Патенты с меткой «дефектов»
Способ обнаружения дефектов на поверхности детали
Номер патента: 1474459
Опубликовано: 23.04.1989
Авторы: Горяев, Данилов, Кириллов, Мостовой, Федоров
МПК: G01B 11/30
Метки: детали, дефектов, обнаружения, поверхности
...позволяет различать трещины длиной 0,2-0,3 мм, не требует предварительной градуировки или точного поддержания заданного расстояния междуторцами световодов и контролируемойповерхностью, а также не требуетприменения экспертных оценок для различения усталостных трещин от другихдефектов. 2 ил. устройство 6 отображения ронно-лучевой трубке выход ала фотоприемника 5 с соот ей разверткой сигнала по в Способ обнаружения дефекповерхности детали осуществляют следующим образом. Подвижную головку 1 подносят к контролируемому участку поверхности детали 7 на расстояние, необходимое для получения на экране электроннолучевой трубки устройства б отображения устойчиво воспроизводимого изображения сигнала с фотоприемника 5. К детали 7 прикладывают...
Способ обнаружения дефектов в доменосодержащих эпитаксиальных пленках
Номер патента: 1474737
Опубликовано: 23.04.1989
МПК: G11C 11/14
Метки: дефектов, доменосодержащих, обнаружения, пленках, эпитаксиальных
...Раушская наб., д, 4/5 эоизводственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,11 тушки. Об этом можно судить по появлению в пленке системы радиально сходящихся к центру катушки полосовыкдоменов (при отсутствии других полейсмещения). Доменную структуру можнонаблюдать в поляризационный микроскоп, освещая пленку поляризованнымсветом. При подаче на эпитаксиальнуюпленку однородного постоянного полясмещения, направленного встречно вертикальной составляющей импульсного,неоднородного магнитного поля, вокруг дефекта образуется изолированный кольцевой домен, появляющийся вместе раздела двух систем доменов(радиально сходящейся полосовой ирадиально расходящейся из дефекта в.пленке гребешковой) в результате коллапса обеих доменных...
Устройство для контроля дефектов плоских поверхностей
Номер патента: 1476358
Опубликовано: 30.04.1989
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектов, плоских, поверхностей
...фотоэлектрической информации (не показан). Устройство размейено в контролируемой детали 11.Устройство работает следующим образом.Луч от источника 1 излучения расширяется коллиматором 2, фокусируется в полосу цилиндрической линзой 3, формируется цилиндрической линзой 4 в световое пятно прямоугольного сечения, которое направляется и фокусируется по периметру контролируемого прямоугольного отверстия детали 11 с помощью четырехгранной пирамиды 5, причем каждая боковая поверхность пира 1 оступаюшее по световодам 8 световое излучение преобразуется в фототок приемниками 10 излучения и обрабатывается в бло ке обработки информации. 45 50 55 10 15 20 25 30 35 40 миды 5 отражает на соответствующую грань контролируемого отверстия излучение...
Способ выявления дефектов на движущейся поверхности
Номер патента: 1476359
Опубликовано: 30.04.1989
Авторы: Барский, Валин, Малыгин, Потапов
МПК: G01N 21/89
Метки: выявления, движущейся, дефектов, поверхности
...следующ Контролируемая поверхность сканируется оптическим лучом в направлении, перпендикулярном направлению движения поверхности, формируется видеосигнал, пропорциональный интенсивности отраженного луча, каждый период строчной развертки делится на заданное количество интервалов, для каждого интервала определяется среднее значение видеосигнала и дефект выповышение надежности выявления дефектов на поверхности с изменяющимися оптическими свойствами. Для этого в способе, включающем сканирование контролируемой поверхности оптическим лучом, формирование видеосигналов, пропорционального интенсивности отраженного луча, деление каждого периода строчной развертки на заданное количество интервалов, усреднение видеосигнала в пределах каждого...
