Патенты с меткой «дефектов»

Страница 18

Способ эндопротезирования дефектов трубчатых костей

Загрузка...

Номер патента: 1158185

Опубликовано: 30.05.1985

Автор: Воронцов

МПК: A61B 17/56

Метки: дефектов, костей, трубчатых, эндопротезирования

...трубчатых костей путем замещения дефекта аллотрансплантатом и фиксацией с помощью стержня, проведенного через трансплантат 1,Недостатком известного способа является то, что трансплантат подбирают по рентгенограмме заранее, но он не всегда точно соответствует размерам дефекта кости, а костномоз гово й канал может быть уже или шире диаметра стержня, что не исключает повреждения трансплантата во время остеосинтеза или его неустойчивую фиксацию к отломкам. Все это усложняет операцию, увеличивает ее травматичность.Цель изобретения - упрощение способа и снижение его травматичности операции.Цель достигается тем, что согласно способу эндопротезирования дефектов трубчатых костей путем замещения дефекта траьсплантатом и фиксации его к отломкам с...

Способ обнаружения дефектов поверхности тел вращения

Загрузка...

Номер патента: 1158908

Опубликовано: 30.05.1985

Авторы: Витман, Гребенюк, Гребнев, Кречман, Наумов, Суминов, Фигурин

МПК: G01N 21/95

Метки: вращения, дефектов, обнаружения, поверхности, тел

...невысокая надежность обнаружения и малая чувствительностьдоминирующих дефектов.Указанные недостатки связаны стем, что при определении угла установки приемника излучения,по отношению сигнал/шум которого судят окачестве контролируемой поверхности,ориентируются на минимум шумовогосигнала, т,е, минимум интенсивностиот бездефектной поверхности контролируемой детали. Такой подход иобусловливает недостатки способа.1Минимум интенсивности индикатрисы рассеяния от бездефектной поверхности, имеющий место на уровне точек перегиба ее ветвей, не однозначно обусловливает получение максимального отношения сигнал/шум в этойобласти при контроле всей совокупности дефектных деталей, так как каждой конкретной детали присущи своидефекты с...

Способ пластики дефектов глотки и шейного отдела пищевода

Загрузка...

Номер патента: 1159563

Опубликовано: 07.06.1985

Автор: Неробеев

МПК: A61B 17/00, A61B 17/322

Метки: глотки, дефектов, отдела, пищевода, пластики, шейного

...внутренней выстилки.Способ осуществляют следующим обра-,зом.По периметру имеющихся тканей глоткипроводят окаймляющие разрезы, распрепаровывают края глотки и иссекают кожуна 2,5 - 3,0 см во все стороны от краев,создавая равномерную ра невую поверхность.В случаях резкого истончения кожи иссекают ее до сетчатого слоя, проводя деэпитермиза цию,На передней поверхности грудной клеткис центром на уровне 5 ребра очерчивают кожный лоскут 10 на 14 см, который иссекают вместе с подлежащим участком большой грудной мышцы, сохраняя его питающую ножку вместе с различимыми с внутренней стороны кровеносными сосудами и мобилизуют ее до литерального края ключицы. Лоскут переносят на шею через разрез над ключицей и определяют степень соответствия...

Способ замещения дефектов головки бедренной кости

Загрузка...

Номер патента: 1161096

Опубликовано: 15.06.1985

Автор: Маракуша

МПК: A61B 17/56

Метки: бедренной, головки, дефектов, замещения, кости

...не пораженного отдела головки долотами, имеющими тон"кую режущую поверхность, иссекаюткостно-.хрящевой аутотрансплантат,величина хрящевого покрова которогосоответствует величине дефекта хряща35в верхнем отделе головки бедреннойкости. При необходимости из нижнегоотдела головки бедренной костиможет быть получен аутотрансплантат,размеры хрящевой поверхности которого позволяют замещать большую40часть отсутствующего покровного суставного хряща в-верхнем отделеголовки. Толщина губчатого основания костно-хрящевого аутотрансплантата зависит от степени деструкциифЯголовки: чем глубже дефект в головке, образовавшийся на месте удаленного коетного очага, тем меньшуютолщину должен иметь аутотрансплантат и наоборот. Иаксимальиая толщина50...

