

Номер патента: 1702256

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Астрахан, Левинский, Маршак, Славков, Фаерман, Чуриков

МПК: G01N 19/04

Метки: адгезионной, прочности, соединений

...связанного с генератором 1, Каждый элемент 2 имеет толщину й Способ осуществляют следующим образом.Включают генератор 1 и воздействуют на элементы 2 ультразвуковыми колебаниями, перпендикулярными к поверхности соединения. Одновременно с генератором 1 включаю г измеритель 3 и толщинамер 4. При образовании проплавленного слоя, соответствующего сформированному сварному соединению, сигнал с толщиномера 4 поступает на генератор 1 и измеритель 3 времени, отключая ихКак показали экспериментальные проверки, соединение геотекстильного материала сформировано при толщине Ьпр проплавленного слоя, равной2 )о3 10(1)где по - исходная толщина элемента 1 до воздействия ультразвуковых колебаний,По окончании воздействия ультразвуковых колебаний...

Способ экспресс-градуировки инфракрасных влагомеров для капиллярно-пористых и дисперсных материалов

Загрузка...

Номер патента: 1702257

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Архипов, Грачев, Микаелян, Цветков

МПК: G01N 21/35

Метки: влагомеров, дисперсных, инфракрасных, капиллярно-пористых, экспресс-градуировки

...25измерений констант для других материаловприведены в табл.1,По сравнению с прототипом предлагаемый способ обладает преимуществом, заключающимся в экспрессности 30градуировки без снижения точности, а также проведения измерений влажности материала параллельно с их градуировкой снебольшой затратой времени, Это играеочень большую роль как при единичных, так 35и при массовых измерениях материалов сразличными физико-техническими свойствами. В табл.2 представлены сравнительные 40 данные по сокращению времени на градуировку при применении известного и предлагаемого способов определения константы материала.Предлагаемый способ расширяет об пасть применения инфракрасного метода измерения влажности при большом разнообразии анализируемых...

Оптоволоконный рефрактометр

Загрузка...

Номер патента: 1702258

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Авзалов, Думболов, Ларичев, Литвиненко, Черников, Широков

МПК: G01N 21/41

Метки: оптоволоконный, рефрактометр

...на измерительном участке вызывает экспоненциальный характер затуханияи перехода светового патака в среду вследствие потерь на излучение, т,е.Р:Р е где Р - мощность светового потока на входеволоконного световада передающего элемента;Ро - мощность светового патока на входе;Е - длина измерительного участка;ц - коэффициент затухания на поверхностных микронеоднораднастях,Анализируя укаэанную формулу, можнопредположить, что мощность светового потока, образованного вытекающими модами,будет равнаРв.м. = Ро - Р,где Рв - мощность светового потока вытекающих мод передающего элемента,Таким образом, наибольшее перетекание, а значит и чувствительность будут максимальными при приближении Рв.м. к Ро,Это возможно, если световой поток...

Интерференционный способ измерения показателей преломления монокристаллов

Загрузка...

Номер патента: 1702259

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Алексеев, Филимонова

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, монокристаллов, показателей, преломления

...направлению распространения света в кристалле отвечает свое значение (и- п") и соответственно свое значение периода Лпространственной модуляции рассеянного света, а следовательно, и свое 30 значение периода б контрастных интерференционных полос, наблюдаемых со стороны грани кристалла, оротсгональной биссектрисе угла между соответствующими главными осями оптической индиктрисы, 35Именно это и определяет возможность, облучая кристалл, например, в двух различных направлениях (,в той или иной плоскости облучения и измеряя периоды б; и б соответствующих интерференционных кар тин, а также зная длину волны Аобпучающего кристалл света, определить численные значения разности показателей преломления (и- и") и(п - и") в данном направлении в...

Способ определения степени доломитизации карбонатных пород

Загрузка...

Номер патента: 1702260

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Крылова, Мельников, Моисеенко

МПК: G01N 21/55

Метки: доломитизации, карбонатных, пород, степени

...экстинкции для кальцита и доломита на соответствующих длинах волн.Решая совместно систему уравнений (2) и уравнение (1), имеем констант э, Ь, с и д определяются при тех же условиях спектрометрирования по эталонным образцам чистого кальцита и доломита.Анализ уравнения (3) показывает, что абсол ют. ое соде ржан ие доломита в породе С 1 зависит от разности отношений оптических плотностей пробы с соответствующими коэффициентами пропорциональности и не зависит от толщины пробы,При этом для определения величин всех оптических плотностей пробы в соответствии с соотношением О (Л) = и д впад ЛПр качестве величины интенсивности падающего излучения пад(Л) используется интенсивность прошедшего через пробу излучения на длине волны 13,5 мкм, так как...

