Патенты с меткой «дефектов»

Номер патента: 1713567

Опубликовано: 23.02.1992

Авторы: Калниньш, Круминьш, Лацис

МПК: A61B 17/56

Метки: бедренной, дефектов, кости, лечения, отдела, проксимального

...части стержня, Операционную рану послойно ушивают наглухо. Бедренную кость и кости таза фиксируют аппаратом внешней фиксации, Через 7-10 дней после операции производят постепенную медиалиэацию остеотомированного среднего фрагмента в вертлужную впадину до достижения дна впадины на расстоянии 0,5 см. Затем производят дозированное низведение большого вертела вниз. Дистракционнцй эпифизеолйз дистального эпи1713567 Составитель Н. ВораблеваТехред М,Моргентал Корректор Т.Малец Редактор Л.Гратилло Заказ 643 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Рауаская наб 415 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 физа производится по известной...

Номер патента: 1714610

Опубликовано: 23.02.1992

Авторы: Емельянов, Михейкина

МПК: G06F 11/26

Метки: блоков, дефектов, дискретных, поиска

...триггеров 17 и 18 нулевое. При поступлении положительного перепада(из "О." в "1") с выхода коммутатора 3 триггером 17 фиксируется уровень логической единицы, который переключается элементом И 19 при условии наличия сигналов выбора положительного перепада, выбора блока 15 и сигнала синхронизации от блока 6 управления на первый вход элемента ИЛИ 21; При поступлении отрицательного пере 10 15 элемент 23, выбора блока 15 от генератора 1 тестов и сигнала синхронизации от блока 6 управления на второй входэлемента ИЛИ 21,Генератор 1 тестов работает следующим образом,Перед началом работы счетчики 27 и 28 устанавливаются в нулевые состояния сигналом, поступающим на вход пуска генератора 1 тестов. В запоминающих устройствах 24-26 которые могут быть...

Номер патента: 1715648

Опубликовано: 28.02.1992

Автор: Иванов

МПК: B29C 37/00

Метки: дефектов, инструмент, поверхностных, удаления

...на некотором участке выполнена в .форме кругового цилиндра,Данный инструмент не может обеспечить качественное срезание облоя, так как имеет большой угол заострения и большой шаг между зубьями, что вызывает при резании повышенную вибрацию, ухудшающую качество поверхности.Указанная цель достигается тем, что режущие зубья ограничены стружечными канавками и цилиндрическими фасками на задней поверхности. Стружечные канавки инструмента имеют форму цилиндра, в по-. перечном сечении окружность стружечных канавок пересекает цилиндрическую фаску на задней поверхности. Цилиндрическая фаска выполнена шириной больше половины ширины зуба, что обеспечивает неврезание и неповреждение основной поверхности обрабатываемых деталей.На фиг. 1...

Номер патента: 1716418

Опубликовано: 28.02.1992

Авторы: Грабовский, Жукова, Хватов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектов, дефектоскопов, имитации, магнитных, настройке, проходных

...выход соединен с входом входного устройства блока 7 аналоговой обработки информации дефектоскопа-снаряда, другие входы которого соединены с индикаторными обмотками 2 преобразователей 3 поисковой секции дефектоскопа-снаряда, а выход подключен к входам блока 8 цифровой обработки информации, выход которого подключен к входу блока 9 твердотельной памяти.Электронный блок 5 предназначен для формирования сигналов при имитации магнитных полей рассеяния дефектов, диагностики технического состояния всей аппаратуры дефектоскопа-снаряда и обработки информации по результатам его настройки. Основу электронного блока составляет микроЭ ВМ 11, которая по заданным программам обеспечивает управление работой формирователя 13 сигналов, монитора 14 и...

