Патенты с меткой «дефектов»
Устройство для обнаружения дефектов цилиндрической поверхности
Номер патента: 1062734
Опубликовано: 23.12.1983
МПК: G06K 9/00
Метки: дефектов, обнаружения, поверхности, цилиндрической
...к сближению чувствительности устройства и снижению достоверности обнаружения дефектов.Целью изобретения является повышение достоверности обнаружения дефектов и упрощение устройства.Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для обнаружения дефектов цилиндрической поверхности, содержащем последовательно расположенные объектив и фотоприемник, размещенный в плоскости формирования изображения контролируемой поверхности, фотоприемник выполнен в виде фоторезистора с поперечным фотоэффектом, с нанесенной на него оптической маской с коэффициентом пропускания 5 щи ФД 3ф я .,ч)где 5, - чувствительность фоторезистора;Я,;, - минимальная чувствительностьучастка поверхности фоторезистора, форма которой повторяетформу...
Способ пластики дефектов радужной оболочки
Номер патента: 1063415
Опубликовано: 30.12.1983
Авторы: Груша, Игнатьева, Краснов, Попова, Фетисова
МПК: A61F 9/007
Метки: дефектов, оболочки, пластики, радужной
...дефекта радужной оболочки гладкой конъюнктивальной поверхностью к передней капсуле хрусталика и укрепляют шестью узловыми швами из супрамида 10;О. Трансплантат и радужку расправляют шпателем. Воздух в переднюю камеру. Шов из супрамида на роговичный разрез. Непрерывный шов на конъюнктиву,Пример 1. Больной Я., 53 лет, поступил в клинику с диагнозом: послеоперационная афакия, обширная полная колобома радужки правого глаза. Экстракция катаракты правого глаза произведена в 1979 г. Острота зрения 0,02 с врп + 10,0 Д = 0,5 со стенопическим отверстием 1,О. 14,01.82 г произведена операция: пластика радужной оболочки аутосклерой и донорской радужкой. После ретробульбарной анестезии 2 О/оным раствором новокаина разрез конъюнктивы, отступая от...
Способ обнаружения дефектов в подшипниках скольжения
Номер патента: 1065714
Опубликовано: 07.01.1984
Авторы: Кошевой, Семенов, Симонов
МПК: G01M 13/04
Метки: дефектов, обнаружения, подшипниках, скольжения
...дефекты подшипников 111Однако известный способ имеет низкую точность.Целью изобретения является повы шение точности за счет вццеления в фиксированной полосе частот диагностической зоны путем стробирования.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу обнаружения 20 дефектов в подшипниках скольжения, заключающемуся в измерении вибрации подшипников, фильтрации измеренного вибрационного сигнала в фиксированной полосе частот и определении по величине полученных импульсов дефектов подшипников, перед измерением вибрации определяют диагностическую зону путем стробирования,в качестве фиксированной полосы частот выбирают полосу частот, обусловленную разрушением масляной пленки, а величИну дефектов определяют по количеству...
Способ автоматического выявления дефектов поверхностей катания колес при движении рельсового подвижного состава инженера образцова в. л.
Номер патента: 1066866
Опубликовано: 15.01.1984
Автор: Образцов
МПК: B61K 9/12
Метки: выявления, движении, дефектов, инженера, катания, колес, образцова, поверхностей, подвижного, рельсового, состава
...рельса и преобразовании их в электрические сигналы, последние,пропорциональные виброускорениям рельсов, дважды интегрируют, выделяют сигнал,пропорциональный виброперемещениям рельсов, и сравнивают сигналы, пропорциональ.ные виброускорениям и пропорциональныевиброперемещениям, с опорными напряжениями, соответствующими предельно допускаемый размерам дефектов, причем по отклонениям в сторону превышения сигнала,пропорционального виброускоренням, определяют дефекты, возникшие в результатеторможения, а по отклонениям в сторонупревышения сигнала, пропорциональноговиброперемещениям, опоеделяют неравно, мерный прокат колес.На фиг.приведен график зависимостиот скорости амплитуд виброускорений рель 20 сов; на фиг, 2 - то же, от скорости...