Способ контроля дефектов обработки поверхности образца
Номер патента: 1481592
Опубликовано: 23.05.1989
МПК: G01B 11/30
Метки: дефектов, образца, поверхности
...счетчиков 28 и 29, начинается угловое сканирование образца относительно нормали к поверхности и введение в память ЭВМ 17 результатов счета 1. ,числа импульсов во всех каналах измерения. После поворота на заданный угол гониометром 31 выдаются сигналы, поступающие на электропривод,30 и ЭВМ 17, производится отключение электропривода 30 и выдается команда начала измерений, поступающая на электропривод 19 и электронные счетчики 28 и 29. По окончании М-го цикла измерений из ЭВМ 17. на электро- приводы 30 и 19 подается, команда остановки, производится математическая обработка полученных данных, результаты которой выводятся на,цисплей 32 или цифропечатающее устройство 33.Способ может быть реализован на базе серийно выпускаемого...
Устройство для обнаружения дефектов в обмотках якорей коллекторных электрических машин
Номер патента: 1483405
Опубликовано: 30.05.1989
Автор: Савинков
МПК: G01R 31/06
Метки: дефектов, коллекторных, машин, обмотках, обнаружения, электрических, якорей
...этом втулка-шестерня 26 входит в зацепление с зубчатым колесом 25, а подвижное зубчатое колесо редуктора 62 вводят в зацепление с втулкой-шестерней 65,Переключатель 51 устанавливают в положение Испытание. Кнопкой 60 включают привод 10, перемещая каретку 7 с датчиком 42 к коллектору испытуемого якоря 3. Кнопкой 61 останавливают датчик 42 над обмоткой вблизи петушков.Кнопкой 66 на опоре 1 отключают тормоз 64 держателя 47, устанавливают высоковольтный электрод 48 на коллекторную пластину на одной линии с датчиком 42 и опускают кнопку 66. Включают испытательную аппаратуру (не показана) и подают импульсное испьтательное напряжение на коллектор,Кнопкой 54 включают пускатель 31 электропривода 2.Испытуемый якорь 3 начинает вращаться. При этом...
Устройство для отметки дефектов на поверхности изделия при акустическом импедансном контроле с помощью искателя
Номер патента: 1490634
Опубликовано: 30.06.1989
Авторы: Азаров, Катуркин, Сафрончик
МПК: G01N 29/04
Метки: акустическом, дефектов, изделия, импедансном, искателя, контроле, отметки, поверхности, помощью
...генератор 2 импульсов, возникает импульсный электрический разряд, что приводит к разбрасыванию порошка из зоны разряда между электродами 1 и 7. Ширину линии записи можно регулировать изменением амплитуды импульсного напряжения. Качество регистрации улучшаетсяза счет прохождения разряда междудвумя электродами, а не между электродом и контролируемой поверхностью,благодаря чему не остается следовна контролируемой поверхности. Электроды 1 и 7 с помощью регуляторов10 положения и пружин 9 могут уста 1 О навливаться относительно друг другаи относительно изделия 11 на расстоянии, обеспечивающем устойчивую электрическую дугу. Это позволяет производить отметку дефектов на изделиях, поверхность которых не является...
Способ восстановления дефектов зубных рядов
Номер патента: 1491503
Опубликовано: 07.07.1989
Авторы: Неспрядько, Седаков, Ходорович
МПК: A61C 13/30
Метки: восстановления, дефектов, зубных, рядов
...5 мм Следующим ио размеру костным пробойником диаметром 2 мм расЯО 14915(54) СПОСОБ ВОССТАНОВЛЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ЗУБНЫХ РЯДОВ(57) Изобретение относится к медицинской технике и может быть использовано в ортопедической и хирургической стоматологии. Целью изобретения является сокращение послеоперационных осложнений и сокращение сроков реабилитации. Способ восстановления дефектов зубных рядов заключается во введении имплантьта в лунку костной ткани, при этом лунку формируют путем внедрения в кость штифта с одновременным уплотнением ее стенок 3 ил. ширяют стенки кана,ча за счет уилогнения губчатого вещества кости. В созданный канал вводят расширяющий штифт 1, по форме напоминающий конус длиной 15 - 20 мм, диаметром 2,2 - 3 мм и заклинивают...
