Патенты с меткой «дефектов»
Способ исправления дефектов в паяном соединении соосных трубопроводов
Номер патента: 575193
Опубликовано: 05.10.1977
Авторы: Кудашов, Чекунов, Шамардин
МПК: B23K 31/06
Метки: дефектов, исправления, паяном, соединении, соосных, трубопроводов
...стык трубопровода устанавливали нагреватель НПТ-12575193 Ускорение, м/сек Напряжение, В Частота, Гц 2,0 4 У 1 7,5 5,6 Формула изобретения 35 н 55 ЦНИИПИ Заказ 3962/9 Тираж 1207 ПодписноеФилиал ППЛ "Патент, г, Ужгород, ул. Проектная, 4 установки УПТ, а на трубопроводы -электромеханические вибраторы, состоящие из двух параллельно подключенных электродвигателей типа Д,на валу которых закреплены эксцентрики Двигатель смонтирован на специальном фланце с зажимами для установки и крепления на трубопроводе. Изменяя параметры вибрации, достигают краткого повтооения резочансныхсостояний системы благоцаря которымпроисходит заполнение неплотностейв паяном шве (раковйн, пор).Оптимальный режим при исправлениидефектов на соединениях...
Способ определения внутренних дефектов поликристаллических материалов на основе кубического нитрида бора
Номер патента: 575557
Опубликовано: 05.10.1977
Авторы: Кучеренко, Михайлов, Монахов, Монахова
МПК: G01N 27/02
Метки: бора, внутренних, дефектов, кубического, нитрида, основе, поликристаллических
...контроля,включающий нанесение на поверхность исследуемого материала покрытия, пропускацие электрического тока и измерение электрических характеристик 1 21,1 едостатком способа является необьективцость контроля, та как вце поликристалла имеет олее циз теское сопротивление, чем остаЦелью изобретения является точности контроля,Поставленная пель достигве с поверхности материала предвт, а в качестве и П р и м е р, Были использоваць 1 цилицъ рические заготовки ца основе кубического нитрида бора, Заготовки перед измерением тшательно очишали от графита в концентрированной серной кислоте с добавкой,тЪ бихромата калия, затем в асплаве щелочей Iедкое кали и едкий натр . 11 вдежный электрический контакт к заготовкам обеспечивали нанесецием...
Способ определения дефектов в деталях машин
Номер патента: 576526
Опубликовано: 15.10.1977
Авторы: Басишвили, Красников, Тарасов, Ямщиков
МПК: G01N 3/56
Метки: деталях, дефектов, машин
...значения и, сравнивая этот сдвиг с запомненным ранее значением частоты, судят о дефектах и степени износа деталей машин.На чертеже изображен график зависимости частоты максимального пикового значения вибросигнала (ось ординат) от концентрации металлических включений в смазке деталей и изменения вязкости смазки (ось абсцисс).Способ осуществляют следующим образом, Фиксируют вибрацию в одной из точек ее распространения от исследуемой детали (например на внешней обойме подшипника при контроле деталей редуктора). Определяют максимальное пиковое значение вибросигнала, которое проявляется на частоте собственных колебаний деталей плюс изменения, вносимые внешними воздействиями на вибросигнал, например затуханием окружающей среды. Значение...
Способ раздельной регистрации дефектов шва и тела сварных труб
Номер патента: 578606
Опубликовано: 30.10.1977
МПК: G01N 27/72
Метки: дефектов, раздельной, регистрации, сварных, тела, труб, шва
...исключением им(51) Ч, Кчб 01 Х 2/72//6 01 Х 29/04578606 Формула изобретения С оста вп тел в И. Арда шеваТсхрсд Л. Гладкова Корректоры: Л. Брахнина и О. ТюринаРедактор О. Юркова Заказ 2417/7 Изд,877 Тираж 1109 НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по дедам изобретений и открытий 113035, Москва, Л(-35, Раршская паб., д. 4/5Подписное Типография, пр. Сапунова, 2 Например, за один оборот преобразователя число импульсов г=-2. Тогда Х означает появление первого импульса в первом потоке; Ха - второго импульса в первом потоке; Хз - первого импульса во втором потоке; 5 Х., - второго импульса во втором потоке. Импульсы подсчитываются за один оборот преобразователя вокруг трубы, где Х; - аргументы Булевых функций.Появление в первом...
