Электронный имитатор дефектов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОВЕТСКИХистическиик ОЮЗОЦИАЛЕСПУ 6 01 й 27/9 НИЕ ИЗОБРЕТЕН ОП ОРСКО ВИДЕтЕЛЬСтВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(71 Всесоюзный научно-исследовательский институт технологии насосного машиностроения,эксплуатации дефектоскопа РСП ВД НВ 1 ВП 1, проба 5, ЩЮ 2.778.123 ТО, 1980, с. 26,(54) ЭЛЕКТРОННЫЙ ИМИТАТОР ДЕФЕКТОВ(57) Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для контроля вихретоковыхдефектоскопов. Цель изобретения - . расшиИзобретение относится к области неразрушающего. контроля и может быть использовано для контроля вихретоковых дефектоскопов,Известен электронный имитатор дефектов ИЭДСТ, состоящий из блоков преобразователя, согласования; автоматической регулировки усиления, стабилизатора напряжений, калибраторов Фазы и амплитуды масштабных усилителей. Блок преобразователя содержит образцовую катушку, индуктивносвязанную с вихретоковым преобразователем дефектоскопа ДСТ.Недостатком данного имитатора является относительная сложность схемы прибора. С помощью этого имитатора .невозможно проверить максимальную ско 1 Я О " 1 742709 рение области использования за счет контроля также и модуляционных дефектоскопов. Поставленная цель достигается тем, что электронный имитатор дефектов, содержащий комплексное сопротивление, предназначенное для подключения параллельно преобразователю дефектоскопа, снабжен последовательно соединенными добавочным комплексным сопротивлением и управляемым электронным ключом, и регулируемым генератором прямоугольных импульсов, управляющий выход которого соединен с входом управления управляемого электронного ключа, а добавочное комплексное сопротивление и управляемый электронный ключ соединены параллельно с комплексным сопротивлением. 1 ил,рость сканирования и разрешающую способность дефектоскопа и, кроме того. он применим только к дефектоскопу ДСТ.Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является электронный имитатор дефектов для проверки работоспособности дефектоскопа без стандартных образцов, реализованный в дефектоскопе ВДНВ 1 П 1, состоящий из комплексного сопротивления, эквивалентного комплексному сопротивлению, наведенному реальным дефектом в преобразователе, подключаемого к контуру преобразователя при замыкании переключателя, Недостатком известного электронного имитатора является невозможность его использования на автогенераторных дефектоскопах с модуляцион10 15 20 30 35 40 50 ным эффектом, так как однократное подключение комплексного сопротивления к модуляционному дефектоскопу не вызывает периодическое срабатывание автоматической сигнализации дефектов, В связи с этим невозможно проверить быстродействие работы дефектоскопа, так как он автоматически отстроится от однократно внесенного комплексного сопротивления.Цель изобретения - расширение области использования эа счет контроля также и модуляционных дефектоскопов.Поставленная цель достигается тем, что электронный имитатор дефектов, содержащий комплексное сопротивление, предназначенное для подключения параллельно преобразователю дефектоскопа, снабжен последовательно соединенными добавочным комплексным сопротивлением и управляемым электронным ключом, и регулируемым генератором прямоугольных импульсов, управляющий выход которого соединен с входом управления управляемого электронного ключа, а добавочное комплексное сопротивление и управляемый электронный ключ соединен параллельно с комплексным сопротивлением.На чертеже представлена структурная схема электронного имитатора дефектов,Злектронный имитатор дефектов состоит иэ подключенных параллельно преобразователю 1 комплексного сопротивления 2 и добавочного комплексного сопротивления 3, Добавочное комплексное сопротивление 3 подключается параллельно электронным ключом 4 к генератору 5 прямоугольных импульсов, регулирующим частоту и скважность коммутации, Злектронный имитатор бдефектов подключается к дефектоскопу 7 с автогенератором 8 через тройник 9 параллельно преобразователю 1.