Способ выявления дефектов в бывших в эксплуатации рельсах

Загрузка...

Номер патента: 1161866

Опубликовано: 15.06.1985

Авторы: Козлов, Лысюк, Порошин, Ульянов, Урбах, Шур

МПК: G01N 29/04

Метки: бывших, выявления, дефектов, рельсах, эксплуатации

...к области неразрушающего контроля железнодорожных рельсов акустико-эмиссионным методом и может быть использовано на звеносборочных балах, рельсо сварочных поездах и других стационарных предприятиях железнодорожного транспорта.Известен способ выявления дефектов в рельсах методами ультра звуковой дефектоскопии, в том числе с помощью специализированных ультразвуковых дефектоскопов Я .Недостаток способа заключается в низкойдостоверности контроля, обус ловленной физической сущндстью метода, основанного на прозвучивании металла ультразвуковыми импульсами, Способ не гарантирует 1007,-говыявления дефектов, снижающих проч ность рельсов. ряют скорость счета акустической эмиссии и по ее значению определяют наличие в рельсе трещин, нагружение...

Способ пластики дефектов костей свода черепа и твердой мозговой оболочки

Загрузка...

Номер патента: 1162421

Опубликовано: 23.06.1985

Авторы: Вештак, Масалитин, Пятикоп, Сипитый

МПК: A61B 17/56

Метки: дефектов, костей, мозговой, оболочки, пластики, свода, твердой, черепа

...инфицирования пос О леоперационной раны.Способ осуществляют следующим образом.На края дефекта твердой мозговой оболочки накладывают оболочку 15 трансплантата, фиксируют единичными узловыми швами с последующим нанесением медицинского клея на месте стыка оболочек трансплантата и реципиента, костную часть трансплантата сопоставляют с краями костного дефекта по типу край в край еП р и м е р Больной Нечипоренко А,А., 32 лет, поступил в нейрохи рургическое отделение 2-й горбольцицы г;Харькова с жалобами ца постоянные головные боли в области затылка, судорожные приступы с потерей сознания, прикусом языка. Болеет с рож-О дения,имеется врожденный костный дефект в затылочной области. В цейрохирургическое отделение поступал неоднократно....

Способ пластики костных дефектов челюстей

Загрузка...

Номер патента: 1165372

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Кудинов, Сукачев

МПК: A61B 17/24

Метки: дефектов, костных, пластики, челюстей

...верхней челюсти.П р и м е р. Костный дефект распо-ложен на верхней челюсти в области 12 зуба, вблизи мышцы, расширяющей нос. Пластику костного дефекта производят в следующем порядке, Определяют расположение костного дефекта, ,например, путем пальпации. В соответствии с типографией мИмической мускулатуры выбирают ближайшую мышцу, обеспечивающую как формирование материала для заполнения костного дефекта, так и минимальное перемещение места прикрепления мышцы в проце-о се пластики. Производят трапециевидный разрез слизистой оболочки полости рта на верхней челюсти в области расположения костного дефекта и йыбранной мышцы, расширяющей нос (фиг.1) . Отслаивают слизисто-надкостничный лоскут, отделяют от кости прилежащую мышцу с надкостницей и...

Волоконно-оптический датчик для контроля дефектов поверхности в глухих отверстиях

Загрузка...