Устройство компенсации сигнала дефектов киноленты
Номер патента: 1494247
Опубликовано: 15.07.1989
МПК: H04N 3/36
Метки: дефектов, киноленты, компенсации, сигнала
...которого через запоминающий блок 25 длительности областей, а также сое соединен с пятым входом формирова- диненные последовательно блок 334 теля 17 порогов. ключей, блок 35 интеграторов, блокДля формирования и распределения 36 буферной памяти и блок 37 делесинхроимпульсов и команд управления ния. Вход блока 34 ключеи является устройство компенсации сигнала дефек- Зп входом блока интеграторов областей тов киноленты содержат также формиро- кадра, выход блока 37 деления явля- ватель 18 импульсов синхронизации и ется выходом блока интеграторов оболок 19 управления. ластей кадра. Выход формирователя 32Анализатор 7 видеосигнала (фиг. 2) импульсов горизонтальной длительно- "одержит последовательно соединенные сти областей соединен с...
Способ обнаружения дефектов поверхности
Номер патента: 1495693
Опубликовано: 23.07.1989
Авторы: Бабин, Клусов, Лущенко, Сорокин
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектов, обнаружения, поверхности
...мгновенные 30значения амплитуд переменных составляющих электрических сигналов на выходах усилителей, определяемые рельеФом контролируемой поверхности, равны между собой. Быравтенные сигналы 15суммируют в сумматоре 7. При отсутствии дефектов переменные составляющие электрических сигналов на выходах усилителей 5 и 6 находятся впротивофазе, так как их фазы определяются соответственно зеркальным идиффузным характером отражения светаи после сложения взаимно компенсируВ случае наличия дефекта, появляющегося как нарушение поверхности контролируемой детали (царапины, трещины, сколы, выбоины), импульсы электрических сигналов определяемые де фектами этого типа на вь.ходах усилителей 5 и 6 противофазны и при сложении также взаимно компенсируются,...
Способ электронного моделирования дефектов
Номер патента: 1499220
Опубликовано: 07.08.1989
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, моделирования, электронного
...МОДЕДЕФЕКТОВСпособ электронного мод Изобретение относизвуковой контрольно втехнике и может бытьпри калибровке ультрарольно-измерительнойтакже при проведенииских работ в областибенностей регистрациисигналов от различныхЦелью изобретенияшение точности моделитов. нальная схема ус щего способ элек вания дефектов.Устройство со образец 1, после ненные образцовы 2, блок 3 управл вой регистрации, прямого преобраз лительный блок 6 обратного преобр цифроаналоговый разователь 14 поверяемого 13 устанавливается на стан- образец 1. Принятый образцо бразователем 2 ультразвукоал через блок 3 управления по в блок 4 цифровой регистрапреобразуется в цифровую в блоке 5 определяется его1499220 Применение способа позволитучесть индивидуальные...
Способ контроля технологических дефектов в листовых светопроводящих армированных пластиках
Номер патента: 1500922
Опубликовано: 15.08.1989
Авторы: Марчюленис, Перевозчиков, Суткус, Шленский
МПК: G01N 21/88
Метки: армированных, дефектов, листовых, пластиках, светопроводящих, технологических
...а из зависимости= Г(п) определяют число циклов нагружения п", соответствующее началу линейной стадии (фиг.З),Измерение светопропускания образцов в исходном состоянии и в процессе нагружения проводят с помощью однолучевого двухканального фото- метра (фиг.4) . Устройство содержит блок 1 осветителя, обеспечивающий получение стабильного излучения в видимой области спектра; переднюю 2 и заднюю 3 секции оптического коммутатора для переключения светового потока на разные каналы с исследуемым 4 или эталонным 5 образцами; оптический приемник 6 и регистрирующий прибор 7Устройство работает следующим образом.Световой поток от осветителя через секцию 2 подводится через гибкие световоды к нагружаемому или эталонному (свободному от всяких...
