Патенты с меткой «дефектов»

Номер патента: 653551

Опубликовано: 25.03.1979

Авторы: Зубов, Кондратько, Курицын, Никотин, Русаков

МПК: G01N 27/86

Метки: дефектов, обнаружения

...электрод 4, соединенный с источником 5 постоянного или переменного напряжения, ионизатор б и считывающий электрод 7, соединенный с входным сопротивлением Вв измерительного или регистрирующего прибора (не показан), а также магнит 8, предназначенный для удержания внутреннего электрода в фиксированном положении относительно электродов 1 и 4.Устройство работает следующим образом.Трубка 3 подается в устройство с технологической скоростью, обеспечивающей заданную производительность контроляВнутренний электрод 1, введенный заранее внутрь контролируе мой трубки, удерживается ферромагнит ной насадкой 2 и электромагнитом 8 вФормула изобретения Составитель И.Ардашеваа Техред Л.Алферова Корректор М.Пож Редакто П.Козл 089 дар иэ...

Номер патента: 653588

Опубликовано: 25.03.1979

Автор: Хорохорин

МПК: G01R 31/28

Метки: дефектов, места, схемы, характера, электрической

...Москва, Ж, Раушская наб., д.4/5 Филиал ПППфПатент, г.ужгород, улПроектная, 4 правность в тех случаях, когда неисправность в схеме, оказывающая воздействие на время фазового запаздывания, не вызывает изменения; амплитуды и формы испытательного сигнала или детализировать неисправности, когда от различных неисправностей проявляются одинаковые изменения амплитуды и формы испытательного сигнала, но имеются различные изменения времени фазового запаздывания,Выбор точек измерений на схеме с ,10 учетом их положения относительно места неисправности, при котором отдается предпочтение,такому положению точек, когда в точках измерений преобладают неисправности, лежащие после них, исключает для этих неисправнос-. тей особые случаи, когда нельзя...

Номер патента: 655963

Опубликовано: 05.04.1979

Авторы: Зацаринный, Пьянков, Рожков, Федотов

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектов, координат, линейных, сварных, швах

...вычисления и накопленияи блока 7 регистрации и индикации. Блок8 сравнения амплитуд подсоединен междувыходами приемных каналов и блоком 5.Устройство работает следующим образом. Сигналы акустической эмиссии прини маются преоразователями 1 и преобразуются в электрические сигналы, которые усиливаются малошумящими предусилителями 2, далее сигналы фильтруются и усиливаются усилителями 34. Все прием-ф ные канады выполнены одинаковыми, Уы- ленные сигналы каждой пары преобразо- вателей, расположенных перпейдикулярно сварному шву, поступают в свой блок 4 сравнения времени прибытия сигналов. Блоки 4 сравнения времени прибытия сигналов только тогда вырабатывают выходной сигнал, когда сигналы к преобразователям каждой пары приходят единовременно. С...

Номер патента: 657527

Опубликовано: 15.04.1979

Автор: Чмищенко

МПК: H02K 15/00

Метки: дефектов, комплексного, обмотке, электрической, якоря

...6 на поступают на входыканалов индикатора, и егэ схема остаатсяв исходном положении, Горит лампа 16(" Годен" ), сигнвлизирующвя о годностипроверяемого якоря. Через 4-5 с посленачала работы устройства реле 2 времени отключает двигатель приводного механизма 1 от сати, а индуктор 4-от генервтэра 3, Устройство прекращает работу И БЭЗВРВШВЕТСЯ В НтВЧапЬНОЕ ПОЛОЖЕНИЕ.При проверке дефектного якоря в приемниках 5 и 6 возникают сигналы, индуктирэванные полем якоря,При малых ВиткэВБх замыканиях поле в якоре возникает В основном нв участках короткозамкнутых витков. При наличии крупных вцтковых замыканий в одной из возбуждаемых секций в обмотке якоря нарушается взвлмивя компенсация индуктцрэвзнных ЗДСу что прцводит к пэявл 8 нию тока не только в...

