Патенты с меткой «дефектов»

Номер патента: 1345162

Опубликовано: 15.10.1987

Авторы: Домород, Кожаринов, Храповицкий

МПК: G03B 41/00

Метки: дефектов, объектов, поверхности, регистрации

...материал,П р и м е р. На поверхности электрода размещают контролируемый объектс поверхностными дефектами. На поверхности контролируемого объекта сфиксированным зазором, определяемымдиэлектрическими прокладками, устанавливают прозрачный диэлектрик, наповерхность которого, обращенную кобъекту, наносят тонким слоем магнитную жидкость, представляющую собойколлоидный раствор мелкодисперсногомагнитного порошка в жидкости, например, на основе керосина с добавлением45антикоагулянта - олеата натрия и черного порошка магнетита с плотностью5000 кг/м и размером частиц менее5 мкм, причем объемная концентрациямагнетита не превышает 257, На по"верхности диэлектрика располагают50прозрачный электрод, выполненный ввиде прозрачного токопроводяшего...

Номер патента: 1346376

Опубликовано: 23.10.1987

Авторы: Гудков, Крылов, Мощенко, Новиков, Токарев, Яровинский

МПК: B23K 15/00

Метки: дефектов, сварного, устранения, шва

...4 заглушки выступала над внутренней плоскостью сварного изделия. 20После сборки выступающий участокзаглушки со стороны большего оснона 11ния, оплавляют. Верхнюю часть кратера" наполняют расплавленным металлом, а затеи проплавляют на всю толщину изделия,П р и м е р., Используют алюминиевый сплав с толщиной листа 30 мм,Выступание, заглушки над листом3,5 мм, диаметр глухого отверстия1 мм, давление в вакуумной камере-65 10 мм рт.ст. Режимы оплавлениявыступающей части заглушки: Ч,30 кВ; Х = 380 мА; 61, =: +1 мАПредварительно электронная пушкак 5выставляется по центру заглушки ссовмещением оси пушки с осью заглушки с помощью отверстия, выполненногов основании заглушки, на которое на.водится электронный луч. Оплавлениепроизводится...

Номер патента: 1347050

Опубликовано: 23.10.1987

Авторы: Андрущенко, Карпов, Леонтьев, Макаров

МПК: G01R 31/303

Метки: дефектов, интегральных, линейных, обнаружения, скрытых, схемах

...на фиг.2 -схема соединения многокаскадных испытуемых усилителей для инвертирующего усилителя; на фиг.З - то же,для неинвертирующего усилителя.Устройство контроля многокаскадногоусилителя по импульсным шумам содержитиспытуемый усилитель 1, источник 2тока, усилитель 3, измеритель 4 напряжения питания, регистратор 5 импульсных шумов.Выводы питания испытуемого усилителя 1 соединены с выходом источника 2 тока, измерителем 4 напряженияпитания и входом усилителя 3 напряжения импульсных шумов, выход которого соединен с входом регистратора 5импульсных шумов,Схема соединения многокаскадныхиспытуемых усилителей для инвертирующего усилителя включает испытуемыйусилитель 1, источник 2 тока, соединенный с клеммами питания испытуемого усилителя...

Номер патента: 1348350

Опубликовано: 30.10.1987

Авторы: Беляков, Махмутов, Чернов

МПК: C08J 5/22

Метки: герметизации, дефектов, мембране

...пространство)Эбьткд сшивающего дгецтд 1 БГ 1 А .О 1 ОтцРИО Руядт и в этой ЖР ячРЙ -;1 р.". р 2. Процесс гс рмс тизд-1 11 1чсс ус с тн 11 яют д цд 110 гичпр 1,"Ргу 1, цо исот 1,зуст мембрану з Фороц.дстд, в качестве БПЛ 011 гИил 1 рропДон в виде О.",-ного водного раствора, Обработку БПЛ осущест 1.1 я т го. ддвлецием 3 дт в тече - циР 100 ц - Рржденге - 1 О с-гьм . дцы; рствром персульфатд аммониятчение 15 иц, отмывку - водой.:35 40 и 11 Р р 3 . Г.родос с О.у 1 це стг ляют дцдлогичцо примеру 1, цо использ, ыт,111 Ауэццу 10 мембрану иэ погиди метипсилок.дца на пористом фтороплдсте, БПЛ пре;ставляет собой олигоэфирдкри.чдт. Обработку БПЛ осущесФвляют при 7 ат в течецис 80 мин, Отверждецие - с помощью УФ-Облучения стороны мембрань,...