Автоматический сигнализатор дефектов
Номер патента: 578614
Опубликовано: 30.10.1977
Автор: Юрин
МПК: G01N 29/04
Метки: автоматический, дефектов, сигнализатор
...эхо-импульсы от дефекта. На базу транзистора 2 - 25 синхроимпульсы и импульсы сброса с выходасчетчика. При отсутствии сигналов от дефекта транзистор 2 постоянно открыт, так как на его базу поступают синхроимпульсы. Питание на счетчике отсутствует. При наличии эхо-им- ЗО пульсов от дефекта на коллекторе транзистоусгькгр,Изд. М 848 Тираж 1109 11 одписное Заказ 2403/18 НПО Тппография, пр, Сапунова, 2 3ра 2 формируются импульсы отрицательной полярности. Промежуток между импульсами соответствует интервалу времени между синхроимпульсом и эхо-пмпульсом от дефекта. Этот интервал времени значительно меньше длительности импульсов. С коллектора транзистора 2 импульсы через интегрирующую цепочку ЯС и дифференцирующую цепочку СЛг поступают на...
Устройство для обнаружения дефектов и проведения ремонтных работ оборудования
Номер патента: 579184
Опубликовано: 05.11.1977
Авторы: Андреев, Казаков, Коршиков
МПК: B63C 11/34
Метки: дефектов, обнаружения, оборудования, проведения, работ, ремонтных
...13. В верхней части планшайбы 9 имеются выводы шарнирных манипуляторов 14, проходящих через план- шайбу 9 и заканчивающихся в нижней части головками под ключи управления работой механизма 15. В нижней части планшайбы расположен разъем энергоснабжения 16, В верхней части камеры 1 выполнены смотровые устройства 17, установлены фары-прожекторы 18 и захват-манипулятор 19.Устройство работает следующим образом, Камеру 1, где находится оператор, подают в зону ремонта с закрытой верхнеи крышкой. Ремонтные механизмы расположены в контейнерах камеры 1, Устанавливают и закрывают на площадке 1 планшайбы 9, необходимый для ремонта механизмами, если это необходимо, монтируют на опоре перископ 12. Затем закрывают крышку 3 и включают привод...
Имплантат для замещения дефектов костей
Номер патента: 581936
Опубликовано: 30.11.1977
Авторы: Калнберз, Кнетс, Саулгозис, Янсон
МПК: A61F 1/00
Метки: дефектов, замещения, имплантат, костей
...а именно к травматологии и ортопедии.Известны имплантаты, содержащие элементы из полимерного материала и аморфного связующего, например эпоксидной смолы, 5Однако эти имплантаты не обладают биомеханическими свойствами естественной плоской кости, для замещения которой они предназначены.С целью придания имплантату биомеханиче ских свойств естественной плоской кости его элементы, выполненные из армированного ориентированными под углом металлической и пластмассовой сетками полимерного материала, свернутого в спираль разнонаправлен ной для каждого элемента навивки, расположены в одной плоскости, причем каждый элемент связан с соседними перевивкой, а все вместе залиты пластмассой.На чертеже схематически изобрструктура имплантата для замещения...
Устройство для обнаружения и маркировки дефектов стекла
Номер патента: 582218
Опубликовано: 30.11.1977
Авторы: Беда, Ефремов, Маркелов, Пестов
МПК: G01N 21/89
Метки: дефектов, маркировки, обнаружения, стекла
...головка представляет собой жиклер, управляемый электрическим импульсом, и расположена за фотопреобразователем по ходу движения ленты стекла, Остальные элементы являются стандартными.Данное устройство может контролировать полоску стекла, равную по ширине длине зрачка, Для контроля ленты стекла большей ширины эти устройства набираются в систему с расположением фотодатчиков один к другому по всей ширине стекла, при этом датчик скорости 9 и генератор 6 обслуживают всю систему.Работа устройства происходит следующим образом.Равномерный световой поток 4 от источника 3 проходит через движущееся по конвейеру 1 контролируемое стекло 2, модулируется неоднородностями стекла и попадает на светочувствительную поверхность однострочного...