Номер патента: 660669

Опубликовано: 05.05.1979

Автор: Поляков

МПК: A61B 17/00, A61B 17/322

Метки: гемангиом, дефектов, закрытия, после, ткани, удаления

...к центру и до противополо)кного края вмес)е с кожным лоскутом до ч)асци 1, мынгц, слизистых оболочек, надкостницы и до противоположного края опу;оли. Тн(атсльно лигируют крупные и мелкие экстрату моральные сосуды. Лнгио - матознук) ткань и клетчатку острым путем иссекают с кожного лоскута, последний частично расщепляк)т с удалением основной массь ОпухозеВых элементов. Повепностные внутрикожные опухолевые элементы в реимплантантс сохраняются.Однако, как показали наблюдения, происходит весьма быстрое нарушение гемоциркуляции в оставшихся ангиоматознь)х внутрикожных элементах, свертывание оставщейся в них крови и спонтанная облитерация неудаленных опухолевых тканей под селективно давящей повязкой. Селективная компрессия реп мплантанта...

Номер патента: 661310

Опубликовано: 05.05.1979

Авторы: Гречушников, Чудаков

МПК: G01N 21/40

Метки: дефектов, кристаллах, малоконтрастных, наблюдения, фотоэлектрический

...луча наблюдается приРЕусловии Яс 6= - При этомпаЕ РОЯамана2 пеиоУгол 1 обычно незначителен, ввиду то- ГочтО Ре - и с 1пОэтОму мОжнО считать, чтогЧОкс(3)2 пепРаздваивание лучей на выходе из пластинки на обыкновенный и необыкновенный обуславливает раздваивание действительного иэображенияобъекта. Одно иэображение, формируемое обыкновенными лучами,-проецируется в то место, где оно было бы при условии, если бы пластинка 3 была изотропной, например стеклянной, Другое изображение, построенное необыкновенными лучами, сместится на величину 3 или 1 Мо в направлении наклона оптической оси двупреломляющей пластинки, Смещение необыкновенного иэображения на величину 1 достигается при установке пластинки Между объективом и полевой...

Номер патента: 664645

Опубликовано: 30.05.1979

Автор: Елистратова

МПК: A61B 17/00, A61F 2/02

Метки: дефектов, протезирования, сердечной, сквозных, стенки

...нерву,на предполагаемую область резекции накладывают фиксирующий зажим и произ водят резекцию стенки Внутреннии слои протеза из гомоэндокарда вшивают с помощью атравматической иглы отдельными узловатыми швами в дефект эндокарда. Далее наружный слой из некрашенного тка ного капрона фиксируют узловатыми швами по линии резекции в дефект эпикарда. По окончании раздельного вшивания протеза в дефект сердечной стенки фиксирующий зажим осторожно снимают. При кровотечении по линии резекции накладывают единичные тотальные швы, проходящее через все три оболочки сердца. Далее накладывают швы на перикард и производят послойное ушивание раны грудной клетки.Предлагаемый способ позволяет снизить до минимума травматизацию миокарда по краю...

Номер патента: 670918

Опубликовано: 30.06.1979

Авторы: Вилянов, Савин, Телешов, Шац

МПК: G02B 27/18

Метки: дефектов, рисунка, случайных, фотошаблона

...система формирования освещающего пучка, выполненная в виде двух неконфокально расположенных объективов, жестко связана с фильтром пространственных частот, а держатель фотошаблона установлен с возможностью перемещения вдоль оптической оси относительно указанной системы и жестко связан с проекционным объективом и регистратором выходного сигнала. На чертеже представлена оптическая схема предлагаемого устройства.Устройство содержит расположенные на одной оптической оси источник света 1, систему 2 формирования освещающего пу.чка, выполненную из двух неконфокально расположенных объективов, держатель 3 фотошаблона, фильтр пространственных частот 4, установленный в плоскости дифракционного изображения рисунка фотошаблона (оптически сопряженной...

Номер патента: 679864

Опубликовано: 15.08.1979

Автор: Ершов

МПК: G01N 27/86

Метки: дефектов, обнаружения, стержне, ферромагнитном

...до участка размагничиваниядля бездефектного изделия; на фиг, 3 показа.на та же зависимость для изделия с дефектом,Испытуемый стержень 1 иэ ферромагнитногоматериала размещен между полюсамн электро.магнита 2,между стержнем и полюсами располо.жены изоляционные прокладки 3 и 4. Участок 5стержня с предполагаемым дефектом недосту. пен для контроля. На стержень 1 надеты хому. тики 6, соединенные с источником 7 постоянно го тока. С двух сторон от контролируемого участка стержня размещены две пары идентичных измерительных катушек 8 9 и 10, 11, включенных встречно в каждой паре н попарно-после, довательно с гальванометром 12.Способ обнаружения дефектов в ферромагнит. ном стержне осуществляется следующим обра,зом.,гп ВСЮ Х 7,5 25 х,тд 5 5Ю 23...

