Патенты с меткой «дефектов»

Номер патента: 427276

Опубликовано: 05.05.1974

Авторы: Вилугин, Всесоюзный, Котлостроени, Садовниченко, Таранушич

МПК: G01N 29/22

Метки: дефектов, краскоотметчик

...дефектов, содержащий корпус, электромагнитную катушку для подъема клапана с иглой, предназначенной для прочистки соплового отверстия, и каналы для подачи краски и сжатого воздуха.Известный кргскоотметчик дефектов недостаточно быстро отмечает место дефекта, так как движение клапана в обратном направлении происходит при помощи возвратной пружины.С целью повышения быстродействия предлагаемый краскоотметчик снабжен соосно установленной с основной электромагнитной катушкой дополнительной электромагнитной катушкой, а клапан представляет собой якорь этой катушки.На чертеже изображен предлагаемый краскоотметчик дефектов, общий вид.Краскоотметчик содержит корпус 1, электромагнитную катушку 2, служащую для подъема клапана 3 с иглой 4,...

Номер патента: 430316

Опубликовано: 30.05.1974

Автор: Давиденко

МПК: G01N 29/10

Метки: дефектов, протяженности, с1тособ

...период ггосылок ультразвуковых импульсов.На чертеже показана схема устройства для осуществления предлагаемого способа. иство состоит из двух акустических Искатели 1 и 4 первого и второго каналоврасполагаются с одной стороны от контролируемого сварного шва 7 так, что активные 5 части возбуждаемых имп ультразвуковых лучей 8 и 9 соприкасаются в контролируемой зоне сварного шва. Дефектоскопы обоих каналов обладают одцнаковымп чувствительностями и запускаются общим синхронизатором 10. Выходы каналов управляют элементом 11 Запрет; , пропускающим спнхропм ульсы в рсп 5 стрдтор 12 длины дефектов, например счетчик импульсов плп самописец.430316 Предмет изооретения Составитель И. КесоянРедактор Л. Ксенофонтова Техред Т, Курилко Корректор В....

Номер патента: 433570

Опубликовано: 25.06.1974

Авторы: Митрофанов, Смирнов, Чеховской

МПК: H01L 21/304

Метки: выступающих, дефектов, поверхности, слоев, удаления, эпитаксиальных

...удаляя выступающие дефекты, могутповредить эпптаксиальный слой.Цель изоорстения - создание способа, позволяющего повысить качество поверхностиэпитаксиальных слоев, т. е. удалить острые10 выступающие дефекты без влияния на остальную поверхность эпитаксиального слоя,Это достигается тем, что предварительновсю поверхность эпитаксиального слоя окисляют, а шлифование осуществляют с по 15 мощью плоского полировальника с канавкаНа чертеже схематически представлена полупроводниковая пластина с эпитаксиальнымслоем на операции обработки с помощью20 плоского полировальника,По предлагаемому способу после эпитаксиального выращивания слоя 1 на полупроводниковой пластине 2 всю поверхность эпитаксиального слоя 1 окисляют. Окисел выполня 25 ет функцию...

Номер патента: 446823

Опубликовано: 15.10.1974

Авторы: Буйный, Винниченко, Изотов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектов, коммутатор, отметчика

...дефектоскопа об обнаружении дефекта. На границах секторов дефектоотметки установлены датчики 13, 14 и 15 положения датчика дефектоскопа. Датчики поло:кения датчика дефектоскопа в соответствующих секторах дефектоотметки подсоединены к схемам совпадения и правым по чертежу половинам разрешающих триггеров, т. е. датчик 13 положения датчика подсоединен к схемам 7 и 8 совпадения первого сектора дефектоотметки и триггеру 2 второго сектора, датчик 14 положения датчика подсоединен к схемам совпадения 9 и 10 второго сектора дефектоотметки и триггеру 3 третьего сектора, датчик положения датчика 15 подключен к схемам 11 и 12 совпадения третьего сектора дефектоотметки и разрешающему триггеру 1 первого сектора дефектоотметки, Выходы триггера 1...

