Патенты с меткой «дефектов»
Способ раннего обнаружения дефектов турбомашины
Номер патента: 1377651
Опубликовано: 28.02.1988
Авторы: Збродов, Игуменцев, Костин, Сидоренко, Тихонов, Христензен
МПК: G01M 15/00
Метки: дефектов, обнаружения, раннего, турбомашины
...- 1,К=3,2. На основе введенного обозначенияполучают обобщенный (для разных типовГПА) закон взаимного распределенияуровней А , К роторных гармоник АА-, иА;,+А,+А;,к при К=1при К=2при К=Зт при следующих начальных условиях: АО 1 (т)=хо; Аог (г)=2 Ао 1 (г)Для некоторых агрегатов число гармоник в группе г=2, Тогда рекурентный закон взаимного распределения для этих типов агрегатов имеет вид(2)А,г =А, +А 1 дпри начальных условияхАок =(хокоНа основании полученного рекурентного закона взаимного распределения уровней роторных гармоник дефектацию ГПА осуществляют следующим образом.Производят измерение уровней вибрэскорости п=б роторных гармоник; по значению уровня 1,1-й гармоники устанавливают начальное условие; если значение .х находится в области...
Устройство для измерения глубины дефектов цилиндрических поверхностей
Номер патента: 1379595
Опубликовано: 07.03.1988
Автор: Корбачков
МПК: G01B 5/28
Метки: глубины, дефектов, поверхностей, цилиндрических
...стопором 9, выполненным в виде35винта, для фиксации угла раздвижкистоек 2 рамы устройства. Сухари 7каждой пары стоек 2 соединены междусобой осями 10 и 11, являющимися основной и дополнительной направляющими каретками 12, на которой установлен индикатор 13 с измерительнымстержнем 14 и иглой 15, контактирующей с измеряемой цилиндрической поверхностью 16, Направляющие 10 и 1145лежат в одной плоскости, параллельной плоскости осей шарниров 3 и 5,Устройство работает следующим образом,Устройство устанавливают на очищенную поверхность трубопровода так,что основания 1 располагаются параллельно образующей поверхности 16.При измерении положение одного из оснований 1 фиксируют на поверхности,а другое перемещают относительно первого путем...
Способ определения координат центров яркости дефектов детали
Номер патента: 1379706
Опубликовано: 07.03.1988
Автор: Татаринов
МПК: G01N 21/88
Метки: детали, дефектов, координат, центров, яркости
...усиления фотоприемника (или коэффициент передачи по аналогии с автоматикой и радиоэлектроникой).При этом на фотоприемники поступает световой поток только от наиболееяркого дефекта. Рабочую точку всехтрех фотоприемников, в качестве которых используют ФЭУ, выбирают в начале линейного участка характеристики освещенность - напряжение питания ФЭУ. Возможна и обратная комбинация: рабочую точку ФЭУ выбирают вконце, т.е, наверху, линейного участка характеристики освещенность - напряжение питания ФЭУ, а коэффициентпропускания жидкокристаллической матрицы выбирают равным единице, те.матрица в на але работы прозрачна.Таким образом, в начале контроляиз-за минимального коэффициента пропускания светового потока определяются координаты центра...
Устройство для поиска дефектов дискретных блоков
Номер патента: 1379784
Опубликовано: 07.03.1988
Автор: Тяжев
МПК: G06F 11/30
Метки: блоков, дефектов, дискретных, поиска
...сигнал 30пуска, который поступает на вход регистра 31 и разрешает запись в негоКТ иэ регистра 30, через элементыИ 35 и ИЛИ 39 поступает на счетныйвход счетчика 29 и увеличивает наединицу хранящийся в нем адрес, а35через элементы ИЛИ 37 и задержки 41поступает на ПЗУ 28 и вызывает считывание из него в регистр 30 метки ККТ,которая поступает для анализа в блок 406 управления.Затем на вход генератора одновременно поступают сигналы ЧТ и ЗПТН,которые обеспечивают считывание информации из ПЗУ 28 в регистр 30. Затем на выходе элемента 42 задержкипоявляется сигнал, который поступаетна вход группы 32 элементов И и разрешает запись ТН из регистра 30 вблок 2 памяти, а также поступает навход элемента И 36. Если на ПЗУ 2850считана метка КПЕ, то на...
