Способ крепления тензорезистора к образцу
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 1)5 6 0 И ЕИ Б Т К АВТОРСКО ВИДЕТЕЛ ЬСТВУ но-производственнотель"Курилова, Ф.А.Горде еские тензометры с, 1964, с 95. Изобретение относится кной технике и может быть испоизмерения механических напрремещений и сил.Цель изобретения - уменьшение эффека ползучести за счет использования в качетве калиброванного по толщине клеевого лоя пленки из частично полимеризованноо полиамидоимидного лака.Способ осуществляется следующим обизмеритель льзовано для яжений, перазом На предварительно очищенну жиренную поверхность образца н ют калиброванную по толщине полимеризованную пленку из пол мидного лака ПАИТ, на которой ют тензорезистор. Сверху нак прокладки из полиамидной пл лака и металлической пластинь помощью струбцины задается да 10 кг/см и производят термообра 220 ф 20 С в течение 2,5 - 3 ч. По бождения образца от прокладок подвергается открытой термообра тех же режимах. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР(56) Руэга 3. Электричпротивления. ММир акладыва-,частично иамидои- размещалады вают енки, войЗатем с вление 8 - ботку при сле освообразец ботке при(54) СПОСОБ КРЕПЛЕНИЯ ТЕНЗОРЕЗИСТОРА К ОБРАЗЦУ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для укрепления тензорезисторов к образцу. Цель изобретения - повышение качества наклейки за счет уменьшения полэучести и трудоемкости. При размещении тензореэистора на поверхности образца в качестве клея используют калиброванную по толщине частично полимериэованную пленку из полиамидоимидного лака ПАИТ,Калиброванная частично полимеризованная пленка может быть получена путем нанесения на стеклянную поверхность с помошью фильеры с определенным зазором в зависимости от выбранной толщины и наносят полиамидоимидный лак ПАИТ, помещают в нагретую до 80-100 С печь, выдерживают в течение 20 - 30 мин, извлекают из печи, охлаждают до комнатной температуры, затем помещают в сосуд с водой, выдерживают в течение 15-20 мин, снимают со стекла и высушивают между листами фил ьтровальной бумаги. Получение заранее заданной оптимальной толщины клеевой пленки уменьшает эффект полэучести,Формула изобретенияСпособ крепления тензорезистора к образцу, заключающийся в том, что на поверхности образца размещают калиброванный по толщине клеевой слой, на него помещают тензорезистр, задают давление и производят термообработку, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повыйения качества на1606850 Составитель Р, СтарцеваРедактор М, Келемеш Техред М.Моргентал Корректор В. Гирняк Заказ 3544 Тираж 504 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 клейки эа счет уменьшения эффекта ползу- чести, в качестве клеевого слоя используют частично полимеризованную пленку из полиамидоимидного лака.
СмотретьЗаявка
4645083, 28.12.1988
МОСКОВСКОЕ НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "ИЗМЕРИТЕЛЬ"
БЕБИШЕВ АНАТОЛИЙ КУЗЬМИЧ, КУРИЛОВА ЛИДИЯ ГЕННАДИЕВНА, ГОРДЕЕВА ФАИНА АЛЕКСАНДРОВНА, ЧУДИНА ЛЮДМИЛА ИВАНОВНА
МПК / Метки
МПК: G01B 7/16
Метки: крепления, образцу, тензорезистора
Опубликовано: 15.11.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1606850-sposob-krepleniya-tenzorezistora-k-obrazcu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ крепления тензорезистора к образцу</a>
Устройство для измерения толщины образцов из эластичных материалов
Номер патента: 1583727
Опубликовано: 07.08.1990
Автор: Кузнецов
Метки: образцов, толщины, эластичных
...ул.Гагарина, 101 Изобретение относитсяк измерительной технике, в частности к измерению толщины образцов резинотехническихизделий перед испытаниями.Цель изобретения - повышение точности измерения.На чертеже представлена конструктивная схема устройства,Устройство для измерения толщины образцов из эластичных материалов содержит 10основание 1, размещенные на нем параллельные измерительные стержни 2 - 4, индикатор 5, связанный с ним шарнирнодвуплечий рычаг 6 с соотношением плеч 1:2,у которого на конце большого плеча имеется 15сферический контакт 7, а конец малого плеча шарнирно связан с вторым равноплечимрычагом 8, на концах которого имеются сферические контакты 9 и 10. На концах измерительных стержней 2 - 4 имеются площадки 2011 - 13,...
