Дрейден

Номер патента: 1827539

Опубликовано: 15.07.1993

Авторы: Дрейден, Островский, Самсонов, Семенова, Сокуринская

МПК: G01B 9/021

Метки: интроскопического, исследования, твердого, тела

...непосредственно внутри непрозрачного твердоготела, Кроме того, появляется также новаявозможность проследить эволюцию упругой волны при прохождении ее по твердомутелу, что необходимо при исследованиинеоднородностей твердых тел или дефектоскопии.Далее покажем, что совокупность существенных признаков является новой посравнению с решениями, известными в науке и технике,Известно, что при прохождении упругойволны по прозрачному твердому телу в окружающей среде возникают граничные пуассоновы волны,Установлено, что возникновение такойволны не зависит от способа генерации упругой волны в твердом телеАвторы впервые установили взаимо. связь между параметрами граничной пуассоновой волны и параметрами упругойволны в твердом теле, а также...

Номер патента: 1695898

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Дрейден, Островский, Самсонов, Семенова, Сокуринская

МПК: A61B 17/225, B23K 26/00, B23K 26/04 ...

Метки: волн, прозрачной, среде, сфокусированных, ударных

...близких значенийпоказателей преломления п 1 и пг (этот случай реализуется, например, для системы"вода-стекло", п 1" 1,33, п 2 = 1,5),Введение параметра е - 1 - у 1 иразложение формулы (1) в ряд по степеням е с точностью до слагаемых первого порядка позволяет получить простую связь междувеличинами В 1, В 2 и 12 б(йг-В)(2)5 уВ 1 ВгЗависимость расстояния б от отношеВ 1ния радиусов кривизны - приведена наВ 2фиг.З.10 Легко показать, что справедливы следующие оценки б,При 0 - 1 - у,0 б - ,т,е, точкаВ 1 В 1Вг2фокусировки ударной волны находится между фокусом 01 вогнутой поверхности 5 илинзой 4.При 1 - у( -(1+ Я, - (б- ,й 1 В 1 ВгВ 22 2таким образом, точка фокусировки ударнойволны лежит между фокусами 01 и 02 вогнутой и выпуклой поверхностей...

Номер патента: 1695897

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Дрейден, Островский, Самсонов, Семенова, Сокуринская

МПК: A61B 17/225, B23K 26/00, B23K 26/04 ...

Метки: волн, прозрачной, среде, сфокусированных, ударных

...для б: при (В; " ",1- .1 В 2 (1- ф ба, т,е. точка 02 фокусировки ударной водны лежит между линзой и точкой О 1 фокусировки лазерного излучения. При (В 1-(1-1)Ц/Йг(1- М, б а, т.е, точка 02 фокусировки ударной волны расположена эа точкой О 1 фокусировки лазерного излучения, Наконец, в случае строгого равенства (В 1-(1- у) 1.)/Йг = (1- ф б=а, т.е. точки О 1 и Ог совпадают.К важным параметрам технической реализации работы предложенного устройства относятся энергия и мощность лазерного импульса, а также волновые сопротивления прозрачной.среды 21 и твердого тела Ег, из которого выполнена линза 4. Основные критерии подбора этих параметров следующие: амплитуда прошедшей в твердое тело ударной волны не должна превышать порог пластичности...

Номер патента: 1683700

Опубликовано: 15.10.1991

Авторы: Дрейден, Островский, Семенова

МПК: A61B 17/225

Метки: бесконтактного, волной, живом, конкрементов, организме, раздробления, сфокусированной, ударной

...может быть использовано в урологии при литотрипсии.Цель изобретения - повышение плотности мощности ударной волны на конкременте.На чертеже представлена схема устройства для реализации способа.Устройство содержит импульсный лазер 1, отрицательную линзу 2, предназначенную для расширения пучка, окно ванны 3, прозрачное для лазерного излучения, конкремент 4, ванну 5, наполненную жидкостью; непрозрачной для лазерного излучения.Способ осуществляется следующим образом,Пучок света от лазера 1 расширяется линзой 2 и падает на светопоглощающую выпуклую поверхность жидкости, имеющую форму, обратную форме внутренней поверхности прозрачного окна 3 ванны. При падении излучения с плотностью энергии, превышающей порог взрывного испарения жидкости, на...