Номер патента: 1348505

Опубликовано: 30.10.1987

Авторы: Гуторов, Кустов, Хайдаров

МПК: E21B 33/14, E21B 47/00, E21B 47/18 ...

Метки: выделения, дефектов, кольца, обсаженных, объемных, скважинах, цементного

...в свободной (цезацементировдццой) чдсти колонны (от = 360 ),11 д фиг, 2 претстдттттен участок об саженной скважины с рдэличцым качеством деметирадиня: 1 - наличиеобъсмцого дефекта цементного кольца,2 - наличие контактного дефекта, 3 -беэдефектнае кольцо, 4 - признак кондфРА П и Л В обозцдчецы цементограммы,здрегистрттроваццые в области низкихи высоких частот.Применение предлагаемого способаэд счет более высокой чувствительности позволяет значительно повысить раз с л иПк не упругих прадо;тьцых волн тта част Иэобрететтие относится к геафцэичсс ким ттссгтедснациям буровых сквжцн и стредцдзц,чена для опенки качества крслентя обсаженных скважин.Цельн изсбретеция является гтгттттшецие надежности выделения объемных дефектов...

Номер патента: 1348682

Опубликовано: 30.10.1987

Авторы: Виноградов, Федорова, Ханжин

МПК: G01M 3/12

Метки: дефектов, испытании, обнаружения, поверхностных, полых, прочность, сквозных

...изделия слой сорбента вместе с пенетрантом смывают с поверхности. Наличие поверхностно-активного или моющего вещества в сорбенте улучшает смывку иенетранта с поверхности в результате эмульгирования.На контролируемую поверхность наносятпроявитель с добавками индикаторного вещества на контрольную жидкость.В изделии создают испытательное давление контрольной жидкости, необходимое дляиспытания прочности изделий.Осуцествляют визуальный осмотр наружной поверхности в видимом или ультрафиолетовом свете. Обнаруженные при регистрации цветные пятна, цвет которых соответствуе .ету пенетранта, свидетельствуюто наличии поверхностных дефектов; обнаруженные индикаторные следы, цвет которых соответствует цвету индикаторного...

Номер патента: 1349920

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Богатырев, Вейс, Дайкер

МПК: B23K 7/06

Метки: дефектов, зачистки, металла, огневой, поверхности

...равномерный сьем металла со всей зачищаемой поверхности, в том числе и на границах дорожек, зачищаемых каждым резаком.Таким образом, это устройство обеспечивает при включении всех резаков подачу кислорода по всей ширине зачищаемой поверхности одинаковой интенсивности, а при включении одного или части резаков обеспечивается ослабление этого потока в соседних с работающими резаках без изменения формы и сечения сопла резаков.Выполнение дросселя с площадью сечения менее ЗЯ от площади сечения канала подвода кислорода к резаку не обеспечивает подачу кислорода в резак с достаточной для удаления заплесков, возникающих в г"оцессе зачистки соседним резаком, интсьсивностью. При сечении дросселя более 7 от сечения канала подвода...

Номер патента: 1349929

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Баранов, Распопов

МПК: B23K 15/00

Метки: дефектов, сварного, устранения, шва

...пуча.Сварное соединение получается за один сварочный цикл с заполнением расплавленным металлом верхней части кратера. Расплавляемый металл интенсивно перемешивается сканирующим лучом, что способствует активной дегазации жидкого металла, а согласованное взаимодействие тока луча с амплитудой сканирования позволяет исключить несплавления, особенно в случае значительных поперечных размеров вставки, Этоприводит к повышению качества сварного соединения.П р и м е р, Выполняют электроннолучевую сварку плит из алюминиевого 45 сплава АМгб толщиной 20 мм на режиме: 0 ск = 27 кВ, 1 сб = 210 мА -1 (ро,= 73 мА, Ч, = 30 м/ч в нижнем положении, Расстояние от электронно-лучевой пушки до поверхности свариваемых плит 170 мм.Для имитации появления дефектов...