Устройство для контроля дефектов оптических деталей
Номер патента: 864968
Опубликовано: 30.01.1984
Авторы: Гребенюк, Гребнев, Жуков, Зайченкова, Макарычев, Суминов
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектов, оптических
...Г 21.При контроле дефектов оптических деталей типа линз с цельюподдержания постоянным положенияфокуса на детали, фокусирующая линза перемещается с помощью шаговогодвигателя вдоль оптической оси.Недостаточная чувствительностьконтроля дефектов с помощью этогоустройства обусловлена тем, что регистрация сигнала осуществляетсяпо методу светового поля, когда приемник излучения работает в режиме 40постоянной засветки, что приводитк снижению его чувствительности иповышению инерционности.Кроме того, переход с одного типа деталей на другой с разными 45радиусами кривизны затруднен необходимостью перестройки закона перемещения фокусирующей линзы,Цель изобретения - повышение чувствительности и оперативности контроля дефектов оптических...
Устройство для определения дефектов намотки нити на бобину
Номер патента: 1070106
Опубликовано: 30.01.1984
Авторы: Ковтун, Кочура, Свирид, Трощановский
МПК: B65H 54/08
Метки: бобину, дефектов, намотки, нити
...на бобину, содержащее приводной барабан; узел разматывания нити с бобины, прижимной ролик, источник света, экран со щелью, параллельной,оси барабана, и фоторегистратор, оптическая ось которого перпендикулярна оси барабана, имеет светоотражающую пластину, размещенную вдоль оси барабана перпендикулярно биссектрисе угла между оптической осью фоторегистратора и плоскостью падения лучей от источника света на ось барабана, щелевые отверстия, выполненные вдоль образующей барабана с постоянным шагом по окружности, а источник света размещен между барабаном и экраном.Кроме того, устройство имеет дополнительную светоотражающую пластину между барабаном и экраном, выполненные в экране отверстия на прямой, параллельной образующей барабана, между...
Ультразвуковой способ контроля дефектов изделия
Номер патента: 1071958
Опубликовано: 07.02.1984
Автор: Захаров
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, изделия, ультразвуковой
...ости контроля путем выявления дефектов с низким коэффициентом отражения,Эта цель достигается тем, что согласно способу, заключающемуся в том,что в контролируемое изделие через 40контактную среду посылают с разностью хода два идентичных ультразвуковых импульса, принимают эхосигналы, отраженные от нижней поверхности контролируемого изделия, сравнивают их и по параметрам эхо-сигналов судят о дефектности иэделия,разность хода посылаемых ультразвуковых импульсов принимают равной четверти длины волны ультразвуковых колебаний в контактной среде для сред -ней частоты спектра импульсов, а вкачестве информативного параметра выбирают положение частотного минимумав спектре интерференции принятыхэхо-сигналов,На чертеже представлена...
Способ обнаружения радиационных дефектов в диэлектриках и устройство для его осуществления
Номер патента: 927036
Опубликовано: 15.02.1984
Авторы: Андрющенко, Гурьев, Денисов, Осипов, Панова, Стадник
МПК: G01N 27/22
Метки: дефектов, диэлектриках, обнаружения, радиационных
...на Фиг. 5 и б - результаты испытаний.Сущность предлагаемого способа заключается в следующем, Облученяый диэлектрический образец 1 (см.фиг. 1) с нанесенными электродами 2 и 3 помещают в нагревательную камеру, закрепляют между двумя металлическими пластинами 4 и 5, изолированными от образца слоями б и 7 диэлектрика. Затем осуществляют нагрев образца по линейному или гиперболическому законам ( см. Фиг. 2) со"скоростьюи таким образом, чтобы в процессе всего нагрева разность температур ЬТ между пластинами 4 и 5 была постоянной. Наличие разности температур между этими пластинами в процессе нагрева приводит к возникновению градиента температуры, который в свою очередь определяет постоянный тепловой поток в образце. Малая величина...
Устройство для контроля дефектов поверхности тел вращения
Номер патента: 1073645
Опубликовано: 15.02.1984
Автор: Шипулин
МПК: G01N 21/95
Метки: вращения, дефектов, поверхности, тел
...волоконные световоды, 40 расположенные между поверхностью тела вращения и фотоприемником, и регистрирующий прибор, содержит цилинд. рический блок, установленный между источником излучения и Фотоприемни ком, осветительные волоконные свето воды, расположенные между источником излучения и поверхностью тела вращения, при этом торцы осветительных волоконных световодов и приемных волоконных световодов, обращенные к поверхности тела вращения, соединены попарно и расположены по спирали на поверхности цилиндрического блока, а другие торцы световодов собрайы в два сплошных кольца, рас положенных соосно с цилиндрическим блоком и обращенных к источнику излучения и фотоприемнику, причем цилиндрический блок вместе со свето- водами выполнен с...