Номер патента: 451005

Опубликовано: 25.11.1974

Авторы: Петрова, Сорокин

МПК: H01L 1/10

Метки: дефектов, диэлектрических, пленок, электролит

...гртроды подают напряжение 85 - 10 мин. При этих условияхрушения в стеклянных пленках5 атины способтх фенольных воре жел олее четк оде 3 вес.% феиготовляют раю или металлитину, покрытые и, погружают в оложительному тока. Катодомафит. На элек - 10 в в течениевыявляются нашение меров редмет изобретения Электролит для электрических плен 20 что, с целью повыш количества и разме водный раствор фе дующем соотношен Фенол 25 Желатина ВодаИзобретение относится к е,а именно к технологии тон Кросхем,Известен электролит для выявления дефектов в пленке двуокиси кремния, представляющий собой солянокислый раствор бензидина.Однако применение этого раствора ограничено, его нельзя использовать для определения пористости стеклянных покрытий. Бензидин...

Номер патента: 456433

Опубликовано: 05.01.1975

Автор: Курт

МПК: G01N 27/84

Метки: визуализации, дефектов, поверхности, проката

...адгезию с порошком, и по состоянию поверхности зоны судят о дефектах.Однако надежность известного способа недостаточна, так как при транспортировке или складировании проконтролированных изделий 15 возможно полное или частичное нарушение покрытия.Целью изобретения является повышение надежности визуализации. Для этого в качестве жидкообразного вещества используют краску, а зону контроля размагничивают и удаляют фсрритовое покрытие.Покрытие можно удалять струей воздуха.Способ поясняется чертежом, на котором изображено устройство, реализующее способ. 25Зона контроля проката 1 намагничивается полем тока, проходящего через контакты 2 и 3. Устройство содержит также сопла 4 и 5 для нанесения соответственно ферритового порошка и жидкообразного...

Номер патента: 68806

Опубликовано: 25.01.1975

Автор: Мазо

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектов, изделиях, металлических, обнаружения

...дсл ОбарГ)кения де)сктОБ 3 метал;1 сскпх зделилх-Й ьариант); пафиг, 2 - общи": 3 И,. ус:",30 ЙСТБД (2-1 Вариант). Устростио, изображен 1;Ос па Г. 2, От;ичаетс 53 От ",стрОГст 32, ;30 бражеппОГО 12 фиГ. 1, теъ,то В по 1 звсс.с осщест 3 лйстс 53 пс 110 абсолотпом ", а по дффеС,.,. Ы.ОЪ. .0 3 ЧО, Ка. и.,ВЕ 10, С ., С .засПоъЬвп 1 СП,1,0иЗстаительпссть 7 стрОЙс ГБа .". позБОГ 5 от "ст)апть Блия 1 Пе пе 3 еходпых Предмет изобретенияст,30 ЙстБОля 0011233 )кепи 51 ефектоВ В .Р алл 4 чесе 1 х издсли 5 х с и с 1,епе.ис,. Зат пита ;.И) злесосзЗГпт; С.1 х /хащсГО ля иаГ:- чп"а:ил 3 сслед 1 с;оо издел;я, и Идиатора,;3 еаГпрсощсго па поток, Об)слОВлепьЙ наличие)4 Десскта, От л и ч 2 Го Ще е с Я тем, что, с ЦеМ 68806 лыо НОВ нен 11 чупствнтес 1 Ы...

Номер патента: 461345

Опубликовано: 25.02.1975

Авторы: Глаголев, Довнар, Смирнов, Щербинина

МПК: G01N 27/82

Метки: автоматический, дефектов, дефектоскопу, сигнализатор

...с учетом временных характеристик системы дефектоскоп-кинофотокамера и может регулироваться при изменении указанных характеристик,П тет изобретени ение дои скороАвтоматическ дефектоскопу по щийся тем, ч верности резул ной дефектоско жен связанной мерой, предназн ий сигнализатор авт. св.258692 о, с целью повы татов контроляпии рельсов в пу с регистратором аченной для съе дефектов к , отличаюшения достопри скоростти, он снаб- кинофотокамки рельсов,Изобретение относится к средствам рельсовой дефектоскопии и может быть использовано при скоростном контроле рельсов в путиИзвестен автоматический сигнализатор дефектов к дефектоскопу по авт. свид.258692содержащий блок селекции сигналов о дефектах и их регистратор.Однако достоверность...