Устройство работает следующим образом. При подсоединении к автогенераторному дефектоскопу 7 электронного имитатора 6 дефектов комплексное сопротивление 2, подключенное параллельно преобразователю 1, изменяет режим работы автогенератора 8 дефектоскопа 7 так же, как и при установке преобразователя 4 на поверхность стандартного образца, так как камплексное сопротивление 2 эквивалентно сопротивлению, наведенному в преобразователе 1 при установке его на бездефектную поверхность стандартного образца.При включении электронного имитатора 6 дефектов периодически с частотой и скважностью,.задаваемой генератором 5 прямоугольных импульсов, электронный ключ 4 подсоединяет к комплексному сопротивлению 2 добавочное комплексное сопротивление 3, Причем добавочное комплексное сопротивление 3 подобрано таким образом, что суммарное сопротивление комплексного сопротивления 2 и добавочного комплексного сопротивления 3 эквивалентно сопротивлению, наведенному в преобразователе 1 при установке его над дефектом стандартного образца. Таким образом, режим работы автогенератора 8 дефектоскопа 7 при подключении к нему комплексного сопротивления 2 изменяется точно так же, как и при прохождении преобразователя 4 над дефектом стандартного образца,При изменении частоты и скважности раб ты задающего генератора 5 прямоугольных импульсов изменяется время и частота срабатывания электронного ключа 4. В связи с этим одновременно изменяется частота и длительность подключения добавочного комплексного сопротивления 3, Таким образом осуществляется регулировка частоты и длительности включения в колебательный контур автогенератора 8 дефектоскопа 7 добавочного комплексного сопротивления 3.Поскольку добавочное комплексное сопротивление 3 эквивалентно сопротив-. лению, наведенному дефектом на.стандартном образце, можно оценить максимальную скорость перемещения преобразователя 1 при которой еще происходит срабатывание сигнализации дефектоскопа 7, и его разрешающую способность, т.е. минимальное расстояние между близлежащими дефектами, когда сигнализация дефектоскопа 7 успевает выделить каждый дефект раздельно.Подсоединение добавочного комплексного сопротивления 3 к генератору прямоугольных импульсов позволяет имитировать сигнал прохождения преобразователя 1 над дефектом с переменной заданной скоростью,а регулировка частоты коммутации позволяет определить разрешающую способностьдефектоскопа,Таким образом, введение комплексного сопротивления позволяет использовать устройство не только для настройки автогенераторных статических дефектоскопов, но и для настройки автогенераторных дефектоскопов, использующих модуляционный эффект,Формула изобретения Злектронный имитатор дефектов для контроля дефектоскопа, содержащий комплексное сопротивление, предназначенное для подключения параллельно преобразователю дефектоскопа, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения области использования за счет контроля также и модуляционных дефектоскопов, он снабжен1742709 Составитель Д.Малявинадактор В.Петра ш Техред М.Моргентал Корректор Л.Филь Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 10 последовательно соединенными добавочным комплексным сопротивлением и управляемым электронным ключом, и регулируемым генератором прямоугольных импульсов, управляющий выход которого соединен с вхоЗаказ 2280 Тираж ВНИИПИ Государственного комитета по 113035, Москва, Ждом управления управляемого электронного ключа, а добавочное комплексное сопротивление и управляемый электронный ключ соединены параллельно с комплексным со противлением. Подписноезобретениям и открытиям при ГРаушская наб 4/5
СмотретьЗаявка
4780539, 09.01.1990
ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ТЕХНОЛОГИИ НАСОСНОГО МАШИНОСТРОЕНИЯ
БОРОНИН НИКОЛАЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, МАРДАНОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ, ЕГОРОВ СЕРГЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/90
Метки: дефектов, имитатор, электронный
Опубликовано: 23.06.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1742709-ehlektronnyjj-imitator-defektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электронный имитатор дефектов</a>
Предыдущий патент: Способ магнитной дефектоскопии для выявления разноориентированных дефектов в движущихся цилиндрических изделиях
Следующий патент: Устройство для определения упругих характеристик материалов
Случайный патент: Устройство для измерения нестабильности частоты