Способ электрохимического определения типа заряженных объемных дефектов твердых соединений, погруженных в водный раствор
Номер патента: 1075139
Опубликовано: 23.02.1984
Авторы: Климов, Маслова, Ройзенблат, Сапожникова
МПК: G01N 27/48
Метки: водный, дефектов, заряженных, объемных, погруженных, раствор, соединений, твердых, типа, электрохимического
...Оба указанных Фактора неконкурентноспособны с исследуемыми эффектами в установленном диапазоне РНоДля расшифровки полученной зависимости использукт аналогичную зависимость, построенную для модельных систем с известным типом заряженных дефектов. Результаты исследования этих систем привержены в таблице,Донорным центрам, поставляющим электроны проводимости, соответствует максимум ЬрН при рН =1,2-1,8, анионным вакансиям - при рН.2-2,8, междоузельным катионам - прй 3,0-4,0,Как видно из таблицы, указанная закономерность имеет достаточно общий характер, т,е, положение максимума ЬрН при определенном виде доминирующих заряженных дефектов находитП р и м е р 1, Готовят серию растворов соляной (хлорной или серной) кислоты с переменным...
Акустико-эмиссионное устройство для определения координат дефектов
Номер патента: 1080078
Опубликовано: 15.03.1984
Автор: Маслов
МПК: G01N 29/04
Метки: акустико-эмиссионное, дефектов, координат
...и накопления, снабженоблоком задания скоростей, стробирующим блоком, сигнальный вход которого подключен к выходу блока измерения разности моментов времениприема сигналов, а выход подключенк сигнальному входу блока вычисления и накопления, двумя блоками сравнения значения скоростей, входы которых соединены с выходами блоков задания и определения скоростей, а выходы - с соответствующими входамистробирующего блока,На чертеже представлено предлагаемое акустико-эмиссионное устройство для определения координатдефектов в линейных объектах.Устройство содержит дна основныхи два дополнительных датчика 1-4,соединенные с ними два основныхи два дополнительных канала 5-8приема, блок 9 измерения разностимоментов времени приема сигналов,входы...
Способ диагностики дефектов полых органов брюшной полости
Номер патента: 1080814
Опубликовано: 23.03.1984
Авторы: Бычков, Дмитриев, Егоров, Карлос, Мануэль, Чибис
МПК: A61B 10/00
Метки: брюшной, дефектов, диагностики, органов, полости, полых
...- Выявление скэетых дефектов.Поставленная цель достигается тем,ча ссгласно способу диагностики дефектов полых органов брюшной полостипутем лапароцснтсза перед лапдрацснтезом ез велудачо-кишечнЙ трактВводят инертный газ 1 1 О:Эдличиюгд за в свободной брюшн ОЙ и(эости;1 и -достирую дефек полых органовбрюшной полости,Сгособ осуществляется следующимаб 1.с 1 сэ Ом,Проводят зондирование желудкатонким зондом с последующим Введением 200-300 мл гелия, После обезболивания места прокола задней бреошнайстани О, 5 с - е 1 е 1 м 1 эастВарОм наваксиндравалят лапароцентез,11 О э ьэ ОД(нам/ В б 1 эю:11 ю нс фл Ость1 с1 Рд О к а 11 к с.1 с е 11 11 О Р О; 51 601 1 сиз с 1 и.э .:ВабаД 1 ОЙ брюш 1 ОЙ полОСТИ ПУТЕМ Дс:ИРсэЕИИ С ПОСЛЕДУЮЩИМга...
Способ активного теплового контроля дефектов
Номер патента: 1081510
Опубликовано: 23.03.1984
Авторы: Вавилов, Симанчук, Ширяев, Янисов
МПК: G01N 25/72
Метки: активного, дефектов, теплового
...11, регистрирующую собственноеоптическое излучения 12 и соединенную 60через электронный блок 13 с блоком14 индикацииУстройство, реализующее предлагаемый способработает следующим образом,Объект 1 контроля, содержащий дефекты 2 - 4, перемещается со око" ростью Ч относительно приемника 7 ультразвуковых колебаний и оптической головки теплового дефектоскопа 11. Скорость Ч выбирается иэ условия Ч(1 Р , где Е - частота следования импульсов, Э - характерный размер зоны нагрева, которое обеспечивает сканирование объекта, беэ пропуска дефекта.Источник 5 нагрева генерирует импульсное излучение б, периодически попадающее на поверхность объекта 1 контроля. В зоне падения пучка формируется эона повышенной температуры, Размер зоны нагрева и...