Номер патента: 466435

Опубликовано: 05.04.1975

Авторы: Михалев, Тимошенко

МПК: G01N 23/18

Метки: глубины, дефектов, дефектоскопе, ренгено, телевизионном

...свечение экрана 2, изображение с которого проецируется на передающую трубку 5,преобразуется в видеосигнал и воспроизво 20 дится на экране 14 видеоконтрольного устройства 7.В цепь видеоканала включен смеситель 9,выполненный, например, в виде телевизионного коммутатора, на первый вход которого по 25 дается видеосигнал, а на второй - импульсысветовой метки с формирователя метки 8. Всмесителе 9 происходит смешивание видеосигнала с импульсом метки таким образом, чтоможно регулировать амплитуду только им 30 пульса метки от уровня белого до уровня чер466435 Предмет изобретения Составитель И, НайдисТехред Т. Курилко Корректор В, Брыксиня Редактор Н. Вирко Заказ 2425/5 Изд. Мо 660 Тираж 902 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета...

Номер патента: 467258

Опубликовано: 15.04.1975

Авторы: Емельянов, Кириченко

МПК: G01N 23/00

Метки: дефектов, индикации

...входу второго триггера 7, выход последнего соединен со входом второй линии задержки 8, а ее выход через инвертор 9 соединен со сбрасывающими входами первого 10 и второго триггеров 3 и 7.Устройство работает следующим образом.При исчезновении тока луча или при снижении его ниже заданного значения па вход формирователя подается сигнал, при этом с 15 выхода формирователя импульсы различногознака подаются на вход триггера 3 и на сбрасывающий вход триггера 7. В результате на выходе триггера 3 появляется сигнал, который подается на вход линии задержки 4, а сигнал 20 на выходе триггера 7 снимается, Сигнал навыходе линии задержки 4 появляется спустя время т 1, которое регулируется в зависимости от скорости движения ленты и расстояния между...

Номер патента: 468144

Опубликовано: 25.04.1975

Авторы: Власов, Двоеглазов

МПК: G01N 27/88

Метки: выявления, дефектов, изделия, магнитостатический

...поток Ф и полем элек рома нита 4 (на 25ток чертеже показано направление магнитногопотока электромагнита Ф Ьн )Считывание магнитостатнческих полейдефектов осуцесвляется датчикалц 5, Нотось льку (риложенное намагничивающееиоле от проиускания тока ио трубе равнонулю на внутренней поверхности трубы ицо(."чгаеч максимального значения на внещней поверхности, а иоле от электромагнита 4 стремится идти в зоне внутренней поверхности трубы, то намагничиваюцне трубу ио-гоки оудут неодинаково влиять на (1 юрлирование магнитостатических нолей над дефектами 2 и 3 на разных поверхностях трубы, Гак кама ничиванне трубы полем электромагнита 4 не будет ока.зывать суцественно о влияния на выходной си нат с датчткоь 5 ири счигывании де(1 едкга 2, лежащето...

Номер патента: 468705

Опубликовано: 30.04.1975

Авторы: Баграмова, Бирюков, Земзин, Карцев, Работнов, Титинер

МПК: B22D 19/10

Метки: дефектов, заварки

...не требуется. особ заварки ности сварно стой и вы с ледующей те уют промежуаустенитной дефектов для поо соединения из комарганцовистой мообработки, при очный подслой из стали на железПредмет изобрете Способ заварки дефковках из теплоустойчром на свариваемом ужуточный подслой изной стали, отличаюлью повышения прочнка на теплоустойчивойпоследующей термообрподслой или весь слойного дефекта) образуюна никелевой основе. т способ не дае при сварке тепл этом случае не о весьма затрудн о ввиду срочнос у что для терм тировать деталь едложенного спо ромежуточный объем выбрани стенитной стали положительно- устойчивой стабходима термоительно, а иногти выполнения обработки присоба заключает подслой или весь ого дефекта) обна никелевой, а...

Номер патента: 469082

Опубликовано: 30.04.1975

Авторы: Рубанов, Селиванов, Шоков

МПК: G01N 29/04

Метки: автоматический, дефектов, сигнализатор

...с входом генератора стробирующего импульса 8, подключенного своим ьыходом к второму входу схемы совпадения 7, выход которой идет на вход регистратора 9.5 На вход генератора зоны контроля 1 поступает синхроимпульс с синхронизатора дефектоскопии 2, а на вход временного селектора 3 приходят видеосигналы и с выхода усилителя дефектоскопа. На выходе секлектора 3 вы деляется последовательность эхо-сигналов отдефекта при помощи стробирующего импульса генератора зоны контроля, которые на формирователе 5 нормируются по амплитуде и длительности (см. фиг. 2 а). Эти импульсы запу скают генератор задержки 6, генерирующийпрямоугольный импульс регулируемой длительности (см. фиг. 2 б), а также приходят на один из входов схемы совпадения 7. Задним...