Способ измерения энерговыделения электронами и их пробега в твердом веществе

Загрузка...

Номер патента: 1702261

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Бубнов

МПК: G01N 21/64

Метки: веществе, пробега, твердом, электронами, энерговыделения

...плотность интенсивности люминесценции;а(х 1) - коэффициейт подавленля люминесценции в слое Х 1;а - эффективный коэффициент подавления люминесценции.Измеряя изменение (х 1) с толщинойопределяют 1(х 1).На фиг.1 схематически показано расположение зоны подавленной гпомлнесценции в слое вещества; на фиг.2 - графикзависимости изменения интенсивности люминесценции (ь относительных единицах столщиной напылбнной пленки),На фиг.1 изображсна границапредварительно напыленной пленки, зонг 2 подавленной люминесценции иображениаобласти трека электрона 3,П р и м е р . В атмосФере вакуумнойустановки при давленИи 10 Торр, охлаж денной до -100 С, напыляют образец пирена толщиной 100 нм и затем выдерживаотв течение 15 мин, При этом...

Способ дефектоскопии поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1702262

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Борзых

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектоскопии, поверхности

...сравнивают с пиковым значением нулевой ординаты (дисперсии), В случае его превышения над минимумом дисперсии контролируемое изделие направляют с брак,Величина первого ненулевого экстремума корреляционной функции, лежащего в отрицательной области значений, наиболее точно указывает на присутствие дефектов на контролируемом изделии, Оптимальную задержку (или несколько задержек) подбирают экспериментально,10 15 20 сигналы перемножаются перемножителем 3. Перемножитель 4 работает в режиме возведения в квадрат незадержанного сигнала, Результаты перемножения усредняются фильтрами 5 и б нижних частот. На их выходах формируются сигналы, соответствующие законам изменения (во времени) текущих ординат, корреляционной функции сигнала, При отсутствии...

Свч-измерительная ячейка

Загрузка...

Номер патента: 1702263

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Менцер

МПК: G01N 22/00

Метки: свч-измерительная, ячейка

...- повьшен ИО ОЧНО 1 МдРЕНЯ В ДИВПВЗОНЕ ДВУХкратных частот.Ьа , иг.1 схематически показан резснатос; на фиг,2 - графиазимутальной кэмпо 20 нен- ы электрического поля,В цилиндрическом обьемнсм резонаторе 1 зь ерительной ячейки используется высший тип колебаний НЛ 1 Р (в частности и = 5,р -- 1)1, а в резонаторе Фабри-Перо - основ 2ной п и Олебаний ТЕЫ,оч В частности О =35), Высший тип колебаний Нп 1 р характеризуется тем, что электромагнитное поле внутри сезонатора концентрирует:я наперив ерии цилиндра, а в центсальнай обла 30 сти - весьГ а слабое, Азимутальная компонента электрического поля фиг.2)псапооцлональна функции ./ (х Ал), зави 1симссть которой от нормированного радиу 35Яса (х = - ) для и =- 0-6, причем А 21 = 3,054; Аз=...

Способ определения размеров частиц мелко-и ультрадисперсных порошков

Загрузка...

Номер патента: 1702264

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Бурханов, Ганелин, Ермолаев, Князев, Медведев, Петрунин, Трусов

МПК: G01N 23/20

Метки: мелко-и, порошков, размеров, ультрадисперсных, частиц

...кассета подвергается облучению монохроматическим пучком нейтронов, выбранной длины волны и измеряется участок нейтронограммы в том же диапазоне углов Брэгга, в котором измерялись порошки с известным размером частиц. Иэ полученной нейтронограммы определяется составляющая фона 1, обусловленная рассеянием нейтронов на материале кассеты, радиотехническим шумом аппаратуры и радиационным фоном.Иэ полученных нейтронограмм находят1 ьвотношение ( для каждого из по 1 ф 1рошков, состоящих из частиц известных размеров Вь Полученный набор экспериментальных значений ( ( ), В) анп 1 ья1 ф - 1роксимируется функцией видаГ(В) -Ь В1=2)Значения постоянных коэффициентов Ь и число членов и в аппраксимирующей функции определяется по методу наименьших...

Способ прецизионного измерения периодов кристаллической решетки

Загрузка...