Способ возмещения дефектов нервных стволов конечности
Номер патента: 1082408
Опубликовано: 30.03.1984
Авторы: Илизаров, Кузнецова, Шрейнер, Щудло
МПК: A61B 17/00
Метки: возмещения, дефектов, конечности, нервных, стволов
...при тщательном сопоставлении пучков нервных волокон. Послойно ушивают операционные раны. Через 15-21 день после операции между средними кольцами аппарата устанавливают шарнирные устройства так, чтобы ось шарниров проецировалась на обращенный к нерву край стыка костных фрагментов и была перпендикулярна плоскости между нервом и костью. После удаления растяжных стержней при соответствующей анестезии аппаратом осуществляют дозированное сгибание сегмента конечности до нарушения первичного костного сращения. Затем устраняют угловое смещение фрагментов кости, устанавливают растяжные стержни в исходное положение и удаляют шарнирные устройства. Еще через 4-6 дней, т.е. 20-25 дней спустя после нейрорафии, начинают дозированную дистракцию и...
Способ контроля структурных дефектов
Номер патента: 1086376
Опубликовано: 15.04.1984
Авторы: Дубовик, Непомнящий, Поколенко, Райхел
МПК: G01N 23/225
Метки: дефектов, структурных
...структуру материала и цефекты; форму и размеры кристаллических частиц и включений, пиквапионных областей, ступеней роста и пр,с высоким разрешением2, 3 .Данный способ не позвопяет контропировать структурные деФекты типа трещин, так как участки угольно-платиновой 50реплики, заполняющие трещины, поврежца1 отся при отцепении реппики от поверхкости объекта.Цепь изобретения - повышение качества контроля структурных цефектов 55типа трещин.Поставленная цепь цостигается тем,что согласно способу контроля структурных цефектов, включающему операциинанесения тонкой металлической ппенкина контролируемую поверхность, отцепения ее с помощью желатины и изучения в электронном микроскопе просвечивающего типа, металлическую пленкунаносят путем...
Способ испытания металла шва на склонность к образованию дефектов при сварке
Номер патента: 1087290
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Богачек, Буслинский, Мандельберг
МПК: B23K 28/00
Метки: дефектов, испытания, металла, образованию, сварке, склонность, шва
...ванны, характерной для исследуемого процесса сварки, контрольный шов вьгполнягот на всю толщину пластин, а закритерий стойкости металла шва против образования пор принимает минимальную ширину пластин, при которойв шве, проходящем через эту пластину,отсутствуют поры.На чертеже представлен образец,используемый в предлагаемом способеОбразец состоит из жесткой пластины 1 и пластин 2 переменной шириныи одинаковыми длиной и толщиной,приваренных па трем сторонам угловымшвом 3 к базовой пластине,Толщину пластин выбирают соответствующей толщине слоя, принятого вреальной многослойной конструкциидля каторои разрабатывается технология сварки. Зазор между пластинамии цельной плитой выдерживают по всейдлине образца одинаковым с максимально...
Электромагнитный способ обнаружения дефектов в электропроводящих изделиях и устройство для его осуществления
Номер патента: 1089504
Опубликовано: 30.04.1984
Авторы: Денисов, Дмитриев, Лелеков
МПК: G01N 27/90
Метки: дефектов, изделиях, обнаружения, электромагнитный, электропроводящих
...5, подключенный к блоку 4 управления, и магазин 6 емкостей, выход которого подключен к автогенератору 1. Выходы 25 блока 4 управления подключены к бло" ку 3 индикации и магазину 6 емкостей. Способ осуществляют следующим образом.Процесс работы автогенератора 1 разделяют на два полупериода с частотой повторения 1 кГц.В первый полупериод эадают максимальное значение коэффициента З 5 усиления в автогенераторе.При этом обеспечивается режим автогенератора для любых допустимых значений пара- . метров электромагнитного преобразо,вателя (датчика) и объекта контроля. Кроме того, в первый полупериод амплитуда выходного напряжения авто- генератора 1 максимальна и, практически не зависит от наличия или отсутствия дефекта в зоне контроля...