Номер патента: 1167424

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Керцман, Кречман, Уваров

МПК: G01B 11/30

Метки: волоконно-оптический, глухих, датчик, дефектов, отверстиях, поверхности

...приемного световода 4 пересекаются, образуя центр зоны обзора пакета, приэтом ось выхода подводящего световода установлена под углом к нормали,проведенной из центра эоны обзорапакета к поверхности корпуса 1 вплоскости, проходящей через оськорпуса 1. 20Входные торцы подводящих световодов 3 оптически связаны с источником5 света (например, лазером, светодиодом или лампой накаливания), а вкаждый из выходных торцов приемных 25световодов 4 - с соответствующимфотоприемником 6. На наружную поверхность корпуса 1 нанесено светопоглощающее покрытие 7,Каждый пакет 2 световодов через З 0соответствующее отверстие в корпусе 1обращен к контролируемой поверхностиизделия 8.Угол ч между осью выхода каждогоподводящего световода 3 к нормали,проведенной из...

Способ лечения послеоперационных дефектов мягкого неба

Загрузка...

Номер патента: 1168217

Опубликовано: 23.07.1985

Авторы: Носач, Хайкин

МПК: A61B 17/00, A61B 17/24

Метки: дефектов, лечения, мягкого, неба, послеоперационных

...рецидивов.Способ осуществляют следующим образом, При выявлении дефекта заднего края мягкого неба после предоперационной подготовки, под наркозом с интубацией через нос, по краям дефекта заднегс отдела неба выкраивают на необходимую длину и ширину два лоскута слизистой с подслизистоььшечным слоем, с основанием покраю дефекта и задних небных дужек,один лоскут выкраивают на ротовойповерхности другой - на носовойс таким расчетом, чтобы после отсепаровки и встречного перемещения оба лоскута сложились раневыми поверхпастями, а слизистая находилась какна носовой. так и на ротовой поверхности созданного участка мягкого неба, Края отсепарованньг и перемепенных лоскутов упиваются соответственна с раневыми краями как с носовой, так и...

Способ контроля внутренних дефектов резинотканевого материала

Загрузка...

Номер патента: 1168812

Опубликовано: 23.07.1985

Авторы: Бородько, Вакорина, Ерченков, Салитан, Сидорова

МПК: C08L 9/02, G01M 3/36

Метки: внутренних, дефектов, резинотканевого

...к испытательной технике, а именно к способам обнаружения внутренних дефектов рези- но-тканевых материалов толщиной 0,2 - 1,0 ми,;и может быть исполь зовано для контроля качества как выпускаемого материала, так и готовых изделий, в частности резино-тканевых мембран, работающих в среде горячей воды или масел нефтяного происхождения.Цель изобретения - улучшение качества контроля и упрощение способа при сохранении Физико-механических показателей резино-тканевого материала,15 В табл. 1 приведены сравнительныеданные по контролю резино-тканевыхматериалов на основе полиамидныхтканей (капрон арт, 56003; 56023;56026) и бутадиеннитрильных резин,испытанных при 20, 50 70, 80, 90и 100 С при толщине материала 0,2;0,4; 0,85; 1,00 и 1,20 мм в...

Устройство для контроля дефектов ленточных объектов

Загрузка...

Номер патента: 1168970

Опубликовано: 23.07.1985

Авторы: Турышев, Турышева

МПК: G07C 3/14

Метки: дефектов, ленточных, объектов

...в ячейки памяти от 0 до 255-го нулевого столбца блока 2, а также чтение и вывод информации на индикаторы 6 - 6 из ячеек памяти от.а гк0 до 255-го нулевого столбца блока 3.(5) 1 О 30 40 где Н - ширина испытуемой ленты, м;- длительность цикла опроса 5всех каналов, с.Пусть скорость перемещения ленты равна 1 мм/с. В этом случае мультиплексор 7 при указанной .выше величине тактовой частоты Е в течение одной секунды опрашивает каждый канал 1000 раз..При включении привода испытуемая лента 10 начинает прокатываться между валами-электродами 19 и 24, а диск 32 с зеркалами 33 начинает вращаться. Для выбранного направления перемещения (сплошная стрелка, фиг. 2) излучение светодиода 36, отразившись в зеркале 33, попадает вначале на фотодиод 35, а...