Номер патента: 1702265

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Ром, Ткаченко

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллической, периодов, прецизионного, решетки

...монскристалла и расширениекласса исследуемых кристаллов.На фиг,1 схематично показано устройство для реализации способа; на фиг;2 -10 график зависимости угла между кривымикачания образца и эталона ЛЖц и 1 ц бц .Поставленная цель достигается тем, чтов способе прецизионного измерения периодов кристаллической решетки, в качестве15 эталона используют монокристалл из тогоже материала, что и Образец и имеющий туже ориентацию анализируемого среза, Образец предварительно поворачивают относительно эталона в плоскости дифракции на20 угол, превышающий полуширину кривой качания эталона. Проводят запись кривых качания образца и эталона для несколькихотражений определяют угловое расстояниемежду центрами тяжести кривых качания25 эталона и образца и...

Способ рентгенографического определения угла отражения

Загрузка...

Номер патента: 1702266

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Ауэрсвальд, Ефанов, Кемфе, Кертель, Михель, Роч, Семенов, Ценкер

МПК: G01N 23/20

Метки: отражения, рентгенографического, угла

...производят интегральное измерение угла отражения ч при всех углах поворота р и огределяют среднюю величину чо угла отражения во время непрерывного поворота образца на 360 вокруг оси, проходя.цей перпендикулярно(2) поверхности образца в месте падения пучкарентгеновского излучения,В дру-ом варианте углы отражения чизмеряют при углах поворота р, получен 5 ных путем деления полной окружности углов поворота на равные части, а уголотражения чл для недеформированногомежплоскостного расстояния определяютпутем формирования средней арифметиче 10 ской величины измеренных углов отражения.При этом выполняют несколько цикловизмерений с различными исходными угламиповорота /о,15 Способ осуществляют следующим образом.Исследованию подвергали...

Способ рентгенографического контроля качества электролита магниевого производства

Загрузка...

Номер патента: 1702267

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Волейник, Рысева

МПК: G01N 23/20

Метки: качества, магниевого, производства, рентгенографического, электролита

...- О 30011 о 2340 40,6 45,4 38,4 34,0 0,222 0,199 0,234 0,263 Скс = (0,395 -- - 1,ЛОО) Гмцаг,1 о,ггг1 о,гз 410199,Сг 4 ас = 0,367Смцс 210,23410,263Ссас = 0,431Смцс 1 г1 о 234Коэффициенты пропорциональности в уравнениях найдены способом, учитыва;о. щим флуктуации содержания фаз, име,:ощих место в разных порциях одной и той ие пробы с известным количественным фазовым составом. В качестве внутреннего стандарта использован шестиводиый карналлит КС 1 М 9 С 12 бН 20.Рабочие формулы предусматривают определение содержания хлоридов в исходной пробе электролита (до гидратации, обусловленной пробоподготовкой), так как при решении уравнения связи принимали, что:Ско + Сас + Смцсг + Ссасг = "00 (, т.е, Н 20 = О.Способ осуществляют...

Способ градуировки для рентгенорадиометрического анализа

Загрузка...

Номер патента: 1702268

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Пешикова, Скрипников, Те

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, градуировки, рентгенорадиометрического

...параметровс и р из градуировочных зависимостей заключается в решении системы уравнений,апроксимирующих зависимости Мх = 11(с, р)и йр = 12(с, р), По параметру р достаточнойявляется аппроксимация степенным рядомс квадратичным членом по Ьрдля каждойконцентрации с:й(С) = ао(С)+ а (С) Лр+ аг (С) Ьрг;йр(с) = Д (с) + % (с) Лр+ /Ь (с) ЬР 2, (1)здесь Ьр =р - ро, гдер, - минимальнаяплотность. Параметр Ьр изменяется в малых пределах (от 0 до 0,5) и это определяетдостаточность аппроксимации (1), Для полУЧЕННЫХ ЗаВИСИМОСтЕй ао(С), а 1(С), аг(С),о (С), Р 1 (С) Д (С) ПО ПаРаМЕтРУ С ДОСтатОЧной является аппроксимация степенным рядом четвертой степени по с:СГо(с) = йоо+ Йо 1 С + Оогс + (Хозс +2 3ао 4 С;4,а (с) = а 10+ а 11 с+ а 12 с + а 13 с + а...

Способ определения качества высокотемпературных сверхпроводящих материалов

Загрузка...

Номер патента: 1702269

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Веневцев, Калева, Колганова, Политова, Томашпольский

МПК: G01N 23/227, H01L 39/00

Метки: высокотемпературных, качества, сверхпроводящих

...эоны) проявляется при содержании кислорода, близком к стехиометрии, При потере кислорода происходит изменение в электронной структуре сверхпроводника. заклнчающееся, в частности, в непрерывном ум: ньшении концентрации свободных носителей .- зоне проодмоси с ростом дефицита кислорода. В этом случае независимо от донорн ого или акцепторного типа проводимости число эмиттированных вторичных электронов будет возрастать за счет уменьшения электрон-электронного взаимодейств я, Таким образом, уровень вторичной электронной эмиссии в ВТСП-материалах является функцией степени кислородного дефицита, цто позволяет провести измерения относительного содержания кислорода, Для абсолютных измерений следует применять эталоны.Определим возможность...