Номер патента: 1350587

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Дежкунова, Зацепин, Рогач, Свиридов, Сырец

МПК: G01N 27/24

Метки: дефектов, обнаружения

...обнаружения дефектов осуществляют по следующей технологии. Сначала готовят раствор поливинилового спирта (ПВС) путем растворения сухого ПВС в горячей воде (раствор О) и раствор хлорнокислого железа (11) путем растворения в воде при комнатной температуре (раствор б ) . Затем растворы а и Б смешивают и доводят до определенного объема.Полученный таким образом раствор (составы приведены в табл, 1) наносят на стеклянную подложку и высушивают при комнатной температуре, Для лучшего сцепления слоя с подложкой последнюю предварительно подслаивают путем окунания в 1%-ный водный раствор ПВС с последующим задубливанием при 150 С в течение 3 ч.После приготовления пленки-диэлектрика производят обнаружение дефектов изделия путем воздействия на него...

Номер патента: 1350593

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Агеев, Минят, Филист

МПК: G01N 27/90

Метки: визуализации, дефектов

...от генератора 10 суммируется в сумматоре 5 с напряжениемразвертки и поступает на осциллограф6, Амплитуда А этого сигнала подобрана таким образом, что50Н А=1 с - 1 2 пгде Н - требуемый размер растра наэкране;и - число элементов в столбце .матричного вихретового преобразователя;К - масштабный коэффициент,При достаточно высокой частотегенератора 10 на экране осциллографаможно наблюдать участок однороднойяркости, размеры которого определяются блоком 7 развертки.Одновременно импульсы кадровойразвертки поступают на счетчик 8,генерирующий последовательность 1чисел, преобразуемую аналого-цифровым преобразователем в 1-ступенчатыйсигнал. При амплитуде информационного сигнала, меньшей чем эталонноенапряжение, компаратор 3 не...

Номер патента: 1352335

Опубликовано: 15.11.1987

Авторы: Буйный, Бутенко, Песельник

МПК: G01N 27/82

Метки: двухкоординатной, дефектов, дефектоскопу, отметки, сканирующему

...Черезсхему 3 ИЛИ сигнал от дефектоскопапоступает на вход схемы 4 управления блока коммутации, где вырабатывается сигнал, по которому блок 5коммутации дефектоотметчиков формирует сигнал включения соответствующего дефектоотметчика (не показан).При выходе изделия из зоны контроля на выходе датчика 10 наличия изделия формируется импульс, который передним фронтом изменяет состояниятриггеров 11 и 14 на обратные и рабо35 Формула изобретения Составитель О.ГлазковТехред М.Моргентал Корректор С,Шекмар Редактор А.Долинич Заказ 5558/41 Тираж 776 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 3 1352та...

Номер патента: 1355920

Опубликовано: 30.11.1987

Авторы: Кривошеев, Юдин

МПК: G01N 21/91, G01N 27/82

Метки: дефектов, краскоотметчик

...канала 8 для удаления ампул выполнено с диаметром, большим диаметраампул. В корпусе 1 для Фиксации кас"сеты 2 при установке имеется защелка13, Сигнал на отметку дефекта на поверхности контролируемого объекта поступает через блок управления (не по"казан). Краскоотметчик дефектов работает следующим образом.Перед началом работы кассета 2 с ампулами 4 вставляется в корпус 1 и Фиксируется защелкой 13.При обнаружении дефекта в контролируемом иэделии с датчика дефектоскопа подается сигнал, по которому55920 2 25 лы при его работе,30 35 40 45 5 10 15 20 открывается пневматический клапан (не показан), и сжатый воздух по воздухоподводу 5 подается в пневмокамеру 6.Через канал 7 и выходное отверстие 12 струя сжатого воздуха выдувает краску из...

Номер патента: 1357706

Опубликовано: 07.12.1987

Авторы: Бирман, Гроссман

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектов, поверхности

...расширяется коллиматором, образованным линзами 3 и 4,Расширенный параллельный пучок лучейпопадает на аксикон 5, развертывающий параллельный пучок по образующей конуса. Линза 6 собирает пучок6лучей в своей фокальной плоскостив кольцо, диаметр которого равендиаметру провода 13. В фокальнойплоскости линзы 6 лучи отражаются от1 О эмалевого покрытия провода 13 и попадают на линзу 7, которая создаетизображение фокальной плоскости линзы 6 в плоскости приемника 8 излучения. Ролики 11 и 12, закрепленные на15 прозрачных пластинах 9 и 10, обеспечивают поступательное движение провода 13 вдоль главной оптической осилинз 3,4,6 и 7. При отсутствии дефектов величина светового потока,20 падающего на приемник 8 излучения,не изменяется со временем, При...