Номер патента: 1716425

Опубликовано: 28.02.1992

Автор: Давиденко

МПК: G01N 29/06

Метки: акустическом, восстановления, дефектов, изображения, контроле

...открытые контакты трех реле,каждое из которых входит в состав трехразных секций коммутатора 5, Зондирующие импульсы, подаваемые в первую секцию коммутатора 5, по четыре разапровходят на каждый из четырех преобразователей и через эти же контакты обратнопроходят на усилитель 11 эхо-сигналов, которые далее через контакты третьей секциикоммутатора 5 уже усиленными проходят назаписывающие входы ОЗУ 17-20.В это же время через контакты второйсекции коммутатора 5 проходят теневыесигналы от преобразователей 1-4, расположенных встречно с возбуждаемым (1-3, 2-4,3 - 1 и 4 - 2), которые усиливаются в усилителе12 теневых сигналов и поступают на двесхемы совпадения. Выходы схем совпадения запитывают сигнальные лампочки 19 и20, по которым оператор...

Номер патента: 1718251

Опубликовано: 07.03.1992

Авторы: Масленников, Мельник, Одарюк, Смазнов, Чернявский

МПК: G06K 9/46

Метки: дефектов, изображений, объектов, распознавания

...(1), стробирует запись в буферы границ зон координат Х 1 и Хг по каждой строке.На следующей строке эти буферы выдаютсигналы, соответствующие участкам контроля по уровню "белого" и "черного" внутристроки,Эти сигналы, поступающие из блоков 4и 5 формирования границ зон в блок 2 задания режима распознавания, стробируютсравнение видеосигнала с соответствующим уровнем внутри каждой строки. Приналичии аномалий уровня видеосигнала впределах зоны контроля блок 2 задания режима распознавания фиксирует координаты выявленного брака изображения.В режиме формирования эталонов покоманде блока 1 управления блок заданиярежима распознавания синхронизируетсясигналами КСИ ИССИ телевизионного датчика 7 и выдает импульсы квантования строки...

Номер патента: 1721475

Опубликовано: 23.03.1992

Авторы: Комар, Мигаль, Ульянов, Чугай

МПК: G01N 21/19

Метки: визуализации, дефектов, кристаллических, объектах, структуры

...поляризованного света от лазера 1, пройдя через объектив 2, становится расходящимся, в результате дальнейшего прохождения пучка через объект 5 и отражения от его поверхностей образуется изображение фазовой структуры объекта, которое фотографируют в проходящем и отраженном свете на фотопластинки 8 и 8 соответственно. Затем между объектом и фотопластинкой в проходящем луче последовательно помещают компенсатор 6, а также четвертьволновую пластинку 3 и анализатор 7, которые образуют круговой анализатор, а между источником света и объектом помещают четвертьволновую пластинку 3, превращающую свет в циркулярно поляризованный, изменяют оптическую разность хода, вносимую компенсатором, и фотографируют совмещение изображения объекта с его фазовой...

Номер патента: 1721483

Опубликовано: 23.03.1992

Авторы: Дубовик, Ивченко, Непомнящий, Райхел

МПК: G01N 21/88

Метки: глубины, дефектов, объектах, поверхностных, ситаллов

...повышенная температура обработки, достижение которой в случае использования органических в основе люминесцентных жидкостей не представляется возможным, Таким образом, атомы углерода диффундируют в полости дефектов значительно глубже молекул веществ, входящих в состав люминесцентных жидкостей, Это приводит к повышению точности определения глубины дефектов.П р и м е р. Производят дефектоскопию наружной поверхности изделий из кордиеритового ситалла в системе МОО-МпО-АгОзОг-ТЮг. Механическую обработку наружной поверхности изделий осуществляли путем шлифования алмазным кругом 1 А 1 100 х 10 х 3 х 32 по следующему режиму: угловая скорость вращения заготовки 50 об/мин, угловая скорость вращения круга 6000 об/мин, глубина резания 1,0...