Способ геттерирования атомов тяжелых металлов и дефектов в полупроводниках
Номер патента: 1313254
Опубликовано: 15.03.1988
Авторы: Ахметов, Болотов, Гаврошевски, Рихтер, Смирнов, Шмальц, Эмексузян
МПК: H01L 21/263
Метки: атомов, геттерирования, дефектов, металлов, полупроводниках, тяжелых
...мкм, Облучение при 350 К в течение 300 с электронами с энергиейЕ = 3,5 МэВ, дозой Ф = 10 смБ - 2.поверхность окисляют травлением вСРс последуюцей выдержкой на воздухе в течение 70 ч.в -эБдц =7 10 см прий=2 2 мкм,Термообработка 570 К в течение1 ,8 -эБ= 7 10 см при Ь = 2,2 мкм.Облучение при 300 К электронами5 Яс энергией 3,5 МэВ дозой 510 эл/смс последующим отжигом при 570 К в течение 1 ч.БА 1,410 см при Й =- 2,2 мкм,Аналогичный результат получен ипри температуре облучения 280 К.П р и м е р 3. Материал и условия 40приготовления поверхности как и впредыдущих примерах.Б ц = (1,4-15) 1 О см при= 3,4 мкм,Термообработка 770 К в течение д1 ч,941 О см при й =: 394 мкмОблучение при 300 К электронамис энергией 3,5 МэВ дозой 5 10 смс последуюцим...
Устройство для обнаружения дефектов в прозрачных изделиях
Номер патента: 1383170
Опубликовано: 23.03.1988
МПК: G01N 21/89
Метки: дефектов, изделиях, обнаружения, прозрачных
...попадая на фото- приемник 18. Сигнал с фотоприемника поступает на вход усилителя 20, с выхода которого поступает на видеомагнитофон 21. С второго выхода усилителя сигнал поступает на формирователь 22 строчных импульсов, где формируются прямоугольные импульсы, под-. считывается в соответствии с количеством волокон в держателях 11 и 15 и формируется строчный импульс развертки, который поступает на вход строчной синхронизации видеомагнитофона 21 и на формирователь 23 кадров, на второй вход которого поступает сигнал с фотоприемника 25 датчика скорости подачи контролируемого из 1383 170делия. Формирователь 23 кадров сравнивает количество строк в кадре с размером кадра и вырабатывает кадровый импульс для записи на видеомагнитофон 21.Кроме...
Устройство для определения дефектов в прозрачных полимерных пленках
Номер патента: 1385038
Опубликовано: 30.03.1988
Авторы: Госьков, Губанов, Дьяченко, Михайлов, Михайлова, Рязанцев, Тараканов
МПК: G01N 21/41
Метки: дефектов, пленках, полимерных, прозрачных
...16средние и большие дефекты, компаратор 17 - малые и большие. Сигнал свыхода компараторов поступает на входарифметико-логического устройства18, где осуществляется сортировка ицифровая обработка сигнала и с помощью знаковых индикаторов 19, 20, 21высвечивается количество дефектовбольших, средних и малых за время контроля пленки,Устройство (фиг.2) содержит гелийнеоновый лазер 1, пластинку Д/4 22,полупрозрачное зеркало 23, Фотоприемник 24 опорного канала, фокусирующую линзу 2, сканирующее устройство 3, фотоприемники б дополнительного канала, собирающую линзу 5, ножФуко 7, цилиндрическую линзу 25, фотоприемник 8 основного канала, программируемый усилитель 9 основногоканала, программируемый усилитель 10дополнительного канала, усилитель...
