Патенты с меткой «дефектов»

Номер патента: 333454

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Ордена, Сми, Трудового

МПК: G01N 25/14

Метки: дефектов, кристаллической, локального, металла, решетки, скопления

...металл этих примесей отпадает, Затем проводят точечное расплавлепие концентрированным источником тока и локальный анализ, выделившегося газа одним из методов миирозондирования, например, локальным масс-спектральным методом. Наппидмер, в техническом железе и стали практически всегда содержатся включения в виде ГеО, 10 Еез 0.1. При распаде их в процессе нагрева выделившийся кислород собирается в дефектах кристаллической решетки (микропустотах, дислокациях и т, д.), которые образуются вследствие того, что обьем окислов превы шает объем чистого металла. По мере подьема температуры на границе фаз Окисел - металл возчикает зона скопления дефектов решетки (вакансий и дислокаций); кислород, находящийся в этих вакансиях, на границе 20 раздела...

Номер патента: 335317

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Спектор

МПК: D21F 1/10

Метки: движущемся, дефектов, полотне, сетчатом

...усилителя, 10 приведенное к первичной обмотке входноготранзистора Трз, который с конденсатором С образует фильтр, настроенный на частоту генерации источника напряжения, способствует повышению помехоустойчивости устройства.15 Для этой же цели применяется и колебательный контур, состоящий из первичной обмотки трансформатора Трз связи усилителя с детектором и конденсатора Сз, Детектор преобразует переменное напряжение, усиленное 20 усилителем в постоянное и положительное относительно общего провода. Переменная составляющая убирается с помощью фильтра СзДрС 4. Потенциометром Л устанавливается порог срабатывания регистра с памятью та ким образом, чтобы при сканировании струейнеповрежденного участка контролируемого полотна потенциал...

Номер патента: 336014

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Волков

МПК: A61B 17/56

Метки: гомопластического, дефектов, замещения, костей

...кортикальными гомопластинами обкладывают центральный трансплантат вокруг. Часть из них переходит на 2 сл за край резецированной кости по ее наружной поверхности. Гомопластины фиксируют между собой по типу вязанки хвороста с помощью ультразвуковой сварки, которую осуществляют в виде пояска гомо- стружкой, припоем служит циакрин; концы гомотрансплантатов приваривают к концам кости реципиента и сваривают между собою и в концевых отделах, что прочно придерживает гомопластпны в период естественного срастания костей и развития новообразованной кости. Метод рассчитан на активную рсгенерацию кости реципиента по узким каналам-щелям, возникающим между гомопластинамп в условиях прочной иммобилизации, которую получают ультразвуковой сваркои. Метод...

Номер патента: 337213

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Давиденко

МПК: G01N 29/04, G01N 29/10

Метки: дефектов, сварного, шва

...его длины, и сравнивают с известными уровнями эталонных сигналов, соответствующих определенным видам дефектов,Благодаря этому возможно определение вида дефекта (трещина, пора, непровар).Известно, что наиболее характерной особ ностью дефектов сварных швов является ношение их средней высоты, измеренной вертикальном сечении сварного шва, к дли измеренной вдоль оси сварного шва, котор называется коэффициентом корреляции меж высотой и длиной дефектов. Например, так дефекты сварного шва, как поры, горячие т щины и непровары, обладают одинаковой п щадью при отношении их длин, равном 1:3Отношение средней высоты дефектов к длине может быть определено из следующ равенств: р9 пор49 поргде 1 ор - длина поры.деф . (А +А )1 д,ф К Л 6 пзми...

Номер патента: 337711

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Мужицкий, Смирнов, Шумаев

МПК: G01N 27/90

Метки: выявления, дефектов, поверхностном

...катушку, при помощи э.д.с которой автоматически регулируют чувствительность дефектоскопа, воздействуя ею на управляющие цепи усилителя.На фиг, 1 представлена схема датчика, а на фиг, 2 - блок-схема дефектоскопа для реализации предложенного способа.Датчик содержит катушку 1 возбуждения ц измерительные катушки 2, оси которых ориентированы перпендикулярно намагничивающему потоку катушки возбуждения, а также дополнительную измерительную катушку 3, Блок-схема содержит катушку 1 возбуждения, измерительные катушки 2, дополнительную измерительную катушку 3, источник возбуждения 4, соединенный выходом с катушкой 1, усилитель 5 с двумя входами, один из которых для сигнала с дефекта связан с катушками 2, а другой для автоматической...