Номер патента: 1362453

Опубликовано: 30.12.1987

Авторы: Бригаднова, Гребенников, Плотников, Сысолятин

МПК: A61B 17/00, A61B 17/56, A61C 7/00 ...

Метки: дефектов, лечения, нижней, челюсти

...области.Под эндотрахеальным наркозом производят операцию: отсроченную костную пластику дефекта тела нижней челюсти ортотопическим лиофилизированным аллотрансплантатом с корнями зубов и одновременной кожной пластикой околочелюстных тканей делтопектораль ным лоскутом. Способ восстановления нижней че,люсти осуществляют следующим образом. Общепринятым способом заготавливают нижнюю челюсть от донора вместе с зубами, Затем коронковую часть зуба отсекают выше альвеолярного края на 2 мм. Корневую пульпу удаляют с одномоментным пломбированием корней. 62453 2После этого челюсть стерилизуют иконсервируют.Консерьированный аллотрансплантат 5с сохраненными альвеолярным краеми корнями зубов пересаживают в дефект воспринимающего ложа...

Номер патента: 1363048

Опубликовано: 30.12.1987

Авторы: Гуния, Новиков

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектов, неразрушающего, поверхности

...14 временного интервала запоминания в виде импульса П (фиг. 2 б). Начало и конец импульса Попределяются соответственно моментами начала и окончания сканирования контролируемой поверхности, Указанный импульс поступает на управляющие входы ключей 7 и 11. В течение его длительности в блоке 12 запоминания измеряется и запоминается величина среднего значения сигнала и одновременно в пиковом. детекторе 8 выделяется и запоминается величина максимального значения сигнала. По окончании импульса П ключи 7 и 11 закрываются и прохождение сигнала на входы блока 12 запоминания и пикового детектора 8 прекращается. С выходов последних постоянные напряжения поступают на соответствующие информационные входы блока 13 сравнения. По окончании импульса Ппо...

Номер патента: 1365036

Опубликовано: 07.01.1988

Авторы: Горячева, Дерновский, Кислов, Маликов

МПК: G03C 11/04, G03F 7/26

Метки: дефектов, устранения, фотошаблонов

...лазерного излучения на807, Затем сфокусировали лазерноеизлучение н дефектное место со стороны маскирующего слоя фотошаблонаи проводили осаждение до полученияоптически плотного слояМощностьлазерного излучения контролировалис помощью измерителя мощности ИМОН.Показателем качества ремонта прозрачных деФектов фотошаблоцов являетсяИОП дефектного места после технохимической обработки, которую определяли фотометрировацием на микроденситометре Ди которая равна 987Продолжительность процесса 15 мин,П р и м е р 2, Провели ремонтпрозрачных дефектов фотошдблона состороны маскирующего слоя по известному способу при параметрах процесса, описанных н примере 1. Интегральная оптическая плотность дефекти. го места после технохимическойобработки панна...

Номер патента: 1364314

Опубликовано: 07.01.1988

Авторы: Дмитриева, Плотников, Сагатбаев

МПК: A61B 17/00, A61B 17/56

Метки: дефектов, лечения, нижней, челюсти

...ментальной артерии.Пример. Больной У., 31 г поступил в челюстно-лицевое отделение с диагнозом: фиброзная дисплазия нижней челюсти справа. Производят операцию устранения дефекта нижней челюсти аллотрансплантатом. Под эндотрахеальным наркозом производят разрез в подчелюстной области длиной 5 см, резецируют нижнюю челюсть в пределах здоровых тканей кости. Выпрепаровывают лицевую артерию и конец ментальной артерии. В трансплантате создают тоннель, через который проводят лицевую артерию 20 и анастомозируют с культей ментальной артерии. Прикус устанавливают в правильном положении аппаратом Рудько, трансплантат фиксируют к концам материнской 2кости костными швами. Мягкие ткани послойно зашивают.Послеоперационное течение гладкое, рана...