Способ лечения сквозных дефектов лица
Номер патента: 1503757
Опубликовано: 30.08.1989
Автор: Замятин
МПК: A61B 17/00, A61B 17/322
Метки: дефектов, лечения, лица, сквозных
...цо(. В Р Г):3 с)3 Д К с) Н Ч И В Д С( Я, Н С.10 К 0;53 Ло )Е Р К- не(0 и нижнео кр;св Гцскугд нд ,5 1 см, а в сторону нитаюнси ножки нд глубине, равной ширинс лефекгд слизитой. Тдкил образоч, меж.у глуооки,и тком аноневрозз и нн) т ( ннс й нс)нсн(стьк) .06)го орк)шкд здгылсчно-. бион мыццы образуется ползионенроический карман, соотве ствукини размерам лсфектз слизис 1 ои. Трансплантат )вод) в образованный карма .обнос) Госкч Гд зн итс:3 идльноЙ ОВрхности(,исо 6 .сченпутем пластики сОГ.саОЩИ. тщения врс че 3честве трацсцлдный трансилднтнлтренне) днисживдют в (олац(ного лоскутд, ксквозцой лефскт с .306 р (т си с 00ИЧ(.0 , ЛИРЛ РИс, И,Я 01503757 цровсления оиср;нии 00 Кж( Рсин е р.х щ и т ь к о,+,О,+р жкс и (л дст и ку с кги осу...
Способ формирования лоскута для пластики дефектов покровных тканей в области коленного сустава
Номер патента: 1503761
Опубликовано: 30.08.1989
Авторы: Вихриев, Кичемасов, Кочиш, Шалаев, Юсупов
МПК: A61B 17/322, A61B 17/56
Метки: дефектов, коленного, лоскута, области, пластики, покровных, сустава, тканей, формирования
...1;г рин , 101 ц (.1 Д Г . Р с), 1 113 01 0 Н Д, 1 М 1 Н(., 1 и с 3кси цдхцлят нгдюии,цскуткуды ветви 11 нрц 6 ОЛаюней И И ВНЦ. Дс)гьЕ РДССЕКЗЮт Нд, Ла 1-,ИОИ Ч(жчь 3 исНО 1 НЕРГОРЦЛКОй ШИРО- кун ф;кцин 6,рз и нристуцают к мцбн,и ;ни яку.исто( ножки лоскута. Евыл- ,яюг нд 4 5 см Вглу 6 ь зтцй иррцлки чжлу лдтердльной пиркой и,вуглавцй мцццами 6 елра. 11 ри зтцл мышечные ВтВи 1 нрцболдю 11 й артерии и вены церевязцднп или кагу,ирунп и ирскзнт. 1 Осле Вьлль ния нитдк)иих с(кулов,Оскутд нд нобхличцч нрцтяжснии ирцизн,ят гц ц- , Иие 03 ,ьу 60 кц 1 фдсиии Облдсги сдали Гп , дтердл ыцй чжчцшчнцй нрецрцдки 6 Л.51 1 си и ч дю жгу 1, ризв 0,1 я 3 тн 1 д. т 11331 И Г 101 с. И ЧО+Лс 3 Н) ГСЯ и сь.КВс 1 1 НОС ГИ КрОВОС 3 с 1 ОЖи 351 Вц;.ГННОГО,10 ну...