Способ пластики костных дефектов челюсти

Загрузка...

Номер патента: 1171020

Опубликовано: 07.08.1985

Авторы: Кудинов, Сукачев

МПК: A61B 17/56

Метки: дефектов, костных, пластики, челюсти

...и открытий13035, Москва, Ж 35, Рау шская наб., д. 4)5 Филиал ППП Патент: , г Ужгород, ул. Проектная, 4Изобретение относится к медицине, а именно к хирургической стоматологии.Цель изобретения - усиление регенерации кости.Способ осуществляют следующим образом.Определяют место положения костного дефекта, например, на верхней челюсти в области 3 - -4 зубов. Производят трапециевидный разрез слизистой оболочки полости рта вобласти 25 зубов. Отслаивают слизистонадкостничный лоскут, рассекают надкостницу у его основания. Максимально отделяют мягкие ткани от кости и надкостницы, выделяют близлежа 1 цую к костному дефекту мимическую мышцу вместе с прилежащей клетчаткой. Формируют свободный конец мышечно-жирового лоскута, делают его...

Способ обнаружения дефектов в многослойных изделиях

Загрузка...

Номер патента: 1173285

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Варганов, Геращенко, Поник

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектов, изделиях, многослойных, обнаружения

...приемников 5-8 их результирующие выходные сигналы при отсутствии дефекта в контролируемом изделии 2 равны нулю.При наличии дефектов в контролируемом изделии 2 результирующие выходные сигналы соответственно с пар приемников 5,6 и 7,8 отличны от нуля. Так, например, при расположении видов дефектов 17 и 18 под одним слоем изделия 13 от верхней 4 поверхности контролируемого изделия 2 результирующий сигнал с приемников 5 и 6 (вверх от оси абсцисс на фиг,2) максимальный, а с приемников 7 и 8 (вниз от оси абсцисс 50 на фиг.2) - минимальный.При заглублении вида дефекта 20 под два слоя изделия результирующий сигнал с приемников 5 и 6 подает, а с приемников , 8 - воз" 5 растает. При расположении дефекта 19 под дефектом 18, если верхний...

Имитатор дефектов для настройки дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 1173296

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Крашевский, Трефилов

МПК: G01N 27/82, G01N 27/90

Метки: дефектов, дефектоскопов, имитатор, настройки

...шириной поверхности,.6 - ширина дефекта меньше толщины проволоки 7 - ширина дефекта, равная толщине. проволоки, 8 - ширина 30 дефекта, равная толщине пряди, 9 - ширина дефекта, равная сумме диаметров прядей каната 10 " обрыв перпендикулярной оси проволоки, 11 обрыв перпендикулярной оси прядиф 12 - обрыв параллельной оси каната;13 " обрыв перпендикулярной оси каната; 14 - обрыв параллельной оси пряди, 15-18 - дефекты, имитирующие уменьшение диаметра каната. 40Ориентация обрывов проволок на имитаторе может быть выполнена са" мым различным образом и в различных направлениях, в зависимости от требуемой точности настройки дефектоскопа.Общее уменьшение (утоньшение) диаметра имитатора соответствует нормам браковки каната от поверхностного...

Способ обнаружения дефектов оптического волокна

Загрузка...

Номер патента: 1174394

Опубликовано: 23.08.1985

Автор: Конюхов

МПК: C03B 37/02

Метки: волокна, дефектов, обнаружения, оптического

...следующем,Полезным сигналом является рассеянное через оболочку на дефектеизлучение и преобразованное фотоприемником в электрический сигнал.Мешающим фактором является излучение, не параллельное оси оптического волокна и вышедшее черезоболочку. Фотоприемник воспринимаетэто излучение как фоновый сигнал,изменяющийся по экспоненциальномузакону во времени, Параметры этогосигнала могут меняться в широкихпределах в зависимости от скоростиперемещения волокна, радиуса изгиба волокна перед фотоприемником,типа и структуры оптического волокна. Преобразование в ступенчатыйсигнал ( аппроксимация) позволяетотслеживать параметры фонового сигнала и производить разделение вовремени фонового и полезного сигналов,Точность и стабильность определения места...