Номер патента: 474773

Опубликовано: 25.06.1975

Авторы: Григорьев, Загребельный, Зимин, Пахомов

МПК: G01R 31/06

Метки: дефектов, радиоэлементов

...является повышениеэффективности контроля.Для этого во время индикации элементы 15подвергают всестороннему обжатию, например в объеме замороженной жидкости.Виткам радиодетали создают встречно-направленное перемещение путем предварительного статического охлаждения ее в фиксированном объеме замороженной жидкости, например в дистиллированной воде, и последующего динамического нагрева,Предварительное статическое охлаждениерадиодетали в фиксированном объеме заморожен ной жидкости обеспечивает предварительное напряженное состояние в резистивной системе, последствия которого приводят к сближению витков и фиксацшо этого состояния в объеме замороженной жидкости. Это позволяет применить последующий динамический нагрев максимальной...

Номер патента: 476494

Опубликовано: 05.07.1975

Автор: Дряхленков

МПК: G01N 27/46

Метки: внутренних, выявления, дефектов, диэлектриков, нем, плотности, электрографический

...с плотностью диэлектрика.Следовательно, внутри электрета образуется скрытое электростатическое изображение распределения плотности. Это изображение де(54) ЭЛЕКТРОГРАФИЧЕСКИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПЛОТНОСТ ДИЭЛЕКТРИКОВ И ВЫЯВЛЕНИЯ ВНУТРЕННИХ ДГФЕКТОВ В НЕМсдак гор Т. Орловска 11 лаказ 2736,1 Изть Лч 880 ярак 02 о.:иисги 1 с ЦгчИИПИ Госу;арствси 11 ого ко и 1 тсг;1 Сове-.а Миииг ги;и С(ХР ио делам изогзрс 1 сии 1 и огкр 1,1 ги Москва, Ж-:Й, Ра,;.,ка 1 гагз., и0ииограгиии, ир (.,и и 1111 а,лается видимым после напыления и; и,1;1 сгцц тоцкоразчель 1 сццого порошка крдс 51 тсл 51, которому предварцтсл 1 цо сообщается электрический заряд прОтивополоокцого знака, причеч количество прилипшего порошка тем больше, чем выше концентрация заряда на...

Номер патента: 476501

Опубликовано: 05.07.1975

Автор: Аглотков

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектов, размеров, ультразвуковой

Номер патента: 440104

Опубликовано: 05.07.1975

Авторы: Крамер-Агеев, Пархомов

МПК: G01T 3/00

Метки: действием, дефектов, излучения, материалах, нейтронного, образования, полупроводниковых, скорости

...непосредственно в эксперименте и повышения точности измерений предлагается одновременно измерять калориметром мощность полной поглощенной дозы в данном полупроводниковом материале и полупроводниковым детектором, изготовленным на основе того же материала, часть мощности поглощенной дозы, расходуемой на ионизацию и возбуждение атомов, и по их разности оценивать скорость образования дефек- тов Разность сигналов У калориметра и приведенного сигнала 1 полупроводникового детектора И - КТ характеризует долю поглощенной интенсивности излучения, преобразованную в 10 кинетическую энергию смещенных атомов, т. е.в соответствии с современными представлениями скорость генерации дефектов в исследуемом полупроводником материале. Коэффициент связи К...

Номер патента: 481403

Опубликовано: 25.08.1975

Авторы: Вайнштейн, Корец, Кравченко, Фавелюкис

МПК: B24B 7/12

Метки: дефектов, зачистки, проката

...при шлифовании (см. фиг. 5) состоит из пневмоцилиндра 35, закрепленного на станине 1 и несуше - го опорный ролик 36, который прижимает заготовку при шлифовании к шлифовально лу кругу 37. ПневмоцилЕГНдр 38 своим штоком поджимает заготовку при шлифовании к базовой направляюей 39.Для центрирования и зажима заготовки лежду самоцентрируюшими роликами 17 25 11 еЕЕН 1 значен механизм, состоящий из пневмоцлиндра 40 (сл. фг, 6), на штоке которого эя креппена тра Верса 4 1, нес уцеа я 15 зубчатые репки 4, Входяцие В зацеп.и.ие с зубчатыми секторами 43. Секто - ЗО р: -13 закреплены на рычагах 16 и ВХОД 5 тт В зНЕен,ОН 1 е между собой, Механизм смон ровн внутри барабана 15.Загрузочный ропьгянг 6 (см. фиг 2) Отчется От разгрузочно 1 о ро 11 ганга 8...

