Способ измерения отклонений от прямолинейности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
,., лу, .," ИСАН Т Я К АВТО 10 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР МУ СВИДЕТЕЛЬСТ(56) Авторское свидетельство СССРМ 381862, кл. 6 01 В 5/28, 1969.(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИИОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использованодля больших длин поверхностей деталей.Цель изобретения - повышение производительности и точности измерений за счет регистрации ординат точек одновременно нанескольких интервалах и непрерывно в пределах длины каждого интервала. При измерении контролируемую деталь 10 и образцовые линейки 2 и 3 закрепляют на предметном столе 1, перемещают измеритель 4 с датчиками 5-9 на расстояние 1 н, равное длине измерительной базы линеек 2 и 3, Ординаты измеряемых точек измеря- ют одновременно и непрерывно и преобразуют их в отклонение от прямолинейности совокупного профиля. Причем одновременно с регистрацией ординат профиля детали 10 производят измерение ординат точек образцовой поверхности линейки 2 с помощью датчика 11, которые учитывают при измерении путем коррекции текущих показаний датчиков 5-9, 1 з,п,ф-лы, 3 ил, 1606848Изобретение относится к измерительной технике и может быть испольэовансхдляизмерения отклонений от прямолинейностибольших длин поверхностей деталей,Цель изобретения - повышение производительности и точности измерений.На фиг. 1 показана схема измеренияотклонений от плоскостности; на фиг, 2 -схема измерения ординат точек профиляпроверяемой поверхности; на фиг. 3 - схемаизмерения ординат точек проверяемой и образцовой поверхностей,Схема измерения отклонений от плоскостности содержит предметный стол 1,образцовые линейки 2 и 3, двухопорный измеритель 4 линейных перемещений и измерительные датчики 5 - 9,Способ осуществляют следующим образом.На предметный стол 1 устанавливаютобразцовые линейки 2 и 3 и между нимизакрепляют контролируемую деталь 10.Датчик 5 устанавливают в начало контролируемого участка поверхности детали 10, Г 1 еремещают измеритель 4 на расстояние 1 н,равное длине измерительной базы линеек 2и 3 и длине интервалов 11 между датчиками5 - 9, т.е. 11 = 12 = ". = 1 п. В процессе перемещения измерителя 4 измерение ординатизмеряемых точек производят одновременно и непрерывно, Преобразование ординатв отклонения совокупного профиля от прямолинейности показано на фиг.2, где датчики 5-9гп каждый на своем интервалесканирования 1 хох Х 1; 2(Х 1 хх 2;3(Х 2 5 Х - ХЗ);1(Х 1-1 :ХХ 1);П(хпХ хп),зарегистрировали соответственно следующие ординаты профилей интервалов относительно собственного начала координат:У 1(Х); У 2(Х); УЗ(Х); , У 1(Х),Уп(Х),что обусловлено настройкой датчиков 5 - 9,. в начальном положении сканирования нануль, т.е.5 6 7У 1(0) У 2(х 1) У з(х 2) - О;8,у 1(х 1 -) =0;У(х) =О,где верхний индекс означает порядковыйномер прибора, нижний индекс - порядковый номер сканируемого интервала, причем т-п.Ясно, что каждый иэ датчиков 5-9 т,сканируя конечную точку интервала, прежде являвшуюся начальной для последующего датчика, регистрирует в ней значениеординаты, показывающее насколько сме щены друг относительно друга начала координат датчиков 5 - 9 т 3 уз(х) = У 2(х 2) + уз (х) = д + У 2 (х 2) ++ Уп(х) =, д + У(Х).30Отсюда можно записать выражения длясовокупного профиля; у (х) = у (х) (х вх 5 х)у г(х) = д+ у г(х) (ххх г)7уз(х) =д, +д, +у,(х) (х, 5 х х,) 40 ву 1(х) =д 1+ у(х) (х-5 х Б х 1)- 1у,(Х) = д, + у (Х. ) х (Х , И ХХ ) При использовании дополнительного 50 датчика 11 одновременно с измерениемординат измеряемых точек детали 10 производят измерение ординат точек образцовой поверхности линейки 2 и учитывают ортогональные смещения измерителя 4 из за отклонений от параллельности, плоскостности линейки 3 относительно линейки 2.Текущие показания датчиков 5-9гп корректируют с учетом текущих показаний датчика 11,У 1 1 Х 11 = д 1; У 2 (Х 2) = д 2,5 уз(хз) = дз; . дз8 - 1 8 - 1у(х -)=дУ 1 (х 1) = д 1; ". Уп(хп) = дп .Тогда ординаты профилей каждого интер вала, приведенные к единому началу координат, помещенному в точку О, будут соответственно по интервалам следующими:1 У 1(х) = у 1 (х);15 2 у 2(х) = У 1(х 1) + У 2 (х) = д 1+ У 2 (х)Формула изобретения 1. Способ измерения отклонений от прямолинейности, заключающийся в том, что при помощи двухопорного измерителя линейных перемещений измеряют ординаты точек профиля проверяемой поверхности относительно вспомогательной плоскости, материализованной двумя установленными в одну плоскость образцовыми поверхностями, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения производительности и точности измерений, контролируемую деталь располагают между образцовыми поверхностями так, чтобы измеряемая и образцовая поверхности были параллельны, а измерение ординат измеряемых точек производят одновременно и непрерывно вдоль 5 линии измерения в пределах интервалов,ограниченных длиной измерительных баэ образцовых поверхностей.2, Способ по п.1, отл и ча ю щи йс ятем, что одновременно с измерением орди нат измерительных точек профиля производят измерение ординат точек образцовой поверхности по линии измерения, котОрые учитывают при определении отклонений от прямолинейности.
СмотретьЗаявка
4611368, 01.12.1988
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4605
ЗЕЙГМАН ЛЕВ ЛЕОНИДОВИЧ, ТИМОФЕЕВ ЮРИЙ ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 5/28
Метки: отклонений, прямолинейности
Опубликовано: 15.11.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1606848-sposob-izmereniya-otklonenijj-ot-pryamolinejjnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения отклонений от прямолинейности</a>