Номер патента: 681357

Опубликовано: 25.08.1979

Авторы: Бабад-Захряпин, Махинько

МПК: G01N 21/60

Метки: декорирования, дефектов, поверхностных

...коллоидный раствор, вязкость которогозначительно больше вязкости воды, то водородне удаляется из зоны реакции, а вязнет в слоеколлоидного раствора. В местах, где взаимо.действие воды с иттрием проходит наиболее интенсивно, там плотность пузырьков водородабольше.В результате в слое коллоидного растворавозникает неравномерная плотность распределе.ния пузырьков водорода, которая отражает интенсивность взаимодействия воды с поверхностью изделия. Картина распределения пузырьков может быть зарегистрирована,Учитывая, что на поверхности рассматривае.мых металлов может присутствовать окиснаяпленка, предлагаемый способ позволяет установить степень окисления различных участков поверхности, а также выявить локальные наруше.фния поверхностного...

Номер патента: 691559

Опубликовано: 15.10.1979

Автор: Шлеин

МПК: E21B 49/00

Метки: дефектов, колонн, обсадных

...блок-схема устрой О большое сопротивление прохождения магнитнбго потока, в результате этого проУстройство содержит (см. фиг, 1, 2)исходит перераспределение магнитногонемагнитный герметичньй корпус 1, в , поля вокруг нарушения и изменение накотором размещены немагнитное основа- водимой ЭДС по величине и фазе на одние 2 и крепежный винт 3, Б пазах ос ной (первой встречной) индикаторной канования 2 расположены концентраторы 4 тушке, Результирующие сигналы постумагйитного поля в виде П-образныхсер- пают на коммутатор 15, а затем в блокдечников, например, из стали Армко, ак- усиления 11 и далее по жилам кабеля 16 .сиально и равноудаленно относйтельно и 17 в наземную панель 12 и блок 18осй генераторной катушки 5. На торцах 2...

Номер патента: 693219

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Глухов, Косоплеткин

МПК: G01N 27/56

Метки: дефектов, диэлектрических, пленок

...минимальное значение напряжения, при котором начинается пробой диэлектрической пленки. Посте. пенно повышая напряжение и измеряя число дефектов на каждом значении напряжения в два этапа, можно определить значение напряжения, при котором начинается пробой. Если результаты измерений на первом и втором этапе совпадают, то это означает, что пробой пленки еще не наступил, и увеличение числа выявленных дефектов693219 Этап,52 52 происходит только за счет заполнения электролитом новых сквозных дефектов. Как только численный результат второго этапа измерений превысит результат первого этапа, это будет означать, что при выдержке пленки при большем напряжении между двумя этапами произошел пробой пленки, и это значение напряжения является...

Номер патента: 695738

Опубликовано: 05.11.1979

Авторы: Артемов, Байкова, Лаптев, Макин, Фих, Шкарев

МПК: B21C 51/00

Метки: дефектов, локальных, обнаружения, пластинах, сквозных

...с 15,(1 ИЯ 1. Х 1)ТН.-(И 51 с 5 1);3 то;3 Бг)за к,)Гпсн п, Р др01) ГкрьТИИ В СТ(,)ИП Ес 31 сры ( ПИЛ(ГТ 1 К), цр - 1 1),гиЮЦПг(Я В Бег)НЕ,( 10 ЦИ Я1 ПИ 130 (и.,1 Нс, , и птоко;3. сОсдц(сн1 5 О)Ч ц)сс ЗИЛИ 1 Пц , П ,)с ; с(н)бцп 1. с",т)1 иссрг)Р 1)1:5 Бс р Стц О. Р;1;0,:)уцс СИХПрцчц Ос Ч)(С( Я; 1" Цг)Б 1 Ц,БР; Ц(1И );01) )1(1) ПЬК) Ц, Ж ,Г;11;Ц.1)ЦО ЦИДЖт(И 15 РХ., И (Г Г М с 1 О Т К сз с К 1115 О: 5;Ч ) с С ИДС ) Ж 151 Т Ы Ки1 ЫИ"Рс).Ь 2 т, 3;ЦРгЬГ 13 ГН ГЦ,. "1 :)1.) и ср(10 цыи 15;с)хстр 27УСТ)К)ИС 1 БО р 3 Гс(." СГ 1 едК)ПП.М Г)бра.31) .Л РСХОД:ОХ Ц 010 ЖЕНИИ ТРЗ 50)СЫ I НЫХИДПТС 5 В БСРХсх ПО;1 ОжгЦИИ, РОГИКИРь сц ИБ 8 ) ГПРЗК)ТСЯ В КЛИЦОБЫС ) 11 сСТКИ КЛИь(.15 6, Ор( ньМдержпвс 1 ет тр;1 )срсх ( Б 5)х(" П 11ЖГЦИИ...