Устройство для контроля дефектов нитей и проволок
Номер патента: 586315
Опубликовано: 30.12.1977
Авторы: Зыбцев, Каминский, Конев, Яковченко
МПК: G01B 7/04
Метки: дефектов, нитей, проволок
...пропорциональных усредненной и текущей толщине нити, входами подключенными к выходу усилителя, а выходами - к входу схемы сравнения.На чертеже представл па функциональная схема устройства.Устройство содержит первичный измерительный преобразователь 1 толщины нити в электрический сигнал, усилитель 2, блок 3 формирования текущего значения толщины пити, блок 4 формирования усреднснного значения толщины нити, блок 5 сравнения и счет пп 6 дефектов.Устройство работает следуоп;пм образом.11 пть, внесенная в измерительный преобразователь 1, вызывает на его зыходе сигнал переменной амплитуды, пропорциональной толгципс нптп. Переменный сигнал усиливается усилителем 2 п поступает на моды двух5863 М Составитель Н. Мельникова Техред Н, Рыбкина...
Способ имитации дефектов типа расслоений в полимерных покрытиях
Номер патента: 588496
Опубликовано: 15.01.1978
Авторы: Варуха, Генералова, Редько
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, имитации, покрытиях, полимерных, расслоений, типа
...существенно влияет на отработку методики контроля методами проникающих излучений.Для повышения качества имитации дефектов предлагаемым способом пакет изготовляют из легкоплавкого материала и заполняют фенолом в кристаллическом состоянии,Описываемый способ заключается в следующем. В качестве имитатора дефектов используют вещество, входящее одним из компонентов в связующий состав, которым пропитывают ткань перед укладкой в пресс-форму, В процессе укладки в пресс-форму пропитанных 5 заготовок тканей между ними помещают пакеты с нормированным количеством вещества для получения определенной площади расслоения, В процессе полимеризации покрытия, когда основная часть компонентов улетучива ется или отверкдается, а температура достигает...
Способ и установка для обнаружения дефектов поверхности шариков
Номер патента: 590592
Опубликовано: 30.01.1978
Автор: Учаев
МПК: F16C 33/32, G01B 7/12
Метки: дефектов, обнаружения, поверхности, шариков
...в обмотки катушек 2 приводит к возникновению внутри пространства, охваченного магнитным многополюсником 1, вращающегося магнитного поля, аналогично вращающемуся магнитному полю, создаваемому в асинхронных двигателях, При этом частота переменного тока, подаваемого в обмотки на вертикальном магнитопроводе больше, чем частота тока, подаваемого в обмотки горизонтального магнитопровода, Это приводит к тому, что внутри пространства, охваченного многополюсниками, магнитное поле будет вращать шарик 8 одно. временно в двух взаимно-перпендикулярных плоскостях, причем в одной из плоскостей быстрее, чем в другой, что позволяет последовательно во времени контролировать всю поверхность шарика. Свет от источника 9 падает на поверхность шарика 8 и,...
Способ обнаружения поверхностных дефектов металлических изделий
Номер патента: 590649
Опубликовано: 30.01.1978
Автор: Терехов
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектов, металлических, обнаружения, поверхностных
...поверхностных дефектов металлических изделий, заключающийся в то:с, что поверхность изделия осматривают, например, с помощью оптических средств, о тл и ч а ю щ ц й с я тем, что, с целью повышения эффективности обнаружения, поверхность изделия предварительно обрабатывают дуговым разрядом, используя контролируемое изделие в качестве одного из электродов. 20 Изобретение относится к области дефектоскопии и может быть использовано для обнаружения поверхностных дефектов, напримерволосовин, закатов, трещин, на металлических изделиях, например на проволоке, трубах,прутках.Известен метод выявления поверхностныхдефектов на поверхности металлических изделий путем осмотра контролируемой поверхности, например, с помощью оптическихсредств...
