Способ дифракционной микрорентгенографии

Номер патента: 720349

Авторы: Безирганян, Дрмеян, Эйрамджян

ZIP архив

Текст

(22) Заявлено 22.06.78 (21) 2624500/18 - 25 с присоединением заявки Рй Гвоударствеииый комитет СССР(23) Приоритет по делам иэобретеиий и открытий(71) Заявитель Ереванский государственный университет(54) СПОСОБ ДИФРАКЦИОННОЙ МИКРОРЕНТГЕНОГРАФИИ Изобретение относится к рентгеноструктур.ному анализу и может быть применено дляисследования структурных несовершенств монокристаллов,Известен способ рентгеновской типографиивысокого разрешения, согласно которому рент.5геновский пучок сканируют по матрице тон.ких капилляров, коллимированный пучок проходит через исследуемый монокрнсталл, установленный в отражающее положение, а дифраОгированный пучок снова поопускается черезаналогичную матрицу капилляров 11),Недостатком этого способа являетсл слож.ность аппаратурной реализации, а также ограничения на разрешение, определяемое диаметром15капилляров.Наиболее близким техническим решениемк изобретению является способ рентгеновскойтипографии, заключающийся в пропусканииколлимированного монохроматического рентгеновского пучка через установленный в отражающее положение тонкий монокристалл и фотографической регистрации дифрагированногоизлучения г 1. Однако разрешающая способность такогоспособа недостаточна.Цель изобретения заключается в том, чтобы повысить раэрешание получаемой дифракцнонной картины.Эта цель достигается тем, что по предложенному способу дифракцнонной микрорентгенографии, заключающемся в том, что на исследуемый монокристалл, установленный в отражающее положение, направляют коллимированный пучок монохроматического рентгеновского излучения н регистрируют дифрагированный пучок, последний дополнительно пропускают через установленный в отражающее положение совершенный монокрнсталл, толщина которого выбрана иэ условия нормального прохождения рентгеновского излучения.Сущность изобретения поясняют чертежом, на котором показана схема получения рентге. новской топограммы.Сущность способа заключается в том, что пучок, содержащий рентгенотонографическую картину, полученную от тонкого исследуемого образца, пропускают через толстый идеальный(т.11 я) 11111) 11:ттпттг .",пготт)с;т )т , .:,);т т: З( монокристалл в полокении орт:.си)1, 1 чЭТОМ ПРОИСХОДИТ УВЕЛИЧЕНИЕ ТОГОГРД(1)1(тСС т(О.карти)ы, п 1)ичем толщина мотОКО 5 стд; т д .,1;) т.цз быть В Области норманыоО трохГ).ст,т)рентгеновского излучецич,Способ реализу)т следуотпцм тз)ряэь.УЗКИЙ РЕЦтГЕЦОВСКЦЙ ЦУЧОК ПЯДа С Г НД(СС( Е.Дттет)Ыц МОНОКРСтдтт 11)нт 1)РЗ ИРОВ ,ПтнЧОК 2, СОДЕРжашнй т)ПОт)аф 5(ЕСКУГ) КаРтЦИУмоцокристалла 1, Гаддет на толстый Идеалцый монокристдлл 3 в положешц отраженв,а ПРОШЕДШИЙ ПУЧОК Запеожццястев )К)ДНО 4.Снимок может быть получен ня 1 тототттСц е 5или 6.)ОВЬ(15 СИЗ РЯЗРЕНЕНИВт ттт 1)РЗ 1;.тацТЬЦ (т;.т Г тО;,тттэтцпттсечтнй;(по(у. (еО) черсз ъс ГЗНГ)Б

Смотреть

Заявка

2624500, 22.06.1978

ЕРЕВАНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

БЕЗИРГАНЯН ПЕТРОС АКОПОВИЧ, ДРМЕЯН ГЕНРИК РУБЕНОВИЧ, ЭЙРАМДЖЯН ФЕРДИНАНД ОГАНЕСОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 23/20

Метки: дифракционной, микрорентгенографии

Опубликовано: 05.03.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-720349-sposob-difrakcionnojj-mikrorentgenografii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ дифракционной микрорентгенографии</a>

Похожие патенты