Устройство для комплексного обнаружения обмоточных дефектов якорей электрических машин
Номер патента: 1089713
Опубликовано: 30.04.1984
Авторы: Гамкрелидзе, Гургенидзе, Мшвилдадзе
МПК: H02K 15/00
Метки: дефектов, комплексного, машин, обмоточных, обнаружения, электрических, якорей
...и приемника, наличие вращающихся частей, большое времяизмерений.Цель изобретения - расширение функциональных возможностей, увеличение(быстродействия и повышение надежности устройства,Указанная цель достигается тем,что устройство для комплексного обнаружения обмоточных дефектов якарей электрических машин, содержащееисточник переменного напряжения, индуктор и индикаторы, снабжено измерительным трансформатором с несколькими вторичными обмотками, первичная обмотка которого является ийдуктором и содержит выводы для подключения к источнику переменного напряжения,введено пордговое устройство с встречноподключенными к нему диодами, через которое вторичные обмотки трансформатора соединены между собой последовательно и встречно, причем...
Способ выявления дефектов в листовом материале
Номер патента: 1097911
Опубликовано: 15.06.1984
Авторы: Афоничева, Сердобольский
МПК: G01N 3/00
Метки: выявления, дефектов, листовом, материале
...достигае мому результату является способ выявления дефектов в листовом материале, заключающийся в том, что обра- зец материала подвергают облучению с заданной длиной волны, регистриру ют на чувствительной пленке проникающую составляющую излучения и по ней судят о дефектах в материале. Образец поликристаллического материала подвергают рентгеновскому облуче нию2 3.Недостатком данного способа является невозможность его использования для выявления дефектов в аморфных полимерных материалах. 30Цель изобретения - обеспечение выявления дефектов в полимерных материалах.Указанная цель достигается тем, что согласно способу выявления дефек-З тов в листовом материале, заключающемуся в том, что образец материала подвергают облученив с заданной длиной...
Способ и устройство для обнаружения дефектов электрофотографического носителя
Номер патента: 1097965
Опубликовано: 15.06.1984
Авторы: Гайдялис, Лазовский, Монтримас, Сидаравичюс
МПК: G03G 13/00
Метки: дефектов, носителя, обнаружения, электрофотографического
...потенциала предварислой заряжается, При повторной корон- , тельной зарядки слоя, а на коронируюной электризации зарядами той же по- цие электроды 2 сканирующего электрилярности ток вторичной сканируюцей затора подается высокое напряжение с з арядки через слой определяется зна. источника 4, Ширина цели в управляю 5чением напряжения на управляющем щем электроде 3 сканирующего электриэлектроде сканирующего электризатора, затора выбирается, примерно, в интер- а при напряжении, меньшем или равном вале 1-10 мм. Расстояние от электрипотенциалу первичной (однородной за- затора до поверхности испытываемого рядке слоя), этот ток практически раО ЭФС выбирается, примерно, в интервавен нулю. При помещении сканирующего ле 1-10 мм. Выбор таких...
Способ обнаружения дефектов изделий
Номер патента: 1099259
Опубликовано: 23.06.1984
Авторы: Андриасова, Байрамашвили, Оганезов, Табуцидзе, Цагарейшвили
МПК: G01N 21/91
Метки: дефектов, обнаружения
...слойжидкости, которая под действием капиллярныхсил заполняет полость трещин, и последующее добавление жидкости проявителя образует контрастнуюкартину, контролируемую визуально 1,Недостатком этого способа является невысокая чувствительность, возможность выявления только открытыхтрещин.Наиболее близким к предложенномупо технической сущности и достигаемому результату является способ обнаружения трещин в металлических.изделиях, включающий нанесение контрастного порошка на контролируемуюповерхность, нагрев и визуальныйконтроль 225При этом одновременно подаетсяструя газа при избыточном давленийс одной иэ сторон контролируемой поверхносги.Недостатком известного способа являются возможность обнаружения толькоосквозных дефектов, а также...
