Ультразвуковой способ измерения толщины пленки

Номер патента: 246941

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Ишуткин

МПК: G01M 11/08

Метки: аппаратах, движения, детонации, колебаний, пленки, скорости, фотографической

...скорости двихкения пленки и детонации в звукозаписывающих аппаратах обладает доста точно высокой точностью измерений, дает возможность производить спектральный анализ колебаний скорости и упрощает процесс измерения.Сущность предлагаемого способа состоит в 25 том, что испытуемый аппарат заряжают мелкозернистой пленкой с высокой контрастностью и экспонируют ее немодулированным световым штрихом, Из-за неравномерностидвижения пленки при записи после химикофотогра где ти - амплитуда переменной составляющей коэффициента пропускания;т - среднее значение коэффициента пропускания;у - коэффициент ко1 иК, = - и - коэффициент кПолученную сигналограмму воспроизводят на фотографическом аппарате, оборудованном усилителем инфразвуковых частот. Так как...

Номер патента: 657393

Опубликовано: 15.04.1979

Авторы: Ишуткин, Лапшина, Цифринович, Эзрох

МПК: G03B 43/00

Метки: аппаратов, движения, колебаний, копировальных, лентопротяжных, непрерывной, печати, пленок, скорости, трактах

...и фотодиода 1 1 с протцвопоножвойстороны и нентопротяжного тракта испытываемой (печатаемой) пленки 1". сфипьмовым каналом 13, ведущим барабаном 14 с прижимным роликом 15, объектива 16, В финьмовом канапе 13 выполнены допоннитеньные окна, перед которымц с одной стороны установленаоптическая система 17 с источникомсвета 18 и обтюратор 19, закрепненныйна вану энектродвцгатепя 20, а с противононожной стороны - фотодиод 21.В копировальном аппарате имеются такжеусинитенц 22 и 23 и дифференциальныйусинитень 24 с регистрирующим прибором 25,Способ осуществляется следующим образом,Заряжают оба лентопротяжных трактааппарата .неэкспонированной паепкой,включают источники света 8 и 18 иформируют оптическими системами 7 и17 на пноскости пленки. 1 в...

Номер патента: 241700

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Гребень, Кедра, Марец, Оранский, Прудвиблох, Сорока, Траубе

МПК: G01B 11/06

Метки: изделие, нанесения, пленки, процессе, толщины

...ячейки 10 И соединен с выходом усилителя 9, другой - с,выходом задатчика 7, а выход - с иополнительным орга ном б.Источник 1 света .выполнен в виде ихопульсной лампы с приспособлением для ее завтуска, выключающим датчик 11 положения свидетеля и блок 12 задержки начала измерения, свя занный с этим,да,тчиком.Свидетель 8 и катод 18 установлены накассете 14, при вращении которой происходит нанесение пленки на них пульверизатором 15.Работает предлагаемое устройспво следую 25 щим образом.При прохождении овидетеля 8 возле источ,ника 1 света срабатывает датчик 11, запускающий источник света и одновременно,включающий блок 12. Из источника света выходят З 0 два потомака лучистой энергии один из кото241700 Предмет изобретений Составитель М. Б....

Номер патента: 1346945

Опубликовано: 23.10.1987

Авторы: Александров, Кацнельсон

МПК: G01B 11/06

Метки: деталь, крупногабаритную, нанесения, оптическую, пленки, процессе, толщины

...Последняя имеет частоту, определяемую периодом вращения оптической детали 12.Переменная составляющая достигает минимального значения, когда на входную щель монохроматора 7 спроектировано изображение поверхности А детали 12. При этом исключается смещение пучка относительно входной щели монохроматора, в результате чего обеспечивается минимальная нестабильность отсчета и наибольшая чувствительность.:Подготовка устройства к нанесениюконтролируемой пленки осуществляется автоматически блоком 11 управленияи настройки, в который подается фотоэлектрический сигнал из приемно-регистрирующего блока 8. В блоке 11 управления вырабатывается сигнал напривод 10 перемещения каретки, обеспечивающий перемещение каретки 9 сугловым отражателем...

Номер патента: 1746213

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Антонюк, Пищаль

МПК: G01B 11/06

Метки: нанесения, пленки, процессе, толщины

...поляризованное излучение, так как разность фаз Р- и Я-компонент отражен. ного излучения не равна гг (или О), причем степень эллиптичности и направление боль шой оси эглипса определяется оптической толщиной слоя вещества.Параметры эллиптической поляризации отраженноо излучения могут быть определены из уравнения, описывающего 4 О коэффициент отражения рлинейно поляризованного излучения длиной волны 1, падающего под углом р на слой вещества из окружающей средыг + е 2 е 2 фг1 + е е Г 01 РГ 12 р- 21 О 11 + е Г 01.Г 12,- 2 Ж - 2)ГГ 015 + Е Е Г 12 Эгде г 01 р и Г 12 р - коэффициенты отражения Френеля для Р-компоненты излучения, относящиеся соответственно к границам раздела между окружающей с редой и сг оем вещества и слоем вещества и...