Номер патента: 344343

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Всесоюзный, Домашевский, Зарайченко, Колесников, Котлостроени, Медведев, Таранушич

МПК: G01N 27/87

Метки: jmijiti»u, tir-v, в.ф, дефектов, изделиййсооюзная

...При плавно о поля, та фикпадания я, прела (глуИзобретение относится к области магнитной дефектоскопии материалов и может быть использовано при контроле качества труб и других изделий из ферромагнитных материалов.Известен способ магнитной дефектоскопии, позволяющий определять участки, где расположены опасные глубинные дефекты и поверхностные повреждения, путем неоднородного намагничивания изделия по толщине.Цель изобретения - повысить точность определения глубины залегания дефекта.Для этого плавно изменяют частоту намагничивающего поля до исчезновения сигнала от дефекта, например, вращением постоянного магнита, фиксируют эту частоту и по ней судят о глубине залегания.Способ осуществляют следующим образом.При намагничивании...

Номер патента: 353894

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Всесоюзный, Свирид, Трощановский

МПК: B65H 54/08

Метки: бобину, дефектов, намотки, нити

...к отклонению в динамическом режиме лей, влияющих ца каСпособ определения дефектов намотки нити на бобину, включающий операцию разматывания исследуемой бобины, отличаюгггийся тем, что, с целью осуществления контроля за качеством раскладки нити, разматывание бобины осуществляют путем ее раскатывания по поверхности с одновременной фиксацией развертки витков относительно этой поверхности и с последующим сравнением его с положением, принятым за эталон, например с расчетным,Известен способ определения дефектов намотки нити на бобину, включающий операцию разматывания исследуемой бобины, Для осуществления контроля за качеством раскладки нити предлагается разматывание 5 бобины осуществлять путем ее раскладывания по поверхности с одновременной...

Номер патента: 356534

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Лихтман

МПК: G01N 21/89

Метки: дефектов, зй, обнаружения

...целью повышения надежности работы в предложенном устройсттве щелевая диафрагма выполнена из двух пар установленных на термокомпенсирующих основаниях шторок, щели которых расположены перпендикулярно одна другой. На чертеже показано предложенное устройство.Устройство состоит из источника 1 света, оптической системы для фармировасния сканирующего луча, а также фотопрпемнпксв с электроиной схемой.. Оптическая система содержит кснденсор2, щелевую диафратму 8, проекционный объ ехтив.4, развертывающий барабан б и линзу б,Диафрагма имеет две пары шторок -шторки 7, 8 и шторки 9, 10, юстирсвочпые прокладки И - 14, четыре термокомпенсн рующих основания 15 - 17 (одно основаниена чертеже не показано). Устройство работает следующим образом.Световой...

Номер патента: 357506

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Аронов, Ивандиков, Кеткович, Киселев, Строков

МПК: G01N 21/954

Метки: внутренней, дефектов, наличие, поверхности, труб

...контроля предлагаемое устройство снабжено кольцевой диафрагмой с шириной кольца, равной минимально выявляемому дефекту, расположенной между конденсором и призмой, а призма выполцеца в виде куба Гаусса с полупрозрачной внутренней гранью.На чертеже дана схема предлагаемого устройства.5 Оно содержит источник света 1, конденсор,2, кольцевую диафрагму 3, призму 4, выполненную в аиде куба Гаусса с полупрозрачной внутренней гранью, объектив 5, коллектив б, модулятор 7, фотоэлектроццый блок 8. Пере фокусировка объектива ц вращение дискамодулятора производится двигателями 9 и 10.Устройство работает следующим образом.Световой поток от источника 1 формируется коцдецсором 2, освещает диафрагму 3, 15 находящуюся в плоскости передней...