Оптико-электронное устройство для контроля дефектов на наружных поверхностях деталей
Номер патента: 1504504
Опубликовано: 30.08.1989
Авторы: Андрианов, Захаров, Серых, Скачков
МПК: G01B 11/30
Метки: дефектов, наружных, оптико-электронное, поверхностях
...самым световую полоску, котораядеформируется в,месте проекции в50соответствии с характером геометрииконтролируемой поверхности детали 8.ИнФормация о глубине и ширине дефекта поверхности содержится в геометрических параметрах соотнетственцо Ь ц я деформации световой полоски (см. Фиг2).Анаморфотцый объектив 3 строитв плоскости изображений, где устанавлинается двумерный фотоприемцик 4, изображение освещенного светоной полоской участка контролируемой поверхности детали 8 с заданными линейными увеличениями иВо время действия импульса излучения длительностью С Фотоприемникпреобразует оптическую информацию в электрический сигнал и запоминает его на время выборки. Поскольку 1 не превышает 100 нс, то контролируемая деталь 8 в процессе...
Способ пластики дефектов костей черепа и устройство для его осуществления
Номер патента: 1507357
Опубликовано: 15.09.1989
Авторы: Елянюшкин, Килькинов, Мрасов, Нигматуллин, Никошин
МПК: A61B 17/56
Метки: дефектов, костей, пластики, черепа
...первичным натяжением, Выписан иэ стационара в удовлетворительном состоянии,Контрольный осмотр через полгода. Состояние больного удовлетворительное, Область дефекта заполнена тканью пальпаторно по плотности напоминающую кость, безболезненна, Рентгенологически - дефект заполнен коцгруентной костной пластинкой, соответствующей Форме и размерам дефекта. Через 5 мес больной переведен с 2-й на 3-ю группу инвалидности. В момент осмотра работает плотником.Повторный осмотр через 1 год. Состояние больцога вполне удовлетворительное. Жалоб це предъявляет, Работает плотником. Пальпаторно область трансплантации плотная,безболезненная. Рецтгенологически - дефект заполнен конгруентной костной пластинкой, соответствующей Форме и размерам...
Устройство для имитации магнитных потоков рассеяния дефектов
Номер патента: 1508137
Опубликовано: 15.09.1989
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектов, имитации, магнитных, потоков, рассеяния
...с я тем, что стенкиканалов выполнены с реэьбовой нарезкой, пары токовводов выполнены в виде коаксиальных цилиндров, а концытоковводов для взаимодействия состенками имеют Фланцы с нарезкой набоковой поверхности, ответной нарезке стенок,нова Корректор М.Шароши Заказ 5535/47 Тираж 789 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 3 1508137Изобретение отпосится к контроль, но-измерительной технике и может бытьиспользовано при проектировании инастройке средств электромагнитнойдефектоскопии в качестве имитаторадефектов в ферромагнитных средах,Цель изобретения - расширение ди,апазона...
Устройство для селекции дефектов изображений объектов
Номер патента: 1508250
Опубликовано: 15.09.1989
Авторы: Ольшанников, Остапчук, Шинкарчук
МПК: G06K 9/46
Метки: дефектов, изображений, объектов, селекции
...Х 1 и У. или Х и Х 1 З ит. д, ) будет принадлежать объекту,то на выходе элемента ИЛИ 6 появится "1". Если же окажется, что хотябы одна пара противоположно расположенных анализируемых элементов изображения будет принадлежать Фону, тона выходе элементов И-НЕ 8 появитсясигнал "1". Если среди анализируемыхэлементов одновременно будут присутствовать две пары противоположно рас-.положенных элементов, у одной из которых будут только элементы изображения объекта, а у другой - Фона, тоэто приведет к обнаружению устройством дефекта типа "сужение металлизации или "сужение изоляции". При наличии в центральном элементе Х о "1"(см.фиг.З) элемент И 10 откроется ина выходе 12 устройства появится сигнал "1",что означает обнаружение дефекта типа...
