Патенты с меткой «дефектов»

Страница 34

Способ обнаружения сквозных дефектов в изделиях

Загрузка...

Номер патента: 1243492

Опубликовано: 27.05.2005

Авторы: Павлов, Титов, Тюрин

МПК: G01M 3/20

Метки: дефектов, изделиях, обнаружения, сквозных

Способ обнаружения сквозных дефектов в изделиях, заключающийся в том, что на поверхность изделия последовательно слоями наносят галогенсодержащее вещество, выдерживают изделие после нанесения каждого слоя заданное время и определяют проникновение этого вещества через стенку изделия, по которому судят об его дефектах, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности, галогенсодержащее вещество предварительно смешивают с технологическим газом, перед нанесением каждого слоя нагревают смесь до температуры насыщенных паров галогенсодержащего вещества в емкости, соединенной с полостью, по крайней мере одной из стенок которой является стенка изделия, а после каждой выдержки охлаждают слой до...

Способ устранения дефектов в сварных деталях

Загрузка...

Номер патента: 739830

Опубликовано: 27.08.2005

Авторы: Майданова, Матюшкин, Редчиц

МПК: B23K 28/00

Метки: деталях, дефектов, сварных, устранения

Способ устранения дефектов в сварных деталях, при котором прикладывают сжимающую нагрузку и нагревают дефектный участок до температуры рекристаллизации, отличающийся тем, что, с целью повышения качества деталей, полученных сваркой давлением, путем устранения перегрева деталей, и расширения номенклатуры обрабатываемых сварных деталей, на сварную деталь устанавливают пластину, нагрев осуществляют путем образования сварочной ванны в пластине над дефектным участком и после достижения в этом участке температуры рекристаллизации к детали со стороны, противолежащей пластине, прикладывают сжимающую нагрузку равную (0,005-0,02) ...

Устройство для измерения плотности магнитных дефектов одноосных ферромагнитных пленок

Загрузка...

Номер патента: 1292464

Опубликовано: 20.12.2005

Авторы: Вавуленко, Лифшиц

МПК: G01R 33/05

Метки: дефектов, магнитных, одноосных, пленок, плотности, ферромагнитных

Устройство для измерения плотности магнитных дефектов одноосных ферромагнитных пленок, содержащее оптически последовательно расположенные источник света и поляризатор, оптически последовательно расположенные анализатор и передающую телевизионную камеру, усилитель-формирователь, видеоусилитель, синхрогенератор и видеоконтрольное устройство, вход которого через видеоусилитель подключен к выходу усилителя-формирователя, первый и второй входы которого соединены соответственно с передающей телевизионной камерой и первым выходом синхрогенератора, а также блоки перемещения X и Y, графопостроитель, первый одновибратор, счетчик и блок индикации, вход которого через счетчик соединен с выходом...

Способ заделки дефектов на изделиях

Загрузка...

Номер патента: 1840497

Опубликовано: 27.03.2007

Авторы: Воробьева, Зяблов, Терентьева, Щербаков

МПК: B23P 6/00

Метки: дефектов, заделки, изделиях

Способ заделки дефектов на изделиях, включающий нанесение на дефекты слоя герметика Анатерм-Iy, отличающийся тем, что, с целью расширения технологических возможностей путем увеличения размеров заделываемых дефектов на изделиях из медьсодержащих сплавов, дополнительно наносят второй слой герметика Анатерм-Iy, в который предварительно вводят пыль из медьсодержащих сплавов, до полного заполнения объема дефектов, после чего изделие подвергают термообработке при температуре 60-120°С до отверждения смеси.