Номер патента: 696356

Опубликовано: 05.11.1979

Авторы: Царенко, Щурова

МПК: G01N 21/896

Метки: дефектов, листового, обнаружения, стекла

...источник 3 света. Световые импульсы от импульсного источника 3 света с соответствующей оптической системой, входящей в него, направляются на светоделитель 4 который расщепляет их под углом 90 на эталонные и измерительные, Эталонные световые импульсы воспринимаются эталонным фотоприемником 5 и преобразуются им в электрические импульсы, пропорциональные световому потоку, усиливаются и через электронный ключ 6, подключенный к блоку 2 управления, поступают на анализатор 7 дефектов. Измерительные световые имгульсы поступают через оптическую систему 8 на поверхность с,екпа ив случае присутствия на 20 нем дефекта, диффузно отражаются от него, воспринимаются снова оптической системой 8 и направляются на измерительный Фотоприемник 9,траженные...

Номер патента: 696380

Опубликовано: 05.11.1979

Авторы: Иноземцев, Серов

МПК: G01N 33/38

Метки: дефектов, обнаружения, пластине, поверхностных

...составит 750 рабочих дней, При стоимости 1 рабочего дня 7,2 руб. годо.вая экономия при работе на одном электронном микроскопе составит около 5 тыс. руб.Значительно больший эффект можно ожи 10 дать из того, что предлагаемый способ существенно сокращает сроки получений исчерпывающей информации о характере поверхности и это может быть оперативно использовано для активного воздействия на режимы обработки.15 Составитель М. Слинько Техред Л.АлфероваКорректор А. Гриценко Редактор О. Иванова Заказ 6758/45 Тираж 1073 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-.35, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная,4 угольной пленки распылением сфокусирован.ным лучом...

Номер патента: 699410

Опубликовано: 25.11.1979

Авторы: Карпельсон, Кеткович, Попов, Строков, Хулап

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектов, многослойных, обнаружения, объектах

...расположенным на заданной глубине.На Фиг.1 схематически изображенпроцесс контроля трехслойного объек .та; на Фиг.2 и 3 представлены выходные сигналы с двух радиометров вдольлинии сканированияНа фиг.1 цифрами обозначено: 1контролируемый объект, 2 - источник5тепловой энергии, 3 и 4 - радиометры, 5-7 - слои объекта, 8 и 9 - деФекты, 10 - направление движенияизделия относительно источника и 10радиометров,установлено, что расстояние задержкимежду радиометром и источником, обеспечивающим наилучшую выявляемость отслоений, зависит от глуби-,5ны залегания этих отслоений и можетбыть при известной глубине предварительно определено,Радиометр 3 располагается от источника 2 на расстоянииЬ,(,обеспечивающем наилучшую выявляемость отслоений на...

Номер патента: 700115

Опубликовано: 30.11.1979

Авторы: Махсон, Уразгильдеев

МПК: A61B 17/00

Метки: аллотрансплантатами, дефектов, замещения, костных, постеостеомиелитических

...кровоточащие грануляции. При выявлении в послеоперационном, периоде инфекции в полости, ее за этот срок купируют. Ложе заполняют консервированным (например, в слабых растворах формалина) мелкоизмельченны/и рящввым или костином аллотрансплантатом. Вводят тонкий полиэтиленовый ирригатор (трубочку) для постоянного орошения антисептичвскими растворамп Рану послойно чшивают наглухо, Ирригатор удаляют через 7 - 10 дней после второго этапа операции, Через 2 - 3 недели снимают швы, Иммобилизация в гипсовой повязке продолжается в течение 2 - 3 месяцев, а у больных сложными суставами - до развтпия консолидации отломков.Было прооперировано 9 больных: 2 больныс хроническим гематогенным ос700115 Составитель С, МалютинаТсхрсд А. Камышникоаа Корректор...

