Ультразвуковой способ измерения размеров дефектов

Номер патента: 476501

Автор: Аглотков

ZIP архив

Текст

476501 Составитель В. Иванов Текред Т. Курилко Редактор М. Васильева Корректор И. Симкина Заказ 1112/1649 Изд.888 Тираж 902 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Тип. Харьк. фил. пред. Патент ров дефектов, основанный на введении в контролируемый объект сфокусированного ультразвукового,пучка и приеме сигнала, отраженного от дефекта, отличпющийся тем, что, с целью повышения точности измерения, из меняют фокусное расстояние ультразвукового искателя, до получения, полного отражения ультразвукового пучка от дефекта и по,величине фокусного расстояния судят о размерах дефекта.

Смотреть

Заявка

1889782, 27.02.1973

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6760

АГЛОТКОВ ГЕННАДИЙ ЯКОВЛЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектов, размеров, ультразвуковой

Опубликовано: 05.07.1975

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-476501-ultrazvukovojj-sposob-izmereniya-razmerov-defektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Ультразвуковой способ измерения размеров дефектов</a>

Похожие патенты