Способ обнаружения дефектов поверхности
Номер патента: 1388725
Опубликовано: 15.04.1988
Авторы: Клусов, Сорокин, Федоров
МПК: G01B 21/30
Метки: дефектов, обнаружения, поверхности
...процессе изготовления детали, навыходе порогового элемента 9 получают сигнал и по его наличию судят огодности или негодности контролируемой детали.Способ предназначен для обнаружения механических дефектов типа трещин, царапин, складок, плен, характеристические размеры которых сопоставимы с микронеровностями поверхности. Частота обработки поверхностиизделий составляет К = 0,63 мкм, минимальные характеристические размерыопределяемых дефектов составляют:раскрытие - 0,02 мм;глубина0,005 мм,Нормированную корреляционную Функцию коэффициента отражения определяют для группы бездефектных однотипныхизделий методом статистических испытаний. Для этого исследуемую случайную Функцию коэффициента отраженияпредставляют записью множества...
Способ диагностирования дефектов поверхностей трения в подшипниках качения
Номер патента: 1392422
Опубликовано: 30.04.1988
Авторы: Данюсявиччюс, Рагульскис, Рондоманскас, Чуприн
МПК: G01M 13/04
Метки: дефектов, диагностирования, качения, поверхностей, подшипниках, трения
...фильтр 3, противоподменныйфильтр 4, основной усилитель 5, аналого-цифровой преобразователь (А 1 П)6, блок / буферной памяти и микроЭВМ8, а также блок 9 управления и синхронизации, соединенный с А 111 6, блоком 7 буферной памяти и микроЭВМ 8,Датчик 1 установлен на контролируемомобъекте 10.Способ осуществляют следующим об 1015253035 сигнал с необходимым объемом выборок,задаваемым блоком 9, поступает нЭВИ 8, где происходит определециезначений эксцессов последовательныхреализаций заданных объемон и коэффицента вариации этих эксцессов,По заданным частотам вращенияподшипника п,диаметру поверхностижелоба й и длине участка пути тренияЬ ЭВМ 8 подсчитывает период временийй накопления выборки распределенияамплитуд вибрации и необходимыйобъем...
Система для определения дефектов строительных изделий
Номер патента: 1393881
Опубликовано: 07.05.1988
Авторы: Гребенников, Ильичев, Клюев, Левин, Матвеев, Потапов
МПК: E02D 33/00, H04N 7/18
Метки: дефектов, строительных
...превосходит значение кода на его 3-разрядном выходе, поступает сигнал разрешения записи на вход схемы управления записи.Блок цифровой развертки синхронизируется строчными и кадровыми синхроимпульсами, поступающими с телевизионной камеры .на его входы, и вырабатывает 12-разрядный код, поступающий на 12-разрядный адресный вход ЦЗУ, а также высокочастотные синхроимпульсы, поступающие на вход блока управления записью. На вход блока управления записью поступают кадровые синхроимпульсы, приводяшие блок управления записью в исходное состояние. При наличиина входе блока управления записью сигнала метки и разрешающего сигнала с блока сравнения кодов, свидетельствующего о том, что значение кода на информационных входах ЦЗУ превосходит значение...
Устройство для регистрации дефектов в плоских диэлектрических материалах
Номер патента: 1396120
Опубликовано: 15.05.1988
Авторы: Домород, Кожаринов, Храповицкий
МПК: G03G 17/00
Метки: дефектов, диэлектрических, материалах, плоских, регистрации
...замкнутой полости, и второй плоский конденсаторный электрод 6 на противоположной поверхности материала. Электроды 3 20 и б соединены с выходом источника вы сокого напряжения (не показан), а излучатель 1 соединен с выходом генератора 7 электромагнитного излучения с диапазоном длин волн, который определяют иэ условия прозрачности плоского диэлектрического материала 4, причем максимальная длина волны не должна превышать двух толщин материала 4. 30Устройство работает следующим образом.Плоский диэлектрический материал 4 помещают (без зазора) между элек" тродами 3 и 6, которые соединены с выходом источника высокого напряжения (не показан), устанавливают величину таким образом, ччЬ напряженность электрического поля в газовой полости дефекта...