Номер патента: 360599

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Кравцов, Резников

МПК: G01N 27/24

Метки: дефектов, слоев

...поверхности с чернымн точками, соответствующими неоднородностям идефекта м. Пр мет изобретенг Способ контрпутем наложенииост:.г на,регистр ЗО фотоэмульсионн Изобретение относится к области электронной техники, в частности к пгроизводству полупроводниковых,прибогров,При производстве полупроводниковых пгрибогров (диодов, транзисторов, интегральныхсхем и т, д.) методами планаргной технологиипредъявляются высокие требования к,качествуповерхности полупроводнигков и диэлекврических слоев, так,как дефекты слоев матсриаловоказывают значительное влияние на разброспараметров, надежность и выход годных полупроводниковых приборов,Известен электролитический способ контроля дефектов диэлектрических слоев на полу,проводниковых или металлических...

Номер патента: 384003

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Богородский, Вител, Потемкин, Смирнова, Солнцев

МПК: G01B 11/30, G01B 7/34

Метки: выявления, движущейся, дефектов, поверхности, прибор

...16 и 17 и вырезы обтюраторов расположены таким образом, что при открытом опорном световом канале усиленный электрический импульс этого канала поступает на один из резисторов (например резистор 20) ячейки сравнения, а при открытом измерительном световом канале соответствующий импульс поступает на другой резистор (например резистор 21). Падения напряжении на резисторах 20 и 21 направлены навстречу друг другу и их суммарная величина измеряется магнитоэлектрическим вольтметром 22, имеющим нуль в середине шкалы. При равенстве падений напряжения на резисторах 20 и 21, а, следовательно, при равенстве импульсов напряжения, снимаемых с усилителя 14, результирующее напряжение, измеряемое вольтметром 22, будет равно нулю.В этой системе в...

Номер патента: 386103

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вульф, Иоффе, Ков, Стрижевский, Сурис

МПК: F16L 58/12

Метки: битумного, дефектов, устрапепия

...способа является невозможность осуществления ремонта изоля ционного покрытия без вскрытий трубопро. вода.Для осуществления ремонта изоляционного покрытия без вскрытия трубопровода по предлагаемому способу участок трубопровода с нарушенной изоляцией освобождают от транспортируемой среды, заглушают и пропускают теплоноситель, температура которого выше температуры размягчения битумной изоляции.Слой битума, находящийся в контакте с нагреваемой поверхностью трубопровода, оплавляется, благодаря чему происходит ликвидация дефектов и трещин в покрытии.В качестве теплоносителя могут быть использованы пар, горячая вода, горячие продукты сгорания топлива и другие виды теплоносителей.Предлагаемый способ устранения дефектов битумного изоляционного...

Номер патента: 390422

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Амазасп, Афанасьева, Григор

МПК: G01N 21/95, H01L 21/66

Метки: выявления, дефектов, кристалла, поверхности, полупроводниковых, приборов

...изображения с усиленным или ослабленным контрастом.20 Длч получения видимого изображения используется световой сигнал, отраженный от поверхности объекта при сканировании светового зонда и регистрируемый фотоэлектронным умножителем.25 На чертеже изображена блок-схема устройства, где обозначены: 1 - телевизионная проекционная трубка; 2 в объектив; 3 - полупро водниковый прибор; 4 - видеоусилитель фотоответа; 5 в световод; б - фотоэлектронный 30 умнояитель (ФЭУ); 7 - видеоусилитель ФЭУ;390422 Составитель В. Громоедактор Б. Нанкина Техред Е. Борисова ейзерман Царькова рректоры: Ми аказ 30686ЦНИИПИ Изд.1734 Тираж 755 осударственного комитета Совета Минист по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5одписное Типография,...

