ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 689 И Союз Советских Социалистицеских РеслубликЗависимое от авт, свидетельстваЗаявлено 11,Х 11.1963 ( 869966/26-25 л, 425, 34 и с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 26,11.1965, БюллетеньДата опубликования описания 23,Х 1.19 1 П Государственныи кемитет по делам изобретений и открытий СССР35,853,4(088.8) торы ЕРОМЕТ з пластину А, а затем тельную пластину В. ены в фокусах эллиппая через пластину А,пластины В. Таким нтерферометре равноИз т вторично черевторую разделстины расположь света, прошедтся отМхио, пути лучей в проходи через Обе пла са, Част отражае образом значны,М,А+АВ =АМ.,+М,В. На фиг. ность хода ющуюся за раздслител 5 мет изоб Интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений за О счет двукратного прохождения луча в исследуемом объекте и локализации полос в любой точке его, в основу геометрического построения положен эллипс, в фокусах которого расположены две разделительные пластины, а по 5 касательным - зеркала, одно из которых перпендикулярно большой оси, причем направления всех элементов интерферометра пересекаются в точке пересечения этих касательных и эллипсу. вестны интер(рерометры для исследования прозрачных неоднородностей, в которых осуществляется либо двукратное прохождение луча в исследуемом объекте, либо локализация полос в любой точке объекта,Предложенный ингерферометр позволяет объединить эти способы исследования.В основу геометрического построения предложенного интерферометра положен эллипс, в фокусах которого находятся две разделительные пластины, а по касательным - зеркала, одно из которых перпендикулярно большой оси, причем направления всех элементов интерферометра пересекаются в точке пересечения касательных к эллипсу.Для компенсации разности хода лучей в стекле в одну из ветвей интерферометра помещена плоскопараллельная стеклянная пластина, толщина которой равна толщине второй (по ходу луча) разделительной пластины,На фиг. 1 изображена принципиальная схема построения интерферометра; на фиг. 2 - та же оптическая схема с введенной компенсационной пластиной.Свет от источника (на чертеже не изображен) отражается разделительной пластиной А на зеркало М и проходит на зеркало М . Зеркала расположены по касательным к эллипсу. Далее свет, отраженный от зеркала М,одписная группа170 2 пластинка С компенсирует разв ветвях интерферометра, образу- счет прохождения лучом второй ной пластины.Составитель Л. Я, ГойхманРедактор Б, Шнейдерман Техред Л. К, Ткаченко Корректор Л, Е, МарнсичЗаказ 3257/17 Тираж 775 Формат бум. 60(90/8 Объем 0,13 изд. л. Цена 5 коп. ЦЫ 1 ИГ 1 И Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР Москва, Центр, пр. Сеоова, д. 4. Типография, пр. Сапунова, 2.

Смотреть

Заявка

869966

МПК / Метки

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45

Метки: 168915

Опубликовано: 01.01.1965

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-168915-168915.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">168915</a>

Похожие патенты