Устройство для обнаружения поверхностных дефектов металлизированных оснований резисторов
Номер патента: 590834
Опубликовано: 30.01.1978
Авторы: Склярский, Тесеоглу, Чулок
МПК: H01C 17/00
Метки: дефектов, металлизированных, обнаружения, оснований, поверхностных, резисторов
...лизированного основания 6 резистора. Первый отраженный световой поток 7, пройдя через пластинку 5 и анализатор 8 поляризации, через объектив 9 попадает на фотокатод датчика 10. Второй отраженный световой поток 11, отразившись от поверхности основания 6, через объектив 12 поступает на фотокатод датчика 13, установленного под тем же углом а к оси основания 6, что и датчик 10, Электрические сигналы с датчиков 10 и 13 поступают в блок 14 сравнения, подключенный к исполнительному блоку 15 механизма разбраковки (не показан).В поляризованном свете дефекты металлизпрованного слоя основания 6 будут белыми на черном фоне слоя, вследствие того, что поляризованный свет, отразившись от металлизированного слоя, пройдя через анализатор 8, гасится, а...
Фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов
Номер патента: 593069
Опубликовано: 15.02.1978
Автор: Гребнев
МПК: G01B 11/16
Метки: дефектов, обнаружения, фотоэлектрическое
...электрически связанным с фотоэлектрическим преобразователем.На чертеже изображена схема описываемого устройства.Устройство содержит источник 1 света, призму 2, установленную в потоке света, вращающийся отражатель 3, расположенный в преломленном призмой 2 потоке света и вь- долненный в виде цилиндра, отражающий торец которого расположен под острь 1 м углом относительно другого торца, неподвижный отражатель т, воспринимающий поток света от вращающегося отражателя 3, направляющийего на контролируемый объект 5 и выполненный в виде тороида, внутренняя отражающая поверхность, которого представляет собой поверхность усеченного конуса, призму б, рас. положенную в потоке света, отраженного от контролируемого объекта 5, н фотоэлектрический...
Способ обнаружения дефектов эластичной ленты и устройство для его осуществления
Номер патента: 597917
Опубликовано: 15.03.1978
Авторы: Гельман, Кримгольд, Ольхов, Тимофеев
МПК: G01B 5/06
Метки: дефектов, ленты, обнаружения, эластичной
...родика.На фиг, 1 схематически изображено устройство, на фиг, 2 - разрез по ручью между 15базовым и измерительным роликами.Устройсгво содержит (см, фиг, 1) базовыйролик 1 с неподвижной осью вращения и расположенный против него радиально . подвивный измерительный ролик 2, Измерительный 0родик размещен на измерительном рычаге3, перемещение. которого ограничено регулируемым упором 4, Для обеспечения необходимого измерительного усилия служит пружина 5, Второе плечо измерительного рычага взаимодействует с .преобразователем 6линейных перемещений, Измерительный ролик(см. фиг. 2) снабжен двумя ребордами 7и 8, а базовый - двумя кольцевыми проточ-,ками 9 и 10 расположенными против реборд.йСпособ обнаружения дефектов на эластичной...
Устройство для обнаружения дефектов в кинематических парах машин
Номер патента: 600437
Опубликовано: 30.03.1978
Авторы: Басишвили, Бомштейн, Тарасов, Ямщиков
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, кинематических, машин, обнаружения, парах
...2, широкополосный фильтр 3, усилитель 4, детектор 5, суммирующий анализатор 6, синхронизатор 7 и тахометр 8, объединенные в схеме электромеханического фильтра 9, усилитель 10, пиковый детектор 11, усилитель 12, блок деления 13, полосовой фильтр 14, среднеквадратичный детектор 15, интегратор 16 и блок регистрации 17. Работа устройства осуществляется следующим образом.В спектре электрического сигнала с датчи- ка вибраций 1, прошедшего через предусилитель 2, широкополосный фильтр 3 выделяет полосу частот вибраций машины. Далее, пройдя усилитель 4 и детектор 5 напряжение подается на суммирующий анализатор 6, на другой вход которого подаются тактовые импульсы с синхронизатора 7, управляемого тахометром 8. Тактовый импульсный сигнал...