Номер патента: 393666

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01N 27/22

Метки: дефектов, обнаружения

...емкостный датчик, два электрода 1 и 2 которого располагаются снаружи контролируемой трубы 3, изготовленной пз электроизоляционного материала. Третий электрод 4 пз ферромагнитного материала располагается внутри трубы. Электрод 1,представляет собой постоянный магнит, являющийся источником м. д. с.контура магнитной цепи, замкнутой через электрод 4, электроды 1 и 2 подключены к ин дикатору 5 величины емкости, через которыйони связаны с источником высокого напряжения б.Устройство работает следующим образом, Труба 3 движется между электродами ем костного датчика, параметры ее материалаопредсляют,как величину емкости этого датчика, так и величину пробивного напряжения между его электродами. Прн изменении структуры материала указанные...

Номер патента: 399794

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Чмищенко

МПК: G01R 31/06

Метки: дефектов, машин, обмотках, обнаружения, электрических, якорей

...сигналы с прцемногзэлектромагнита, установленного с минимальным зазором над якорем, поступают на элек тронный блок, где они демодулируются, а(5) выделенная огибающая предварительно усиливается, фильтруется, опять усиливается и контролируется индикатором.На фиг. 1 показаны амплитудно-частотные характеристики основных гармоник огибающей модулированных сигналов после предварительной их демодуляции в электронном блоке. При этом доброкачественный якорь вращается со стабильной скоростью в переменном магнитном поле индуктора постоянной напряженности. Частотный спектр огибающей разделяется на полезные сигналы- гармоники характеризующие состояние обмоток якоря,и мешающие сигналы, зубцовые помехи(и - число оборотов якоря в минуту,...

Номер патента: 406669

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Анохин, Кузнецов, Осокина, Попов

МПК: B23K 28/02, B23P 6/04

Метки: дефектов, устранения

...путем раего заварки,целью предупрния горячих т5 концентратороняют по оси свустраняемомуделки и завардефекта,преимуще х соединеследующеи тем, что, с озникновеенения дерез выполараллельно ии его раз- подварки ектов свари и по йся ости приь а,на нпя п перац после транепия деф тошовной зоне зделки дефект отличающ еждения опас рещин за сче в в виде падре арного соедин дефекту до о ивают надрез02. Способ по п. 1,что длину надрезадлины дефекта. тличающиися тем, танавливают не менее исяпредеИзобретение отночастности к способпреимущественно всоединений.Известен способ устранения дефектов путем разделки дефекта и последующей его заварки.Известно также применение деконцентраторов в виде надрезов, благоприятно влияющих на результирующее поле...

Номер патента: 407223

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Яковлев

МПК: G01N 21/95

Метки: дефектов, обнаружения, поверхности, шара

...системой, подключаемой к каналаы гнппнделя и стержня,Это позволяет повыоить надежность контроля, так как вакуумная система порочно удерживает шар в торце шпинделя. На чертеже изображе я установка,Она содержит шипиидель 1, стержень 2, пдольные сквозные каналы 3, контролируемыйшар 4, датчик 5 для фиисации дефектов, например фотоэлектрический,Установка работает следующ(им образом.Вместе со шпинделем 1 в горизонпальнойплоокосги вращается и контролируемый шар10 4, закрепленный на его торце с помощью вакуумной системы (на чертеже не показана),при этом датчик 5, установленный строго пооси шпинделя 1, перемещается в плоскости на90 до положения, обозначенного пунктиром, иконтролорует половину шара.Затем стержень 2 сближается с шатром, вего...

Номер патента: 409154

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Ременик, Тулу

МПК: G01R 31/06

Метки: дефектов, обнаружения

...фиг. 2) уста 1 явлин;1 стс 5 Ия коллекторе таким образом,чтобы щетки 5, подключенные к формнровате;10 Г), находи,п)сь и; лямсг 1 ях /.Полупроводниковьш формирователь (са.11)5 и, 1) состоит из осветителя Ь, оарябаня ) сотверст ними, Остиковьх фОТОдятчиковтрянзнсторшях клк)чей 10. К индуктору 11пт)дкл)0)ястс 51 исто 1 ник пост 05 ППОГО нянрякс.иня 12. Прн вращеш)и оарябана 9 совместно снндуктором 11 вокруг якоря 1, двигателем 1))поочередно засвечиваются фотодиоды и соотвстствс:шо открываются н закрываются трянзнсторшлс ключи Са. фнг, 2), Это позволяегнхОД иидисе 1 торя, например, Г)стнлгОгра 1)я 14,поочередно иодклк)чать к двум соседним лаз)с,515 и судитьдефекте в сскцни по форменаводимой э. д. с.В связи с тем, что барабан 9 связан с...