Устройство для измерения глубины поверхностных дефектов
Номер патента: 1397699
Опубликовано: 23.05.1988
Авторы: Белоконь, Иорш, Новобранец, Тишевич, Трубачев, Фадеева
МПК: G01B 5/18
Метки: глубины, дефектов, поверхностных
...16 с маховичком 17 и Фиксатором 18,Устройство для измерения глубиныповерхностных дефектов работает следующим образом,Устройство опорами 2 устанавливается на контролируемый объект 19 таким образом, чтобы измерительная игла 4 находилась над измеряемым участком поверхности, Путем отжатия Фиксатора 18 и поворота маховичка 17 эксцентрикового узла 16 перемещают ползун 7 до тех пор, пока стрелка индикатора 3 не будет показывать нулевое значение, Ползун 7 фиксируется посредством механизма 8 Фиксации. В результате приведения в действие механизма 6 перемещения упругий элемент 5 за счет поворота относительно подвески 10 выводится из-под конца измерительной иглы 4 и удерживается в этом положении Фиксаторо. 13, который взаимодействует с :".опк .й 14...
Способ лечения дефектов костей
Номер патента: 1400616
Опубликовано: 07.06.1988
Авторы: Айвазьян, Гарибян, Герасимов, Козлова, Осепян, Саркисян, Фриденштейн, Чайлахян
МПК: A61B 17/56
Метки: дефектов, костей, лечения
...снимают состекла и готовят клеточную суспензию,которой заполняют губчатый каркаспутем насасывания иэ расчета не менее10 клеток на 1 см каркаса. Каркасопределяет размер и форму кости, образуемой пересаженными костномозговыми фибробластами, но сам по себе необеспечивает заполнение дефекта костной тканью за счет местных остеоген 55ных клеток (как детерминированных,так и индуцированных).Заготовленный таким образом комбинированный трасплантат после удаления рубцовой ткани в области дефекта кости, освещения концов и стабилизацииотломков помещают в область дефектаили ложного сустава после создания тампазов, Рану ушивают наглухо с оставлением ирригационной трубки для дренирования сроком на 1-3 дня. При хронических остеомиелитах, одновременнос...
Способ обнаружения дефектов печатной платы
Номер патента: 1401362
Опубликовано: 07.06.1988
Авторы: Йонила, Могильницкий, Шаткус
МПК: G01N 27/00
Метки: дефектов, обнаружения, печатной, платы
...изоляционным материалом 4, и электрически связанными с помощью переходного метал- лизированного отверстия 5 диэлектри ческим и токопроводящим слоями 6 и 7; последовательно соединенные Формиро-ватель 8 высоковольтных импульсов, элемент И 9,. генератор 10 высокочастотных импульсов; генератор 11 одно О кратных импульсов; ограничительный резистор 12.Способ реализуется следующим образом.При поступлении импульса от генератора 11 однократных импульсов (фиг.2 б) на выходе элемента И Формируется пачка импульсов (фиг.2 в), которые преобразуются в последователь- КОсть Высокдвольтных ИМГГульсов и че 40 рез ограничительный. резистор 12 поступают на электрод, контактирующий с проводниками печатной платы. При этом происходит пробой промежутка...
Устройство для выявления и отметки дефектов
Номер патента: 1401366
Опубликовано: 07.06.1988
Авторы: Ильиных, Песельник, Путилов, Фещенко, Чукин
МПК: G01N 27/84
Метки: выявления, дефектов, отметки
...- повышение инфорМативности за счет получения информации о виде дефекта. На чертежестройства.Устройство для выявления и отметки ефектов содержит последовательно соеди 1 енные преобразователь 1 и блок 2 обаботки сигнала, подключенные к последему и каналов, каждый из которых ключает в себя последовательно соединен 1 ые пороговый блок 3 и формирователь 4 омандного импульса, и последовательно оединенные и входовой элемент И 5к ходам которого подключены выходы формиователей 4, и дефектоотметчик 6. Формиователи 4 выполнены в виде блоков егулируемой задержки,Устройство работает следующим образом.При винтообразном сканировании издеЛия 7 преобразователем 1 выходной сигнал реобразователя 1 поступает в блок 2 обаботки сигнала, а затем на...