Устройство для регистрации дефектов на поверхности объектов круглой формы
Номер патента: 1509694
Опубликовано: 23.09.1989
Авторы: Стерлигов, Суббота, Ширшов
МПК: G01N 21/95
Метки: дефектов, круглой, объектов, поверхности, регистрации, формы
...на фазовращатель 8 и блок 9 выделения абсолютной величчны сигнала после чего преобразует,ся в П, Для положительных значений 11: Ю А созиУказанный сигнал поступает на первый вход компаратора,. 11С выхода строчной развертки сигнал П поступает на блох 1 О вьще. - ления абсолютной величины сигнала ипреобразуется в 0 . Для положительных значений П :11АЕ(й)Указанный сигнал поступает на второй вход компаратора 11Поскольку в момент времени Й рсигналы П(с в) 11 к Асоз" сроние луча на объекте в этот момент времени обусловлено соответствующимисигналами 11 и Бс и определяется ототклонением луча от середины растра:а в направлении кадра х = -2 в 1 пякСС ь 1а в направлении строки у= 2 созькс ь35где А - амплитуда сигнала;Я- частота кадрового...
Способ лечения дефектов альвеолярного отростка верхней челюсти
Номер патента: 1516094
Опубликовано: 23.10.1989
Авторы: Брусова, Карапетьян
МПК: A61B 17/24
Метки: альвеолярного, верхней, дефектов, лечения, отростка, челюсти
...перегород. ки носа укорочена, утолщена, смегцена влево, от основания левого носового хода тянется грубый рубец в вертикальном направлении, деформируя кожную часть верхней губы и красную кайму, а также слизистую оболочку преддверия полости рта, линия дуги Купидона на красной кайме отсутствует. В области 23 3 зубов имеется деформация альвеолярного отростка верхней челюсти, а также ротоносовое соустье с входным отверстием размером О,ЗХ 0,4 х,0,3 см. Прикус прогенический. На основании клинических, рентгенологических и функциональных методов обследования был поставлен диагноз: сквозной дефект альвеолярного отростка верхней челюсти в области 123, ротоносовое соустье, деформация концевого отдела носа и верхней губы после хейлоуранопластики и...
Способ измерения размеров дефектов на поверхности резиновых мячей и устройство для его осуществления
Номер патента: 1516732
Опубликовано: 23.10.1989
Авторы: Глухоньков, Зубкова
МПК: G01B 5/02
Метки: дефектов, мячей, поверхности, размеров, резиновых
...мяча 6, Ввинчивают в торцы стоек 2 винты 5 и производят обжатие мяча 6 понаружной поверхности с заданным усилием (с учетом веса траверсы), приэтом дефект на поверхности (объекта)мяча 6 расположится в центре окна 12,выполненного на траверсе 3. Перемещают с помощью микрометрической голов ки 9 подпружиненный пружиной 8 полэун 7 с индикатором 11, измерительный наконечник 13 которого будет взаимодействовать с поверхностью дефекта. По показаниям индикатора 11 определяют высоту выступа или глубину впадины на поверхности мяча.Регистрируя ряд показаний индикатора 11 и соответственно перемещения иикрометрической головки 9, строят профилограмму дефекта.Обжатие измеряемого резинового мяча перед измерением между основанием и траверсой уменьшает...
Ультразвуковой способ определения параметров плоскостных дефектов изделий
Номер патента: 1516965
Опубликовано: 23.10.1989
Авторы: Белый, Воронков, Ермолов, Наумов, Рахманов, Щербинский
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, параметров, плоскостных, ультразвуковой
...вновь измеряют расстояниемежду точками с максимальной амплитудой принятого сигнала и по двум измеренным расстояниям по предложеннымформулам определяют угол наклона иразмер плоскостного дефекта. 1 илбания, принимают ненаправленным приемным преобразователем 5 зеркально- отраженный сигнал от плоскостного делфекта 2, сканируют преобразователи 3 и 5 один относительно другого, добиваясь регистрации максимальной амплитуды зеркально-отраженного сигнала, измеряют расстояние Ь между точками ввода ультразвука преобразователей 3 и 5. Размещают излучающий 4 и приемный 6 преобразователи по другую сторону от дефекта 2 так, чтобы их точки ввода ультразвуковых колебаний лежали на одной, прямой с точками вво да ультразвуковых келебаний излучающего 3...