Номер патента: 481766

Опубликовано: 25.08.1975

Авторы: Жуковский, Карасин, Кисельгоф, Яковлева

МПК: G01B 9/04

Метки: дефектов, регистрации, фотошаблонов

...в блоки запоминающихузлов 19 или 20 и далее через переключатель 21 выходных сигналов - в ЦБМ23 или блок для записи 22, например намагнитную ленту.Для установки первоначального поло-жения ФШ 1, 2 служат механизмы поворота 24 и направляющие 25, а для наблюдения ФШ 1,2 - визуальный канал, состоящий из выключаюшихся зеркал 26,зеркальной призмы 27, сетки 8 л оку- ляра 29. На сетке нанесено перекрестие, линии которого параллельны направлениям перемещения координатного стола 3 и.линейкам входных торцов световодов ВОП11.Устройство работает следующим образом, Перед началом контроля ФШ 1и 2 ориентируют при помощи механизмов поворота 24 и направляющих 25 таким образом, чтобы образующие их элементов были параллельны линиям перекрестиясетки 28,...

Номер патента: 484699

Опубликовано: 15.09.1975

Авторы: Бела, Илона, Пал, Тибор

МПК: D01H 13/08

Метки: дефектов, обнаружения, пряжи, текстильных

...выходом иптегрируощс 1 т 1 схемы и входом сравнивающей схемы,На чертеке показана блок-схема описываемого устройства.Устройство состоит из измерительной гоовки 1, усилителя 2 сигналов головки, первого делителя напряжений, состоящего из внутреннего 3 и внешнего 4 звеньев, интегрирующей схемы 5, второго делителя напряжения,состоящего из внутреннего звена 6, выполненного в виде потепциометра, и внешного звена 7, сравнивающей схемы 8 и усилителя 9.Сигналы измерительной головки, полученные при движении пряжи 10, поступают через усилитель одновременно па вход интегрирующей схемы н вход внутреннего звена псрвого д е; и т с л 51 н 1 п р 5 ж с и н я,с в ы х о л; и и т с г р и р ующей схемы через внутре;пес звсо (потспциомстр) второго лслителя...

Номер патента: 486270

Опубликовано: 30.09.1975

Авторы: Пастернак, Шпинер

МПК: G01N 29/04

Метки: автоматический, дефектов, дефектоскопов, сигнализатор, ультразвуковых

...формирования зоны контроля, ройство аналогового выхода,Однако в таком устройстве эффективное значение выделенного сигнала в аналоговой форме зависит от частоты следования и от местоположения дефекта по глубине: за период времени от импульса синхронизации до прихода сигнала, отраженного от дефекта, аналоговый сигнал отсутствует. Это приводит к существенной потере информации при придонных дефектах.Целью изобретения является повышение точности контроля.Достигается это за счет того, что у ство снабжено двумя последовательно диненными пиковыми детекторами со сбросом, расположенными между выходом селектора и устройством аналогового выхода,На фиг. 1 дана блок-схема устройства; на фиг 2 - диаграмма напряжений, пояспя 1 ощая работу устройства....

Номер патента: 490003

Опубликовано: 30.10.1975

Авторы: Лапкин, Митрофанов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектов, краскоотметчик