Номер патента: 714264

Опубликовано: 05.02.1980

Автор: Бутенко

МПК: G01N 27/82

Метки: двухкоординатное, дефектов, отметки

...ния 714264 41како их положение не изменяется (левые половины триггеров уже возбуждены ) и все отметчики по- прежнемуостаются отключенными. При появлениисигнала от дефекта он проходит черезодну из схем 2 совпадений, которая вданный моме нт Открыта по второму входупотенциалом с выхода дешифратора, ипоступает нв правую половину триггера,10 управляющего работой отметчика соответствующего сектора. Этот триггеропрокидывается, его правая половинастановится возбужденной и включаетотметчик, Триггер и отметчик остаютсяв таком положении на протяжении периода сканирования,т.е. до тех пор, покаочередной (через один оборот датчикадефектоскопа) синхроимпульс не поступит20с дешифратора на левую половину триггера и не возвуатит его в исходное...

Номер патента: 715985

Опубликовано: 15.02.1980

Авторы: Барминов, Зорина

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектов, клеевого, обнаружения, соединения

...способе обнаружения дефектов наблюдается опадение выявленных при вакуумировании выпучи ваний диаметром более 20 мм при охлаждении иэделий и не происходитфиксации дефектов. целью изобретения является увеличение разрешащцей способности способа.Цель достигается тем, что по предлагаемому способу охлаждение изделия до исходной температуры производят под вакуумом.Таким образом, увеличивается раз" ность давлений, воздействующих на дефектное место, при этом сохраняется конфигурация дефекта.П р и м е р . Проводят вакуумирование изделий с обшивкой иэ фольгированного стеклопластика, склеенных эпоксиполиамидным клеем с температурой стеклования 333 К, в ко-торых искусственно созданы дефекты диаметром 25 мм, по следующему режиму:Остаточное давление Па...

Номер патента: 717605

Опубликовано: 25.02.1980

Авторы: Конева, Трофимовская, Шенфельд, Явленский

МПК: G01M 13/04

Метки: дефектов, подшипникового, стенд, узла

...делители 16, 5, 17,; а также блок 13 определения величины вибрации от дефектов ротора, блок 11 определения величины вибрации от де фектов подшипника качения представляют собой схемы деления и умножения, собранние на операционных усилителях. Указатель 7 представляет собой индикатор, шкала которого проградуированав величинах динамического зазора междуподшипником качения и корпусом машины,Стенд работает следующим образом,1 О Электрический сигнал с датчика вибрации 2 в виде переменного напряжения подается на вход первого полосового фильтра 3, настроенного на частотувращения ротора машины 1 и на вход1 второго полосового фильтра 8, настроенного на одну из информационных частотс д 1 с,2 1 сгде- частота вращения сепаратора;щ- число...

Номер патента: 718104

Опубликовано: 29.02.1980

Автор: Мулдашев

МПК: A61F 9/007

Метки: века, верхнего, дефектов, пластики, сквозных, частичных

...лоскут на ножке с основанием, направленным к цетттруи кверху, Лоскут отполякт и перемешают3 7181на поверхность трансплантата, фиксируют кнему швами, Треугольник по Бурову в области переносицы ушивают, производят боковое смешение кожно-мышечного лоскутапутем наложения смещающих швов. В области края века смеценный лоскут фиксируют к трансплантату шелковыми швами,Гомотрансплантаты дермального слоякожи подошвы заготавливаются в морге ввиде пластов кожи подошвы которйе стери 40лизуют и консервируют в 96 ф атиловомспирте на срок от 3-х суток до 2-х лети более, Возможно использование и других методов консервации,Перед операцией из участка кожи подошвы удаляют апидермис, а оставшийсядермальный слой толщиной около 2 ммиспользуют для моделирования...

