Рентгеновский интерферометр

Номер патента: 720350

Авторы: Безирганян, Дрмеян, Эйрамджян

ZIP архив

Текст

(22) Заявлено 22.06.78 (21) 2624500/18 - 25с присоединением заявки РЙ(23) Приоритет Гоаударстввииый комитет оо делам иэобретеиий и отврнтийДата опубликования описания 05.03.80(71) Заявитель Ереванский государственный университет(54) РЕНТГЕНОВСКИЙ ИНТЕК)ЕРОМЕТР Изобретение относится к рентгеновским интерферо метрам,Известен рентгеновский интерферометр наэффекте Бормана, содержащий два параллельных толстых монокристалла и отражающиймонокристалл 11,Наиболее близким техническим решением к изобретению является рентгеновский интерферометр,содержащий три толстых монокристалла равнойтолщины, расположенные один за другим наравных расстояниях 2,Недостатком таких интерферометров, дейст.вуюших на эффекте Бормана, является невы сокая информативность получаемых муаровыхкартин, поскольку при аномальном прохождении пучок сосредотачивается в весьма узкойобласти кристалла.При использовании тонких (по Лауэ) крис.таллов, допускающих нормальное прохождениерентгеновского излучения, интерферометры обладают невысоким разрешением.Цель изобретения заключается в том, чтобыповысить информативность получаемых муаро.вых картин. Зта цель достигается тем, что в рентгенов. ский интерферометр, содержащий систему па. раллельных монокристаллов, введена интерференционная подсистема из тонких (по Лауэ) монокристаллов, за которой по ходу пучкаустановлен в отражающее положение на прохождение совершенный монокристалл, толщина которого выбрана из условия нормального прохождения рентгеновского излучения.На фиг. 1 и 2 показаны схемы интерферометров с различными интерференционными подсистемами соответственно двухкристальная и трехкристзльная системы, с помощью которых получают муаровые картины.Узкий пучок рентгеновских лучей, проходя через коллиматор с диаграммой, падает на двухблочную систему из кристаллов 1 и 2. Дифрагированный лучок падает на идеальныи толстый кристалл 3, находягднйся в лоложенни отражения, а проходящий пучок задерживает ся экраном 4. Дифрагированный пучок, содержащий муаровые картины, проходит чсреэ кристалл 3 который, не меняя характера муара, увеличивает эту муаровую картину.илиал ППП Патент"ЖГО 1 эОд, ул. рай:.сэ па 5 Снимок может быть получен ца фотоВ)с 1- ке 5, помещенной между вторьм и третьим бпоками или на фотопленке б, расцогн)женцоп после третьего блока.Аналогичный эффект (увеличение) цоту )- ется при использовации двухблочной Вместс трехблочной системы. Иа фиг, 2 узкий пучок рентгеновских лучей падает на трехблочнун) систему кристаллов 7, 8, 9. Пучки 10 и 11, содержацие муаровые картины, падают на идеальцый толс. о тый кристалл 12, а пучки, не участвуюгдие в образовании муаровой картины, задерживаются экранами 13 и 14.Снимок получают ца фотопленке 15, Г;оме. ттснной между третьим и четвертым блоками, 5 или ца фотопленке 16 после увеличения (пос. ле прохождения через монокристал 12). Г:рп прохождении пучков, содержагдих муаровые картины, через толстые кристаллы В поэжении отражения муаровые картины сцльцс уве- П лич 1 тваСтся, и намного увеличивается ра)решение системы, а также 1 пформативцость муаровьх картин,Интерферометр предпочтительно иэготавлив 1 ть из одного монокристаллического блока, на- э 5 пример кремниевого, с орие 1 гганией в отражаопее положение плоскости (220). 11 эи В 11 орс тоВ 1. , ),и 2 с 1 сд)/ "т 5)1)вать 1: о 1:)1,1)х. иа обсспсГпиать нормальное и;.Охохсс 1:, . рент. ГЕГ)ВСКОГО 1 Эу 1 С 1 И 5.Увс)и 1 Сци., получаемое В деппом ицтерфеРомет)с) панно Отпопени) 10 гдин кристылов)3 и 1 к суммарной то:1 цНцс пнтерференциоц. )ци иэ )систем. Ре ГтЕЦОВСК 1 й ГитЕРфСРэМЕтР. СОЛЕРжа Ций систему пара:5 ельцых моцокр)Сталов, о т и ч а ю ги и и с я;см, что, с пеьв) )н)вь 1- Гнсния информативности, оп содержит интер. фсрецпноцпу 10 Г)олсистсь- э тонких (по .1 ауэ) моцок 1 эисг;л;ОВ, эа кОторОЙ гк) ходу пучка устН 10;15 си В отр 1)1 п 1:опСс положение ца прохоэклецис совери)спгый 1 с)1-:Ок)ээстал)1. г 1 ина кГэтор 11 О Выб)юа иэ ч О в пи норм 1 ьцо 0 ЭОХОХ 1 ДСЦ)Я РСЦ ГСЦ)Вс.С)ГО )ЭЕНИЯ.

Смотреть

Заявка

2624500, 22.06.1978

ЕРЕВАНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

БЕЗИРГАНЯН ПЕТРОС АКОПОВИЧ, ДРМЕЯН ГЕНРИК РУБЕНОВИЧ, ЭЙРАМДЖЯН ФЕРДИНАНД ОГАНЕСОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 23/20

Метки: интерферометр, рентгеновский

Опубликовано: 05.03.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-720350-rentgenovskijj-interferometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Рентгеновский интерферометр</a>

Похожие патенты