Номер патента: 1658421

Опубликовано: 23.06.1991

Авторы: Дрейден, Островский, Рейнганд, Романова, Семенова

МПК: H04R 31/00, H04R 7/08

Метки: громкоговорителя, диафрагмы

...повышение частоты приводит к образованию двух и более замкнутых узловых линий. При этом на амплитудно-частотной характеристике по 5 являются довольно резко выраженные пики-провалы, обусловленные тем, что различные части диафрагмы излучают в противофазе.При изучении колебаний сотовых ди афрагм методом голографической интерФерометрии было обнаружено, что начиная с некоторой частоты наряду с колебаниями диафрагмы как целого возбуждаются колебания и отдельных ячеек.Рассматривая ячейку как отдельную диафрагму, легко показать, что частота, на которой колебания ячейки максимальны (резонанс отдельной ячейки) определяется ее размером. Как известно, связь между резона 1 гсной частотой и размером диафрагмы (для случая круглой диафрагмы)...

Номер патента: 1523956

Опубликовано: 23.11.1989

Авторы: Вейко, Дрейден, Островский, Семенова

МПК: G01N 3/30

Метки: порога, разрушения, твердого, энергетического

...за счеттеплового расширения поверхности,либо за счет ее взрывного испарения.Интенсивность этой ударной волны регистрируют либо при помощи пьезодатчика, помещенного на ее пути, либо вЗ на голографической интерферограмме.Плотность потока энергии излучения лазера изменяют либо путем изменения энергии накачки лазера, либо путемустановки фильтров на пути пучка.1523956 в О раз. Кроме того, способ позволяет исследовать порог разрушенияобразцов любой толщины, что невозможно было сделать при использованииизвестного способа, поскольку позволяет исследовать материалы безих предварительного напыления на пьезокристалл. Составитель О.БулькановТехред 6.Кравчук Корректор М.Пожо Редактор Н.БобковаТираж 789 Заказ 7035/5 Подписное ВНИИПИ...

Номер патента: 1255918

Опубликовано: 07.09.1986

Авторы: Дрейден, Осинцев, Островский, Щепинов, Этинберг, Яковлев

МПК: G01N 33/00

Метки: испытаний, эрозионных

...изображения содержит фотоматериал 5, объектив 7, фильтр пространственных частот в виде помещеннойв Фокальную плоскость объектива 7диафрагмы 8 и Фотоматериал 9,Способ осуществляют следующим образом.Через зеркало 2, объектив 3 налопасть 6 от лазера 1 направляют пучок света, который, отражаясь от лопасти б, через объектив 4 попадаетна фотоматериал 5, на котором производится экспонирование спекл-структуры изображения поверхностного слоялопасти 6,Далее осуществляют дозированноекавитационное воздействие на лопастьб, после чего смещают Фотоматериал 5в его плоскости и производят повторное фотографирование спекл-структуры,о ХПрошедший фотохимическую обработку фотоматериал,5 помещают в устройство пространственной фильтрации иэображения и освещают...

Номер патента: 1239590

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Дрейден, Осинцев, Островский, Щепинов, Этинберг, Яковлев

МПК: G01N 33/00

Метки: испытаний, эрозионных

...8 и 9и испытуемую деталь, напримерлопасть 1 О модели гидромашины.Способ осуществляют следующимобразом.Через светоделитель 2, объектив4 и зеркало 6 на фотоматериал 8 отлазера 1 направляют опорный пучоксвета, а через светоделитель 2,объектив 3 и зеркало 7 на лопасть10 направляют предметный пучок света,который, отражаясь от последней,попадает на фотоматериал 8, в результате чего производят голографирование поверхностного слоя лопасти 10.и на фотоматериале 8 получают голограмму слоя. 1Далее осуществляют дозированноекавитационное воздействие на лопасть 10, после чего изменяют уголмежду предметным и опорным пучкамисвета и на фотоматериале 9 получаютголографическую интерферограмму,Зоны и степень эрозии поверхностного слоя лопасти...

Номер патента: 1179744

Опубликовано: 23.03.1986

Авторы: Давыдов, Дрейден, Островский, Этинберг

МПК: G01B 9/02, G01J 9/02

Метки: интерференционно-теневое

...полупрозрачных зеркал 2 и 3 интерферометра, непрозрачных зеркал 4 и 5 интерферометра, объектива коллиматора 6, объектива регистрирующей системы 7, исследуемой фаэовой неоднородности 8, виэуализирующей диафрагмы 9, узла 1 О ре" гистрации интерферограммы и узла 11 регистрации шлирен-фотографии. Диафрагма 9 выполнена в виде зеркала с прозрачным,отверстием или зеркально отражающего экрана на прозрачном слое и установлена в фокусе объектива, а ее плоскость составляет с оптической осью и направлением на узел шлирен-фотографии равные углы, Диаметр отверстия в диафрагме зависит от параметров использованной оптики, характера исследуемой неоднородности и лежит в пределахр й с 2 Г - Ы,1 йп где Г - фокусное расстояние линзы 7;и - показатель...

