H01L 21/304 — механическая обработка, например шлифование, полирование, резка
Способ разламывания проскрайбированных полупроводниковых пластин
Номер патента: 208135
Опубликовано: 01.01.1968
МПК: H01L 21/304
Метки: пластин, полупроводниковых, проскрайбированных, разламывания
...ожку и ве мости от т ичин ебуе кое качеств сти процесс на элемент рачную плеопераций ондовых и о лома, так ы, оснку и(раз- змереПредмет изобретения Для разламывания проскрайбированной полупроводниковой пластинки ее укладывают на упругий элемент и прокатывают валиком. Другой способ заключается в том, что пластинку наклеивают на всевозможные подложки: стальную ленту, вощеную бумагу., пленку из пластиката и т. д., и огибают по цилиндрической или рифленой поверхности.Предлагаемый способ позволяет повысить производительность и качество получаемых кристаллов и заключается в следующем.Пластинку помещают между прозрачными пленками, которые механически скрепляют между собой. После этого упакованная плас 1 инка ориентируется относительно сетки...
Установка для разламывания проскрайбированных полупроводниковых пластин
Номер патента: 233104
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Бабицкий, Зайдель, Фейгинов
МПК: H01L 21/304
Метки: пластин, полупроводниковых, проскрайбированных, разламывания
...а рычаг 14, поворачиваясь, возвращает диск б в исходное положение,Отклонение электродвигателя 10 производится нажатием рычага 26 на конечный выключатель 27.Механизм перемещения осуществляет перемещение ломочного ролика относительно обрабатываемой пластины. Механизм представляет собой стол с шариковыми направляющими, Движение от электродвигателя 28 передается через шестерни 29 - З 1 ходовому винту З 2 и с помощью гайки ЗЗ - салазкам З 4,Отклонение двигателя в крайних положениях салазок производится с помощью упоров З 5 и конечных выключателей Зб,Механизм нагружения предназначен для создания на ломочном ролике усилия, необходимого для разламывания пластин. Механизм состоит из корпуса З 7 и салазок З 8, перемещающихся в шариковых...
Устройство для стабилизации положения алмазных отрезных кругов
Номер патента: 255386
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Баграмов, Животовский, Рогов, Скрипко, Френкель
МПК: H01L 21/304
Метки: алмазных, кругов, отрезных, положения, стабилизации
...невозможно у 1 странить натяжением обоймы.Целью настоящего изобретения является 25 создание устройства, обеспечивающего точную стабилизацию отрезных кругов в процессе работы.Для этого по окружности кругов размещают кольца с заостренными крэмками, являю- ЗО щиеся одним полюсом крута, Вторым полюсом является сам круг, который изготавливают из магнитного материала.На чертеже конструктивно изображено предлагаемое устройство.На внутренней поверхности корпуса 1 по окружности установлены кольца 2 с заостренными крэмками, являющиеся одним из полюсов электромагнита. К коопусу прикреплена крышка 3. Под кромками колец 2 в одной плоскости с ними установлены отрезные круги 4, выполненные из магнитного материала, которые являются вторым полюсом...
Способ механической обработки слитка полупроводникового материала
Номер патента: 307445
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Долгов, Савельев, Смирнов
МПК: H01L 21/304
Метки: механической, полупроводникового, слитка
...снижаются потери полупроводникового материала от брака. 5 20 25 Предмет изо б р е те н Способ механич проводникового аявлено 13.1,1970 ( 14 с присоединением заявкиубликовано 21.71,1971. Бю Дата опубликования описан СОБ МЕХАНИЧЕСКОЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВ Изобретение относится к области изготовления полупроводниковых приборов, например фотопреобразователей, где требуется механическая обработка одной стороны кристалла.Известны способы механической обработки полупроводниковых кристаллов, сущность которых заключается в следующем: моно- кристаллические слитки, например кремния, германия, арсенида, галлия, представляющие собой стержни определенной длины и диаметра, разрезаются на диски требуемой толщины. После резки диски промывают, сортируют по...