Номер патента: 1723494

Опубликовано: 30.03.1992

Авторы: Антонов, Васильев, Карпова, Коган, Футорянский, Щипунов, Эйзипс

МПК: G01N 1/32

Метки: выявления, дефектов, поверхности, шлифовальных

...снизить коррозию деталей. ныиСода кальницинаяНатр едкийВодапри 80 - 95 ОС ики 05 - 1 мин,нентов подбирпоказатель рН12,5,После обезжирются в горячей протуре не ниже 60"1723494 затем в холодной проточной воде до полного охлаждения деталей в ванне.Промытые детали подвергаются травлению в растворе, содержащем, о: 80-120 г/л 100-300 мл /л 30 - 150 мл /л ОстальноеХлорное железоСоляная кислотаГлицеринВода Формул а изобретен ия 15 - 2545-70 20 Едкий натрМарганцевокислый калий 80 - 120 г/л 100 в 3 мл/л 30-150 мл/л ОстальноеХлорное железоСоляная кислотаГлицеринВода Натрий фосфорнокислыйтрехзамещенныйСода кальцинированная 30-8010 - 50 30 при комнатной температуре раствора и продолжительности обработки 0,5 - 2 мин.Содержание компонентов...

Номер патента: 1725238

Опубликовано: 07.04.1992

Авторы: Ботнева, Елизарьев, Кондратьев, Таран

МПК: G06K 9/46

Метки: дефектов, селекции, фотошаблонов

...кривизны меньше К (фиг. 5 г),Во втором блоке 9 памяти хранятся предварительно записанные в порядке возрастания (соответственно нумерации на фиг, 5 д) координаты угловых точек эталонного изображения (фиг. 5 д). В начале сканирования кадра изображения на выходе второго блока памяти установлены координаты первой угловой точки (фиг, 5 д), Они поступают на первую группу входов компаратора 6, на вторую группу входов которого поступают координаты текущего положения сканируемого элемента изображения с первого 10 и второго 12, счетчиков, В момент равенства координат на входах компаратора 6, на его выходе появляется сигнал, соответствующий угловой точке эталонной топологии, по которому через время тз изменяется состояние третьего счетчика 8 и...

Номер патента: 1728737

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Демьянец, Кузьмина, Никитенко, Стоюхин, Терещенко

МПК: G01N 21/64

Метки: ассоциатов, дефектов, кристаллах, присутствия, точечных

...жидкого азота исследуется красная люминесценция кристаллов.Предлагаемый способ осуществляют следующим образом.По стандартной методике снимают спектр фотолюминесценции кристаллов ЕпО в области длин волн 650-800 нм. Оптимальные условия сьемки соответствуют температуре жидкого азота, что отвечает максимуму в зависимости красной люминесценции от температуры. Возбуждение образца проводится линией ртутной лампы (например, ДРТ) с длиной волны 405 нм, так как максимум в спектре возбуждения красного излучения приходится на диапазон 400 - 410 нм, и другие линии излучения пампы менее эффективны. В используемой установке излучение ртутной лампы ДРТмонохроматизируется с помощью входного монохроматора МДР-З, спектр люминесценции исследовался на...

Номер патента: 1731205

Опубликовано: 07.05.1992

Авторы: Жизномирская, Павлик

МПК: A61C 5/02

Метки: восстановления, глубоких, дефектов, зубов, твердых, тканей, эрозиях

...навыалов и оборудования, может сван в любом лечебном учрежрые создают почного соед пломбироео ретенционн ми пломбир рол, консайс достигается бировочных эвикрол-мат зубу. При да протравлива но упрощает пен, универс при кликови т,д, Способ ков, матери быть исполь дении,полнительное количество пломбировочного материала до полного восстановления дефекта. Для получения более хорошего кос д метического эффекта необходимо ф пользоваться эвикрол-матрицами, предва- Я рительно подогнанными к зубу., С)П р и м е р. Больная Б. Значительный (Л дефект твердых тканей 2332 на фронтальной поверхности и по режущему краю. Оз- й глубокая эрозия твердых тканей зубов ЦЯ.ф Лечение: в 22 по бокам дефектов шаровидным бором йа 0,1 оолйано ло 8 ретенцион. нык...