Способ определения места и характера дефектов электрической схемы
Номер патента: 1401419
Опубликовано: 07.06.1988
Авторы: Антонец, Волонцевич, Кисурин, Сивцов
МПК: G01R 31/28
Метки: дефектов, места, схемы, характера, электрической
...Индукционный датчик 3 представляет собойбескаркасную;.1 катушку, габариты которой соответствуют габаритам испытуемой электрической схемы 2.Способ осуществляется следующимобразом.Перед исследованием испытуемойэлектрической схемы 2 с генератора 1тестового широкополосного сигнала навход эталонной электрической схемыс промоделированными наиболее частовстречающимися дефектами подключаютширокополосный тестовый сигнал, представляющий сумму гармонических колебаний всех частот, имеющих одну иту же дисперсию амппитуды.Излучаемые электрической схемой 2электромагнитные излучения преобразовываются в индукционном датчике 3 в электрические сигналы. С помощью индукционного датчика 3 и измерителя 5 энергетического спектра в дешифраторе 6...
Устройство для обнаружения дефектов полотна
Номер патента: 1406251
Опубликовано: 30.06.1988
Авторы: Бузин, Гендельман, Иванов, Якимушкин
МПК: D04B 35/20
Метки: дефектов, обнаружения, полотна
...перекрытия приэтом спиральных прорезей 4 и 6 воз-можна установка входной апертуры отмаксимального до минимального значения, 45Устройство работает следующим образом,Перед началом работы в зависимос-.ти от артикула полотна (номера нитей,вида переплетения, величины оттяжкии др,) осуществляется настройка размеров входной апертуры под размерывозможных дефектов для получения оптимального отношения сигнала к шуму.Для этого полый цилиндр 5 поворачивают на оп, что приводит к частичному перекрытию спиральных прорезей 4 и6 и образованию входной апертуры оптимальных размеров,. после чего полые,цилиндры 3 и 5 фиксируются друг относительно друга фиксирующими винтами 7, Величину угла относительного поворота полых цилиндров 3 и 5 возможно...
Устройство для контроля дефектов печатной платы
Номер патента: 1406605
Опубликовано: 30.06.1988
Авторы: Буслович, Дремаков, Кисельман, Копылова, Никуленков, Овчинников, Пунгин, Скоринко, Трукшин, Шнайдер
МПК: G01R 31/28
Метки: дефектов, печатной, платы
...исходное состояние производитсяпосле окончания сканирования печатной платы и по сигналу дешифратора29, управляемого счетчиком 28 строк,на вход которого поступают импульсыреверса иэ блока 5 управления столом.Таким образом, однократно при первомзапуске АЦП 10 фиксируются опорныезначения, Дешифратор 29 также управляет прохождением импульсов перемещения посредством элементов И 31 длязаписи в память 13 информации, получаемой при прохождении лучей по первым строкам соответствующих сегментов печатной платы 4, и элементовИ 32 для управления работой блока 05412 сравнения и памяти 13 во времяпрохождения лучей по последним строкам,Вся информация, получаемая присканировании поверхности печатнойплаты 4 с выходов АЦП 10, поступаетна соответствующие...
Устройство для обнаружения дефектов в диэлектрических пленках
Номер патента: 1408356
Опубликовано: 07.07.1988
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, диэлектрических, обнаружения, пленках
...усилитель 4 и динамик 5, источник6 питания, генератор 7 импульсов напряжения с токоотводами 8 и 9, Токоотвод 9 соединен с мембраной 2, а натокоотвод 8 нанесен слой 10 гигроскопичного материала. Контролируемаяпленка 11 размещается на мембране 2. 25Натяжение мембраны 2 регулируетсярезьбовой втулкой 12,Устройство работает следующим образом. 30Исследуемую пленку 11 укладывают на поверхность мембраны 2. Включают питание генератора 7 импульсов напря;жения и усилитель 4, Пленка 11 генерирует звуковые колебания. Токоотвод 8 равномерно перемещают по поверхности пленки с перекрытием всех ее участков. Пьезоэлектрическии приемник 3 преобразует звуковые колебания в электрический сигнал, который усиливается усилителем 4 и воспроизводится...