Номер патента: 721221

Опубликовано: 15.03.1980

Авторы: Гребенюк, Михайленко, Славецкий-Котвицкий, Холодняк

МПК: B21J 5/00

Метки: внутренних, дефектов, заковки, моделирования, процесса, слитка

...- расход жидкости или гаО 4за по и после пеформирования модели,В процессе моделирования в ряде случаев оказывается необходимым определитьминимальную степень деформации модели,при которой обеспечивается полное закрытие (пережим) дефекта. По описываемому 35.способу это решается следующим образом,Несколько одинаковых моделей подвергают обжвтию с различной величиной деформации и определяют степень закрытия4 ГдефектаЗатем строят график функции Но-й,45где = о - степень деформациио модели,Н И Д 4 - высота поперечногоосечения модели допефорлир о 50ввния,Методом экстраполяции определяютвеличину Я, при которой Е= 1, (т. е,когда дефект полностью закрылся),П р и м е р, Влияние величины подачи при ковке на величину обжатия модели, приводящей к...

Номер патента: 723442

Опубликовано: 25.03.1980

Авторы: Барминов, Зорина

МПК: G01N 25/72

Метки: дефектов, клеевого, обнаружения, соединения

...процесса дсфектоскопии достигается тем, что вакуумировипие иэделия происходит щън высокоэлистическомсостоянии полимерной основы клея илиизделия, при этом достпгиетсл полнил де42 420 мм на изделиях сложной конфигурации с любой кривизной поверхности. Способ позволяет определить дефекты на краях изделия. 3 7234 формация тонкой детали. Вакуумирование прекращается при такой температуре, при которой полимер перешел в стеклообразное состояние, а конфигурация дефекта сохраняется вследствие релаксационных свойств полимеров. Изделие извлекается из вакуумной камеры, дефектное место фиксируется визуальными, оптическими и инструментальными методами. Оконча - тельное охлаждение изделия до исходной 10 температуры происходит вне вакуумной...

Номер патента: 727377

Опубликовано: 15.04.1980

Авторы: Бондарев, Локшин, Назаренко, Рабкин, Третьяк

МПК: B23K 25/00

Метки: дефектов, кратер, плавлением, сваркой, типа, устранения

...явля качества сварного соединени нения металлом полостей вер тера. Цель достигается тем, чт ки, выступающий над повер ваемого изделия, предварите На чертеже показана сх способа. 1 ОНа дефектном участке стыкови 2 выполняют отверстие, в которое устанавливают вставку 3 и неподвижным расфокусированным пучком 4 оплавляют выступающий участок вставки, Расплавленный металл этого участка заполняет полости верхней части кратера, благодаря чему повышается качество сварного соединения при повторном сквоз ном проплавлении.727377 2 Составитель Р, БалаянТехред К. Шуфрич Корректор Ю, Макаренко Тираж 1160 Подписное Редактор О. Торгашева Заказ 1037/11 ЦИНИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская...

Номер патента: 730449

Опубликовано: 30.04.1980

Авторы: Гачко, Голосовкер, Карякина, Резинских, Штыркова

МПК: B22C 3/00

Метки: дефектов, исправления, литейных, паста, стержней

...браэмал ди емешив в нную напри- и бенВ закрытом смесите ыми лопастями набуха ергируется при посто ии в водном щелочном ечение 30 мин, затем ассу, вводят кварцевы ер марок 1 ко 16-1 ко 10 Изобретение отнному производству,производству стержмой оснастке.Стержни, изготаваемой оснастке, поиз стержневых ящиков и охлажденияимеют отдельные дефекты поверхни, чтобы ликвидировать зти дефедо простановки стержней в формыбуется их соответствующая отделка.Наиболее близкой по техническойсущности и достигаемому результатуявляется паста, содержащая в качестве органического углеводного связующего декстрин, кварцевый песок, глину и воду 11,Однако такая паста малопластична;имеет небольшой срок хранения (2 дня)гигроскопична, кроме того она не...

Номер патента: 736961

Опубликовано: 30.05.1980

Авторы: Березин, Дормаков, Лапченко

МПК: A61B 17/24

Метки: глотки, дефектов, пищевода, пластики

...Для закрытия раневой поверхности, превышающей более чем в три раза площадь глоточно-пищеводного дефекта, используют дистальный отдел пекторального кожно-мышечного лоскута на сосудистонервой ножке, который соответствует площади раневой поверхности,Широкая часть лоскута выключает кожу, подкожно-жировую клетчатку, большую грудную мышцу с расположенным в ней сосудисто-нервным пучком (дельтопекторальные ветви подмышечной артерии, передние грудные ветви плечевого нервного сплетения). Отсепарованный пекторальный лоскут разворачивают, укладывают через дополнительный разрез и подшивают на равную поверхность, образованную после формирования внутренней выстилки.После перемещения большой кожной площади остается значительный дефицит кожй в...