355758
Номер патента: 355758
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: H01L 21/304, H05K 3/00
Метки: 355758
...11. На вертикальной оси в верхней части каретки закреплен поворотный стол 12, который может за нимать два фиксированных положения - О и90, что обеспечивает разворот изделия для продольного и поперечного резов. На столе смонтирован узел И для размещения и фиксации изделий, разворачивающийся с помощью 10 винта 14 и пружины 15 на угол-+4 для установки изделия по визирной линии окулярного микрометра микроскопа (на чертеже не показан). На боковой поверхности стола в направляющих типа ласточкин хвост установлены 15 двое салазок 1 б, перемещающихся в продольном направлении микрометричеокими выводами 17 и 18, связанными через зубчатую муфту 19 с рукояткой узла настройки 20. На салазках с помощью двух базовых штифтов 20 устанавливают сменные...
Способ удаления выступающих дефектов с поверхности эпитаксиальных слоев
Номер патента: 433570
Опубликовано: 25.06.1974
Авторы: Митрофанов, Смирнов, Чеховской
МПК: H01L 21/304
Метки: выступающих, дефектов, поверхности, слоев, удаления, эпитаксиальных
...удаляя выступающие дефекты, могутповредить эпптаксиальный слой.Цель изоорстения - создание способа, позволяющего повысить качество поверхностиэпитаксиальных слоев, т. е. удалить острые10 выступающие дефекты без влияния на остальную поверхность эпитаксиального слоя,Это достигается тем, что предварительновсю поверхность эпитаксиального слоя окисляют, а шлифование осуществляют с по 15 мощью плоского полировальника с канавкаНа чертеже схематически представлена полупроводниковая пластина с эпитаксиальнымслоем на операции обработки с помощью20 плоского полировальника,По предлагаемому способу после эпитаксиального выращивания слоя 1 на полупроводниковой пластине 2 всю поверхность эпитаксиального слоя 1 окисляют. Окисел выполня 25 ет функцию...
Способ шлифовки монокристалловс алмазоподобной кристаллическойрешеткойвп тбфонд 3hoileptq8i
Номер патента: 435925
Опубликовано: 15.07.1974
Авторы: Катюков, Пекарев, Ушаков, Чист
МПК: H01L 21/304
Метки: 3hoileptq8i, алмазоподобной, кристаллическойрешеткойвп, монокристалловс, тбфонд, шлифовки
...на определенный угол. Однако полностью исключить отклонение от прямолинейного направления шлифовки и неравномерность съема материала невозможно,Цель изобретения - улучшение качестваповерхности и повышение скорости шлифования,молинейное движение с периодичесротом на заданный угол без отрываот шлифовальника. Способ шлифовки состоит в том, что подложка движется поступательно относительно шлифовальника по многоугольнику. Каждая сторона многоугольника - это кристаллографическое направление (1 Л/1 Ч), входящее в семейство заданных направлений (1.1 Ъ%). При этом все точки поверхности подложки шлифуются кристаллографически одинаково, Например, для подложки, ориентированной поверхностью по (111), задано направление шлифовки (110). Тогда...
Способ получения полупроводниковых приборов с переменной емкостью
Номер патента: 510059
Опубликовано: 25.06.1978
Авторы: Еременко, Никитенко, Пронин, Якимов
МПК: H01L 21/304
Метки: емкостью, переменной, полупроводниковых, приборов
...форлы с углом при вершине 90-140. При этом деформирование проводят таким образом, что эсь изгиба Ю 1 перпендикулярна болынему ребру образца, а угол изгиба пластинки определяется выбором формы матрицы и пуансэйа. После этого кристалл пэвгэрцэ обрабатывают вполнрующем растворе. Электрические контакты присоедицяюг к деформированному материалу в мест сэприкосцовеция с центральной опорой и к участку, расположенному вне опор, методом гермэкэмпрессии с образованием шарика либо точечной сварки, 13 качестве контактного магерцала прил.ецяют золото с сэогвегсгвуюшимн присадками эОписанный способ позволяет получить р-п-переход, плэшадх которого изменяется с напряженнем, Природа этого изменения. сост ит в следуюшем:, геометрия изгиба выбрана Ж...