Номер патента: 1216725

Опубликовано: 07.03.1986

Авторы: Дрейден, Островский, Этинберг

МПК: G01N 33/00

Метки: кавитации, моделирования, процесса, стенд

...стенда.На фиг. 1 изображен стенд длямоделирования процесса кавитации,на фиг. 2 - система фокусированияимпульсов,Стенд для моделирования процессакавитации, содержит кювету 1 с жидкостью и помещенным в нее испытуемымобразцом 2, источник 3 излучениялазерных импульсов, например лазер,и систему фокусирования импульсовв три зоны жидкости на заданном расстоянии от поверхности образца 2,причем система фокусирования выполнена в виде трех криволинейных зеркальных элементов 4, расположенныхпод углом один к другому, скрепленных между собой и имеющих центрыкривизны, расположенные в плоскости, параллельной поверхности образца 2.Стенд работает следующим образом.Источник 3 излучает лазерные импульсы, которые криволинейные зеркальные элементы 4...

Номер патента: 1177704

Опубликовано: 07.09.1985

Авторы: Дмитриев, Дрейден, Островский, Этинберг

МПК: G01L 23/00

Метки: волне», давления, ударной

...5 фоторегистратора, круглый непрозрачный экран 6,Фотоматериал 7. На фиг.1 также изображена ударная волна 8.Способ измерения давления в ударной волне осуществляется следующимобразом.25Излучение от лазера 1 расширяетсятелескопической системой 2 и направляется ча светоделительное зеркало3: прошедший через него пучок светаосуществляет первую экспозицию ударной волны 8, отраженный от зеркала 3и прошедший через линию 4 задержкипучок света - ее вторую экспозицию.В качестве ножа-диска используетсякруглый непрозрачный экран 6, установленный в Фокусе объектива 5,35При регистрации ударной волны 8сдвоенным лазерным импульсом на Фотографии (фиг.2) получаются дваизображения ударной волны 8,сдвину тые относительно друг друга на расстояние,...

Номер патента: 1165986

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Дрейден, Островский, Этинберг

МПК: G01N 33/00

Метки: кавитации, моделирования, процесса

...Озирующее устройство 7,кювету 8 с жидкостью и помещенным в нее испытуемым образцом 9,Способ осуществляется следующимобразом. 45Одновременно вырабатываемые с помощью синхронизирующего устройства 7 лазерные импульсы от лазеров 1-.3 фокусируют объективами 4-6 в триэоны жидкостй в кювете 8 на заданном расстоянии от поверхности испытуемого образца 9, помещенного в нее.При этом фокусирование лазерныхимпульсов осуществляют с образованием воздействующих на образец 9ударных волн путем пробоя жидкости.В результате одновременного образования ударных волн от трех лазерных 5986 гимпульсов на заданном расстоянииот поверхности испытуемого образца 9 они встречаются на этой поверхности практически в одной точке,и давление ударной волны в этой.точке...

Номер патента: 1094013

Опубликовано: 23.05.1984

Авторы: Давыдов, Дрейден, Островский, Этинберг

МПК: G02B 27/54

Метки: теневая

...1 представлена оптическая схема предлагаемой установки и ход лучей в ней; на фиг, 2-10 - различные варианты исполнения ее визуализирующей диафрагмы, где неэаштрихованные участки соответствуют прозрачным участкам диафрагмы, черные - непрозрачным, а заштрихованные - зеркальным.Теневая установка включает установленные последовательно на оптической оси 1 точечный источник 2 света, коллиматор 3, объектив 4, виэуализирующую диафрагму 5, расположенную в фокусе объектива 4, и регистратор б, оптически сопряженный с013 3 1094исследуемым объектом 7, Кроме того,в состав установки входит второйрегистратор 8, также оптически сопряженный с объектом 7. При этом непрозрачная часть диафрагмы 5 содержит5зеркальные участки, а ее плоскостьсоставляет с...

Номер патента: 185093

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Андрианова, Дрейден, Лиоте, Попов

МПК: G01B 9/02, G02F 1/29

Метки: интерференционный, модулятор

...элементов различных напряже О ний, что ведет к изменению показателя преломления.Электрооптические элементы размещены в плечах интерферометра, например типа Майкельсона, а вместо плоских зеркал установле ны возвратно-отражательные призмы, Модулятор позволяет расширить полосу частот модуляции и повысить стабильность модуляции путем управляемого изменения разности хода интерферирующих лучей, гоПринципиальная схема предлагаемого интерференционного модулятора изображена на чертеже.Параллельный пучок света падает на интерференционный кубик 1, после прохожде ния которого световой поток раздваивается и поступает в плечи интерферометра. В каждом из плечей интерферометра размещены электрооптические элементы 2 и 3 и возвратно- отражательные...