Номер патента: 1731545

Опубликовано: 07.05.1992

Авторы: Извеков, Сюткин, Таран

МПК: B23K 31/12

Метки: дефектов, образованию, склонности

...(500 мм).Ширина образца 150 мм, толщина 30 мм. В поперечном направлении образца изготавливают канавки в виде пирамиды с переменным сечением относительно оси канавки.Толщина образца выбирается из учета наиболее высоких напряжений по оси, перпендикулярной поверхности образца, возникающих во время кристаллизации расплавленного металла в канавках. Шиоина образца позволяет достаточно подробно проследить зависимость качественных характеристик свариваемости при формоизменении поперечного сечения сварного шва,Расстояние между канавками выбирают 402 мм, что дает возможность исключить влияние термодеформацион ного цикла сварки на соседние участки испытуемого металла при надежном закреплении образца.Предлагаемый способ позволяет, благодаря...

Номер патента: 1731565

Опубликовано: 07.05.1992

Авторы: Аронович, Шарафутдинов

МПК: B23P 6/04

Метки: герметизации, дефектов, литейных

...композиции.Способ герметизации литейных дефектов осуществляется на примере заделки дефектов на вертикальной стенке блока цилиндров судового двигателя.На чертеже приведена схема герметизации,Способ осуществляют следующим образом,Предварительно место 1 расположения дефектов (пор, трещин) детали 2 сначала подвергают механической обработке, а затем протирают органическим растворителемПредварительно готовят пластину 3 из вулканизованной резины, наружный контур которой соответствует дефектному месту 1, но превышает по размерам, для обеспечения ее приклеивания. В качестве пластины могут быть использованы гибкие упругие материалы, например полиуретан, пенополиэтилен и др.В пластине 3 ближе к ее геометрическому центру для равномерности...

Номер патента: 1735908

Опубликовано: 23.05.1992

Авторы: Галкин, Комаров

МПК: G11C 29/00

Метки: дефектов, запоминающем, исправления, ошибок, устройстве

...если код записываемой информации и код дефектов совпадает с согласующим словом, что показано на примере.При считывании информации с входа 2 в накопитель 1 поступает код адреса, На вход 14 поступает сигнал для считывания и информация с выходов накопителя 1 через коммутатор 12 ( на вход 13 поступает сигнал управления) поступает на входы блока 9 и записывается в него при поступлении соответствующих сигналов по входам 10, Затем на входы 10 поступают сигналы вывода с корректированной информации (исправляется один сбой, если он произошел при хранении информации в накопителе 1), Информация поступает на вторые входы блока 8 сумматоров по модулю два, а сигналы адресных информационных разрядов (А разрядов) поступают на адресные входы блока 7...

Номер патента: 1737378

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Полянчиков, Расторгуев, Якименко

МПК: G01R 31/02

Метки: выявления, дефектов, переключающих, силовых, трансформаторов, устройств

...контроля и сокращение длительности процесса выявления дефекта.На чертеже изображено предложенное устройство.Устройство содержит регулировочную обмотку 1, избиратель 2, контактор 3, шесть подвижных контактов 4, шесть неподвижных контактов 5, провод 6, измерительный узел 7, изолирующие прокладки 8, причем регулировочная обмотка 1 через избиратель 2 связана с контактором 3, снабженным шестью подвижными контактами 4 и шестью неподвижными контактами 5. К неподвижным контактам 5 подключены провода 6 от измерительного узла 7, между подвижными 4 и неподвижными 5 контактами в оба плеча контактора заложены изолирующие прокладки 8.Устройство работает следующим образом.Избиратель 2 устанавливают в крайнее положение, после чего включается...

Номер патента: 1739265

Опубликовано: 07.06.1992

Авторы: Дзугаев, Иванова, Пчельников, Суслов

МПК: G01N 22/02

Метки: дефектов, диэлектрических, материалах, неоднородностей, обнаружения

...в непосредственной близости от диэлектрика, с той же стороны измеряют отраженный сигнал, который резко возрастает над участком с инородным включением.Недостатком известных способов является сильное затухание электромагнитных волн СВЧ-диапазона в материалах с большим тангенсом угла потерь, в частности в грунте, Применение относительно длинных волн затруднено из-за больших размеров антенн, Кроме того, иэ-за большой разницыантенн. Кроме того, из-за большой разницы диэлектрической проницаемости материала контролируемых изделий и воздуха, большая часть энергии электромагнитных колебаний отражается от границы воздух - 5 диэлектрик, что снижает чувствительность известных способов.Цель изобретения - повышение чувствительности за счет...