Устройство для шлифования микрокристаллов
Номер патента: 1116913
Опубликовано: 15.05.1992
МПК: B28D 7/00, H01L 21/304
Метки: микрокристаллов, шлифования
...в контакте с держателем микрокрцстазсзса оУстройство поясняется чертежом.УстроистВО Включает оправкУ. 1, микрокристалл 2, держатель 3 микрскрис" азсзса поворотную обойму с) фиксируюСссй всс 5 рсса6 стойкг сменные грузы 8, ось 9, микрометрический и 5 Дикатос 10. подсиНиик 11, ось 12, поворотно-рычажный мехацизм 13, электродвигатель 14 шлиоваль 11 ый инстр )мссцт 15, дссск 16, Вал 17, )содшипцик 18 стОЙку 19 ссриксзи 05 Ну систему 20, шкив 21 электродвигатель 22, кожух 23, стойку 24 и плц 25Устройство содержит оправку 1,предна.значецную дпя 51 ксацсш микро- кристалла 2, жестко закрепленную в нижнем торце держателя 3, перемещающегося вертикально з поворотной обойме 4. (с)иксирующссйс Винт 5 закрепзсяет держатезсь 3 в верхнем положении...
Устройство для бесцентрового шлифования изделий различного диаметра
Номер патента: 1784105
Опубликовано: 23.12.1992
Авторы: Абакумов, Гривач, Коган
МПК: H01L 21/304
Метки: бесцентрового, диаметра, различного, шлифования
...круга получает вращение и прижимается к шлифовальному кругу. Недостатком известного устройства является жесткое крепление опорного ножа, требуют е ручной перестановки при изменении диаметра обрабать(ваемой детали, что не позволяет его эффективно использовать в производстве с часто меняюЩейся номенклатурой изделий.Наиболее близким по решаемой 3 к заявленному устройству является ус ство для бесцентрового шлифования иаметрэ, содержащее шлиий барабаны и опору в виде ом данного устройства явмость перенастройки опооде на другой диаметр ) йУстройство работает следующим образом,Дискретный привод 7 поворачивает кулачки 6 и выдвигает упоры 5 на размер, пропорциональный диаметру обрабатываемого монокристалла 8, так чтобы ось моно- кристалла 8...
Способ утонения пластин с кристаллами полупроводниковых приборов и интегральных схем
Номер патента: 1787295
Опубликовано: 07.01.1993
Авторы: Дереченик, Кононов, Олтушец, Пеньков, Полонин, Яцук
МПК: H01L 21/304
Метки: интегральных, кристаллами, пластин, полупроводниковых, приборов, схем, утонения
...стороны пластины с плоскостью держателя, Кроме того, нанесение защитного покрытия на планарную сторону пластины не улучшает ее геометрию в части прогиба и клина по отношению к держателю, на котором пластина крепится для проведения механического утонения. Поэтому в процессе закрепления ее на держателе происходит механическая деформация пластины с изме-. нением исходных геометрических параметров, это приводит к нарушению металлизации и соответственно к снижению выхода годных на операции "функ 1 ионирование".Целью изобретения является повышение выхода годных за счет исключения разрушения пластины и кристаллов.Цель достигается тем, что по способу водниковых приборов и интегральных схем, включающему нанесение высокомолекулярного соединения...
Способ абразивной обработки полупроводниковых материалов группы а в
Номер патента: 1831730
Опубликовано: 30.07.1993
Автор: Рогов
МПК: H01L 21/304
Метки: абразивной, группы, полупроводниковых
...жидкость в количестве 0,5 - 3,0%.Поскольку СОЖ поступает непосредственно в зону контакта абразивного инструмента с полупроводниковым материалом, наличие вещества, взаи. ддействующего с газообразными токсичными соединениями, позволяет снизить уровень выделения вредных веществ с атмосферу, т.е. улучшает условия труда. Так, при резке или шлифовании арсенида галлия выделяется арсин, который химически взаимодействует с раствором перманганата калия с образованием водо- растворимой соли мышьяка.В качестве добавок можно использовать бихромат калия, углекислый калий и е р. На станкв-резке "АлмазМ" резку монокристалла арсенида пластины с помощью алмазного1831730 Составитель В.РоговТехред М.Моргентал Корректор Л.Пилипенко Редактор Заказ 2553 Тираж...
Способ полирования пластин кремния
Номер патента: 2001465
Опубликовано: 15.10.1993
Авторы: Завадская, Кошевар, Мазина, Рагозин, Федоренко, Хохлов
МПК: H01L 21/304
Метки: кремния, пластин, полирования
...без эамшевидного покрытия обеспечи 200465вает более грубую обработку нерабочей по- После суперфинишного полирования и верхности по сравнению с рабочей, т.е. очистки был проведен контроль локальной обеспечивает наличия слоя с геттерирую- плоскостности на установке гчТЧ. На 80 щими свойствами, пластин отклонение от плоскостности наОбработку проводят на станках АР. 5 участках площади(10 х 10) мм не превышаНа финишном полировании используют етмкм не менее, чем на 90 ф рабочей полизоовальник плотностью не менее 0,30 поверхности каждой пластины. Оценка шег/см типа "5 оЬа". Пластины располагают роховатости пластин при контроле рефлекрабочей поверхностью вверх. Полирование тометрическим способом свидетельствуют проводят в течение 35 -...