Устройство для обнаружения дефектов на внутренней поверхности осесимметричных отверстий и труб
Номер патента: 1103071
Опубликовано: 15.07.1984
Авторы: Гинзбург, Домород, Кожаринов, Федевич
МПК: G03B 41/00
Метки: внутренней, дефектов, обнаружения, осесимметричных, отверстий, поверхности, труб
...вызванное неоднородностью электрического поля у края трещины. Кроме того,снижение чувствительности устройства происходит из-за наличия между контролируемой поверхностью и токопроводящей обкладкой конденсатора сетки из изоляционного материала, которая вносит дополнительное искажение в распределение электрического поля поа разрядному промежутку.Целью изобретения является повышение чувствительности.Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для обнаружения дефектов на внутренней поверхности осесимметричных отверстий и труб, содержащее генератор высокой частоты и токопроводящую обкладку конденсатора, обкладка конденсатора выполнена в ви" де металлического электрода, имеюще-, го форму электрода Роговского,закрепленного по оси...
Устройство для определения местоположения дефектов в световодах
Номер патента: 1103118
Опубликовано: 15.07.1984
Авторы: Акопян, Артемьев, Бабешко, Галеев, Кононов, Пьянков, Соколов
МПК: G01N 21/01
Метки: дефектов, местоположения, световодах
...последняясодержит последовательно установленные входную бобину, четыре барабана,заключенные в светонепроницаемыйкожух и установленные попарно вдвух взаимно перпендикулярных плоскостях, и выходную бобину, причемкаждый из барабанов покрыт электрографическим слоем и снабжен тороидальным отражателем, электроннымотметчиком, электризатором и устройством снятия заряда,На фиг. 1 приведена схема предлагаемого устройства; на фиг.2 вид А.на фиг, 1.Устройство состоит из источника1, подающего свет в испытуемыйсветовод 2, перекидного 3 и натяжного 4 роликов,.четырех барабанов5, покрытых электрографическимслоем, светонепроницаемого кожухаб, входной 7 и выходной 8 бобиндля перемотки образца световода,четырех тороидальных отражателей9, электронных...
Способ идентификации дефектов в фотошаблонах с повторяющимися фрагментами изображений
Номер патента: 1104550
Опубликовано: 23.07.1984
Автор: Шафер
Метки: дефектов, идентификации, изображений, повторяющимися, фотошаблонах, фрагментами
...фрагмента изображения (модуля) шаблона, ориентируют шаблон накоординатном столе, фокусируют прошедший шаблон световой луч на Фотодетектор, преобразуют сигнал с фотодетектора в цифровую форму и вводятего в процессор, в котором его сравнивают с цифровой информацией эталон 5ного фрагмента, записанной в памятиЭВИ, выявляют различия между ними изаписывают их координаты в запоминающее устройство. Для классификациидефектов формируют на экране видео 20контрольного устройства совмещенныеизображения контролируемого и эталонного Фрагментов в разных цветах,анализируют различия между ними ипринимают решение о наличии дефектови их критичности 1).Недостатком данного способа является сложность технической реализа-ции, выражающаяся в...
Устройство для автоматического поиска дефектов в логических блоках
Номер патента: 1108451
Опубликовано: 15.08.1984
Авторы: Байда, Гладков, Подкопаев, Семеренко, Шпилевой
МПК: G06F 11/00
Метки: блоках, дефектов, логических, поиска
...генератор импульсов, три триггера, дешифратор, три элемента И,пять элементов ИЛИ, причем выход генератора импульсов соединен с первыми входами первого и второго элементов И, второй вход и выход первого элемента И соединены соответственно с прямым выходом первого триггера и со входом первого распределителя импульсов, первый - пятый выходы которого соединены соответственно с первыми входами первого - четвертого элементов ИЛИ и с шестым выходом блока управления, единичный вход первого триггера соединен с четвертым входом блока управления и нулевым входом третьего триггера, единичный вход и инверсный выход которого соединены соответственно со вторым входом блока управления и с первым входом третьего элемента И,выход которого...
Автоматический сигнализатор дефектов для ультразвуковых дефектоскопов
Номер патента: 1113734
Опубликовано: 15.09.1984
Авторы: Афисов, Бучацкий, Грозман, Квирикашвили, Моргин, Морозов, Тантлевский, Шаповалов
МПК: G01N 29/04
Метки: автоматический, дефектов, дефектоскопов, сигнализатор, ультразвуковых
...указанно" га строба приводит к пропуску части дефектов.Целью изобретения является повышение достоверности контроля, 45Указанная цель достигается тем, что автоматический сигнализатор дефектов для ультразвуковых дефектоскопов, содержащий последовательно соединенные усилитель, вход которого предназначен для подключения к приемному тракту дефектоскопа, селектор и исполнительное устройство,Юрого соединен с выходом первого формирователя строба, и схемой сравнения кодов, второй вход которой соединен с задатчиком, а выход - с вторымвходом первого формирователя строба.На чертеже приведена структурнаясхема автоматического сигнализаторадефектов для ультразвуковых дефекто-,скоповАвтоматический сигнализатор дефектов для ультразвуковых дефектоскопов...