Номер патента: 1742708

Опубликовано: 23.06.1992

Авторы: Аязян, Мухаметшин, Степанов, Шабанов

МПК: G01N 27/82

Метки: выявления, движущихся, дефектов, дефектоскопии, изделиях, магнитной, разноориентированных, цилиндрических

...датчики3 размещены между поверхностью трубы 1и наклонным соленоидом 2, то для оценкивыявляемости дефектов достаточно рассмотреть магнитное поле в точках изделия, расположенных по периметру непосредственно под соленоидом. Рассмотрим магнитное поле в нескольких характерных точках4-11 (фиг. 3) этого периметра. Разрежем трубу вдоль по нижней линии (фиг, 2) и развернем ее.в плоскость. Это позволяет отобъемного изображения перейти к иэображению на плоскости. Линия периметру трубы под наклонным соленоидом принимаетпри этом вид синусоиды 4-5-6-7-8-9-10-11-4 (фиг, 4), Направление вектора магнитного поля в точках 4-11 показано (фиг. 4) стрелками, перпендикулярными синусоиде в соответствующих точках. Направление вектора намагничивающего...

Номер патента: 1742709

Опубликовано: 23.06.1992

Авторы: Боронин, Егоров, Марданов

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектов, имитатор, электронный

...сопротивлением.На чертеже представлена структурная схема электронного имитатора дефектов,Злектронный имитатор дефектов состоит иэ подключенных параллельно преобразователю 1 комплексного сопротивления 2 и добавочного комплексного сопротивления 3, Добавочное комплексное сопротивление 3 подключается параллельно электронным ключом 4 к генератору 5 прямоугольных импульсов, регулирующим частоту и скважность коммутации, Злектронный имитатор бдефектов подключается к дефектоскопу 7 с автогенератором 8 через тройник 9 параллельно преобразователю 1.Устройство работает следующим образом. При подсоединении к автогенераторному дефектоскопу 7 электронного имитатора 6 дефектов комплексное сопротивление 2, подключенное параллельно...

Номер патента: 1743963

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Соколов, Сычев

МПК: B61K 9/08

Метки: движения, дефектов, процессе, рельсов, средства, транспортного

...цель достигается тем,что в устройстве для определениядефектов рельсов, в процессе движения транспортного средства, содержащем установленный на транспортномсредстве над рельсом чувствительныйэлемент, связанный с блоком обработки сигнала, подключенным к регистратору, чувствительный элемент выполнен в виде микрофона, а блок обработки сигнала - в виде анализатора частотного спектра, причем меж"ду микрофоном и анализатором частотного спектра включен Фильтр.На чертеже представлена Функциональная схема устройства,Устройство для определения дефектов рельсов в процессе движениятранспортного средства содержит установленный на буксе 1 колесной пары2 с помощью кронштейна 3 или непосредственно на буксе над рельсом 4чувствительный...

Номер патента: 1744459

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Галай, Ермилова, Лысенко

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектов, поверхностей

...отраженного от контролируемой поверхности излучения, и блок обработки сигнала, фотоприемник выполнен в виде диска, установленного с возможностью вращения относительно оптической оси, и четырех плоских щелеобразных фотоэлементов, расположенных в плоскости диска под углом 90 относительно друг друга. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 На фиг.1 представлена функциональная схема устройства для контроля дефектов поверхностей; на фиг,2 - фотоприемник с четырьмя плоскими щелеобразными фотоэлементами, вид спереди,Устройство для контроля дефектов поверхностей содержит источник 1 излучения и оптическую систему, предназначенную для установки по ходу падающего излучения под острым углом к контролируемой поверхности, состоящую из системы светофильтров 2...