Способ замещения дефектов головки бедренной кости
Номер патента: 1410962
Опубликовано: 23.07.1988
МПК: A61B 17/56
Метки: бедренной, головки, дефектов, замещения, кости
...из головки бедренной кости. Для этого ротируют трансплантат по оси связки примерно на 90максимально приближают верхний отдел головки бедра к губчатому основанию трансплантата и погру жают последний в дефект, Площадь несвободного костно-хрящевого аутотрансплантата в среднем сосгавляет 3,5 х 3 см.Толщина губчатого основания кост но-хрящевого аутотрансплантата зависит от степени деструкции головки бедра: чем глубже дефект головки, тем меньшую толщину должен иметь аутотрансплантат и наоборот. В среднем 55 толщина пересаженных костно-хрящевых аутотрансплантатов составляет 1,5- 2 см. В случае, если во время операцииоперирующий хирург выявляет отсутствие васкуляризации аутотрансплантата,связку иссекают и производят свободную...
Способ лечения дефектов шейного отдела пищевода
Номер патента: 1412746
Опубликовано: 30.07.1988
Автор: Тютликов
МПК: A61B 17/00, A61F 2/04
Метки: дефектов, лечения, отдела, пищевода, шейного
...зонд и фиксированный к нему узловыми капроновыми швами, вводят через дефект стенки в просвет пищевода и устанавливают на уровне дефекта. Дистальный (нижний) конец зонда вводят в желудок, а верхний через ротовую полость выводят наружу. Отсепаровывают единым лоскутом грудино-подъязычные мышцы, пересекают их у тела подъязычной кости, ;перемещают к области дефекта пищевода и пришивают их к его стенке двумя рядами узловых швов, закрывая дефект. Делают туалет раны, в окружающие ткани вводят антибиотики, к пищеводу на сутки подводят дренаж из перчаточной резины, рану по слойно зашивают. На верхний конец зонд надевают резиновую муфту и с помощью проводника переводят его через носоглотку и полость носа наружу, резиновую муфту перемещают в...
Способ обнаружения дефектов электронных блоков радиоприемника
Номер патента: 1413563
Опубликовано: 30.07.1988
МПК: G01R 31/28
Метки: блоков, дефектов, обнаружения, радиоприемника, электронных
...и проводников электронвых блоковрадиоприемника приводит к фяуктуации 25коэффициентов передачи каскадов ишумовой модуляции выходного сигналаприемника в инфранизкочастотной об. ласти.Сущность способа заключается в ЗОтом, что на вход радиоприемника подают тестовый радиосигнал от генератора, измеряют среднеквадратическоезначение напряжения инфранизкочастотного мультипликативного шума на выходе приемника в нормальных климатических условиях, наносят воду (например,при помощи мелкодисперсного пульверизатора) на электронные блоки радиоприемника, затем повторно измеряютереднеквадратическое значение напряжения инфранизкочастотного мультипликативного шума на выходе приемника и по величине приращения значения данного шума, полученного в...
Способ лечения дефектов нижней челюсти
Номер патента: 1419672
Опубликовано: 30.08.1988
Автор: Сергеев
МПК: A61B 17/00, A61B 17/24, A61B 17/56 ...
Метки: дефектов, лечения, нижней, челюсти
...нт сктветствунции форм и рдзмрдм лефектд нижц й члк)и дллцдутцт )11 н с н.1 (1 н т с( т 3 с с О (Лд н и с 1 н ((.1 0 к О н цз . нрццк плон(длк. Н) Нижн;)жни или нц) грннси нцврхнцстях зллц;утрднсцлдцг;(д улдлянг чась кортика,ьци гЗстинки,1 ля зутцтрд 1 нлзн)дтз нс)х) шмыг рази ров.,11,с ц .1,(ьтццктцр(1, 1 ни6,(д.т и с ну жшй стцрцць( двумя цардл,.ьцыми рдзрсс 1(1 и, с хцля н(и и и.51 ц 06,1 си 1,1.и(.вцгц лсгН(1, рцизводят выкраивдци кожно-жи РЦ-фСЦИД.1 ЬЦОП) ЛОСКУТЗ НД МЛИЛЬНО НИ- г,юцц и ножке, вклн)цзннцей в сця нсрфцрируннци ветви внутренней грулнци зртрии.111 ирицд .ккута 11, длина 25 см. Основание ,ку гд рдсиолзгзн)т у латерального края (р;лины, где в состав его входят указанные ц(ль( 11 ри отслаивании и цолнятии...