Способ обнаружения сквозных дефектов в изделии
Номер патента: 1518688
Опубликовано: 30.10.1989
Авторы: Зябрев, Мартьянов, Светличный, Финогенов
МПК: G01M 3/06
Метки: дефектов, изделии, обнаружения, сквозных
...ггузырьков в волокнах,1. фпг. изображена схема устройств дпя реапизацги способа; на фиг,2узел Т ца фиг. 1, в увепичешгом масштабе,устройство содержит насадку 1, установпс иную ца испытываемом П 1 Б 2,1:млзсть 3 с жидкостью соединена послесоватпьно с насосом 4, вентилем 5р,.схоцомпро "л 6 и ТР 1 Б 2, Источник избыто гцого давпеция последовательносоедице с вентилем 7, П 1 Б 2, вентилем 8 и ; пгосгью 3 с жидкостью,бнаружения сквозных дефеки реализуется следующим1518688 ком жидкости и выделяются с торцовыхконцов полых волокон в слой жидкости.Дпя выявления поврежденного пологоволокна на противоположном торце ПМБ2 переворачивают на 180 и проводятконтроль в укаэанной последовательности. Создание протока жидкости внутриполых волокон...
Многоканальное устройство для определения зон расположения и координат дефектов
Номер патента: 1518780
Опубликовано: 30.10.1989
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, зон, координат, многоканальное, расположения
...прихода сигналов, вычислительныйблок 27 и блок 28 регистрации, трикоммутатора 29-31, выходы которых соединены с соответствующими входамиблока 26 определения разности времени прихода сигналов, а соответствующие входы с выходами первых блоков16-20 совпадения, блок 32 управления,соответствующие выходы которого соединены с вторыми входами первых блоков 16-20 совпадения, управляющимивходами счетчиков 21-24 и вычислительного блока 27. Устройство снабженотакже дополнительными блоками 33-36 20совпадения по числу контролируемыхэон, входы каждой из которых подключены к счетчикам 21-25 каналов,преобразователи 1-5 которых предназначены для образования соответствующих смежных групп, контролирующихзоны программируемым запоминакзцимблоком 37,...
Способ пластики дефектов кожи лобной области
Номер патента: 1519663
Опубликовано: 07.11.1989
Автор: Волков
МПК: A61B 17/00, A61B 17/322
Метки: дефектов, кожи, лобной, области, пластики
...тем, что, с целью сокращения сроков лечения ц предупреждения некротическцх осложнений со стороны лоскута, последний выкраивают с основанием у надбровной дуги, далее формируют подкожный канал к дефекту, декутируют среднюю часть лоскута по длине подкожного канала, проводят лоскут через канал, а дистальный отдел лоскута выводят наружу. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯПРИ ГКНТ СССР(56) Рауэр А. Э., ческие операции н Способ выполняют следующим образом.Выкраивают кожный лоскут в стороне от дефекта с основанием к надбровной дуге, формируют подкожный канал между наружным краем дефекта и внутренним краем лоскута, декутируют его центральный участок, вводят лоскут в подкожный канал, дистальный конец лоскута выводят наружу и...
Способ изготовления пластинки для лечения дефектов при несращении неба
Номер патента: 1519683
Опубликовано: 07.11.1989
МПК: A61C 7/00
Метки: дефектов, лечения, неба, несращении, пластинки
...размеров дефекта, перемещения малого фрагмента и роста верхней челюсти заменяют пластинку первый раз примерно через месяц, а затем через 2 мес. Продолжительность лечения 3 - 6 мес. Количество изготовляемых за это время пластинок не превышает трех.фар.чцла изобретения Способ изготовления пластинки для леения дефектов при несращении неба путем(71) Кубанский государствский институт им. Красной(56) Авторское свилетельств1268160, кл. А 61 В 17/О Изобретение относится к области медицины, а именно к ортодонтии.Цель изобретения - обеспечение прочной фиксации пластинки.Способ осуществляют следующим обра. зом.Эластичной оттискной массой делают слепок верхней челюсти новорожденного в условиях родильного дома с соблюдением всех мер по...