Способ контроля дефектов фотошаблонов с прямоугольной топологией рисунка
Номер патента: 601562
Опубликовано: 05.04.1978
Авторы: Блинов, Кравцов, Кутявин, Телешов, Шац
МПК: G01B 11/24, G02B 27/46, G03F 1/00 ...
Метки: дефектов, прямоугольной, рисунка, топологией, фотошаблонов
...заключающийся в блокировке про странственных частот, соответствующих. регулярной структуре, голографическим фильтром Я .Однако такой способ имеет невысокую точность контроля, так как иэображение дефектов накладывается на изображение беэдефектвого рисунка фотошаблона в виде светящихся точек и более слабые дефекты могут быть не эамеченщ оператором.Кроме того, способ недостаточно производителен иэ-за сложностей в изготовлении фильтра и юстировки системы при сменефотошаблоиа. Наиболее близким по технической сущности и решаемой задаче к данному изобретению является способ контроля дефекта фотошаб 2лонов с прчмоугольной топологией р заключающийся в том, что освещают шаблон коллнмированным пучком све мируют изображение спектра простра ных...
Способ пластики высоких дефектов межжелудочковой перегородки у детей раннего возраста
Номер патента: 603378
Опубликовано: 25.04.1978
Авторы: Волколаков, Лацис
МПК: A61B 17/00
Метки: возраста, высоких, детей, дефектов, межжелудочковой, перегородки, пластики, раннего
...створок на 1 мм, Соединяя противоположные свободные . края нити между собой, образуют Т-образный полукисетный щов, сближающий створки и предотвращающий образование недостаточности клапана,ов высоких де саки у детей ранй закрытие аефекпри известном е недостаточности ется преаупрежости трехстворч что примыкаюшиеей створок сщипереци поивают бе стороны щва х к фиброэному следующим разом,При плалудочковойсептальной4 до 9 ммтичным щвэтом одно 20 стике высоких дефектов м дки примыкающие края ей створок на алине от эного кольца атравмауют межау собой, при а длине от 2 до 4 мм перегоро и переан от фибро м фиксир Предлагаемый способ являетси обеспечивает предупреждения рдостаточности трехстворчатого к ктивць вития непаца,ременн Известен способ...
Способ выявления поверхностных дефектов
Номер патента: 606126
Опубликовано: 05.05.1978
Авторы: Козырев, Корнев, Максимов, Одинцов
МПК: G01N 27/84
Метки: выявления, дефектов, поверхностных
...подачаинструмента, мм/об. 0,07 фЧисло оборотовизделия, осмин 315Число проходов 1СОЖ Машинное маслоЭ)После выглвживания шероховатость поверхнос 1 и кулачков уменьшается с 7-го до 9-го класса, Затем кулвчковые валы помещают в магнитное поле и наносят нв контролируемые поверхности кулачков ферромагнитный порошок, Микротрещины на контролируемых поверхностях можно обнаружить невооруженным глазом,Своевременное выявление поверхностных30 дефектов на ответственных иэделиях поэволяет значительно повысить надежность исрок службы изделий в целом, Предложенный способ при этом повышает качество контроля изделий и тем самым уменьшает вероятность их поломки в процессе эксплуатации,формула изобретения1, Способ выявления поверхностных дефектов,...