Способ устранения дефектов радужной оболочки при сквозной пересадке роговицы
Номер патента: 1419698
Опубликовано: 30.08.1988
Авторы: Джарулла-Заде, Каспаров
МПК: A61F 9/007
Метки: дефектов, оболочки, пересадке, радужной, роговицы, сквозной, устранения
...зрения и внутриглазное давление в пределах нормы. При планировании оперативного вмешательства предполагали наличие обширного дефекта радужной оболочки.На правом глазу произведена операция -экстракция полурассосавшейся травматической катаракты с замещением дефекта радужной оболочки (замещена верхняя часть от 3 З 0до 8 з), сквозная кератопластика. Операцияпротекала без осложнений. На прикорневуюзону трансплантата радужки было наложенотри П-образных шва и зафиксировано в зоне угла передней камеры. В послеоперационном периоде получал противовоспалительное, 35десенсибилизирующее и стероидное лечение.При выписке из стационара через 3,5 неделиправый глаз спокоен, роговичный трансплантат прозрачен, от 3 до 8 зп трансплантат радужной оболочки,...
Система для автоматической регистрации дефектов
Номер патента: 1420521
Опубликовано: 30.08.1988
Авторы: Савенко, Самчинский, Смук
МПК: G01N 29/04
Метки: автоматической, дефектов, регистрации
...с второго выхода синхронизатора 1 поступают также через элемент И 13 на вход прямого счета счетчика 7 продольной координаты, на выходе которого формируется координата продольного перемещения сканирующего устройства, которая может иметь максимальное значение Ф. Как только количество перемещений вдоль зоны, контроля достигнет числа Л, сканирующее устройство перемещается на расстояние ЛУ=Впоперек зоны контроля, Одновремен 15 2025 30 35 40 45 50 55 но с этим срабатывает дешифратор 8 и на его выходе появляется сигнал 1, который изменяет содержимое счетчика 11 поперечной координаты и триггера 12. На инверсном выходе последнего устанавливается сигнал 1, который разрешает прохождение импульсов с второго выхода синхронизатора 1 через элемент...
Акустико-эмиссионный способ неразрушающего контроля дефектов сварных швов
Номер патента: 1427289
Опубликовано: 30.09.1988
Авторы: Блехер, Жиденко, Меркулова, Пономаренко, Третьяков
МПК: G01N 29/04
Метки: акустико-эмиссионный, дефектов, неразрушающего, сварных, швов
...эмиссии (АЭ) регистрируют в заданном узкополосном частотном диапазоне, обеспечивающем максимум амплитуд сигналов.На чертеже представлена схема реализации акустико-эмиссионного способа неразрушающего контроля дефектов сварных швов.Зонаконтроля на сварном шве 2 представляет собой прямоугольник со сторонами 2 п и Ь. Преобразователи 3 - 6 АЭ расположены на диагоналях зоныконтроля и сгасчцсны но продолжению диагоналей на рассто нгс а. Преобразователи 3 - 6 АЭ являюгся приемниками направленного действия, при этом основной лепесток 7 диаграммы направленности накрывает зонуконтроля.Акустико-эмиссионный способ неразрушаюн 1 его контроля дефектов сварных швов осуществляется следующим образом.11 а листовом материале со стороны, свободной от...