Способ контроля качества резистивных пленок на диэлектрических подложках

Загрузка...

Номер патента: 1702270

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Ряхин

МПК: G01N 24/00, H01C 17/00

Метки: диэлектрических, качества, пленок, подложках, резистивных

...равной разности ТКС, измеренных после и до термооб работки,чала проводят измерение сопротивления заготовок йь армированных контактными узлами, при комнатной те.пературе+25 С, а затем нагревают их до температуры на 100 С выше комнатной, т.е, до +125 С, и, проводят второй замер сопротивления Й 2, а затем по формуле определяют ТКС:2 1ТКС = Т = (Тнагр - Ткомнат) Эту же или другую выборку образцов из изготовленной партии термообрабатывают при температуре 150-350 С.Проводить термообработку и редпочти-. :тельно при температурах 150-350 С, так как при увеличении температуры до 400"С и выше разница между значениями ТКС пленок с хорошей адгезией и с неудовлетворительной будет уменьшаться, т,е, чувствительность способа будет снижаться.После...

Способ ямр-томографии

Загрузка...

Номер патента: 1702271

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Уткин

МПК: G01N 24/08

Метки: ямр-томографии

...катушек и фиксируют его там.Выбирают область исследования. Пересылают из ЭВМ 8 в блок 14 формирования градиентов магнитного поля координаты исследуемой области. В блоке 14 формиро 5 10 15 20 вания градиентов магнитного поля вырабатывают значения градиентов по осям х, у, г, соответствующие ориентации выбранной области. Значения градиентов, соответствующие первой строке Фурье-образа, поступают в цифроаналоговый преобразователь 15, где переходят в аналоговую форму, усиливаются блоком 16 предварительного усиления и поступают в блок 3 управления градиентами магнитного поля, с выхода которого поступают на катушки градиентов магнитного поля блока 1 электромагнитных катушек.Одновременно в блок 18 поступают значения градиентов магнитного...

Спиновый резонатор

Загрузка...

Номер патента: 1702272

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Левин

МПК: G01N 24/08

Метки: резонатор, спиновый

...снижает проблему идентичносп 1 двух раздельных трактов, н 8 тре" бует дополнительных блоков когерентнаго суммирования, Зто упрошает устрОЙство. На чертеже представлена схема предлгаемого устр,йства,1702272 Формула изобретения Составитель И, Старостенкоедактор Ю. Середа Техред М.Моргентал Корректор М. Дем Заказ 4539 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС 113035, Москва, Ж, Раушская йаб., 4/5зводственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 1 Устройство содержит первое рабочеевещество 1, второе рабочее вещество 2, первую катушку 9 индуктивности, вторую катушку 4 индуктивности, третью катушку 5индуктивности, генератор б считывающего 5импульсагенератор 7 опорного...

Спиновый резонатор

Загрузка...

Номер патента: 1702273

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Левин

МПК: G01N 24/08

Метки: резонатор, спиновый

...временных интервалов суммируется на выходе устройства; амплитуды СЭ на выходе не достигают максимально возможного уровня из-за реальной некогерентности неодновременных процессов; амплитуды СЭ суммируются с потерями; ПЭС типа Яг,з на выходе устройства суммируются. ме того, недостатком является необсть реализации задержек ю1 мс в й полосе5 МГц, что при сохранении тности существенно усложняет устство, осуществляющее раздельных каналов сипа Я 1,з и Я 1,2нного устройства являализации идентичных ов, снижение помехоклада шума второго каии ПЭС типа Я 2,з на .тех случаях, когда расщих сигналов такова т в зону формирования меченных недостатков1702273 оставитель И, Старостхред М.Моргентал Редактор 10. Середа Те Корректор М. Демчик Подписн...

Спиновый резонатор

Загрузка...