Номер патента: 1744634

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Говоруха, Иванов, Присяжный, Хомутских

МПК: G01N 29/04

Метки: автоматический, дефектов, дефектоскопа, импульсного, сигнализатор, ультразвукового, эхо

...для подключения к выходам дефектоскопа.Недостатком его является невозможность использования для изделий с изменяющейся толщиной. Автоматический сигнализатор дефектов работает следующим образом,На вход автоматического сигнализатора 4 с выхода дефектоскопа 3 подается сигнал, получаемый при контроле сварного шва иэделия с помощью УЗ-преобразователя 1, перемещаемого механизмом 3 вдоль сварного шва. Этот сигнал поступает на селектор 6, на второй вход которого подается селектирующий импульс с мультивибратора 5, синхронизируемого со второго выхода дефектоскопа 2, Селектирующий (управляющий работой селектора 6) импульс позволяет выделить из общего сигнала, поступающего на первый вход селектора 6, сигнал от дефекта. Для этого...

Номер патента: 1746270

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Гордеев, Гордиенко, Евсеев, Коноплева, Хаджи

МПК: G01N 24/00

Метки: дефектов, изоляторах, концентрации, полупроводниках, радиационных

...180 х 10 мм, Информация о зарегистрижения,мишени однородноемагнитное поле, рованных событиях заносилась в памятьнаправление. которого перпендикулярно ЭВМ. Обработка полученного спектра пронаправлению спина мюона, изводилась по формулам (1) и (2) методомИзмерения на установке производятся 25 максимального правдоподобия. Полученследующим образом, ные после обработки параметры Ср,СПучок продольно поляризованных по. Л , Л определялись для исходных слаболожительноэаряженныхмюоновтормозится легированных образцов кремния и кварца,и останавливается в мишени 1. Производит- и образцов, подверженных облучению фик+ +лся регистрация актов распада,и-е ЧЧ для 10 сированными.потоками быстрых нейтроновкаждого зарегистрированного акта распада реактора,...

Номер патента: 1748032

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Кольев, Юдович

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектов, диагностики, длинномерных, трубопроводов

...диапазон и т.да при необходимости регулирует скорость движения поискового блока или дает другие дистанционные команды поисковоСоставитель П.Колев Редактор М,Васильева Техред М.Моргентал Корректор А,ВоровичЗаказ 2500 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж,.Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101 Способ осуществляют следующим образом.Для каждого датчика дефектоскопа выделяется подканал - окно в частотном диапазоне действия трубопровода в качестве волйовода и сигнал с каждого датчика передается непрерывно по своему подканалу в процессе движения дефектоскопа вдоль трубопровода. Предварительно сигнал каждого...

Номер патента: 1748815

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Брегадзе, Гвенетадзе, Коркашвили, Майсурадзе, Микадзе

МПК: A61F 2/28

Метки: дефектов, замещения, костных, нижней, челюсти, эндопротез

...4 фрагмент нижней челюсти (фиг.7 - 9), где толщина, высота и угол указанных фрагментов соответствуют размерам замещаемых фрагментов нижней челюсти,Предлагаемый эндопротез при замещении костных дефектов нижней челюсти применяется следующим образом,П риме р 1. Больная М,Н.И.,62 лет, ист, болезни Ь 1256. Диагноз: Амелобластома (рецидив) нижней челюсти слева, 20.05.86 г, произведена операция; под назотрахеальным наркозом резекция левой половины нижней челюсти с сохранением суставнойголовки.После резекции сегмента нижней челюсти оставшиеся фрагменты фиксируют в5 правильном положении с помощью аппарата Рудько. Двухрядным, узловым кетгутовым швом рану тщательно отделяют отполости рта.На концах фрагментов бормашиной со 10 здают...

Номер патента: 1752376

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Евтушенко, Еськов, Кирш, Мерунко, Монасевич, Пекарский

МПК: A61F 2/24

Метки: дефектов, закрытия, перегородки, сердца

...ее плоскости, Полуволны зигзагов 3 и 4, расположенные с одной стороны от заплаты 1, выполнены с радиусом закругления меньшим, чем полуволны зигзагов. расположенных с другой стороны от заплаты 1,Средство фиксации выполнено в виде свернутой вдоль боковой поверхности цилиндра и соединенной концами зигзагообразной проволоки, выполненной из материала с эффектом памяти формы, пронизывающей заплату так, что противоположно ориентированные полуволнызигзагов располагаются по разные стороны и отогнуты к краю заплаты, при этом отогнутые части зигзагов параллельны плоскости заплаты, а также полуволны зигзагов, расположенных с одной стороны от заплаты, выполнены с радиусом закругления мень1752376 Составитель В. ПекэрскиТехред М.Моргентал ректор С,...

