Способ дефектоскопии поверхности

(54) СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ ПОВЕРНОСТИ Изобретение относится к контрольносортировочной технике и может быть использовано . в конструкциифотоэлектрического дефектоскопа, предназначенного для контроля локальных дефектов поверхности изделий.Целью изобретения является повышение достоверности контроля поверхностных дефектов,На чертеже представлена схема реализации способа (для случая вычисления двухординат корреляционной функции).Способ дефектоскопии поверхности заключается в следующем;Контролируемую поверхность освещают, придают ей движение развертки и регистрируют отраженный свет фотодатчиком,За длительность цикла развертки принимают, например, время одного оборота изделия в форме тела вращения в случаемногоканального сьема информации, В течение времени развертки (цикла развертки)формируют строб-импульс, разрешающийобработку сигнала фотодатчика. Сигнал фо(57) Изобретение может быть использовано при автоматизации контроля локальных поверхностных дефектов на изделиях. Цель изобретения - ;овышение достоверности контроля поверхности. Минимальное значение дисперсии сравнивают с максимальным по абсолютной величине отрицательным значением ненулевых ординат корреляционной функции. Величина первого ненулевого экстремума корреляционной функции, лежащего а отрицательной области значений, наиболее точно указывает на присутствие дефектов на контролируемом изделии, 1 ил. тодат:ика усиливают и центрирую ют низкочастотную составляющу вычисляют некоторые из текущи его корреляционной функции, В простом случае это две текущие о при нулевой задержке (дисперсия) и при некотором фиксированном значении задержки сигнала, В случае разнообразных дефектов поверхности количество вычисляемых ординат может быть увеличено. При вычислении дисперсии сигнал возводят в квадрат и усредняют во времени (фильтруют). При вычислении ненулевой ординаты сигнал дополнительно задерживают, прямой и задержанный сигналы перемножают и результат перемножения также усредняют, Пиковые эа цикл контроля значения ординат раздельно запоминают в ячейках памяти в аналоговой форме, При этом выделяют минимальное значение нулевой ординаты и максимальное по абсолютной величине отрицательное значение ненулевьх ординат, Пиковое значение ненулевых ординат умножают на отрицательный масш1 т 0";" 62 55 Формула изобретенияСпособ дефектоскопии поверхности,заключающийся в том, что контролируемую поверхность освещают, придают ей движение развертки, регистрируют отраженный свет, выцисляют текущие ординаты корретабный коэффициент (пороговое тношение), тем самым делая его положительным, и затем сравнивают с пиковым значением нулевой ординаты (дисперсии), В случае его превышения над минимумом дисперсии контролируемое изделие направляют с брак,Величина первого ненулевого экстремума корреляционной функции, лежащего в отрицательной области значений, наиболее точно указывает на присутствие дефектов на контролируемом изделии, Оптимальную задержку (или несколько задержек) подбирают экспериментально,10 15 20 сигналы перемножаются перемножителем 3. Перемножитель 4 работает в режиме возведения в квадрат незадержанного сигнала, Результаты перемножения усредняются фильтрами 5 и б нижних частот. На их выходах формируются сигналы, соответствующие законам изменения (во времени) текущих ординат, корреляционной функции сигнала, При отсутствии положительного строб-импульса, формируемого автоматикой дефектоскопа и разрешающего контроль изделия, электронные ключи открыты (на их входах - нулевой логический уровенЬ), выходные сигналы фильтров 5 и б повторяются на выходах пиковых детекторов 7 и 8, Компаратор 10 в это время блокируетс. При поступлении строб-импульса запираются ключи 11 и 12 и пркзодится в действие компаратор 10, На выходах пиковых детекторов 7 и 8 фиксируются уровни сигналов, существовавшие до поступления строб-импульса, Изменяться эти уровни могут только в сторону уменьшения, при этом уровень на выходе детектора 8 всегда остается положительным(по определениюдисперсии), ауровень на выходе детектора 7 может перейти из области положительных значений в область отрицательных значений либо сразу стать отрицательным, По мере развертки поверхности вцходны, уровни детекторов будут понижаться до тех пор, пока не будут выявле ь. оба экстремума (минимума). Минимум ненулевой ординаты корреляционной функции - его максимум абсолютной величины ее отрицательных значени., Отрицательный выходной сигнал детектора 7 инвертируется. умножается на отрицательнь,й масштабный коэффициент усилителем 9 л сравнивается компаратором 10 как положительная величина с положительным выходным сигналом детектора 8. Если напряжение на сигнальном входе компаратора 10 превысит напряжение на его опорном входе, компаратор 10 станет вырабатывать импульс "брак" вплоть до окончания стробимпульса.Таким образом, предлагаемое изобретение повышает достоверность контроля локальных повеохностных дефектов за счет вычисления экстремумов ординат корреляционной функции сигнала, практически полностью его описывающей, т.е, за сцет более полного использования содержащейся в сигнале фотодатчика информации1702262 Составитель А.Грузиноведактор Ю.Середа Техред М.Моргентал Коррект евку Заказ 4538 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 ляционной функции сигнала, запоминают минимальное за цикл контроля значение ординаты с нулевой задержкой и одно из максимальных за цикл контроля значений ординат, сравнивают запомненные максимальное и минИмальное значения и По их отношению судят о годности изделия, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения достоверности контроля, для сравнения с минимальным значением используют максимальное по абсолютной ве личине отрицательное значение ненулевыхординат, корреляционной функции с задержкой, отличной от нуля.