Устройство для определения дефектов изделий по сигналам акустической эмиссии
Номер патента: 1113735
Опубликовано: 15.09.1984
Автор: Максимов
МПК: G01N 29/04
Метки: акустической, дефектов, сигналам, эмиссии
...11 и 12 синусоидаль ных колебаний и два фазовых детектора 13 и 14, выходы которых соединены соответственно через первый 7. и нторой 8 формирователи импульсов с первым и вторым входами измерителя 9 интервалов времени, выход которого соединен с регистратором 10, выход каждого генератора 11 и 12 соединен с входом Фазового детектора 13 и 14 и одним электроакустическим преобразователем например, 1 и 4 , каждый из этих двух преобразователей через исследуемое изделие акустически связан с одним иэ двух других преобразователей, например преобразователь 1 связан с преобразователем 3, преобразователь 4 - с преобразователем 2. Преобразователи 3 и 2 соединены через усилители 5 и б соответственно с вторыми входами фазовых детекторов 13 и 14. На...
Способ голографического неразрушающего контроля механических дефектов
Номер патента: 1117445
Опубликовано: 07.10.1984
Авторы: Де, Денежкин, Хандогин
МПК: G01B 9/021
Метки: голографического, дефектов, механических, неразрушающего
...контуров эталонного и тестируемого объектов, на ней находят области, охватываемые замкнутыми муаровымиполосами, и места пересечения муаровых полос, соответствующие местамрасположения дефектов, другую муаровую картину образуют путем наложения со сдвигом двух дублей интерферограммы тестируемого объекта,на ней находят места возникновенияновых муаровых полос в процессеплавного увеличения сдвига, соответствующие местам расположения дефектов, и по полученным данным судят о .наличии и местах расположения механических дефектов в тестируемомобъекте,На чертеже приведена структурнаясхема одного иэ возможных устройств,реализующих предлагаемый способ.Устройство состоит из голографического интерферометра 1, устройства 2 восстановления голограмм и...
Способ определения радиационных точечных дефектов в конструкционных материалах
Номер патента: 1117521
Опубликовано: 07.10.1984
Авторы: Коваль, Перегон, Тищенко, Фогель
МПК: G01N 27/20
Метки: дефектов, конструкционных, материалах, радиационных, точечных
...тонких пленках металла (конструкционного материала) с тапщинами, соизмеримыми с длиной пробега ионов облучающего потока, собственные и внедренные радиационные дефекты также не разделены.Целью изобретения является повышение точности определения радиационных точечных дефектов внедрения нконструкционных материалах,Указанная цель достигается тем,что согласно способу определения радиационных точечных дефектов в конструкционных материалах по измерению электросопротинления тонких пленок этих материалов н процессе облучения их потоком ионов, измерение 55электросопротинления ведут при температуре Т ц, лежащей в интервалеТ, сТсТ , где Т,- температура отжига дефектов типа Френкеля. Т 8, - температура отжига дефектов внедрения, а энергию облучающего...
Устройство для селекции дефектов фотошаблонов
Номер патента: 1120376
Опубликовано: 23.10.1984
МПК: G06K 9/36
Метки: дефектов, селекции, фотошаблонов
...с выходом первого элемента И, другие подключены к выхоцам второго элемента И-НЕ и третьего элемента И соответственно, а выходы являются другими выходами устройства и второй компаратор, один вход которого является другим входом устройства, другой подключен к выходу блока сканирования, а выход соединен с другим входом суммтораНа фиг.1 представлена блок-схема предлагаемого устройства; на фиг,2 кисслецуемый объект; на фиг,26 - диаграммы, поясняющие работу устройства; на фиг,3-6 - дефекты фотошаблонов,Устройство содержит блок 1 сканирования, первый 2 и второй 3 компараторы, сумматор 4, первый 5 и второй 6 формирователи сигналов, первый 7 и второй 8 элементы И-НЕ, первый 9, второй 10 и третий 11 элементы И,и группы 12 и 13 элементов И, входы...