Номер патента: 1364963

Опубликовано: 07.01.1988

Авторы: Бульина, Владимиров, Дрянных, Емельянов, Казаков, Крылов, Мамон, Мощенко, Новиков, Токарев, Шкандыков, Яровинский

МПК: G01N 23/04

Метки: выявления, дефектов, радиографический, сварных, швах

...их выявлению.П р и м е р. Порошок из металлов и их окислов насыпают на поверхность 40 свариваемых торцов и кисточкой выравнивают слой до толщины 0,1-0,2 мм. Затем плоский образец или трубную заготовку с нанесенным слоем закрепляют в приспособлении и к свариваемому 3гпроводят воздействие окислов церия, иттрия и лантана в отдельности и их смеси состава, 7: окись церия 40 + + окись иттрия 30 + окись лантана 30,Опробовано влияние грануляции смеси ца качество сварки и выявляемость дефектов. Для этих целей применяют порошок церия с размером частиц 0,0005; 0,001; 0,002; 0,003 и 0,004 мм. По результатам рентгеновского просвечивания установлено, что без нанесения на свариваемые торцы частиц металла из группы иттрий, церий и другие или их окислов...

Номер патента: 1366564

Опубликовано: 15.01.1988

Авторы: Ключников, Краснов, Можейко, Фильберт, Яковченко

МПК: D01H 13/22

Метки: дефектов, нити, обнаружения

...проходя через чувствительные элементы 5, отклоняют двуплечиерычаги 3, каждый из которых подвижноустановлен на оси 4. При отклонениирычагов 3 происходит контактное соединение их через контактные пластины8 с подвижными электродами 12, свободно перемещающимися в сквозных ок 6564 2нах 13. Подвижные электроды 12 электрически связаны с блоком регистрации 15, который выдает одновременнозвуковой и световой сигнал операторупрядения об обнаружении дефектов вформуемой нити. Длительность контактного соединения пластин 8 с электродами 12 при их совместном движении внаправлении действия силы определяетпродолжительность работы блока регистрации 15. С увеличением поперечныхразмеров дефекта нити величина отклонения рычагов 3 возрастает, что при...

Номер патента: 1368658

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Герасин, Гуния

МПК: G01J 1/44

Метки: дефектов, поверхности

...амплитуду электрического сигнала П, со среднестатистическим уровнем шума П,р, (фиг 2), характерным для поверхности бездефектных изделий 17, Определяется Б ,заранее экспериментально по партии бездефектных изделий 17. При превышении текущей амплитудой сигнала Б заданного уровня Пщ р, на выходе компаратора 9 формируется импульс запрета Т (фиг.2)Ф длительность которого соответствует времени превышения амплитуды сигнала этого уровня.В течение времени первого оборота иэделия 17 (длительность импульса Т ) сигнал с выхода первого ключа 4 через коммутатор 5 поступает на интегратор 6 для определения среднего уровня шума, При срабатывании компаратора 9, т.еобнаружении им в сигнале Б всплеска, предположительно сформированного от дефекта, на его...

Номер патента: 1368741

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Блинов, Горохов, Смирнов

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов

...информативным частям оптического сигнала от эталонной или дефектной деталей Нормирователи 15 и 16 представляют собой регулируемые усилители, коэффициенты усиления которых устанавливаются в соответствии с нормой дефекта (например, в зависимости от количества царапин). Схема 17 сравнения в простейшем случае представляет собой мостовую схему, в плечи которой включены нормирователи. В этом случае сигнал одной полярности соответствует годной детали, другой - дефектной.Например, при разбраковке дета" лей типа полированной пластины с периодическими канавками дефектами являются царапины на ее поверхности, появившиеся вследствие несовершенства технологии, обрабатывающего инструмента и т.д, Диаграммы пространственных спектров (сечений)...