Автоматический сигнализатор дефектов к ультразвуковому дефектоскопу

Загрузка...

Номер патента: 1174848

Опубликовано: 23.08.1985

Авторы: Бронников, Леванов, Самохина

МПК: G01N 29/04

Метки: автоматический, дефектов, дефектоскопу, сигнализатор, ультразвуковому

...устройство 6, дифференцирующее звено 7, предназначенное для подключения к выходу формирователя стробимпульса зоны автоматического контроля ультразвукового дефектоскопа, а выходом к второму входу бистабильного триггера 2, последовательно соединенные триггер 8, вторым выходом подключенный к второму входу первого счетчика 4 импульсов и вторым счетчиком 9 импульсов, вторым входом подключенным к выходу генератора 3 тактовых импульсов заполнения, а выходом - к второму входу логического элемента И 5.Устройство управляется общим синхронизатором дефектоскопа и работает следующим образом.Триггер 8 с началом каждого нового цикла контроля поочередно очищает и открывает для записи один из счетчиков 4 или 9. После прихода на вход бистабильного...

Держатель заплаты для пластики дефектов перегородок сердца

Загрузка...

Номер патента: 1175448

Опубликовано: 30.08.1985

Авторы: Агабабян, Азатьян, Григорьян, Курдов, Попов

МПК: A61B 17/04

Метки: держатель, дефектов, заплаты, перегородок, пластики, сердца

...фиксатора 18 входит в округлое расширение паза на замке 15 под действием пружины 19, которая расположена между широкой частью фиксатора 18 и заглушкой 20, Дополнительную жесткость соединению обеспечивает вхождение выступа, расположенного на нижней поверхности рукоятки 14 держателя, в соответствующее углубление на пукоятке 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 16 фиксатора шовных нитей. На рукоятке 16 жестко закреплено кольцо 21, по наружной окружности которого закреплены элементы 22, фиксирующие шовные нити. Последние изготовлены в виде крючков, в которые вставляются и плотно удерживаются шовные нити. Фиксатор 21 шовных нитей по верхнему краю внутренней окружности имеет паз, в который входит основание 1 механизма фиксатора заплаты, что придает...

Электромагнитный способ обнаружения дефектов в электропроводящих изделиях и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1176232

Опубликовано: 30.08.1985

Авторы: Богусонов, Дмитриев, Лелеков

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектов, изделиях, обнаружения, электромагнитный, электропроводящих

...напряжения ослабляютнапряжение с переменным коэффициентом176232 4для блока 4 памяти (по этому сигналублок 4 памяти производит запоминание цифрового кода, находящегося вэтот момент на его информационныхвходах). На информационный вход блока 4 памяти поступает цифровой кодсо входа кодоуправляемого магазина5 емкостей. Кодоуправляемый магазин5 емкостей формирует выходную емкость, пропорциональную цифровому кодуна его входе. Аналоговый выход магазина 5 емкостей соединен с автогенератором 1 (между эмиттером и общейшиной). На вход магазина 5 емкостейпоступает цифровой код с выхода блока 6 управления. Блок 6 управленияформирует цифровой код, изменяющейсяпо времени так же, как и емкость магазина 5 (фиг.3) . Кроме того, блок...

Способ определения координат дефектов в электроизоляционных материалах

Загрузка...