Номер патента: 366627

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Иностранец

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектов, обнаружения

...1,1969 ( Изобретение относится к контрольно-измерительной технике.Известно устройство для обнаружения дефектов, содержащее источник света, многогранное дисковое зеркало, расположенное в его потоке, и фотоэлектрический преобразователь, установленный в потоке отраженного от дискового зеркала и дрошедшего через контролируемый объект света.Однако разрешающая способность такого устройства недостаточно высокая, в особенности при дефектоскопии движущихся объектов в виде, прозрачных листов.Предлагаемое устройство отличается тем, что, с целью повышения разрешающей способности дефектоскопни движущихся объектов в виде листов, оно снабжено параболическим зеркалом, установленным в потоке отраженного от дискового зеркала света, в фокусе которого...

Номер патента: 374539

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01N 33/34

Метки: движущемся, дефектов, материале, плоском

...в светосборник, на торцах которого установлены фото- преобразователи. С выхода фотопреобразователей электрический сигнал поступает на электронный сумматор-усилитель 9, Усиленный сигнал подается на электронные блоки, которые анализируют заключенную в нем информацию о дефектах. Так, например, блок 10 контролирует длительность импульса, которая пропорциональна диаметру дефекта, а олок 11 - периодичность повторения сигнала в каждой последующей строке (этим определяется длина дефекта). Чтобы эта информация о размерах дефекта была истиннои при различных скоростях движения материала, необходимо поддерживать определенное постоянное соотношение между временными параметрами сигнала и времязадающих цепей, 20 входящих в электронные блоки 10...

Номер патента: 375539

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Фурман

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектов, отметчик

...предлагаемогоотметчика.15 Он состоит из усилителей 1 и 2 импульсов,причем усилитель 2 имеет два выхода - а и Ь, датчиков скорости 3 и 4, схемы задержки импульсов от дефектов б, выполненной, например, на регистре сдвига, контролируемого изделия 20 б, пассивных роликов 7 и 8 с жестко посаженными на их осях дисками 9 и 10 с отверстиями триггера 11 с разделенными входами с и А преобразователя 12 импульсов в постоянное напряжение, автономного генератора И им пульсов, датчиков 14 дефектоскопа и краскоотметчика 15.Устройство работает следующим образом, Контролируемое изделие 6, двигаясь, поступает на ролик 7. Датчик 3 начинает выдавать 30 импульсы с частотой, пропорциональной ско375589 Предмет изобретения оставитель А. Духан Техред Т....

Номер патента: 375550

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Зальцман, Кундзич, Фридман

МПК: G01N 33/34

Метки: движущихся, дефектов, материалахn, обнаружения, плоских

...перекрываются 15 плунжерами 8, подпружиненными пружинами 9 и двигающимися в гильзах 10, имеющих крышки 11. Плунжера 8 с помощью пальцев 12 сцеплены с поворотным командным валом 13. Основной светосборник-световод 1 и ком мутационные светосборники-световоды 5 имеют на торцах фотопреобразователн 14 и 15 (соответственно), например фотоумножители.Устройство работает следующим образом.Световой поток сканирующего луча 4 раз вертки, движущегося в направлении стрелки Ана фиг, 1, отражается контролируемым материалом 3 и попадает в светосборник-световод 1, Доходя до торцов последнего, этот световой поток преобразовывается фотопреобразовате лями 14 в электрический сигнал, несущий ин375550 Составитель А. Духаиии Воликова Техрсд Т. Курилко Корректоры:...