Способ химико-механического полирования полупроводниковых пластин и стеклянных заготовок
Номер патента: 2002338
Опубликовано: 30.10.1993
Авторы: Валеев, Илларионова, Сидоренко
МПК: H01L 21/304
Метки: заготовок, пластин, полирования, полупроводниковых, стеклянных, химико-механического
...волокон при их содержании от 30 до 100 и высокоусадочн ых полиэтилентерефталатных волокон при их содержании до 70%, пропитанный полиуретаном при его содержании в материале от 15 до 650 .П р и м е р 1, Укрепляют пластину кремния на держателе, полировальный материал - на притире, В качестве полировального материала используют нетканый иглопробивной материал, состоящий из смеси малоусадочных полиэтилентерефталатных ф ормул а и зо бр ете н и я СПОСОБ ХИМИКО-МЕХАНИЧЕСКОГО ПОЛИРОВАНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН И СТЕКЛЯННЫХ ЗАГОТОВОК, включающий укрепление полируемого материала на держателе и полировальника на притире с последующим их контактированием при взаимном вращении и непрерывном нанесении полировального состава на полировальник,...
Способ изготовления полупроводниковых структур
Номер патента: 1738035
Опубликовано: 15.06.1994
Авторы: Аросев, Комкова, Рогов, Шереметьев
МПК: H01L 21/304
Метки: полупроводниковых, структур
1. СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУР, включающий наклейку пластин на план, утонение пластин до заданной толщины путем обработки нерабочей стороны, разделение пластин на отдельные структуры, отличающийся тем, что, с целью расширения технологических возможностей способа и повышения выхода годных, перед наклейкой пластин на план на рабочей стороне пластины по ее периферии дополнительно жестко закрепляют кольцевой держатель, внутри которого наклеивают диск с зазором, и одновременно шлифуют торцевые поверхности кольцевого держателя и диска до их выравнивания, а перед разделением пластин удаляют диск путем его отклеивания и проводят металлизацию нерабочей стороны пластины, при этом диск выполняют из того же материала, что и...
Устройство для изготовления фаски на круглых пластинах
Номер патента: 1123474
Опубликовано: 15.06.1994
Авторы: Власов, Гопкало, Самойленко, Тетерьвов
МПК: H01L 21/304
Метки: круглых, пластинах, фаски
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФАСКИ НА КРУГЛЫХ ПЛАСТИНАХ, содержащее притир, имеющий возможность вращаться вокруг своей оси, головку с наклонными цилиндрическими отверстиями, стальные цилиндрические держатели обрабатываемых пластин, имеющие возможность входить в отверстия головки, и привод вращения держателей, отличающееся тем, что, с целью повышения качества обработки, каждое цилиндрическое отверстие снабжено подвижной немагнитной втулкой, соосно с которой в верхней и нижней частях головки установлены электромагниты.
Способ утонения полупроводниковых структур
Номер патента: 1766212
Опубликовано: 27.03.1995
Авторы: Башевская, Белов, Рогов, Савостьянова, Тюнькова
МПК: H01L 21/304
Метки: полупроводниковых, структур, утонения
СПОСОБ УТОНЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУР, включающий операции механической обработки и полирующего травления нерабочей стороны, отличающийся тем, что, с целью повышения точности обработки и повышения выхода годных структур, операции повторяют, до и после последней операции травления измеряют неплоскостность поверхности, причем последнюю операцию механической обработки проводят на глубину не более 50 мкм, а последнюю операцию полирующего травления проводят на глубину, обуславливающую увеличение неплоскостности в 2,0 - 5,0 раз по сравнению с предыдущей механической обработкой.