Номер патента: 1177778

Опубликовано: 07.09.1985

Авторы: Арбузов, Турышева

МПК: G01R 31/12

Метки: дефектов, координат, материалах, электроизоляционных

...ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 1 11777Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и можетбыть использовано для обнаружениялокальных дефектов (сквозных отверстий, трещин, пор). в электроизоляционных, преимущественно пленочных,материалах при их производствеи использовании в различных отраслях промьппленности,Цель изобретения - повышение 10точности определения координат де-"фектов в электроизоляционных материалах,На чертеже изображена схема устройства для осуществления предлагаемого способа.Устройство содержит источник 1испытательного напряжения, соединенный через токоограничивающий резистор 2...

Отметчик дефектов

Загрузка...

Номер патента: 1179213

Опубликовано: 15.09.1985

Авторы: Дружаев, Коряченко, Семенов

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектов, отметчик

...жестко соединенную с корпусом 1 и расположеннуювдоль его образующей, при этом механизм перемещения стержня-красителя 2выполнен в виде узла (не обозначен)поддержания постоянства давления на 25стержень-краситель 2, включающегоустановленный с возможностью перемещения по направляющей 6 толкатель 7стержня-красителя 2, два ролика 8и 9, закрепленные на направляющей 6, щгруз 10, который посредством троса11, перекинутого через ролики 8 и 9,соединен с толкателем 7, и узла(не обозначен) освобождения стержня-красителя 2, включающего жестко35закрепленный на корпусе 1 электромагнит 12 с двуплечнм якорем 13,один конец которого подпружинен пружиной 14, а второй конец изогнутпод тупым углом относительно первогои взаимодействует с боковой поверхностью...

Способ отжига дефектов в имплантированных слоях полупроводников

Загрузка...

Номер патента: 623439

Опубликовано: 23.09.1985

Авторы: Антоненко, Двуреченский, Смирнов

МПК: H01L 21/324

Метки: дефектов, имплантированных, отжига, полупроводников, слоях

...50р-и-перехода при таком способе отжига достаточно велик, а пробивноенапряжение невелико, поскольку наибольшая часть энергии выделяется наповерхности.554. Невозможность проведения отжига ионно-внедренных областей посленанесения на поверхность слоев металла и некоторых диэлектриков (многослойные структуры).Целью изобретения является исключение эрозии планарной поверхностипластины, возможность проведенияотжига в многослойных структурах иупрощение технологии.Поставленная цель достигаетсятем, что световой импульс направляютна поверхность полупроводника, противоположную планарной.С целью локализации выделенияэнергии длину волны света выбираютравной или большей (не более чемв 3 раза) длины волны, соответствующей краю основного...

Кислородно-флюсовый резак для удаления поверхностных дефектов

Загрузка...

Номер патента: 1180199

Опубликовано: 23.09.1985

Авторы: Белогловский, Вейс, Дайкер, Катаевский, Кирсанов, Лузин, Рыбин

МПК: B23K 7/06

Метки: дефектов, кислородно-флюсовый, поверхностных, резак, удаления

...кислородной струи формируется греющее пламя. Флюс вместе с флюсо-, несущим воздухом подают во флюсовое сопло 3 через патрубки 7. После удара 50 о поверхности 6 флюсовые струи деформируются, и флюс распределяется по окружности флюсового сопла 3 таким образом, что в реакционной зоне его распределение носит также параболи ческий характер. Благодаря пропорциональному распределению кислорода и флюса в произвольной точке реакционной зоны поддерживается постоянное соотношение между количеством флюса и кислорода. Это позволяет снизить общий расход флюса до оптимального, не опасаясь появления участков реакционной зоны с заниженным расходом флюса и, соответственно, ухудшением качества защищенной поверхности.Для получения пропорциональности эпюры...

