Способ дифракционной микрорентгено-графии монокристаллов

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик. с присоединением заявки Ио(23) Приоритет -С 01 М 23/20 Государственный комитет СССР по дедам изобретений и открытийОпубликовано 3003.81. Бюллетень М 12 Дата опубликования описания 300 381 .(7 ) Заявитель Ереванский государственный университет(54) СПОСОБ ДИФРАКЦИОННОЙ МИКРОРЕНТГЕНОГРАФИИ МОНОКРИСТАЛЛОВИзобретение относится к ренггеноструктурному анализу,По основному авт. св. Р 720349,720350 известен способ цифракционноймикрорентгенографии монокристаллов, 5заключающий в том, что дифрагированный исследуемым монокристаллом пучокпропускают через установленный в отражающее положение совершенный монокристалл, толщину которого выбирают 10из условий нормального прохождейиярентгеновского излучения 11 . Этот способ обеспечивает увеличение дифракционных картин, но в некоторых случаях получаемое разрешениенедостаточно для выявления тонкихдеталей структуры.Цель изобретения - повышение разрешения получаемой дифракционной 20картины,Поставленная цель достигается тем,что осуществляют сканирование исследуемого кристалла рентгеновским пучком и синхронное перемещенйе средств 25регистрации, причем отношение скорости сканирования исследуемого кристалла к скорости перемещения средстврегистрации выбирают равным отношениюширины .падающего на совершенный мо- З 0 2нокристалл пучка к ширине выходящего из указанного кристалла пучка .Приэтом в одном варианте сканирование исследуемого кристалла осуществляют путем перемещения щели, установленной между этим кристаллом н совершенным монокристаллом на пути дифрагнрованного пучка.В другом варианте сканирование исследуемого кристалла осуществляют путем его перемещения относительно первичного пучка.На фиг, 1 представлена схема увеличения интерференционных картин с движущейся щелью; на фиг. 2 - схема получения рентгеновских топограмм,Первичный рентгеновский пучок 1 падает под углом Вульфа-Брегга на интерференционную систему из тонких монокристаллов 2, Дифрагированный пучок 3 падает на совершенный .монокристалл 4, толщина которого выбрана из условия нормального прохождения рентгеновского излучения и который установлен в. отражающее положение. На пути пучка 3 установлена щель 5. Прошедший через совершенный монокристалл 4 пучок регистрируется на фотопленке 6. При этом производят синхронное перемещение щели 5 и817552 талла пучка; тличаюнирование исуществляют установленной совершенным дифрагировантличаюнирование исуществляют пу" осительно мацки,и экспертизельство СССРявке01 Н 23/20,формула изобретения э 1321/57одписное 3907 ВНИ Патент",.Проектная,4 Филиал ПППг.ужгород,у Фотопленки 6 в соответствии с отношегнием. 3 ц ЯщЧ Ягде Чщ - скорость щели,ЧФ - скорость Фотопленки,3Я - ширина щели,8 - основание треугольника БоррБмана или ширина пучка, выходящего изсовершенногомонокристалла 4. 16При получении топограмм (Фиг. 2)осуществляют синхронное перемещениеисследуемого кристалла 7 и фотопленки 6,Предлагаемый способ обеспечиваетувеличение дифракционных картин примерно на три порядка ло сравнению собычнымиметодами и примерно на порядок по сравнению с известным способом.2 ОИзобретение может применяться втаких областях физических исследований, как рентгенография микродефектов,рентгеновская спектроскопия, рентгеновская интерферометрия, прецизионный рентгеноструктурный анализ и т,д. 1. Способ дифракционной микрорент- ЗОгенографии манокристаллов по авт, св. Р 720349, 720350, о т л и ч а ю -щ и й с я тем, что, с целью повышения разрешения получаемой дифракционной картины, осуществляют сканирование исследуемого кристалла рентгеновским пучком и синхронное перемещение средств регистрации, причем отношение скорости сканирования исследуемого кристалла к скорости перемещения средств регистрации выбираютравным отношению ширины падающего насовершенный монокристалл пучка к ширине выходящего иэ укайанного крис 2, Способ по п. 1,,щ и й с я тем, что скследуемого кристалла опутем перемещения щели.между этим кристалломмонокристаллом на путиного пучка.3. Способ по и, 1,щ и й с я тем, что скследуемого кристалла отем его перемещения отпервичного пучка. Источники инфо ,принятые во внимание п1, Авторское свидет Р 720349, 720350, по з 9 2624500/18-25, кл. С 1978 (прототип),