Номер патента: 1753372

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Бекман, Дзелме

МПК: G01N 15/08

Метки: дефектов, пленки

...частиРд. = - 9 - =02 1,О бо12 чСигнал о появлении гелия в начальной частикамеры измерения с выходной стороныпленки свидетельствует о наличии дыркйили другого дефекта с коэффициентом диффузии для гелияч . сР/с 1,боИспользуя детектор, регистрирующИйгелий с чувствительностью р = 1015 атом, иобеспечивая концентрацию гелия в пленкена входной стороне С =10 ат/см, обнаруживают дефектные места с повышенным коэффициентом диффузии Оц = 10 см 2/с собщей площадью, превышающейЯ )-+ - = 0,3 10 см .. По сравнению с известным предлагаемый способ позволяет определить наличие нескольких типов дефектов пленки, Способ позволяет обнаружить в пленке дефекты структуры, не меняющие плотность, и поэ. тому не поддающиеся обнаружению с помощью...

Номер патента: 1753377

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Асимов, Назаров, Степанов

МПК: G01N 21/89

Метки: движущихся, дефектов, локальных, непрерывного, плоских, поверхности

...непрерывно сравнивают друг с другом путем вычисления их разности, Разность. сигнэлоа усиливают по переменному току и кодируют по амплитуде и полярности. Определяют время между двумя разбалансами одинаковой амплитуды и в случае. когда это время совпадает со временем передвижения материала от одной области регистрации до другой, считают, что на поверхности материала имеется дефект, Если же указанные времена не совпадают, считают, что разбаланс вызван помехой и дефект на материале отсутствует.Вычисление разности сигналов позволяет подавлять медленно меняющуюся фоновую составляющую сигналов, благодаря чему увеличивается чувствительность способа, Фиксация времени между разбалансами позволяет отсечь случайные сигналы, не вызванные наличием...

Номер патента: 1757650

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Житницкий, Квактун, Марчук, Шапурма, Ширкин

МПК: A61B 17/04, A61B 17/08

Метки: дефектов, замещения, мягких, тканей

...пружинами, тягэми и крючками, корпус снабгкен пластиной с отверстиями, закрепленной на стержнях, Пружины механизма дистракции устэновлены между двух шэйб, закреплен. ных нэ тягах и крючкэх, Тяги и крючки выполнены плоскими, Г-образной формы и устэновлены внутри пружин с возможностью перемещения навстречу друг другу, Свободные концы тяг установлены в отверстиях пластины с воэможностью их съема и фиксации, Рабочие концы крючков выполнены с изгибом под углом от 130-ти до 160- ти градусов, причем вершина этого угла рэсположена нэ оси симметрии крючка,Устройства ,фиг, 1-2).,гля зэмегцения дефектов мягких ткгней выполнено в виде корпуса 1, состоящего из колец, между которыми расположены стержни 2. закрепленные с помощью гаек. Нэ стержнях 2...

Номер патента: 1758502

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Захарова, Стихановская, Стихановский

МПК: G01N 3/52

Метки: дефектов, материалах, полостей

...между корпусом и мембраной, с учетом того, что жесткой называется пластина. если ее на и бал ьший прогиб не п ревы шает 1/4 толщины; мембраной называется пластина, прогиб которой превышает толщину в 5 раэи более. 15 20 25 ,"О 35 40 45 50 55 на обратное, параметры этого движения (скорость, время, величина отскока) определяотся наличием полостей под наконечниСкам и способностью наконечника достаточно точно пропустить через себя прямые и отраженные от поверхностей полостей волны деформации, возбужденные ударами бойка о наконечник,Недостатком устройства является его низкая чувствительность, обусловленнаябольшой толщиной наконечника, иэ-за чего,При проведении поиска па источникам патентной и научно-технической литературы для...