Способ изготовления кремниевых пластин с геттерирующими центрами в объеме пластины
Номер патента: 1340492
Опубликовано: 25.07.1995
Авторы: Воронков, Енишерлова-Вельяшева, Мильвидский, Резник, Русак, Шмелева
МПК: H01L 21/304, H01L 21/322
Метки: геттерирующими, кремниевых, объеме, пластин, пластины, центрами
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КРЕМНИЕВЫХ ПЛАСТИН С ГЕТТЕРИРУЮЩИМИ ЦЕНТРАМИ В ОБЪЕМЕ ПЛАСТИНЫ, включающий проведение двухступенчатого отжига при температурах в диапазоне 650 750oС и 950 1050oС в течение 3 4 ч на каждой стадии, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения способа для кремния с содержанием кислорода 5 1015 9 1017 см-3, перед отжигом при 950 1050oС с обеих сторон пластины механической обработкой создают приповерхностные области, состоящие из системы микротрещин, произвольно направленных и...
Устройство для доводки полупроводниковых пластин
Номер патента: 1829770
Опубликовано: 10.04.1996
Авторы: Заболотская, Рогов, Савушкин, Смирнов
МПК: H01L 21/304
Метки: доводки, пластин, полупроводниковых
...маслом, затем на нем устанавливают зубчатые колеса 2 и 4 (е=З мм, =22, гэ=105), между которыми размещают четыре колеса-сателлита 3 (хг=38), обеспечивая зацепление между ними. В отверстиях 5 ко лес 3 размещают четыре спутника с пластинами, Прижимной диск 8 с прокладкой 11 совмещают с колесом 2, добиваясь размещения шпильки 9 в отверстия 10 колеса, Ось вращения прижимного диска 8 помещают в 30 направляющую штангу корпуса на расстоянии - 150 мм от оси вращения доводочного диска. Посредством кронштейнов 12, сохраняя равномерность перемещения колес- сателлитов 3 между колесами 2 и 4, внешнее 35 колесо 4 жестко закрепляют на корпусе 13устройства.Создают давление на пластины из расчета Р=6,0 кПа. Доводочный диск приводят во вращение с...
Способ изготовления пластин
Номер патента: 1241940
Опубликовано: 20.11.1999
Авторы: Богданов, Зубринов, Ковригин, Никифоров, Сапожников, Шелопут
МПК: H01L 21/304
Метки: пластин
Способ изготовления пластин, включающий крепление пластин на планшайбе и поочередные шлифование и полирование сторон пластин, отличающийся тем, что, с целью улучшения геометрических параметров пластин, их крепление после полирования одной стороны осуществляют нанесением на полированную сторону прозрачной плоскопараллельной планшайбы слоя прозрачного клеящего вещества и притиранием пластин по этому слою к планшайбе, причем неплоскопараллельность слоя клеящего вещества между планшайбой и пластиной, которую измеряют через другую сторону планшайбы интерференционным методом, после притирания пластины не должна превышать величины, соответствующей одному интерференционному кольцу.
Состав для химико-механического полирования полупроводников и диэлектриков
Номер патента: 1797409
Опубликовано: 20.01.2000
Авторы: Волков, Котелянский
МПК: H01L 21/304
Метки: диэлектриков, полирования, полупроводников, состав, химико-механического
Состав для химико-механического полирования полупроводников и диэлектриков, содержащий наполнитель, загуститель, комплексообразователь, травящий реагент и воду, отличающийся тем, что, с целью повышения качества обрабатываемой поверхности, производительности процесса, уменьшения токсичности и коррозионного воздействия, в качестве травящего реагента использована ортофосфорная кислота, при следующем соотношении компонентов, мас.%:Наполнитель - 15 - 30Загуститель - 5 - 10Ортофосфорная кислота - 0,06 - 12Комплексообразователь - 0,003 - 6,4Вода - Остальное
Устройство для шлифования монокристаллов
Номер патента: 1213907
Опубликовано: 20.12.2005
Авторы: Жалнин, Кафтанатьев, Нестеров, Скворцов
МПК: B24B 51/00, H01L 21/304
Метки: монокристаллов, шлифования
Устройство для шлифования монокристаллов, содержащее шлифовальный круг, стол для закрепления обрабатываемого изделия и фотоприемники инфракрасного излучения, отличающееся тем, что, с целью повышения выхода годных, стол для закрепления обрабатываемого изделия выполнен с окном, прозрачным для инфракрасного излучения, а фотоприемники инфракрасного излучения размещены с возможностью оптической связи с окном стола.