Способ определения диаметра сферических и цилиндрических дефектов
Номер патента: 615410
Опубликовано: 15.07.1978
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, диаметра, сферических, цилиндрических
...и сфер, что о ра- О ничивает его широкое; внедрение впрактику контроля.Цель изобретения - повышение производительности контроля.Для этого предлагаемым способом 5 измеряют интервал времени дФ между,гу(/Фг Ф НИИПИ Заказ 3902/3 ираж 1112 Подписио ампулъаом, отраженным от дефекта, и импульсом, полученным за счет огибаиаа дефекта ультразвуковой волной при ее двухкратной трансформации на поверхности дефекта, и диаметр дефекта определяют по формулеь 1 Ч, +ф2 где 1( в -- отношение скорости рэлеев-.1 ОЧской волньгк скорости сдви-.говой волны;41 - временной интервал.На чертеже представлена схема проведе,ния контроля. Ультразвуковым преобрвзова 1 телем 1 в контролируемую деталь 2 в направлении дефекта 3 посылают импульс сдвиговой ультразвуковой...
Сопло газо-кислородного резака для зачистки поверхностных дефектов
Номер патента: 617659
Опубликовано: 30.07.1978
Автор: Кучукбаев
МПК: F23D 13/34
Метки: газо-кислородного, дефектов, зачистки, поверхностных, резака, сопло
...которых параллельны диаметральным осям канала для режущего кислорода и размещены в плоскости, перпендикулярной к осиканала, при этом пересечение двух из каналов выполнено глухим, а места пересечения остальных каналов заглушены пробками.На фиг. 1 изобракено сопло в поперечном разрезе А - Л на фиг, 2; на фиг. 2 -то же, разрез Б - Б на фиг, 1; на фиг. 3 -вид В на фиг. 2; на фиг. 4 - вид Г нафиг. 2,Сопло выполнено в виде одной детали -корпуса 1 и содеркит центральный сквозной канал 2 для подвода режущего кислорода, канал 3 для подвода горючей смеси, распределительную полость 4, каналы5, предназначенные для отвода горючейсмеси наружу. Корпус 1 может быть изготовлен путем штамповки.Распределительная полость 4 образована прямолинейными,...
Двухкоординатное устройство для отметки дефектов
Номер патента: 619846
Опубликовано: 15.08.1978
Авторы: Бутенко, Малинка, Пачковский
МПК: G01N 27/82
Метки: двухкоординатное, дефектов, отметки
...сканатор, на котором установлен преобразователь, датчик положения преобразователя, формирователь синхроимпульсови соединенные с ним схемы совпаденийи схемы коммутации отметчиков, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью упрощения конструкции, формирователь синхроимпульсов выполнен и.Виде триггерного счетчика, емкостькоторого равна. количеству отметчиков,дешифратора, соединенного с выходомсчетчика, и датчика начала отсчета,соединенного с выходами устанонки нуля счетчика, сканатор выполнен в видеустановленного с возможностью поворота 6 О вокруг своей оси зубчатого диска с количеством зубцов по числу отметчикови закрепленного на диске флажка, преобразователь установлен на диске вблизи одного иэ эубцов, а датчик положе ния...
Способ измерения размеров дефектов
Номер патента: 619850
Опубликовано: 15.08.1978
Авторы: Гребенников, Григорьев, Семерханов
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, размеров
...колебаний в искателе;время, соответствующеепервому максимуму амплнтуды зхо-снгнала приконтроле прямым лучом;время, соответствующеепервому максимуму амплитуды эхо-снгнала понконтроле однажды отраженным лучом;619850 ствующих первым максимумам при контроле прямым и однажды отраженным лучами,а величину дефекта определяют по формуле дв 21 +Т- СОбосс гГ огдео Формула изобретения Т -В сов осИсточники информации, принятые вовнимание при экспертизе: 1, Гурвич А.К, и Ермолов И,Н.фультразвуковой контроль сварных,швовф Техника, с. 286-287, Киев,1972. 2. Авторское свидетельство СССР9 461361, кл,01 й 29/04, 1973. Состав Техред ль Т ГолЧужихк редакторЗаказ 449ЦН хи р Е.ПаппШ ктосноеров С 40ИПИ Г Тираж 1112 арственного комитета по делам....