Устройство для контроля дефектов плоских поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1180764

Опубликовано: 23.09.1985

Авторы: Бородина, Витман, Гребенюк, Гребнев, Гусарова, Суминов

МПК: G01N 21/954

Метки: дефектов, плоских, поверхностей

...ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,4 Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и можетнайти применение нри неразрушающембесконтактном контроле дефектовповерхности прецизионных деталейприборов.Целью изобретения является повышение производительности и чувствитепьности контроля за счет одновременного сканирования всех поверхностей детали и дифференцированнойоценки отраженного поверхностьюсветовода потока.На фиг1 представлена схемаустройства", на фиг.2 - разрез А-Ана фиг,1; на фиг, 3 - расположениецилиндрических линз.Устройство содержит лазер 1 непрерывного действия, коллиматор 2,цилиндрические линзы 3 и 4, четырехгранную пирамиду 5 с отражающимиповерхностями с параболическим профигем в сечении, деталь 6, блок...

Способ определения локальных дефектов поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1182354

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Беспалов, Киселев, Плотников, Салецкий

МПК: G01N 21/91

Метки: дефектов, локальных, поверхности

...молекул на величину ЬЭ= - Э - Л, причем вероятность этого процесса в каждой точке образца пропорциональна числу заряженных центров - акцепторов энергии И(х, у). Поэтому, измеряя изменение интенсивности люминесценции молекул дЭ(х, у) после заряжения дефектов, непосредственно получают картину распределения этих дефектов на поверхности об" разца И(х, у).П р и м е р 1. Определение заряженных областей в структурах Се СеО - эритрозин и Б 1 - БО - кумарин.Структуры типа полупроводник - диэлектрик на основе кристаллов Се и Б используют при создании большинства современных полупроводниковых приборов, в частности при создинии эффективных элементов памяти. Информацию записывают путем инжекции электронов светом из валентной зоны...

Автоматический сигнализатор дефектов

Загрузка...

Номер патента: 1182384

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Веремеенко, Демченко, Черкащенко

МПК: G01N 29/04

Метки: автоматический, дефектов, сигнализатор

...и вторым входами первого 2 45 и второго 9 элементов НЕ-И и служит выходом сигнализатора. Блок 4 представляет собой оперативное запоминающее устройство (ОАЗУ), а блок 5 - перепрограммируемое запоминающее 50 устройство (ППЗУ), Источник 6 вырабатывает постоянное напряжение с. уровнем логической единицы.Автоматический сигнализатор дефектов работает в двух режимах: в режи ме настройки и в режиме контроля. В обоих режимах на входы ОАЗУ, элемента НЕ-И 2 и элемента И 8 поступает сигнал отражения от дефектовнепосредственно с усилителя дефектоскопа, основанного на эффекте Допплера при непрерывном возбуждениипреобразователя, или сигнал отражения от дефекта с дефектоскопа, использующего возбуждение преобразователя короткими импульсами.При работе...

Способ исправления дефектов оболочковых форм

Загрузка...

Номер патента: 1186359

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Писарев, Рогожкин

МПК: B22C 9/04

Метки: дефектов, исправления, оболочковых, форм

...все пространство дефекта и удерживается в нем силами сцепления со стенками цефекта.Размеры залечиваемого дефекта в холодных оболочковых формах определяются жидкоподвижностью эалечивающего состава. Например, состав по Шоу-процессу способен залечивать сквозные трещины до 3 мм ширины и неограниченной длины.В горячем виде легко залечиваются трещины до 4 - 5 мм.Варьируя вязкостью звлечивающегосостава и его жидкоподвижностью, зале.чивают более крупные дефекты, .Кусочки залечивающего состава, попадающие через сквозные трещины в стояк оболочковой формы, удаляют с помощью инжектирующей системы отсоса воздуха.Далее отверждают залечиваюций состав, а затем контролируют качество де.фектной формы, нагнетая в нее воздух под контролируемым...

Способ определения координат центра яркости дефектов детали и устройство для его реализации

Загрузка...