Номер патента: 1373509

Опубликовано: 15.02.1988

Авторы: Журавлева, Петров, Сумрин

МПК: B23P 6/00

Метки: дефектов, закаленных, поверхности, устранения

...Б.51( Ы 0 33 ; 1 д Г И . , р 0 Х С 1 ц0 . 3ДУ кион ьи3 ГР(Б;сдг 1 и;.153 с ,13 Н 3 СКГКчсСт 0 КИС,И И КОрцбЛНИС ЧИСГ 0 и тцч 10 06 р;36);110 ы с нцВрх 3 с. с 11 Б; ка (ицбс нц ( к)1 ЛГрСБ .10 7( Н (. 06 С В.( 3 боле( блсГцнрГ н) к 1 срцс с) к)Б,рхнсНнсс р ,црс,щ; ыз,- СИМ;,Ь 13 Ы с М НИИГ;3.ИУУУН(Я(Г У 11, ннк (БоссЗчБ,с нию ц6 Р;к;3) 1 Лс Р;3( с цкцн дтег 1 06 ;36 т;3111 ыи В;3,к хи рцк К 1 ( гали ы;3 ки 12.ц ( .амгрм 6 чки 615 мм, ллинй сцс)к 3 2080 мы. ыдссцй 620 к 1 р 0 ь 0 К 3:Лк;3 6 18 11 (6 5 11.) 11 ри ультра (вукциы кц 3рцлс нс 3 3 кслс.иной нцв(рх 130(и 6 чки 063; ру ж.НЫ ДВЗ .СССК Гс ЫСс 3, Сс 3, Кц Г Ь 1. у, ,якТСя сС 1 Н 1(Н р;1 СЧИСТКсМИ .1.6 Ицй 4 и 7 ым.Вочку Балла 01 ж)гс(нт с прим нним нослед)в;тельноц ин;(укпинНгц 1:,и...

Номер патента: 1374048

Опубликовано: 15.02.1988

Авторы: Малышева, Попов, Ростковский, Цыганков

МПК: G01B 21/30

Метки: дефектов, наличия, поверхностных

...сигнал с нужной поверхности через соответствующий фотоприемник 6 и передает его на первый усили тель 11. Далее сигнал преобразуется первым детектором 12 и подается на регулируемый пороговый элемент 13, который вырабатывает сигнал, соответствующий ширине дефектного участка, причем порог получен ранее путем проведения эксперимента. Генератор 15 тактовых импульсов подает синхроимпульсы, поступающие на схему И 16, с помощью которых сигнал квантуется, Затем этот сигнал поступает на счетчик 17, первый дешифратор 18 и первый сумматор 19 для подсчета количества импульсов, при О чем количество импульсов соответствует ширине дефектного участка. Полученная информация хранится в регистре 20.С помощью блока 21 управления вы рабатываются импульсы,...

Номер патента: 1374155

Опубликовано: 15.02.1988

Авторы: Макеев, Савинков

МПК: G01R 31/06, H02K 15/00

Метки: дефектов, коллекторных, машин, обмотках, обнаружения, электрических, якорей

...возможность поворота вокруг его продольной оси, каретка 4 установлена нараме 3 с возможностью передвиженияпо ней вдоль продольной оси испытуе- .мого якоря 2, дугообразная рукоятка 5жестко закреплена на каретке 4 концентрично испытуемому якорю 2, а держатель 6 закреплен на дугообразнойрукоятке 5 с возможностью регулирования местоположения в радиальном от- ЗБносительно испытуемого якоря 2 направлении, при этом ограждение 9 в своейпередней части 10 имеет щель 11, расположенную параллельно продольнойоси испытуемого якоря 2, а дугообраз 40ная часть 12 выполнена концентричнос испытуемым якорем 2 и охватываетсядугообразной рукояткой 5.Устройство работает следующим образом. 45На опору 1 устанавливают испытуемый якорь 2, затем шунтируют...

Номер патента: 1375936

Опубликовано: 23.02.1988

Авторы: Иванов, Лямин, Самойлов, Федоров, Шульженко

МПК: G01B 3/00

Метки: глубины, дефектов, поверхностных, ширины

...к поверхности измеряемого изделия пружиной 6, направляющие 7 основания 1, каретку 8 с шарнирно установленной на ней второй губкой 9, перемещающуюся возвратно-поступательно на направляющих 7. Каретка 8 содержит нанесенную 25 на ней шкалу 10 и центральное окно 11 для визуальных наблюдений, Каретка 8 подпружинена к стенке окна 3 пружиной 12. На основании 1 установлены верньерный узел 13 с нониусом 14 с 30 возможностью возвраТно-поступательного перемещения вдоль шкалы 10 каретки 8 и кронштейн 15 с окуляром 16, линзой 17 и микрометрической шкалой 18 для измерения глубины дефектов. На основании 1 выполнены. ножки 19 для установки его на объект измерения. Устройство работает следующим образом.Для измерения ширины дефекта устройство...