...изобретенияТЕХ НОЛ ОГ 11 Н Х Н М Н Ч ЕС КО ГОсварных швов. Нднъссгсг 1 прпсъодаэ:къпгч;п дьы=ггкпз. салпр жгпппй корпъс и п 1.пс 1;н хпподкпяэхпчп щадиКОЙ, 11 О)1 ЦЕ 111 ЖНННЦ ДЛЯ пхъапп КЮНСКН 11 НСНКЛСР. ОЦПЭКО 113 Е 3 СТ 111 у 111 Кр 21 СЫООТМСЕЧ 1 К 11310131кчъггрилАду-смог; :п:язэрхпосгвпьг. На чертим показами прим 111111 пыльпця схьч па краспосугмсгчнки.аптокс хщпппя усгагаовлспа шарнпрппя1.3мы 11;11 с 1 мр;1 1.1 в хшцхохцчптхь рад 1 с;11:п:1 мх 1 ъдпппцвьх 53. 1" 12 п предал 1111211011103: валкая крпсып при перпбочем 1:0джаз ппппсгтъ проходит вп:1;.п 1, п сдацдпот на катгодмэс щп 111 р 1 ь 1 п 1=1ж 11 гагшппает вра спввшзьапугсзч с одним11. п краска. Дозирут 12 ралппгч 11 п скои ч пр: вьтцзвлпвнотся па по ч дчгтс" т; и...

Номер патента: 491879

Опубликовано: 15.11.1975

Авторы: Кононович, Парняков

МПК: G01N 21/16

Метки: дефектов, полупроводниковых, приборов

...различного характера дефектов, осуществляемым путем наблюдения изображения объекта с помощью оптических приборов.Известен визуальный способ контроля дефектов полупроводниковых приборов, в котором используется изменение характера освещения, например, поочередное включение освещения по методу темного или светлого поля.Для повышения качества контроля по предлагаемому способу освещение исследуемого объекта производят одновременно с сканированием полученных зон, т. е. при этом согласовано перемещают сформированные зоны по объекту, и во время этого смещения зон виты на поверхности зуально определяют дефеобъекта.Предложенный способзован как в отраженном,свете. ожет быть реали к и в проходящеи редмет изобретенп Способ контроля дефект вых...

Номер патента: 204003

Опубликовано: 15.12.1975

Авторы: Баранов, Горон, Дембинский, Добровольский, Меркин, Панков

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектов, изделиях, обнаружения, поверхностных, слоев, ферромагнитных

...вдоль контролируемой поверхности. Линейчатый растр, записанный на поверхность изделия, переносят на вторичный магнитный носитель. Контролируемая поверхность может иметь любую сложную форму, которая сопрягается с эластичными магнитными носителями.Образование сигналов точечного растра производят путем считьования линейчатого магнитного растра воспроизводящей головкой со вторичного магнитного носителя, приведенного к форме, удобной для считывания, в направлении, поперечном линиям растра. Полученные контрольные сигналы усиливают и подают на экран электронно-лучевого индикатора, на котором формируют яркостное точечно-растровое изображение контролируемого слоя, причем используется экран с долговременной памятью, Эти импульсы развертываются на...

Номер патента: 495067

Опубликовано: 15.12.1975

Авторы: Литасова, Мешалкин, Обухов

МПК: A61B 17/06, A61L 31/00

Метки: дефектов, закрытия, заплата, межжелудочковых, сердца

...дефектов широко применяются в хирургии. Однако известные заплаты не обеспечивают быстрого закрытия дефекта.С целью сокращения времени закрытия дефекта заплату до операции прошивают по периметру непрерывной нитью, в которую впрессовывают атравматические иглы.На чертеже изображена заплата для закрытия межжелудочковых дефектов.Заплата 1 для закрытия межжелудочко дефектов включает в себя эластичную вю заплату из объемной синтетической пряи с гирляндой из супрамидных нитей 2 с атравматическими иглами 3.Несколькими супрамидными нитями, например 4 - 8, с помощью атравматических игл прошивают края заплаты заблаговременно перед операцией, в результате чего почучается заплата различных размеров с гирляндой из супрамидных нитей с иглами,...

Номер патента: 497014

Опубликовано: 30.12.1975

Автор: Сартан

МПК: A61B 17/00

Метки: дефектов, кисти, кожной, пластинки

...швов за клетрские раны зашиваются. По оконирования лоскут приобретает У-обму и может быть пересажен на Предмет изобретени Способ кожной тем выкраивания 20 ких лоскутов с их на рану и по дефекта к краям тем, что, с целью кисти, расположе 25 стях, выкраивают чаточных лоскут вания сближают разрезами кожиС целью закрытия ра расположенных на ее о краивают два П-образн лоскута, отсепаровываю жают мобилизующими кожи и наложением наСпособ кожной плас осуществляют следующ евых дефектов кисти, беих поверхностях, выых кожноклетчаточных т их, основания сблиугловыми разрезами них швов.тики дефектов кисти оразом,Изобретение относится к области медицины, а именно к кожно-пластической хирургии.Известен метод пластики обширных дефектов кисти по Я....

