Устройство для селекции дефектов фотошаблонов

Номер патента: 1725238

Авторы: Ботнева, Елизарьев, Кондратьев, Таран

ZIP архив

Текст

(54) У ФЕКТ (57) И и мож лиза повы ется аперт тора, держ выдел з.п, ф лизарьев, В.И.КондИ 17 и 18 КЛ ЮЧАЮент И 21.щим обра ОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ 21) 4738984/2422) 20,09.8946) 07.04.92. Бюл. М 1371) Московский институт электронной техники(56) Авторское свидетельство СССРМ 955126, кл, 6 06 К 9/46, 1980.Авторское свидетельство СССРМ 1401274, кл, 6 01 В 21/00, 1986. Изобретение относится к автоматике и может быть использовано в системах анализа изображений,Цель изобретения - повышение точности устройства.На фиг. 1 изображена схема устройства; на фиг, 2 - схема формирователя апертуры; на фиг. 3 - выходные сигналы первого формирователя апертуры; на фиг, 4 - функциональная схема селектора кривизны; на фиг. 5 - примеры, поясняющие работу устройства.Устройство (фиг. 1) содержит первый формирователь 1 апертуры, селектор 2 кривизны, первый элемент И 3, первый элемент ИЛИ 4, второй формирователь 5 апертуры, компаратор 6, первый элемент 7 задержки, третий счетчик 8, второй блок 9 памяти, первый счетчик 10, первый блок 11 памяти, второй счетчик 12, генератор 13 синхроимпульсов.Формирователь апертуры (фиг. 2) содержит девять элементов 14 задержки и десять регистров 15 сдвига.Селектор кривизны (фиг. 4) содержит группу элементов ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ СТРОЙСТВО ДЛЯ СЕЛЕКЦИИ ДЕОВ ФОТОШАБЛОНОВзобретение относится к автоматике ет быть использовано в системах анаизображений. Цель изобретения - шение точности устройства - достигавведением второго формирователя уры, селектора кривизны, компаравторого блока памяти, элемента заки, третьего счетчика, что позволяет ять дефекты произвольной формы. 1 -лы, 5 ил,16,второй и третий элементы Ипервый и второй элементы ИСЩЕЕ ИЛИ 19 и 20 и второй элемУстройство работает следую Сигналы С 1, С 2, СЗ поступают через элементы ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 19 и 20 на входы. второго элемента ИЛИ 18, таким образом выделяются перепады яркости по горизонтали (С 1, С 2) и по вертикали (С 2, СЗ), т.е. контурные точки объектов изображения. Сигнал на выходе третьего элемента ИЛИ 18 содержит контуры всех обьектов контролируемой топологии (фиг. 5 б).Группы сигналов (аф, (Ь) поступают через элементы ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 16 группы на входы второго элемента ИЛИ 17.Таким образом, центральной точке окна (фиг, 3) присваивается единичный уровень яркости, если она находится на прямолинейном отрезке контура фигуры топологии, пересекающем противоположные стороны окна,Сигнал на выходе элемента ИЛИ 17 содержит участки контура с радиусом кривиз 1725238ны больше В (фиг, 5 в); на элементе И 21 выделяются все участки с радиусом кривизны меньше К (фиг. 5 г),Во втором блоке 9 памяти хранятся предварительно записанные в порядке возрастания (соответственно нумерации на фиг, 5 д) координаты угловых точек эталонного изображения (фиг. 5 д). В начале сканирования кадра изображения на выходе второго блока памяти установлены координаты первой угловой точки (фиг, 5 д), Они поступают на первую группу входов компаратора 6, на вторую группу входов которого поступают координаты текущего положения сканируемого элемента изображения с первого 10 и второго 12, счетчиков, В момент равенства координат на входах компаратора 6, на его выходе появляется сигнал, соответствующий угловой точке эталонной топологии, по которому через время тз изменяется состояние третьего счетчика 8 и на первом входе компаратора 6 устанавливаются координаты второй угловой точки. Установка в "0" третьего счетчика 8 производится по кадровым синхроимпульсам, поступающим на его вход "Сброс" с первого выхода генератора 13 синхроимпульсов. Таким образом происходит формирование изображения угловых точек эталонной топологии,С выхода элемента ИЛИ 4 изображение зон (фиг, 5 ж), построенных на угловых точках эталонной топологии, поступает на инверсный вход элемента И 3, на прямой вход которого поступает изображение криволинейных участков контуров объектов контролируемого изображения (фиг. 5 г), Если в контролируемом изображении все фигуры выполнены с требуемой точностью, то выделяемые селектором кривизны 2 углы этих фигур совпадают с зонами, поступающими с выхода элемента ИЛИ 4 и на выход элемента И 3 они не пройдут. Участки контуров дефектов, углы лишних и дефектных элементов проходят на выход элемента И 3, так как не совпадают с зонами, Таким образом, осуществляется классификация выделенных селектором 2 кривизны криволинейных участков контуров (фиг. 5 г) на углы точно выполненных фигур и дефекты (фиг. 5 з), С выхода элемента И 3 сигналы, соответствующие дефекты, поступают на вход разрешения записи первого блока 11 памяти. В момент появления сигнала на входе элемента И 3 происходит запись в блок 11 памяти координаты дефекта, установленной в данный момент на выходах первого 10 и второго 12 счетчиков. По окончании сканирования кадра изображения в блоке 11 памяти будут записаны координаты всех дефектов, обнаруженных в данном кадре. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 2. Устройство по и. 1, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что селектор кривизны содержит группу элементов ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИИ, второй и третий элементы ИЛИ, первый и второй элементы ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ и второй элемент И, входы элементов ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ являются первым и вторым входами селектора, входы первого и второго элементов ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ являются третьим входом селектора, выходы элементов ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ группы соединены с входами второго элемента ИЛИ, выход которого соединен с первым1725238 Фиг. входом второго элемента И, второй вход которого соединен с выходом третьего элемента ИЛИ, входы которого соединены с выходами первого и второго элементов ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ, выход второго элемента И является выходом селектора, 172523810 1725238 Составител ь А. ГлотовТехред М,Моргентал орректор Л,Па Редактор С.Пекар аказ 1178 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужго Гагарина, 10

Смотреть

Заявка

4738984, 20.09.1989

МОСКОВСКИЙ ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ

БОТНЕВА ВЕРА НИКОЛАЕВНА, ЕЛИЗАРЬЕВ ВАЛЕРИЙ ЮРЬЕВИЧ, КОНДРАТЬЕВ ВИКТОР ИВАНОВИЧ, ТАРАН ВАЛЕНТИН АНАТОЛЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G06K 9/46

Метки: дефектов, селекции, фотошаблонов

Опубликовано: 07.04.1992

Код ссылки

<a href="https://patents.su/5-1725238-ustrojjstvo-dlya-selekcii-defektov-fotoshablonov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для селекции дефектов фотошаблонов</a>

Похожие патенты