Номер патента: 375825

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Ленинградский

МПК: H01F 41/02, H05K 13/08

Метки: 1игяп-т, irlb, дефектов, лг, обнаружения, плоских, радиодеталей1, •е

...головки эластичной прокладкой, расположенной на жестком основании.На фиг, 1 приведена блок-схема устройства; на фиг. 2 - контактный механизм.Устройство состоит из программозадающего блока, выполненного в виде таймерного печатающего механизма 1, блоков коммутации 2, управления электроприводом 3, формирования измерительных и эталонных импульсов 4, сравнения б, транспортера б с тает следующим образом.Импульс цикла из таймерного печатающего механизма, который помимо функции регистрации результатов измерения в режиме работы по вызову выполняет также функцию программозадающего блока всего устройства обнаружения дефектов ферритовых пластин, поступает в блок 3. По этому импульсу в блоке 3 формируется цикл сигналов управления загрузкой,...

Номер патента: 376710

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Федосенко, Юдин

МПК: G01N 27/90

Метки: выявления, дефектов, поверхностных, электроиндуктивное

...содержит электрон ндуктивный датчик 1, например проходной, накладные датчики 2, 3, и, генератор 4, схему 5 амплитудно-фазовой обработки сигнала, первую схему совпадения б, вторую схему совпадения 7, блок автоматики 8, схему формирователей 9, 10, М.Работает устройство следующим образом,Магнйтйая йеоднородность в ферромагйитных материалах или магнитная фаза в неферромагнитных материалах расположена, в основном, по всему периметру изделия, а де5 фект типа нарушения сплошности занимает уз.кий сектор. Сигнал от дефекта появляется впроходном датчике 1, а также может появиться в одном из накладных. В этом случае схе.ма совпадения б не выдает сигнал на запрет10, прохождения сигнала от схемы обработки 5на блок автоматики 8. Блок автоматики...

Номер патента: 378308

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Шор

МПК: B23K 35/30, B23K 9/04

Метки: бронзового, дефектов, заварки, литья, медного, наплавки, смесь

...ичающаяся честна напл из 60 - 70% шихты на в которой в 12% а ос ы в следующ8 - 10 8 - 10 10 - 16 18 - 20 25 - 30 Остальное ющаяся тем, что на медной в том слота 25 ти угольсфорнаяп. 1, отлиужка заме Известна смесь для заварки и наплавки дефектов бронзового и медного литья, состоящая из бронзовой стружки и шихты, содержащей буру, борную кислоту, магний, поташ и древесный уголь.Смесь применяют пр ктов бронзового и медного еталей из бронзы, меди, авки на сталь и чугун.Предложенная смесь отличается от извест ной тем, что, с целью повышения качества наплавленного металла, смесь состоит из 60 - 70% бронзовой стружки и 40 - 30% шихты на основе фосфорной меди, в состав которой введен алюминий в количестве 10 - 12%, 1 а остальные компоненты...

Номер патента: 381300

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: H01L 21/26

Метки: дефектов, отжига, полупроводнике, радиациопных

...(рабочееченский, Г, А. Качурин, . С, Смирновибирского отделения АН СССР ЦИОННЫХ ДЕФЕКТОВОДНИКЕ го) подвергалась бомбардировке протонами (Е = 10 кэв,= 0,08 мка(см 2) в течение 132 миц. Контрольный образец защищался от воздействия протонов металлическим экраном.Методом ЭПР проводилось сравнение числа 1%-цетров, связанных с дефектами, вносимыми ионным внедрением (1 в контрольном и рабочем образцах. Оказалось, что контрольный образец содержал Ю-цетров в 10 раз больше, чем образец, облучсццый протоцамп.Электроцограммы дифракции электронов на отражение подтвердили существенное улучшение структуры слоя, аморфизированного предварительной бомбардировкой ионами аргона.П р и м е р 2. Аналогичный результат по низкотемпературцому восстановлен;по...