Номер патента: 1702274

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Левин, Якушин

МПК: G01N 24/08

Метки: резонатор, спиновый

...предлагаемого устройства,Устройство содержит два идентичныхрабочих вещества 1 и 2, связанные соответ . ственно с первой 3 и второй 4 катушкамииндуктивности, третью катушку 5 индуктивности, общую для обоих рабочих веществ, атакже генератор 6 принимаемого сигнала(ПС), генератор 7 опорного сигнала (ОС), соединенный с генератором 8 считывающегоимпульса (СИ); приемник 9, подключенный кконцу третьей катушки 5, начало которойвместе,с началом первой катушки 3 соединено с общей шиной, а конец первой катушки 3 подключен к началу второй катушки 4,причем если первая катушка 3 с третьей 51702274 Составитель И, Стар Техред М. Моргентал Корректор, М. Демчик еда каэ 4539 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при...

Способ определения структурно-реологических свойств каустобиолитов

Загрузка...

Номер патента: 1702275

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Евдокимова, Косаревич, Прохоров, Стригуцкий

МПК: G01N 24/10

Метки: каустобиолитов, свойств, структурно-реологических

...- содержание в ОЕ гуминовых кислот (ГК) и легкогидролизуемые вещества (ЛГ), что значительно повышает достоверность определения. 20Однако определение содержания ГК и ЛГ в ОВ не менее трудоемко, чем определение структурно-реологических свойств каустобиолитов по реологическим характеристикам их водных дисперсий, 25Целью изобретения является повышение достоверности определения структурирующих свойств и снижение трудоемкости для образцов каустобиолитов с высоким содержанием органического вещества, 30Способ основан на обнаруженной связи концентрации парамагнитных центров (ПМЦ) в ОВ каустобиолитов, определяемых методом эгектронного парамагнитного ре, зон анса (Э П Р), со способностью последних 35 , Образовывать коагуляционные структуры.При...

Способ определения температуры размягчения термопластичных материалов

Загрузка...

Номер патента: 1702276

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Золотухин, Коган, Лисенков

МПК: G01N 25/04

Метки: размягчения, температуры, термопластичных

...нагревателя в момент перемещения недеформировэнного образца относительно нагревателя. 1 табл,адгезии. Затем к образцу прикладывают тангенциально направленную нагрузку, стремящуюся повернуть его вокруг оси нагревателя, с моментом 2500 г см, Далее температуру нагревателя повышают со скоростью 5 град/мин, Температурой размягчения считают температуру нагревателя в момент, когда недеформированный образец пека перемещается вокруг нагревателя на 7: эразм. = 67,710 СП р и м е р ы 2 - 5. Примеры выполнены при тех же условиях, что и пример 1, при скорости подъема температуры нагревателя соответственно 10, 20, 30 и 40 град/мин, Результаты измерений сведены в таблицу.Все примеры выполнялись для одного пека на разных приборах разными...

Устройство для определения коэффициента объемного расширения жидкостей

Загрузка...

Номер патента: 1702277

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Дмитриев, Марчук, Прокофьева

МПК: G01N 25/16

Метки: жидкостей, коэффициента, объемного, расширения

...11, задатчиком 12,. температуры и теплообменником 13 со стыковочным узлом 14 для подвода хладоагента, Крышка 3 снабжена пробкой 15, а в герметичном сосуде 2 размещен датчик 16 температуры, подключенный через измеритель 17 температуры к ЭВМ 10.Устройство работает следующим образом. Сосуд 2 после наполнения исследуемой жидкостью закрывают крышкой 3 и помещают в термокриокамеру, подключив датчик 16 температуры к измерителю 17 температуры. Нагревателем 11 или теплообменником 13 при помощи задатчика температуры устанавливают начальную номинальную температуру и термостатируют герметичный сосуд 2 до достижения этой температуры в исследуемой жидкости,1702277 Составитель Л. ДудаковТехред М,Моргентал Короектор М, Демчи Редакт одная аз 4539...

Способ определения концентрации аммиака

Загрузка...

Номер патента: 1702278

Опубликовано: 30.12.1991

Автор: Маркелов

МПК: G01N 27/06

Метки: аммиака, концентрации

...и дистиллерной жидкостью устанавливается равновесие, определяемое температурой и давлением в испарителе,В связи с тем, что в парогазовую фазу переходит в результате вскипания дистиллерной жидкости около 1,4 общего ее объема, концентрация аммиака в жидкости при этом практически не меняется. Равновесие, устанавллвающееся в испзрителе, определяется х-у - диаграммами системы МНз - Н 20 или соответствующими водоаммиачными таблицами.Зависимость концентрации аммиака в парогазовой фазе от концентрации аммиака в дистиллерной жидкости при неизменном давлении имеет видС 1=Ь с, Р)где с - концентрация ИНз в дистиллерной жидкости;С 1 - концентрацля МНз в парогазовой фазеЬ = 16,5-2,5 Р, Р - давление в испарителе.В пробоотборном устройстве...