Номер патента: 499967

Опубликовано: 25.01.1976

Авторы: Кобляков, Лаврешин, Пашков, Тараненко

МПК: B22D 19/10

Метки: дефектов, исправления, масса, отливок

...состав для исправления 1 ефектовотливок, включающий эпоксидную смолу, отвердитель (полиэтиленполиамин), пластификатор и наполнитель (железный порошок илицемент),Однако из эа высокой вяжет быть использован для ибоких трещин и раковин,С целью уменьшения вязкости состава иувеличения адгезии его с металлом он дополнительно содержит инден-кумароновуюсмолу и органический растворитель, а в качестве пластификатора-канифоль при следующем соотношении компонентов, вес,%; Это позволяет повысить прочность исп ьравленного литья на изгиб и разрыв.Перед заделкой дефектные места отливкидолжны быть очищены от грязи, обезжиреныи тщательно высушены, Рабочие растворыполучают, добавляя к смеси эпоксидной иинден кумороновой смол растворителя и навполнителя,...

Номер патента: 504081

Опубликовано: 25.02.1976

Авторы: Лившиц, Румянцев, Русинов

МПК: G01B 11/30

Метки: внутренних, дефектов, обнаружения, поверхностях, труб

...поверхности, объектив 5,вращающуюся диафрагму 6, линзовый компонент 7, фотомодели",ый блок Ь, наблюдательный ка.ал, образованный поворотным зеркалом 9, сеткой 10 и окуляром 11, электродвигатель 12 и редуктор 13, Котролиру- Оемый объект (труба) 14 размещают междуосветителем 1 и объективом 2,Осветитель 1 направляет световой поток на внутреннюю поверхность контролируемой трубы 14, первая телескопическая бсистема - оптическая труба Кеплера -формирует промежуточное изображениеучастка освещенной поверхности. Ьагодаря осеволу перемещению микрообъектива 4последовательно фокусируют иэображение 20контролируемой ц,верхности, образованноеобъективом 2 и окуляром 3 первой телескопической систе:,ы, Микрооб". ектив направляет...

Номер патента: 504318

Опубликовано: 25.02.1976

Авторы: Бушер, Гранат, Лаврисевич, Маринский

МПК: H04R 29/00

Метки: активном, дефектов, преобразователя, пьезокерамического, элементе

...в районе дефекта по сравнениюс эталонным потенциалом (прн отсутствиидефекта) в зависимости от характера дефекта,увеличивается до 20-30 раз, Сигналс датчика 1 наблюдают на экране осциллографа в виде фигур Лиссажу или записьввают дефектограмму на самописце,Месторасположение дефекта определяютпо дефектограмме или непосредственно поположению датчика относительно поверхности преобразователя в момент обнаружениядефекта, О характере дефекта судят постепени, отклонения от эталонной величиныфазы и амплитуды напряжения на выходедатчика при расположении его в районедефекта,На фиг. 1 изображена снятая дефектограмма преобразователя, на оси абсцисскоторой расстояние между точками 1 и 2соответствуют ширине пьезоэлемента. Ординаты точек 1 и 2 на...

Номер патента: 507760

Опубликовано: 25.03.1976

Авторы: Акишенков, Кондратьев, Кошелев

МПК: F26B 25/22

Метки: видимых, дефектов, камерной, наблюдения, образованием, пиломатериалов, сушке

...в стеннтито По основному ввт. св, Мо 305250 известно устройство для наблюдения за образованием видимых дефектов пиломатериалов при камерной сушке, содержащее закрепленную в стенке камеры обойму, в которую 5 ,вмонтирован корпус с теплоизоляцией и тремя,герметично размещенными стеклами. Одно из стекол шарнирно установлено в подвижной обойме, а два других установлены неподвижно в корпусе, имеющем несколько ;низковольтных прожекторных ламп с отражателями и стеклоочиститель с рукояткой,расположенной со стороны наблюдателя.Целью изобретения является повышение эффективности наблюдения. Это достигается 15 тем, что на подвижной обойме шарнирно укреплена опорная плита с хомутами для крепления передающей телевизионной камеры и орпус 3 с...