Способ пластики дефектов твердой мозговой оболочки
Номер патента: 628898
Опубликовано: 25.10.1978
МПК: A61B 17/00, A61M 31/00
Метки: дефектов, мозговой, оболочки, пластики, твердой
...и о. иэт и, с ц ч, В ы к р гпВ а ю т н о ж н и ш. мц участок нужно, вегичицы и формы, на цлодной стороне,а носят цо краям клей МК и вместе с цолиэтцгсцово пленкой переносят на дефект, затем через погцэт;- лецовуо пленку под контролем зреци слегка прижмают рчкой к краям дефект. Ч.роз 2 3 мин наступает полное прцклецва е трансплантата и восстанавливается герметичность субдуральцого пространства. 11 олиэтиленовую пленку снимают и рану закрывают обычным способом.Использование полиэтиленовой пленки очень важно, так как позволяет хорошо р:справить необходимый для пластики лоскут плодной оболочки, спокойно нанести по краям лоскута клей МК - 6, который бьстро приклеивается ко многим тканям и к пальцам хирурга, но не приклеивается к полиэтилену....
Устройство для определения дефектов в изделиях из листовых материалов
Номер патента: 636527
Опубликовано: 05.12.1978
Авторы: Анисимов, Вайнберг, Соседов
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, изделиях, листовых
...чертеже изображена бдок-.схема ДаЦНОГО УСтР(2 й(СтнасМУстройство содержит цеобхощ(мое коЛИЧЕСГВО ЦРЦ 8 МЦЫХ Каис(ЛОВ 1(а(1(Д 1:111 ЦЗкоторых вялю ц(ет последовательно соедццепные э(1 е 1(твоа(устическце преобразова:тели 1 аг, неподвижно расположенные 25на поверхности контролируемого 1(зделия,усцдцтедц 2 аг, формирователи За-Зг,выходы которых подключеши к входам логического блока 4, выходы логическогоблока 4 по(соещ(цены к входам преобра- Мзоввтедей 5 аг "время-амплитуда сэлемента,(ц 12 ам 11 ти, число их соответствует числу црием 1 тых каналов, а выходы через эдем(ц(т;,1 здектрцчесцх схем, (2 брв-.зуюпц(х мост (напримеррезисторы), ЯЯ полк(поле(ы и и и дик втор ъ" 6 м есГ р ас"Вподожеця дефатов 1(рцт(ем логцческццблок 4 и 111...
Коммутатор отметчика дефектов
Номер патента: 638884
Опубликовано: 25.12.1978
Авторы: Болотный, Бутенко, Пачковский
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектов, коммутатор, отметчика
...дефектоскопа Огкючеы,. При ОтсутстВИИ СИГНВЛОВ ДЕФЕКТа ТЯКОЕ ПОттожЕИЕ сохраняется В процессе Всей работь; коммутатора,При наличии дефекта конгролРуеМОГО И ЗДЕЛК Я р Г Н ПРИМЗт р В 3 От 1 Е ПЕРЕД первым секторсм (т.е. перед дат-иком 23 положения датчпка дефектоссота) В момент прохождсния датчика дс (1 ЕКТОСК(Па Над ДЕФЕКТОМ Дсвст ЕК.с ОСт(ОП Вырабатывсет импу 1 ьсн:;Й сиггал р 1;О- то(ый ностуае т ОдгОв реме н но на ле- ВЬЕ ГтОГ 1 ОВрНЬ; Обсэих КСЗРЕтатИХ ТРИТ-" гсРОВ . 9 иО т Они ОГрскгтдывают(; Я . 4 сТЧИК ДЕФЕКТОСКОПар СОВ( РШая Враша". тельное движение, совмещается с дат- ЧИКОМ с.3 ПОЛОЖЕИЯ Тсттт 1 Ксс ДЕФЕКТО- скопа и последттий Вырабатывает импул поступающий на этрзглрзг ь 7 и 8 сопадений и элемент 22 ИЛИ, При этом эле- мент 7...