Номер патента: 1187028

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Абакумов, Базанов, Колтунов, Татаринов

МПК: G01N 21/88

Метки: детали, дефектов, координат, реализации, центра, яркости

...20. Выходы схем11 и 12 деления соединены с входамипервого 21 и второго 22 компараторов, выходы которых соединены с со ответствующими вентилями 18 и 19, авторые входы соединены с выходамидатчиков 23 по Х и 24 по У линейного перемещения. Диафрагма 3 механически связана также с датчиком 25 рО минимального диаметра диафрагмы 3,. выход которого соединен с .третьимвентилем 20 и параллельно с вторыми входами аналоговых ключей 13и 14. Источник 26 питания соединен 25 с вторыми входами вентилей 18 - 20. Предлагаемый способ осуществляютпри помощи описанного устройства сле дующим образом.Световой поток от поля анализа 30 детали 1 проецируют с помощью объектива 2 через диафрагму 3 ца сйетоделительный кубик 4, Разделенныйсветовой поток в двух...

Способ контроля дефектов слоев материалов

Загрузка...

Номер патента: 1188621

Опубликовано: 30.10.1985

Авторы: Жуков, Кравцов, Леонов, Никитский, Пермяков, Резников

МПК: G01N 27/24

Метки: дефектов, слоев

...пленкой толциной 30 мки иустанавливали на нее стальной плос- .кий электрод, закрывающий половинуобразца. Между электродом и под- ЗОложкой прикладывали электрическоенапряжение амплитудой до 10 кВ,частотой 200 Гц в течение 10 с.После этого электрод и лавсановуюпленку снимали, образцы накладывали З 5на эмульсионный слой фотопленкифТлежащей на плоском электроде,и прикладывали между подложкой и 621 г электродом напряжение 8 кВ в течение 40 с. Цосле проявления, фиксирования и сушки фотопланки на полученных изображениях (электротопограммах) определяли среднюю плотность дефектов отдельно для предварителъно подвергнутой действию переменного напряжения половины и пля контрольной половины.Результаты приведены на чертеае, где Йсм - плотность...

Способ выявления дефектов поверхности изделий и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1190188

Опубликовано: 07.11.1985

Автор: Уманский

МПК: G01B 13/22

Метки: выявления, дефектов, поверхности

...способу кабель круглого сечения наматывают на ролик у одного торца ролика и сматывают у другого вплотную виток к витку так, чтобы одновременно,на ролике быпо не менее трех витков. При этом кабель закручивают вокруг 15 оси,за время пребывания кабеля иа ролике на угол не мене 90 и подо кабель подают сжатый воздух. Дефект на поверхности кабеля фиксируют по расходу воздуха между витками 20 кабеля, Благодаря повороту кабеляовокруг оси на угол 90 дефект обязательно окажется в зоне контакта соседних витков кабеля,На фиг. 1 показано предлагаемое 25 устройство. осевой разрез на фиг. 2 - вид А на фиг. 1.Устройство для выявления дефектов поверхности изделий содержит ролик 1 с буртом 2,осевым Зи радиаль ньяи 4 воздухоподающими каналами....

Протез для замещения односторонних концевых дефектов зубного ряда

Загрузка...

Номер патента: 1191071

Опубликовано: 15.11.1985

Авторы: Колошницын, Свиридов

МПК: A61C 13/271

Метки: дефектов, замещения, зубного, концевых, односторонних, протез, ряда

...Москва, Ж, Раушская наб., д.4/5 Заказ 7048/4 Филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектная,4 1 1191Изобретение относится к медицине, а именно к ортопедической стоматологии.Целью изобретения. является исключение травм опорного зуба, слизистой оболочки полости рта, а также повышение удобства пользования.На фиг.1 представлен протез для замещения концевых дефектов зубного ряда, общий вид; на фиг.2 - сечение 1 О А-А на фиг.1; на фиг.3 сечение Б-Б на фиг.1.Протез для замещения конЦевых дефектов зубного ряда состоит из съемной 1 и несъемной 2 частей. Съемная 15 часть 1 содержит базис 3 с искусственными зубами 4 и двухплечевой кламмер 5, имеющий 1 -образную форму. Несъемная часть 2 содержит металлическую коронку 6 для установки на 2 О...