180377
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 180377
Текст
180377 Союа Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваКл, 421 т, 34/11 Заявлено 17.Х.1964 ( 925844/26-25)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 21.1 1.1966. Бюллетень7Дата опубликования описания 5 Х.196 б Комитет по делам изобретеиий и открытий при Совете Мииивтров СССРМПК 6 024УДК 535,411(088.8) Автор изобретения Н. В. Королев Заявитель ИНТЕРфЕРОМЕТР С ОПТИЧЕСКИМ КВАНТОВЫМ ГЕНЕРАТОРОМ1В известных интерферометрах отсутствие достаточно монохроматического источника излучения приводит к необходимости введения в схему ветви сравнения.В предложенном интерферометре применение оптического квантового генератора (ОКГ) позволяет исключить из схемы интерферометра ветвь сравнения. При этом, с целью упрощения схемы и повышения точности измерения, эталонная поверхность выполнена полупрозрачной и установлена в той же ветви,что и исследуемая система или деталь.На фиг, 1 показана схема предложенного интерферометра для измерения волновых аберраций оптических систем; на фиг. 2 - то же, для измерения микропрофиля исследуемой поверхности.Параллельный пучок света (фиг. 1) от ОКГ 1 через систему линз 2 и 8, осветительное отверстие 4, коллиматорный объектив б направляют на светоделительное зеркало б, от которого свет отражается на эталонное зеркало 7, контролируемую систему 8 и автоколлимационное зеркало 9, направляющее отраженный поток света через светоделительное зеркало б, систему линз 10 и 11 и измерительную систему 12 (винтовой окулярный микрометр) в глаз наблюдателя.Эталонное зеркало, контролируемая система и автоколлимационное зеркало в целом составляют систему многолучевого интерферометра Фабри-Перо.Измерение изгиба интерференционных полос производят винтовым окулярным мик рометром 12, в полость сетки которого линзы 10 и 11 проектируют зрачок испытываемой оптической системы. Если линза 11 выведена из хода лучей, то в плоскость сетки винтового окулярного микрометра проектируется ряд 10 изображений отверстия 4, При этом, наблюдая в окуляр микрометра, можно осуществить настройку системы интерферометра.Параллельный пучок света (фиг. 2) отОКГ18 через систему линз 14 и 15 направляется 15 на светоделительное зеркало 1 б, отражаетсяот него и через линзу 17, эталонное зеркало 18, линзу 19, микрообъектив 20 падает на контролируемую поверхность 21.Эталонное зеркало 18, линза 19, микрообь О ектив 20 и поверхность образца 21 образуютячейку Фабри-Перо. Наблюдение интерференционных полос иизмерение их изгиба производят посредством 25 винтового окулярного микрометра 22.Система, в состав которой входятлпнза 17,линза 28 и призма 24, проектирует интерфе.ренционные полосы, локализованные в плос.кости эталонного зеркала 18, на сетку вин. ЗО тового окулярного микрометра 22,180377 Предмет изобретения фиг,( иг. г Составитель И. И, НебосклоноваРедактор В. Сорокин Техред А. А. Камышникова Корре и Л, Е. Марисич Ю. М. Федулова Заказ 951/10 Тираж 850 Формат бум, 60 Х 90/з Объем 0,21 изд. л. ПодписиоЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр, Серова, д. 4 пография, пр, Сапунова, 2 Интерферометр с оптическим квантовым генератором, отличающийся тем, что, с целью К;р упрощения схемы и повышения точности измерения, в нем эталонная поверхность выполнена полупрозрачной и установлена в той же ветви, что и исследуемая система или деталь.
СмотретьЗаявка
925844
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02, G01M 11/02
Метки: 180377
Опубликовано: 01.01.1966
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-180377-180377.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">180377</a>
Предыдущий патент: Интерферометр для контроля качества плоских оптических поверхностей
Следующий патент: Способ выставления параллельности образующих цилиндрических оптических систем
Случайный патент: Фиксатор для вращающихся панелей