Номер патента: 418774

Опубликовано: 05.03.1974

Авторы: Гребнев, Казанский, Мавлютов, Проектный

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, обнаружения, фотоэлектрическое

...следующим образом.Сходящийся поток источника 1 света пропускают через полупрозрачное зеркало 2 и направляют в центр лиска 3 параллельо оси 15 вращения, где уст; павлея призма 4. В прсломлеццом этой призмой световом потоке ца краю диска расположен плоский отражатель 5. При вращении диска 3 с помощью электро двигателя 10 через пассик 11 отраженный от 20 отражателя 5 луч света совершает круговуюразвертку на поверхности контролируемого материала 12.Световой поток, проходящий через материал, пересекает ось вращения диска 3 и точке 25 А, где располагается фотоэлектрический преобразователь 8. Луч света. отраженный от контролируемого материала, падает ца сферический отражатель 6 с фокусом в точке отражения, установленный ца краю диска 3....

Номер патента: 424020

Опубликовано: 15.04.1974

Автор: Пузеревский

МПК: G01J 1/04

Метки: выявления, дефектов, дефектоскопии, методом, поверхностных, цветной

...круга измеряе мых материалов предлагается способ, по которому в состав пенетранта вводят диссоциированный раствор неорганического вещества, например водноспнртовый раствор щелочи натрия, а в проявляющее покрытие вводят т 0 раствор химического индикатора, напримерспиртовый раствор фенолфталеина, после чего индикацию дефектов осуществляют за счет цветной реакции пенетранта и химического индикатора проявляющего покрытия,5 Предложенный способ осуществляют в следующей последовательности: заполняют полости дефекта пенетрантом, в состав которого входят диссоцнпрованный раствор неорганического вещества (водноспиртовый раствор 20 щелочи натрия), обладающий высокой проникающей способностью (смачиваемостью), что обеспечивает заполнение полости...

Номер патента: 424919

Опубликовано: 25.04.1974

Авторы: Демченко, Хижн

МПК: C23D 11/00

Метки: pyft-pнуд, аппаратурефокя, дефектов, покрытия, ремонта, у14, химической, эмалевого

...полости термобаллоном и плунжером и снабжено эксцентриковым механизмом с рычагом.Это позволяет повысить прь и качество ремонта,На чертеже изображено предлагаемое устройство, общий вид.Оно имеет корпус 1, в котором расположено приспособление для разогрева эмали и вплавления ее в дефектную зону, выполненное в виде трубчатой электропечи 2 с расположенными в ее полости термобаллоном 3 и плунжером 4, снабженное эксцентриковым механизмом 5 с рычагом 6.Плунжер 4 предназначен для экструзии на дефектный участок расплава эмали путем нажатия на рычаг 6 эксцентрикового механизма 5, в результате чего экструзионное сопло термобаллона 3 выводится из камеры электропечи 2, В результате дальнейшего нажатия на рычаг 6 эксцентрикового механизма 5 расплав...

Номер патента: 425088

Опубликовано: 25.04.1974

Авторы: Дубовицкий, Института, Кречин, Маркелов, Саратовский

МПК: G01N 21/86

Метки: движущейся, дефектов, ленты, непрерывно, стекла

...5 и б, фотоумножители 7 и 8 и зеркальный уголковый отражатель 9, выполненньш в виде равнобедренной зеркальной призмы.15 Проекционная электронно-лучевая трубка 2с частотой 900 гц сканирует луч по всей ширине ленты стекла 1, которая может двигаться со скоростью до 1000 м/час, и обеспечивает разрешающую способность съема информа ции по длине ленты около 0,3 мм. Луч отпроекционной электронно-лучевой трубки 2 проходит через оптическую систему раздвоения луча 3 и делится на два луча: первый, направленный нормально к поверхности лен ты стекла 1, пересекает ее, проходит черезщелевую диафрагму 4 и рефокусируется оптической системой 5 на катод фотоэлектронного умножителя 8; второй, направленный под определенным углом к поверхности ленты 30...