Способ лечения дефектов нижней челюсти
Номер патента: 1428357
Опубликовано: 07.10.1988
Авторы: Безруков, Никитушкин, Сысолятин
МПК: A61B 17/00, A61C 7/00
Метки: дефектов, лечения, нижней, челюсти
...повреждений и некоторых врожденных заболеваний челюстно-лицевой области.Цель изобретения - предупреждение рассасывания трансплантата и восстановление жевательной мышцы,Способ осуществляют следующим образом.Под общим обезболиванием больному производят устранение дефекта правой ветви нижней челюсти аутотрансплантатом из ребра, хрящевой конец которого вводят в сформированную суставную впадину, а костнь 1 й помещают в накладку на освеженную наружную поверхность челюсти и фиксируют проволочным швом. Жевательную мышцу фс 1 рмируют из грудино-ключично-сосцевидной мышцы. Проксимальный конец мышцы кортикальной костной пластинкой подшивают к нижнему краю и внутренней поверхности скуловой кости и дугу, дистальный с наружной поверхностью в...
Устройство для контроля дефектов поверхности цилиндрических изделий
Номер патента: 1430751
Опубликовано: 15.10.1988
Автор: Борзых
МПК: G01B 21/30
Метки: дефектов, поверхности, цилиндрических
...идет сверху вниз) диск 8с прорезями, связанный с приводомнращения изделия 3, оптро нан пара 9,Формирователь 1 импульсон, вход которого подклкче к оптронной паре 9,я выход к так".авм Входам регистровсдвига, блок , ан;иза, все входыкоторого, кроме сдиого, подключеныко всем, кроме - о, .=(к+)2, выходам последних разрядов регистров 7сдвига, инверто 1 2, вход которогоподключен к выхцу посседнего разряца,". - :о регистр с,;ви а, а выход к бло -ку анализа.Устрсйст о рабстает следующимобразом,Привод врщас"т контролируемоеиздс:пие 3 вохру оси. Изце:ие 3освещается широким коллимированнымпучком света т .светителяпрошедыим через свето,.еитессьный элементПоверхность эе;ин 3 роецируетс.я объективам 4 на с:инейку аотопримни;он 5. Н них попадает свет,...
Способ исправления дефектов древесной плиты
Номер патента: 1433399
Опубликовано: 23.10.1988
Автор: Есонори
МПК: B27D 1/00
Метки: дефектов, древесной, исправления, плиты
...Конвейер 1 подает древесную плиту 2 к опорному 3 и нажимному 4 роликам, последние запрессовывают вставку 6 в зону дефекта 5.Запрессовывание вставки 6 в зонудефекта можно производить с помощью опорной 11 и нажимной 12 плит,После запрессовки на лицевую плоскость вставки 6 воздействуют эластичным 8 или шлифовальным 10 элементом, и цикл исправления дефектов повторяют,Формула изобретения1. Способ исправления дефектов древесной плиты, включающий укладку древесной плиты с дефектным участком и подготовку твердого материала для вставки, при этом отношение толщины вставки к толщине древесной плиты 1,0 - 1,7, наложение твердого материала для вставки на место дефекта древесной плиты, сжатие материала для вставки и древесной плиты, формирование...
Устройство для контроля дефектов поверхностей трения подшипников скольжения
Номер патента: 1434308
Опубликовано: 30.10.1988
Авторы: Бансявичюс, Лазаравичюс, Рагульскис, Чуприн
МПК: G01M 13/04
Метки: дефектов, поверхностей, подшипников, скольжения, трения
...30 35 40 45 50 55 подается на регистрирующую аппаратуру 13. Зарегистрированный сигнал позволяет производить общую оценку состояния поверхностей трения подшипников скольжения.Для локализации дефектов поверхностей трения по параметру подшипника скольжения включают второй генератор 11, который через фазовращающее устройство 10 сигнала подает низкочастотный сигнал (2060 кГц) на четыре секционные электрода 6, расположенные по окружности на пьезокерамической втулке 3, внутри которой размещен тонкостенный нкладьпп 4 подшипника.Фазовращающее .устройство 10 низкочастотного сигнала подает сигнал на секционные электроды 5 со смещением фаз Т/2 друг относительно друга, вследствие чего противоположные друг другу секционные электроды под действием...