Номер патента: 1376029

Опубликовано: 23.02.1988

Авторы: Барке, Беженарь, Косилов, Слухаевский

МПК: G01N 27/20

Метки: дефектов, материалах, параметров

...2, жестко скрепленной с диэлектрической призмой 3. Ксвободным поверхностям плоских участков проводящей пластины, наклоненных под угломик конт 1 2ролируемому материалу 4, прикрепляют накладки 5 из контролируемого материала в виде прямоугольныхпризм. С противоположной стороны к,контролируемому материалу прижимаются яакладки 5, прикрепленные к участкам проводящей пластины 6, содержа щим охранные кольца и измерительныеэлектроды 7. Накладки 5 имеют такуюформу, чтобы противолежащие участкипроводящих пластин 2 и 6 оказалисьпараллельными друг другу. Количествонаклоненных под разными углами кконтролируемому материалу противолежащих участков проводящих пластинопределяется числом измеряемых пара"метров материала. Электроды 7 подключают к...

Номер патента: 1376034

Опубликовано: 23.02.1988

Автор: Домород

МПК: G01N 27/62

Метки: дефектов, материалах, обнаружения

...1 в жидкости3, находящейся в критическом (неустойчивом) состоянии, начинают образовываться и расти пузырьки 6, содержащирастворенный в жидкости 3 газ и парили газообразные продукты термического разложения жидкости 3 (например,для масла - водород), причем зародышами служат неровности и электрические неоднородности объекта 1, а ростпроисходит тем быстрее, чем большетемпературный напор, т.е. разностьлокальной температуры поверхности итемпературы жидкости. Под действиемприложенного высокого напряжения впарогазовых пузырьках, обычно уже содержащих заряженные частицы, развивается ионизация, как только онидостигают определенного минимальногообъема (так как давление, состав газа и приложенное напряжение известны). Удобно подобрать величину...

Номер патента: 1376059

Опубликовано: 23.02.1988

Авторы: Григорянц, Исаев, Чаморовский

МПК: G01M 11/00

Метки: волоконных, дефектов, обнаружения, одномодовых, световодах

...отсечки, начиная с некоторой длины волны Л, ,дЛ поле второй моды начинает расплываться" и проникать в светоотражающую оболочку. Вторая мода становится плохонаправляемой световодом и соответственно характеризуется большими потерями, обусловленными всякого рода неоднородностями. Эта особенность распространения излучения в одномодовом световоде используется для определения длины волны отсечки второй моды, т.е, для выбора условий одномодового режима работы.Указанное свойство используется для обнаружения дефектов в одномодовых волоконных световодах. С этой целью зондирование световодов надо осуществлять не на длине волны, превышающей длину волны отсечки, как это делается в известном способе, а выбирать длину волны из области, в которой вторая...

Номер патента: 1376950

Опубликовано: 23.02.1988

Автор: Стефен

МПК: E21B 47/00

Метки: дефектов, колонне, обсадных, труб

...часть суммы является полем возмущения, обусловленным только деформацией кругового тока около дефекта, например поле 28 возмущения. Величина это го поля возмущения пропорциональна продольной длине и глубине проникновения дефекта 29 или коррозии. Важной особенностью поля 28 возмущения является фазовая разность между ним и номинальным полем. Если переместиться в осевом направлении на расстояние от катушки 9 достаточно далеко, чтобы линии магнитного поля, проходящие через плоскость перпендикулярную оси колонны, в этой точке проходили через стенку колонны дважды, круговой ток, протекающий в стенке колонны, будет вызывать задержку по фазе на 90, Возмущение В поля 28 имеет ту же фазу, что и круговой ток, поскольку оно полностью зависит от...

Номер патента: 1377637

Опубликовано: 28.02.1988

Авторы: Крылова, Седов, Уральский, Штительман, Юрцев

МПК: G01M 3/00

Метки: дефектов, размеров, уплотнений, эластичных

...кольца с уплотняемой плоскостью при заданной деформации кольца. 40 45 50 55 Изобретение относится к техникеиспытаний и может быть использовано при оценке качества эластичных уплотнений,Целью изобретения является повышение достоверности путем исключениявлияния неплотной сборки устройства.На чертеже представлена схема устройства реализующего способ.Способ определения герметизирующей способности эластичных уплотнений осуществляют следующим образом.Испытываемое эластичное уплотне"ние 1 (кольцо) помещают на предметныйстолик 2 и вводят в контакт с гранью,перемещаемой вдоль вертикальной осиоптической призмы 3.В предметном столике 2 выполненыканалы 4, предназначенные для соединения с вакуумным насосом полости 5,ограниченной испытуемым...