Патенты с меткой «тестовыми»

Номер патента: 115139

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Талвисте

МПК: A21B 3/07, A21C 9/08, B65G 47/84 ...

Метки: заготовками, загрузки, конвейеров, печей, пруферов, расстойных, тестовыми, хлебопекарных

...опрокидывания формы.Нг чертеже изображено устройство в двух проекциях (а и б).Устройство выполнено в виде транспортера, на цепях 1 которого укреплены поворотные формы 2 для тестовых заготовок.Каждая форма 2 представляет собою корытообразную раму 3. Одной продольной стороной рама удерживается в шарнирах 4, а на другой продольной стороне имеет два выступа б, которыми опирается на сдвоенную пластинчатую опору 6.Нижняя часть 7 пластинчатой опоры неподвижно прицеплена к цспям 1 транспортера, а верхняя часть 8 может передвигаться.В нижней части 7 и верхней части 8 пластинчатой опоры 6 сделаны вырезы по форме выступов б; когда вырезы верхней и нижней частей опоры 6 совпадают, вы"тупы б проваливаются в вырезы, вследствие чего рама 3...

Номер патента: 142595

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Вейсс, Веслер, Гринберг, Сивицкий, Эпштейн

МПК: A21C 13/02, B65G 47/84

Метки: заготовками, конвейер, люлечный, посадки, расстойного, тестовыми, форм, шкафа

Номер патента: 150071

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Центральный

МПК: A21B 3/07, A21C 9/08, B65G 47/84 ...

Метки: заготовками, заполнения, тестовыми, форм

...схема; нагическая схема; на фиг, За и Зб - поступление заи укладка заготовок в формы.От электродвигателя 1 (фиг. 1), на валу которого закрепленшкив-вгриатор 2, через клиноременную передачу 3 и червячный редуктор 1 вращение передается коническим шестерням 5 н 6. Звездочка 7, сидящая на валу шестерни б, приводит в движение цспнои транспортер 8. Па цепи транспортера закреплены грсбснчатыс люльки 9,имеющие возможность поворачиваться вокруг горизонтальных оссЙ;поворот люлек производится при набеге упора 10 лольки на неподвижный копир 11,Заготовка 1ки мнивателя, которь те атнин заготовки И (фиг, 3), которая нс умещается на магдзинс, она протаскивается лентой 15 ме)кду закаткой и магазином 13 (фнг. За). Магазин имеет вильчдтый...

Номер патента: 966491

Опубликовано: 15.10.1982

Авторы: Волков, Герасимов, Ларионов, Мичков, Склянкин

МПК: G01B 11/02

Метки: дифракционными, линейных, объектах, плоских, размеров, структурами, тестовыми, формы, элементов

...фотоприемник установлен с возможйостью поворота вокруг точки пересечения оптической оси и базовой плоскости держателя объекта измерения, плоскость входного окна фотоприемника расположена по касательной к траектории его перемещения.На чертеже изображена принципиальная схема устройства для измерения линейных размеров и формы элементов на плоских объектах с дифракционными тестовыми структурами.Устройство содержит последонательно расположенные на оптической оси источник 1 когерентного света, например квантовый генератор, первую лин 30 зу 2, апертурную диафрагму 3, вторую линзу 4, третью линзу 5, фото" приемник 6 с блоком 7 управления и обработки сигнала и держатель 8 объекта 9 измерения. Фотоприемник б 35 установлен с возможностью...

Номер патента: 1408393

Опубликовано: 07.07.1988

Авторы: Латышев, Лисовский, Ломако

МПК: G01R 31/3181

Метки: интегральных, качества, мдп, схем, тестовыми, транзисторами

...без ошибок. При этих же лозах измеряют значения пороговых напряжений тестовых и- и р-канальных транзисторов. Циклы облучения - измерения параметров проводят до тех пор, пока це будет достИГНУто ЭНДЧЕНИЕ Я = Со. ЗДВИСИМОСтИ Г и П от лозы облучения (Р) испольгрЗУются Д 5151 пос ГРО ения ФУцк дни Го (11 с ) которая позволяет оценить качество схемотехпичес 1 со 1 о п 11 ое 1 стд. Нд фиг, 1-3 приведецы графики, логясцяющие предлагаемый способ.На фиг.1 показаны зависимости пороговых напряжений тестовых р-канальных транзисторов от дозы облучениядля схем 1 и 11. Указаны точки перехода линейной зависимости 1), (Р) кнелинейной, которые в нашем случаесоответствуют дозе = 10 Р. Видно,что изменение Б,р (Р) для схемы 11вьш 1 е, чем для схемы 1....

Номер патента: 1504497

Опубликовано: 30.08.1989

Авторы: Клишина, Лысов, Шац

МПК: G01B 11/02

Метки: дифракционными, линейных, объектах, плоских, размеров, структурами, тестовыми, формы, элементов

...света с помощью зеркала 2 световой пучок направляется насистему 3 формирования пучка, которая формирует в плоскости держателя5 на объекте 17 измерения луч света с.равномерно распределенной интенсив ностью, Каждый модуль (кристалл) объекта 17 измерения содержит тестовую дифракционную решетку, составленную из элементов, подлежащих измерению,Отражаясь от полупрозрачного зеркала 4, световой пучок проходит через диафрагму 7 в эллиптическом зеркале 6 и нормально падает на базовую поверхность держателя 5 объекта измерения, При попадании пучка на тестовую дифракционную структуру в плоскости, перпендикулярной штрихам структуры и базовой плоскости держателя 5, формируется дифракционное изображение структуры,...