Способ обнаружения сквозных дефектов
Номер патента: 639628
Опубликовано: 30.12.1978
Авторы: Артемов, Байкова, Лаптев, Макин, Шкарев
МПК: B21C 51/00
Метки: дефектов, обнаружения, сквозных
...сквоз ных дефектов в испытуемой пластине определяют при этом по скорости изменения давления (вакуума) в индикаторной камере.В процессе непрерывного вакуумирования 10 при достаточной производительности вакуум-насоса степень вакуумирования будет непрерывно монтонно возрастать с некоторой скоростью, несмотря на возможное поступление воздуха из атмосферы в вакууми руемую индикаторную камеру. Сохранениехарактера процесса вакуумирования, т. е.сохранение скорости вакуумирования при подаче воздуха в камеру давления покажет отсутствие сквозных дефектов в испытуе мои пластине. Напротив, резкое уменьшение скорости вакуумирования после подачи воздуха в камеру давления будет свидетельствовать о вскрытии в пластине сквозных дефектов,25 Описанный...
Устройство для обнаружения дефектов
Номер патента: 648899
Опубликовано: 25.02.1979
Авторы: Зубов, Кондратько, Курицын, Никотин, Русаков
МПК: G01N 27/86
Метки: дефектов, обнаружения
...путем непрерывного слежения за положением электрода, располагаемого внутри иэделия. Это достигается тем, что устр блоком регистрации сигналов э подключенным к одному из элек костныи преобразователь, электрсостоящий из пучка проводниковнитной насадки 2, располагаетсялируемого изделия, например т1 ,трубы устанавливают испытательнсоединенный с источником 4 наптывающий электрод 5, соединениндикатора 6 и блока 7 регисэлектрода 1,Контур 8 магнитной цепи преэлектромагнит, предназначенныйвнутреннего электрода в определнии относительно электродов 5 и ыи на трубе 9. Устройство работает следующим о К испытательному электролу 3ается испытательное импульсное нап648899 Составитель Н, До Техред М. Келеме Корректор Л. Веселовская гов Реда кто...
Прибор для контроля дефектов плоских изделий
Номер патента: 648907
Опубликовано: 25.02.1979
Авторы: Лавров, Савенкова, Соловьев, Сухарев, Тищенко
МПК: G01N 33/36
Метки: дефектов, плоских, прибор
...(служащие для настройки прибора), подключенные к источнику энергии 5.Обегающее устройство включает электронные ключи 6, распределитель 7 и тактовый генератор 8.Электронные ключи 6 через уси тель 9 связывают высокоомные рез торы 2 с регистратором 10, напри р шлейфовым осциллографом.Прибор содержит также чный электропроводный лист 11 которого соответствует фор лия до его обработки.Прибор работает следующим образом Иэделие после его влажно-тепловой обработки размещается на измерительном столе 1 непосредственно на высок омных резисторах 2, Сверху на изделн помещается эластичный электропроводный лист 11, закорачивая прн этом участки резисторов 2, не покрытые изделием в результате его деформаци (усадки) .648907 Составитель В,ТалянскийТехред Э....
Способ замещения обширных дефектов кожи
Номер патента: 650616
Опубликовано: 05.03.1979
Автор: Дмитриев
МПК: A61B 17/00
Метки: дефектов, замещения, кожи, обширных
...оставляя перемычку, связанную со стеблем, и рану под лоскутом закрывают свободным а кожным трансплантвтом. Лоскут укладывают нв свое место и подшивают. Через 10-14 дней кожный лоскут полностью отделяют от материнского ложа и переносят для закрытия раневого дефекта на конечностях, голове. Стебель, играющий роль закрытой питающей ножки, также используют в качестве пластического материала.Предлагаемый способ замешения обв ширных дефектов кожи менее громоздкий,его выполнение осуществляют с меньшим количеством этапов, стебель более удобен при уходе. Выкраивание дополнительного лоскута и перенесение его к дефекту без предварительного атапа свертывания в трубку ограничивает потерю пластического материала и уменьшает возможность расстройства...