Патенты с меткой «поверхностномслое»

Номер патента: 830206

Опубликовано: 15.05.1981

Авторы: Афанасьев, Буйко, Имамов, Ковальчук, Кон, Лобанович

МПК: G01N 23/20

Метки: искажений, монокристалла, поверхностномслое, профиля, распределенияструктурных

...профиля до совпадения кривых 4.Недостатками данного способа являются небольшая точность из-за малых интенсивностей отражений в дополнительных областях дифракции при исследовании тонких поверхностных слоев, а также неоднозначность восстановленного профиля при сложных формах искажений.Цель изобретения - повышение точности и достоверности получаемого профиля структурных нарушений. 40Поставленная цель достигается тем,что согласно способу определения профиля распределения структурных искажений в поверхностном слое монокристалла, заключающемуся в том, что про-изводят регистрацию кривой дифракционного отражения монохроматическогорентгеновского излучения от исследу"емой поверхности монокристалла, моделируют профиль распределения...