Устройство для контроля дефектов поверхности
Номер патента: 1520354
Опубликовано: 07.11.1989
МПК: G01J 1/44
Метки: дефектов, поверхности
...образом, при вхождении в зону 30 контроля каждой очередной позиции 39 с изделием 29 на выходах блока17 задания временных интервалов формируются последовательно импульсы ТТдлительность которых равнаЙ о 0 орсоответственно реальному времени первого и. второго оборотов контролируемого изделия 29. Эти импульсы и управляют работой всего устройства контроля. В зоне 30 контроля изделие 29освещается световым лучом от осветителя 1 (фиг,1), Отраженный от изделия29 световой поток, модулированныйпрофилем поверхности и изменением егокоэффициента отражения, воспринимается преобразователем 2, С преобразователя 2 электрический сигнал, содержащий полезные сигналы (сигналы от деФектов) и шум, усиливается усилителем 3, преобразуется. в однополярный...
Устройство для поиска дефектов цифровых блоков
Номер патента: 1520519
Опубликовано: 07.11.1989
Авторы: Колпаков, Курылева, Тяжев
МПК: G06F 11/22
Метки: блоков, дефектов, поиска, цифровых
...разрешая индикацию номера класса дефектов, поступающего из счетчика, 15 в блок 5 индикации.После устранения обнаруженного дефекта процесс диагностирования может быть продолжен путем нажатия клавиша "Продолжение" 14. В результате обеспечиваются действия по считыванию очередного тестового набора и устанавливается в ноль триггер 12.Если тест поиска дефектов прошел до конца, т.е, считана метка КТПД, то дешифратором .10 вырабатывается сигнал КТПД, который устанавливает в единицу триггер 11С выхода триггера 11 единичный сигнал ИНД поступает в блок 5 индикации, разрешая индикацию информации об отсутствии дефектов в проверяемом блоке 7 и об окончании,: процесса диагностирования.Блок 1 формирования тестовых воздействий работает следующим...
Способ контроля дефектов деталей
Номер патента: 1522080
Опубликовано: 15.11.1989
Авторы: Волков, Рагульскис
МПК: G01N 19/08
Метки: дефектов
...2, а симметрично относительно оси детали 1 устанавливают возбудитель колебаний, выполненный в виде 1 магнита 3, и измеритель 4 прогиба, в качестве которого может быть использован, например, емкостной преобразователь. Вращают деталь 1 вокруг ее продольной оси, при этом последовательно.нагружают локальные зоны детали путем перемещения магнита 3 От ОднОГО кОвца к другОму магнитным полем постоянной напряженности. Одновременно с магнитом Э перемащают измеритель 4 прогиба, причем прогиб каждой иэ. нагружаемых локальных зон измеряют за один оборот детали 1. В процессе нагружения последней магнитное поде, воздействуя на локальные зоны детали 1, вызывает ее про" гиб, который зависит от изгибной жесткости, и определяется из соот- НОШЕНИЯ При...
Многоканальное устройство для определения зоны расположения и координат дефектов
Номер патента: 1525564
Опубликовано: 30.11.1989
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, зоны, координат, многоканальное, расположения
...сигналы формируются по 55форме и амплитуде для дальнейшей обработки в формирователях 3,1-3,п,для управления которыми с выхода блока 16 формирования уровня дискриминации поступает сигнал, пропорциональный максимальной амплитуде сигналов в каналах устройства. Формирование этого сигнала происходит следующим образом.На входы блока 16 формирования уровня дискриминации поступают сиг налы с выходов усилителей 2.1-2,пкаждого канала, в результате чего один из операционных усилителей 18,1- 18,п, на вход которого поступил сигнал максимальной амплитуды, оказывается охваченным глубокой отрицательной обратной связью. На выходах остальных операционных усилителей устанавливается отрицательное напряжение, и диоды на их выходах остаются закрытыми....