157534

Класс 6 020; 42 п, 34 Юв 157534 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 3( ( вврз 1 Гпмнп.Т.е Псп-(ссА. И. Инюшнн, Л. Е. Королькова н В. М. Степанов- -Подписная группа М 170 СПОСОБ ОБЪЕКТИВНОГО СЧЕТА ЧИСЛА ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ КОЛЕЦЗаявлено 3 июля 1962 г. зз МВ 785017/26-10 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР ОпУбликовано в Бюллетене изобРетений и товаРных знаков .тте 18 за 1963 г.Известны способы объективного счета числа прямых интерференционных полос одинаковой ширины с помощью фотоэлектрической регистрации. Для этого в плоскости интерференционной картины параллельно полосам устанавливают одну или несколько щелей, а за ними - соответствующее число фотоэлементов для регистрации модулированного светового потока, проходящего через щель. Однако эти способы не обеспечивают достаточной точности в случае фотоэлектрического счета числа интерференционных колец переменной ширины, а тем более в случае их деформации (например, при форме эллипсов).Предлагаемый способ дает ббльшую точность прн фотоэлектрическом счете числа интерференционных колец благодаря тому, что интерференционная картина дополнительной оптической системой проектируется в плоскость диафрагмы с малым сканирующим отверстием, за которым установлен фотоумножитель. Кроме того, включение в оптическую схему вращающейся призмы Довэ позволяет поворачивать изображение интерференционной картины вокруг оптическоц оси и считать число интерференционных колец под произвольным углом к направлению движения сканирующего отверстия, т. е. определять астнгматнзм поверхности. Счет колец ведется не от их центра до края, а вдоль всего диаметра колец.На чертеже изображен фотоэлектрический интерферометр для осуществления предложенного способа.Светящееся тело 1 ртутной микролампы зеркалом 2 и конденсатором 3 через светофильтр 4 проектируют на отверстие А в плоскости диафрагмы 5. После оптической детали б объектив 7 изображает отвер157534стие А в точке Л, С точкой А совмещен центр кривизны эталонной поверхности 5, мениска 8. С этой же точкой примерно совмещают центр кривизны поверхности 5 контролируемой линзы 9. В результате отражения от поверхности 5, и 5 когерентных волн на эталонной поверхности мениска образуется интерференционная картина, которую объективом 7, оптическими деталями б, 10, 11, 12 (призма Довэ) и объективами 13 и 14 проектируют в плоскость диафрагмы 15, имеющей сканирующее отверстие малых размеров. Линза 1 б вместе с другими оптическими деталями проектирует отверстие А в плоскость фотокатода фотоумножителя 17.После настройки интерферометра и замены эталонной линзы контролируемой в случае, если радиусы кривизны их не равны, в поле зрения интерферометра возникают интерференционные кольца, Число этих колец пропорционально разности радиусов кривизны эталонной и контролируемой поверхностей.Диафрагму 15, закрепленную на кареткс, перемещают с помощью двигателя перпендикулярно оптической оси интерферометра, т. е. в направлении одного из диаметров интерференционных колец, При движении сканирующей диафрагмы отверстие в ней последовательно проходит светлые и темные интерференционные кольца. В результате этого световой поток, попадающий на катод фотоумножителя, модулируется ". частотой пересечения отверстием светлых интерференционных колец. На нагрузке фотоумножителя возникают импульсы фототока, которые после прохождения через усилитель 18 и детектор 19 попадают на электронное реле 20 и регистрируются релейным блоком 21. Вращающаяся призма 12 Довэ позволяет поворачивать изображение интерференционной картины вокруг оптической оси и считать число интерференционных колец в различных направлениях для обнаружения астигматизма поверхности линзы,Предмет изобретенияСпособ объективного счета числа интерференционных колец с фотоэлектрической регистрацией, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерений и определения астигматизма поверхности, интерференционную картину с помощью дополнительной оптической системы проектируют в плоскость диафрагмы с малым сканирующим отверстием и поворачивают вокруг оптической оси призмой Довэ.157534 и 2 Уб У 7 3 14 О алашникова Т А. А. Камышннкова Корректор Н. В. Гераськина дактор Х - 63 г. Подп. к печ аказ 2350/5 ЦНИИПИ оставитель Л. Я. Гойхман формат бум. 70 Х 108 Чи Тираж 650 арственного комитета по делам изобрете Москва, Центр, пр. Серова, д. 4.