Способ контроля толщины тонких пленок
Номер патента: 266223
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01B 11/06, G01B 9/02
Метки: пленок, толщины, тонких
...свидетель попадает только одно вещество. На свидетели осаждение проводят столько раз, сколько раз наносят слои из определенного вещества на деталь. Вещество пспадает на свидетель, 20 когда он находится в рабочем положении,Остальные свидетели защищены от попадания вещества экр аном. Свидетелями могут служить разные участки одной и той же плоскопараллельной пластинки.25 Контроль толщины слоя на рабочем свидетеле осуществляется обычным фотометрическим способом. На свидетель направляют лучистый псток от источника света 1 лампы накаливания), Отраженный от свидетеля 1 либо 30 прошедший через свидетель) свет направляют266223 Составитель Л. ЛобзоваРедактор Л. Г. Герасимова Техред Л. Я, Левина Корректор В. Трутней Заказ 1646/11 Тираж 480...
Устройство для измерения толщины тонких пленок
Номер патента: 731282
Опубликовано: 30.04.1980
Авторы: Галузо, Добрыдень, Илюнин, Столяров
МПК: G01B 19/38
Метки: пленок, толщины, тонких
...в соответствии с формулой31282 5 10 15 20 25 ЗО 35 4ступают теперь на счетный входсчетчика 4, фиксирующего таким образом число интервалов между пройденными максимумами интерференционной картины, Кроме того, каждыйиз этих импульсов побуждает блок 3управления - импульсами на соответствующих выходах - очистить регистрб и передать в него результат, полученный к этому моменту цифровымизмерителем 5 временных интервалов.Таким образом, после прохождения-го экстремума интерференционнойкартины на регистре 5 фиксируетсячисло, пропорциональное величинена счетчике 4 - число ( - 1),а цифровой измеритель 5 временныхинтервалов продолжает отсчет интервала времени, начавшегося в моментпрохождения первого максимума интерференционной картины.В момент...
Устройство для контроля толщины тонких пленок, наносимых на подложку
Номер патента: 1026004
Опубликовано: 30.06.1983
Авторы: Гайнутдинов, Исхаков, Фазылзянов
МПК: G01B 11/06
Метки: наносимых, пленок, подложку, толщины, тонких
...устройство обеспе.чивает повышенную точность 21 .Однако известное устройство непозволяет вести контроль толщины покоэффициенту отражения подложек,таккак при вращении карусели происходитизменение положения рабочих подложек.относительно источника излучения ифотоприемника как по высоте, так ипо углу наклона. Вследствие длинногооятического пути контрольного лучаот источника излучения до фотоприемника (порядка 1,5-2 м) даже незначительные смещения подложек вызываютполную разъюстировку системы контролятолщины. По этой причине невозможновести контроль толщины тонких пленокнепосредственно по рабочим подложкамв отраженном свете. Недостатком уст-,ройства являются также жесткие требования к самим рабочим подложкам, которые должны представлять собой...
Устройство для контроля толщины тонких пленок
Номер патента: 1037065
Опубликовано: 23.08.1983
МПК: G01B 11/06
Метки: пленок, толщины, тонких
...нарушенного полного внутреннегоотражения излучающего блока и на фиксированном расстоянии от нее и, второй поляриэующей решеткой, установ 25 ленной в приемном блоке между призмой полного внутреннего отраженияи анализатором.На чертеже изображена блок-схема устройства для контроля толщинытонких пленок.Устройство содержит излучающийблок, состоящий из последовательнорасположенных источника 1 линейнополяризованного излучения, поляризующей решетки 2, призмы 3 ПВО (пол 35ного внутреннего отражения) и призмы Й НПВО, и приемный блок, состоящий из последовательно расположенных призмы 5 НПВО, призмы 6 ПВО,4 втоРой поляризующей решетки 7, анализатора 8 и приемника 9 излучения,Предлагаемое устройство работаетследующим образом.45Линейно...
Предыдущий патент: Способ определения коэффициента неравномерности нагружения сателлитов планетарной зубчатой передачи
Следующий патент: Способ определения неоднородных перемещений
Случайный патент: Долото для ударно-вращательного бурения