Номер патента: 737819

Опубликовано: 30.05.1980

Авторы: Булах, Миронов, Тонконогов

МПК: G01N 27/02

Метки: активации, дефектов, диэлектриков, колебаний, количества, кристаллической, полупроводников, реализации, решетки, типа, частоты, энергии

...и С - скорости нагревания,1Определив энергию активации дефекта, можно найти и частоту его релакса 35где а - постоянная решетки исследуемого вещества;Ч - скорость звука в нем;4 - собственная частота колебанийдеФекта,Способ осуществляется в устройстве, обеспечивающем автоматическое последовательное измерение тока ТСД иотличающемся от известного тем, что 45между измерителем температуры и нагревателем включены программное и регулирующее устройства, охваченныеобратной связью, а нагреватели," выполненные в виде нагревательных 50стержней, укреплены в цанговых зажимах.На фиг. 1 дана схема предлагаемого устройства; на Фиг. 2 - график,иллюстрирующий осуществление предлагаемого способа для кристалла ИаС 1 .Исследуемый образец 1...

Номер патента: 737822

Опубликовано: 30.05.1980

Авторы: Булах, Миронов, Тонконогов

МПК: G01N 27/24

Метки: активации, активационных, вида, времени, дефектов, диэлектриков, количества, кристаллической, объектов, полупроводников, реализации, релаксации, решетки, энергии

....к изменению 0тока ТСД; позволяя тем самым опреде- .лить параметры дефектов.Цель изобретения достигается двухкратным, измерением тока ТСД. Первоеизмерение тока ТСД проводят в поля-. 65риэованном до насыщения, свободном от напряжений веществе, нагреваемом с постоянной скоростью. При этом ток увеличивается, достигает максимума и спадает, причем каждый вид дефектон характеризуется своей температурой максимума. Повторное измерение тока проводят, подвергнув исследуемый материал механическому сжатию, что выэынает сдвиг максимума тока в сторону более высоких температур, В отличйе от грототипа параметры дефектов определяют ло напряжению сжатия -О температурам максимумов Т и Т тока ТСД соответстненно ненапряжеиного и сжатого материала...

Номер патента: 741044

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Денель, Кеткович, Рупакова

МПК: G01B 11/30

Метки: выявления, движущейся, дефектов, поверхности, прибор

...объектив 2 с каналом из разветвленных световодов 3 и 4, которые у поверхности сходятся так, что один из них является освещающим, а другой - принимающим отраженный свет, соответственно световод 3 связан с источником 5 ультрафиолетового света, а световод 4 - с электронно- исполнительным устройством, состоящим из узлов 6-9: узел 6 - передающая телевизионная трубка, фотокатодом которой являются светочувствительные элементы, сгруппированные соответствующим образом, или светочувствительная пластина, эквивалентная множеству светочувствительных элементов, на которые поступает поток света со световода 4, узел 7 - блок формирования и обработки видеосигналов, узел 8 - видео- контрольное устройство, узел 9 - блок питания.741044 Составитель А....

Номер патента: 741137

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Гораздовский, Фисун, Чеканов

МПК: G01N 27/82

Метки: визуализации, дефектов, полей

...к средс обнаружения дефектов при контрол ства деталей в любой отрасли маши строения. Известно устройство для обна дефектов в изделиях из фе омаг37 4Техникь-экономический аффект предлагаемого устройства заключается в повышении надежности и качества выявлениядефектов, снижении трудоемкости и повышенин производительности труда при проведении контрольных операций по обнаружению дефектов в изделиях сложной конфигурации,3 7411 ческий индикатор 5, установленные соосно за кюветой, поляроиды 6 и 7, размещенные на двух других противоположных боковых стенках кюветы 1. Поляроиды соединены между собой П-образной рамкой 8, установлены вдоль оптической оси; устройства и имеют возможность поворота относительно оптической оси устройства и...